專利名稱：一種頻率器件老化率測(cè)試裝置及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及頻率器件測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種頻率器件老化率測(cè)試裝置及測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
頻率器件在生產(chǎn)過程中，其老化率是最為重要的考核參數(shù)之一，用老化率來衡量一個(gè)頻率器件在長(zhǎng)期工作條件下的穩(wěn)定度是否達(dá)標(biāo)。行業(yè)內(nèi)一般用日老率、年老化率指標(biāo)來衡量產(chǎn)品的長(zhǎng)期穩(wěn)定度，要達(dá)到上述指標(biāo)，需對(duì)頻率器件連續(xù)15天進(jìn)行30次取樣，并測(cè)試取得一組頻率數(shù)據(jù)，之后計(jì)算出該產(chǎn)品的老化率。傳統(tǒng)的生產(chǎn)工藝中，一般采用人工方法來測(cè)試和記錄數(shù)據(jù)，因?yàn)橐淮卧诰€老化測(cè)試的產(chǎn)品數(shù)量很多，所以一天要對(duì)幾千甚至上萬個(gè)頻率器件進(jìn)行測(cè)試和記錄，工作量非常龐大，需要投入大量的人力，整個(gè)過程極為繁瑣，費(fèi)工、費(fèi)時(shí)且效率低下，同時(shí)，人工記錄數(shù)據(jù)時(shí)非常容易出錯(cuò)，尤其在數(shù)據(jù)量較大的測(cè)試過程中，嚴(yán)重影響數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。因此，現(xiàn)有的測(cè)試頻率器件老化參數(shù)的方式，存在費(fèi)工、費(fèi)時(shí)、效率低下、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性差的缺陷。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，提供一種頻率器件老化率測(cè)試裝置及測(cè)試方法，從而實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試，不僅省時(shí)省力，而且提高了生產(chǎn)效率和數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案?！N頻率器件老化率測(cè)試裝置，其包括有一計(jì)算機(jī)、一頻率計(jì)、一銣原子頻率源及多層測(cè)試架，每層測(cè)試架上設(shè)有一器件測(cè)試板及一測(cè)試控制板，所述器件測(cè)試板包括有多個(gè)器件座，所述測(cè)試控制板各自具有唯一的地址碼，其中，所述銣原子頻率源發(fā)送標(biāo)準(zhǔn)頻率的振蕩信號(hào)至頻率計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)頻率信號(hào)端口，頻率計(jì)以該振蕩信號(hào)的頻率作為參考頻率；每個(gè)測(cè)試控制板包括有一 4514譯碼器及多個(gè)選通開關(guān)，所述計(jì)算機(jī)發(fā)送選位指令至4514譯碼器的選位端，4514譯碼器的多個(gè)輸出端分別連接于多個(gè)選通開關(guān)的控制端，多個(gè)器件座的輸出端分別連接于多個(gè)選通開關(guān)的輸入端，多個(gè)選通開關(guān)的輸出端相互連接后再連接至頻率計(jì)的輸入端，頻率計(jì)將測(cè)試結(jié)果以電信號(hào)的形式發(fā)送至計(jì)算機(jī)。優(yōu)選地，所述測(cè)試裝置還包括有一直流電源，所述直流電源輸出直流電壓為器件座供電，該直流電壓是OV 30V連續(xù)可調(diào)電壓，所述直流電源還輸出5V直流電壓為測(cè)試控制板供電。優(yōu)選地，所述測(cè)試架的層數(shù)是6層。優(yōu)選地，每個(gè)器件測(cè)試板上設(shè)有16個(gè)器件座，每個(gè)測(cè)試控制板包括有16個(gè)選通開關(guān)。優(yōu)選地，所述測(cè)試裝置還包括有一擴(kuò)展板，多個(gè)測(cè)試控制板分別通過IDC40而連接至擴(kuò)展板，之后再通過DB25接口而轉(zhuǎn)接至計(jì)算機(jī)的并口端。
優(yōu)選地，所述頻率計(jì)通過GPIB接口而連接至計(jì)算機(jī)。一種頻率器件老化率測(cè)試方法，其包括如下步驟:步驟S101，在計(jì)算機(jī)上設(shè)置參數(shù)，所述參數(shù)包括頻率器件在測(cè)試前的上電工作時(shí)長(zhǎng)、取樣天數(shù)和每日取樣次數(shù)，計(jì)算機(jī)根據(jù)取樣天數(shù)和每日取樣次數(shù)得出取樣時(shí)刻；步驟S102，頻率器件按預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)上電工作，且達(dá)到穩(wěn)定工作狀態(tài)；步驟S103，計(jì)算機(jī)將選位指令發(fā)送至測(cè)試控制板，以令多個(gè)器件座上多個(gè)頻率器件之一的頻率信號(hào)輸出至頻率計(jì)；步驟S104，頻率計(jì)將測(cè)試結(jié)果反饋回計(jì)算機(jī)，并由計(jì)算機(jī)保存至數(shù)據(jù)庫(kù)；步驟S105，計(jì)算機(jī)輸出下一頻率器件所對(duì)應(yīng)的選位指令，重復(fù)步驟S103至步驟S104，直至器件測(cè)試板內(nèi)的多個(gè)頻率器件全部測(cè)試完成；步驟S106，計(jì)算機(jī)開始計(jì)時(shí)，直至下一取樣時(shí)刻；步驟S107，重復(fù)步驟S103至步驟S106，直至多個(gè)頻率器件在全部取樣時(shí)刻的測(cè)試工作完成；步驟S108，計(jì)算機(jī)利用最小二乘法計(jì)算出每個(gè)頻率器件的老化率K，計(jì)算公式為:
權(quán)利要求
1.一種頻率器件老化率測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置包括有一計(jì)算機(jī)(10)、一頻率計(jì)(20)、一銣原子頻率源(30)及多層測(cè)試架，每層測(cè)試架上設(shè)有一器件測(cè)試板(40)及一測(cè)試控制板(50)，所述器件測(cè)試板(40)包括有多個(gè)器件座(400)，所述測(cè)試控制板(50 )各自具有唯一的地址碼，其中， 所述銣原子頻率源(30)發(fā)送標(biāo)準(zhǔn)頻率的振蕩信號(hào)至頻率計(jì)(20)的標(biāo)準(zhǔn)頻率信號(hào)端口，頻率計(jì)(20)以該振蕩信號(hào)的頻率作為參考頻率； 每個(gè)測(cè)試控制板(50 )包括有一 4514譯碼器(500 )及多個(gè)選通開關(guān)(501)，所述計(jì)算機(jī)(10)發(fā)送選位指令至4514譯碼器(500)的選位端，4514譯碼器(500)的多個(gè)輸出端分別連接于多個(gè)選通開關(guān)(501)的控制端，多個(gè)器件座(400)的輸出端分別連接于多個(gè)選通開關(guān)(501)的輸入端，多個(gè)選通開關(guān)(501)的輸出端相互連接后再連接至頻率計(jì)(20)的輸入端，頻率計(jì)(20)將測(cè)試結(jié)果以電信號(hào)的形式發(fā)送至計(jì)算機(jī)(10)。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括有一直流電源(60),所述直流電源(60)輸出直流電壓為器件座(400)供電，該直流電壓是OV 30V連續(xù)可調(diào)電壓，所述直流電源(60 )還輸出5V直流電壓為測(cè)試控制板(50 )供電。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試架的層數(shù)是6層。
4.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，每個(gè)器件測(cè)試板(40)上設(shè)有16個(gè)器件座(400 )，每個(gè)測(cè)試控制板(50 )包括有16個(gè)選通開關(guān)(501)。
5.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括有一擴(kuò)展板，多個(gè)測(cè)試控制板(50)分別通過IDC40而連接至擴(kuò)展板，之后再通過DB25接口而轉(zhuǎn)接至計(jì)算機(jī)(10)的并口端。
6.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述頻率計(jì)(20)通過GPIB接口而連接至計(jì)算機(jī)(10)。
7.—種頻率器件老化率測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試方法包括如下步驟: 步驟S101，在計(jì)算機(jī)(10)上設(shè)置參數(shù)，所述參數(shù)包括頻率器件在測(cè)試前的上電工作時(shí)長(zhǎng)、取樣天數(shù)和每日取樣次數(shù)，計(jì)算機(jī)(10)根據(jù)取樣天數(shù)和每日取樣次數(shù)得出取樣時(shí)刻； 步驟S102，頻率器件按預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)上電工作，且達(dá)到穩(wěn)定工作狀態(tài)； 步驟S103，計(jì)算機(jī)(10)將選位指令發(fā)送至測(cè)試控制板(50)，以令多個(gè)器件座(400)上多個(gè)頻率器件之一的頻率信號(hào)輸出至頻率計(jì)(20)； 步驟S104，頻率計(jì)(20)將測(cè)試結(jié)果反饋回計(jì)算機(jī)(10)，并由計(jì)算機(jī)(10)保存至數(shù)據(jù)庫(kù)； 步驟S105，計(jì)算機(jī)(10)輸出下一頻率器件所對(duì)應(yīng)的選位指令，重復(fù)步驟S103至步驟S104，直至器件測(cè)試板(40)內(nèi)的多個(gè)頻率器件全部測(cè)試完成； 步驟S106,計(jì)算機(jī)(10)開始計(jì)時(shí),直至下一取樣時(shí)刻； 步驟S107，重復(fù)步驟S103至步驟S106，直至多個(gè)頻率器件在全部取樣時(shí)刻的測(cè)試工作完成; 步驟S108，計(jì)算機(jī)(10)利用最小二乘法計(jì)算出每個(gè)頻率器件的老化率K，計(jì)算公式為:
全文摘要
本發(fā)明公開了一種頻率器件老化率測(cè)試裝置，其包括有計(jì)算機(jī)、頻率計(jì)、銣原子頻率源及多層測(cè)試架，每層測(cè)試架上設(shè)有器件測(cè)試板及測(cè)試控制板，所述器件測(cè)試板包括有多個(gè)器件座，所述測(cè)試控制板各自具有唯一的地址碼，其中，每個(gè)測(cè)試控制板包括有一4514譯碼器及多個(gè)選通開關(guān)，所述計(jì)算機(jī)發(fā)送選位指令至4514譯碼器的選位端，4514譯碼器的多個(gè)輸出端分別連接于多個(gè)選通開關(guān)的控制端，多個(gè)器件座的輸出端分別連接于多個(gè)選通開關(guān)的輸入端，多個(gè)選通開關(guān)的輸出端相互連接后再連接至頻率計(jì)的輸入端，頻率計(jì)將測(cè)試結(jié)果以電信號(hào)的形式發(fā)送至計(jì)算機(jī)，并由計(jì)算機(jī)計(jì)算出每個(gè)頻率器件的老化率K。本發(fā)明具有生產(chǎn)效率高和數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性好的優(yōu)勢(shì)。
文檔編號(hào)G01R31/00GK103217600SQ201310084060
公開日2013年7月24日 申請(qǐng)日期2013年3月15日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月15日
發(fā)明者李丕寧, 方忠有, 朱輝, 李 浩, 孫仲秋 申請(qǐng)人:深圳市三奇科技有限公司