專利名稱：一種便于老化測試的有機(jī)電致發(fā)光器件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一種便于老化測試的有機(jī)電致發(fā)光器件技術(shù)領(lǐng)域-本實(shí)用新型涉及電子顯示器件的技術(shù)領(lǐng)域，特指一種便于老化測試的有機(jī)電 致發(fā)光器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計。
技術(shù)背景-有機(jī)電致發(fā)光顯示器件(0LED)是一種低電壓、低功耗、高亮度、高光效、 寬視角、全固化、全彩顯、重量輕、價格低的電致發(fā)光器件。0LED已成為當(dāng)今 顯示器件研究的熱門中的熱點(diǎn)。()LED通常包括基片、后蓋以及位于基片和后蓋中間發(fā)光單元，其制作過 程是，在玻璃基片上分別鍍上幾層膜(正極、發(fā)光層、負(fù)極等)，然后將后蓋疊 加在基片上，將作為發(fā)光單元的發(fā)光膜層封裝在二者之間，形成一種三文治結(jié)構(gòu)。 在制作過程中，為了節(jié)約成本、提高效率，通常是在同一面積較大的玻璃基片制 作盡可能多的發(fā)光小屏(即發(fā)光單元)，然后再根據(jù)發(fā)光小屏將玻璃切割形成一 個個小的0LED發(fā)光單體。這樣，經(jīng)過同一工序流程后就可以產(chǎn)出更多的產(chǎn)品。 隨著生產(chǎn)技術(shù)的不斷進(jìn)歩，0LED生產(chǎn)線玻璃基片規(guī)格也經(jīng)歷了從第-一代的i00 * 100，到第二代的200*200;再到第三代的370*470，及至第四代730*920的更 新?lián)Q代。不變的是，每個單獨(dú)的發(fā)光單元還是要進(jìn)行老化測試，將大的玻璃基片 分切成小屏來單獨(dú)老化顯而易見是不現(xiàn)實(shí)的，于是有了整個玻璃基片上全部小屏 一起老化的概念，這種是0LED業(yè)屆目前風(fēng)行的操作工藝。如上所述，要實(shí)現(xiàn)整個玻璃基片上全部小屏一起老化，必要在后蓋玻璃上開出小孔，讓電極通過小孔接通基片與后蓋之問膜層上的正、負(fù)極才能老化。在 玻璃基片仍然是200*200的年代，其方法的確為生產(chǎn)提供了便利，但當(dāng)玻璃基片 飛躍到370*470，甚至730*920時，備受困擾的問題來了玻璃基片尺寸越大其 上丌的孔就越多，難度就越大，成品就越低，并且成本越高。 實(shí)用新型內(nèi)容針對上述問題，本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題就是提供一種結(jié)構(gòu)合理、可 有效降低老化成本，并容易實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)化的便于老化測試的有機(jī)電致發(fā)光器件。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型采用了如下的技術(shù)方案本實(shí)用新型提出 了-種新的發(fā)光器件，該發(fā)光器件包括基片、后蓋以及位于基片和后蓋之間的 多個發(fā)光單元，后蓋相對于基片形有一個缺邊或兩個缺邊，位于該缺邊位置的基 片上對應(yīng)每個發(fā)光單元形成有用于老化測試的正、負(fù)電極，每個發(fā)光單元中每個 像素點(diǎn)的正、負(fù)極連線分別匯集于對應(yīng)的正、負(fù)電極上。所述用于老化測試的IK、負(fù)電極排布位置是正電極居中、負(fù)電極位于正電 極的左右兩側(cè)，發(fā)光單元中的iH極連線由靠近缺邊一側(cè)匯集在正電極上，發(fā)光單元中負(fù)極連線t.y其兩側(cè)引出匯集于負(fù)電極上?；蛘?，正、負(fù)電極排布位置也可采用另外的上下排布方式兩側(cè)的負(fù)電極匯 集在一邊(在器件的下缺邊或上缺邊)，正電極匯集在一邊(在器件的上缺邊或 下缺邊)；發(fā)光單元中的負(fù)極連線引出延伸至下缺邊(或上缺邊)匯集在負(fù)電極 上，發(fā)光單元中正極連線引出延伸至上缺邊(或下缺邊)匯集于正電極上。本實(shí)用新型所提供的有機(jī)電致發(fā)光器件在制造時，首先把設(shè)計有上述的老化 測試屯極的-一個整塊玻璃成品分切成長條狀，每條長條狀的器件包含的發(fā)光單元 (發(fā)光小屏)數(shù)量可以是6， 7， 8等等，具體數(shù)量可視強(qiáng)度而定；再將后蓋中與 該器件的電極重迭的地方切掉，將引線及電極顯露出來。老化時直接接通這些匯集的電極就可以接通發(fā)光單元中的每個像素點(diǎn)，從而實(shí)現(xiàn)對器件中每個發(fā)光單元 的同時老化。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型存在以下創(chuàng)新首先，多個小屏一起老化時， 現(xiàn)有技術(shù)是利用打孔的方式使整個玻璃基片全部小屏一起老化，而本實(shí)用新型是 把整個玻璃基片分切成長條的單行小屏，以條為單位進(jìn)行老化。其次，現(xiàn)有技術(shù)的電極連接方式是單獨(dú)每條線的連接，而本實(shí)用新型是分 別把所有的正極集接成一個lH極、把所有的負(fù)極集接成一個負(fù)極，也可以左負(fù)極 和右負(fù)極兩個負(fù)極。利用本實(shí)用新型可達(dá)到的效果有O)以更低的成本實(shí)現(xiàn)0LED量產(chǎn)化，無須受后蓋的成本影響。 ②有效的改善屏上電極和電極的接觸(接觸面積大大提高的緣故)減少接觸電阻引至老化的發(fā)光不均勻的問題。


以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一歩的說明 圖1是用于制造本實(shí)用新型的整個玻璃片的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2是本實(shí)用新型包含6個發(fā)光單元的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖； 圖3是本實(shí)用新型單個發(fā)光單元電極引線連接的結(jié)構(gòu)示意圖。 具體實(shí)施例見圖l，在制作本實(shí)用新型時，首先在一個整塊玻璃基片6分切成若干的長 條狀。每條長條狀的器件7包含的發(fā)光單元3 (發(fā)光小屏)數(shù)量可以是6、 7、 8 等等，本實(shí)施例采用了 6個發(fā)光單元3。在每個長條狀的器件7的下方設(shè)置電極， 該電極與發(fā)光單元3中的對應(yīng)電極引線連接。然后將后蓋中與該器件7的電極重 疊的地方切掉，將電極顯露出來。見圖2，本實(shí)用新型為長條狀的發(fā)光器件7，其包括基片1、后蓋2以及 位于基片1和后蓋2之間的多個發(fā)光單元3，后蓋2相對于基片1形有一個缺邊 21 (即前面所說后蓋2中與該器件7的電極重疊所切掉的地方)，位于該缺邊21 位置的基片1上對應(yīng)每個發(fā)光單元3形成有用于老化測試的正、負(fù)電極4、 5， 每個發(fā)光單元3中每個像素點(diǎn)的正、負(fù)極連線分別匯集于該該對應(yīng)的正、負(fù)電 極4、 5上。老化時直接接通這些匯集的正、負(fù)電極4、 5就可以接通發(fā)光單元3中的每 個像素點(diǎn)，從而實(shí)現(xiàn)對器件中每個發(fā)光單元3的同時老化。待老化及其它測試完 成后，再將缺邊21切割掉，并且將每個發(fā)光單元3分割出來，形成一個個的0LED 發(fā)光單體。見圖3，所述用于老化測試的正、負(fù)電極4、 5排布位置是正電極5居中、 負(fù)電極4位于正電極5的左右兩側(cè)，發(fā)光單元3中的正極連線由靠近缺邊21 側(cè)匯集在正電極5上，發(fā)光單元3中負(fù)極連線由其兩側(cè)引出匯集于負(fù)電極4上。當(dāng)然，也可以采用另外的上下排布方式，即用于老化測試的正、負(fù)電極在器 件相對的兩邊，兩負(fù)電極4匯成一個電極在同一側(cè)(上邊或下邊)、正電極5位 于器件另一側(cè)的下邊或上邊。綜上所述，采用本實(shí)用新型后，老化時直接接通匯集的TF.、負(fù)電極4、 5就 可以接通發(fā)光單元3中的每個像素點(diǎn)，從而實(shí)現(xiàn)對器件7中每個發(fā)光單元3的同 時老化。本實(shí)用新型可以以更低的成本實(shí)現(xiàn)OLED量產(chǎn)化，無須受后蓋的成本影 響。同時，本實(shí)用新型可以有效的改善屏上電極和電極的接觸(接觸面積大大提 高的緣故)減少接觸電阻引至老化的發(fā)光不均勻的問題。當(dāng)然，以上所述僅僅為本實(shí)用新型的實(shí)例而已，并非來限制本實(shí)用新型的實(shí) 施范圍，故，凡依本實(shí)用新型申請專利范圍所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效變化或修飾，均應(yīng)包括于本實(shí)用新型申請專利范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種便于老化測試的有機(jī)電致發(fā)光器件，包括基片(1)、后蓋(2)以及位于基片(1)和后蓋(2)之間的多個發(fā)光單元(3)，其特征在于后蓋(2)相對于基片(1)形成有一個缺邊(21)，位于該缺邊(21)位置的基片(1)上對應(yīng)每個發(fā)光單元(3)形成有用于老化測試的正、負(fù)電極(4、5)，每個發(fā)光單元(3)中每個像素點(diǎn)的正、負(fù)極連線分別匯集于對應(yīng)的正、負(fù)電極(4、5)上。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種便于老化測試的有機(jī)電致發(fā)光器件，其 特征在于所述用于老化測試的正、負(fù)電極(4、 5)排布位置是正電極(5) 居中、負(fù)電極(4)位于正電極(5)的左右兩側(cè)，發(fā)光單元(3)中的正極連線 由靠近缺邊(21) —側(cè)匯集在正電極(5)上，發(fā)光單元(3)中負(fù)極連線由其兩 側(cè)引出匯集于負(fù)電極(4)上。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種便于老化測試的有機(jī)電致發(fā)光器件，其 特征在于所述用于老化測試的正、負(fù)電極(4、 5)排布位置是正電極(5) 與負(fù)電極(4)位于器件相對的兩邊，器件的正極引線器件的下邊或上邊引出匯 集在正電極(5)上，器件的負(fù)極引線由其兩側(cè)引出在與正電極(5)相對的上邊 或下邊匯集在負(fù)電極(4上)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及電子顯示器件的技術(shù)領(lǐng)域，特指一種便于老化測試的有機(jī)電致發(fā)光器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計。本實(shí)用新型器件包括基片、后蓋以及位于基片和后蓋之間的多個發(fā)光單元；后蓋相對于基片形成一個或兩個缺邊(上方或下方)，該缺邊位置的基片上是用于老化測試的正、負(fù)電極，每個發(fā)光單元中每個像素點(diǎn)的正、負(fù)電極引線分別匯集于該對應(yīng)的正、負(fù)電極上。本實(shí)用新型在制造時，首先把設(shè)計有上述的老化測試電極的一個整塊玻璃成品分切成長條狀，再將后蓋中與該器件的電極重迭的地方切掉，將引線及電極顯露出來。老化時直接接通這些匯集的電極就可以接通發(fā)光單元中的每個像素點(diǎn)，從而實(shí)現(xiàn)對器件中每個發(fā)光單元的同時老化。
文檔編號H05B33/26GK201119046SQ20072005881
公開日2008年9月17日 申請日期2007年10月29日 優(yōu)先權(quán)日2007年10月29日
發(fā)明者劉惠森, 向桂華, 楊明生, 譚國良, 趙偉明 申請人:東莞彩顯有機(jī)發(fā)光科技有限公司;東莞宏威數(shù)碼機(jī)械有限公司