專利名稱：一種測試試驗器件的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子及通信領(lǐng)域中的測試技術(shù)，具體指一種測試試驗器件的方法。
背景技術(shù)：
在電子裝聯(lián)可靠性試驗中，現(xiàn)有技術(shù)一般是將一個試驗器件構(gòu)成一條測試菊花鏈路(Daisy ChainDC)，該菊花鏈路兩端與可靠性測試系統(tǒng)的測試接口相連構(gòu)成電氣回路，然后通過對試驗器件施加機械應(yīng)力或熱應(yīng)力使器件加速失效，再由測試系統(tǒng)實時監(jiān)控菊花鏈路的性能變化過程(如阻值等)，從而自動判斷鏈路是否失效，在這種測試方法中，僅僅能得到一個試驗器件的一個樣本分析數(shù)據(jù)。
當使用測試周期不同的可靠性測試系統(tǒng)時，例如假設(shè)測試系統(tǒng)A、B，二者的測試通道數(shù)均為128個，而測試系統(tǒng)A的可靠性試驗周期為1天，測試系統(tǒng)B的可靠性試驗周期為3～6個月；當采用測試系統(tǒng)A時，試驗板上可設(shè)計128條測試鏈路，一次測試一塊試驗板，為得到32個統(tǒng)計樣本數(shù)，需進行32次試驗，僅耗時32天；而對于測試系統(tǒng)B，若一塊試驗板上也設(shè)計128條不同的測試鏈路，為得到最少16個統(tǒng)計樣本數(shù)，需試驗16次，耗時48～96個月，或四套系統(tǒng)同步工作12～24個月。
可見，上述現(xiàn)有技術(shù)顯然存在許多不足，具體包括1、試驗器件需要量大，試驗成本高，試驗周期長實驗者在進行試驗時，為得到可靠可信的試驗結(jié)論，需要較多的試驗樣本數(shù)，一般需要32個，至少也需要16個，而現(xiàn)有技術(shù)僅僅能得到一個試驗器件的一個樣本分析數(shù)據(jù)，因此完成一個試驗需要大量的器件，而且成本高、時間長。
2、兼容性差同一塊試驗板不能適用于不同可靠性的測試系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出了一種測試試驗器件的方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的試驗器件需要量大、試驗成本高、試驗周期長的問題。
為了解決上述問題，本發(fā)明的解決方案是一種測試試驗器件的方法，該方法是在試驗板中組裝試驗器件后，形成菊花鏈路進行測試，包含如下步驟a、將該試驗器件和試驗板分為數(shù)個測試區(qū)域；b、將所述每個測試區(qū)域中的試驗器件和試驗板的焊點及線路構(gòu)成獨立的測試通道，形成菊花鏈路，并從該菊花鏈路引出測試點；c、將所述的測試點和測試系統(tǒng)的測試接口相連并進行完成測試，進而得到測試數(shù)據(jù)。
其中所述的步驟a中的數(shù)個測試區(qū)域為多個結(jié)構(gòu)相互對稱且獨立的測試區(qū)域。
所述的步驟b中的測試點是從菊花鏈路的兩端引出的。
所述的步驟b中的測試點還可以是從菊花鏈路中間引出的若干個測試點。
所述步驟b和所述步驟c間還包括下列步驟bc1、將各個測試區(qū)域中菊花鏈路兩端的測試點首尾相連，構(gòu)成一條菊花鏈路；或者bc2、將各個測試區(qū)域中菊花鏈路一端的測試點相連后，再和地相連，構(gòu)成菊花鏈路。
本發(fā)明充分利用試驗器件結(jié)構(gòu)上的對稱性，將試驗器件分為結(jié)構(gòu)對稱的幾個測試區(qū)域，每個測試區(qū)域構(gòu)成一條菊花鏈路。也由于試驗器件其結(jié)構(gòu)上的對稱性與相似性，同一個試驗器件中的各菊花鏈路基本類似，可認為是獨立的菊花鏈路，其可靠性測試數(shù)據(jù)可作為分析的樣本數(shù)。這樣可以用較少的試驗器件獲得統(tǒng)計分析所需的樣本數(shù)。具體而言，本發(fā)明有如下有益效果1、能夠?qū)崿F(xiàn)以較少的試驗器件獲得足夠的統(tǒng)計分析樣本數(shù)；2、通過簡單地改變菊花鏈路的連接關(guān)系，使同一試驗板適用于不同的可靠性測試系統(tǒng)；3、本發(fā)明在保證了試驗數(shù)據(jù)與結(jié)論的可信度的前提下，節(jié)約了試驗成本，縮短了試驗周期。


圖1是本發(fā)明實施例中BGA器件的俯視示意圖；圖2是本發(fā)明實施例中包含有菊花鏈路的BGA試驗器件的俯視示意圖；圖3是本發(fā)明的方法流程圖；圖4是本發(fā)明實施例BGA試驗器件與試驗板構(gòu)成的菊花鏈路測試通道示意圖；圖5是本發(fā)明實施例BGA試驗器件與試驗板構(gòu)成的菊花鏈路測試通道的一種連接關(guān)系示意圖；圖6是本發(fā)明實施例BGA試驗器件與試驗板構(gòu)成的菊花鏈路測試通道的另一種連接關(guān)系示意圖。
具體實施例方式
本發(fā)明下面的實施例以BGA器件(Ball Grid Array球柵陣列器件)為例進行說明，其不僅僅限于BGA器件，還用于其他結(jié)構(gòu)對稱的器件。如圖1所示為BGA器件的俯視示意圖，黑色實心圓為該器件上的焊球位置11；如圖2所示是包含有局部菊花鏈路的BGA試驗器件的俯視示意圖，該BGA試驗器件可從試驗器件制作廠商處采購或定做包含對稱菊花鏈路的器件，從圖中可以看出，該試驗器件與菊花鏈路均成水平方向、垂直方向軸向?qū)ΨQ。
實施例所采用的測試系統(tǒng)同現(xiàn)有技術(shù)的測試系統(tǒng)完全相同，也通過該測試系統(tǒng)的測試接口和菊花鏈路相連，而菊花鏈路就是通過BGA試驗器件和試驗板上的焊點、線路構(gòu)成的測試通道，本發(fā)明的重點就在于該菊花鏈路的具體形成過程。
實施例一下面將詳細介紹本實施例所述的一種通過設(shè)計、測試菊花鏈路以達到測試目的的方法，其是在該試驗板上組裝BGA試驗器件后，形成菊花鏈路進行測試。如圖3所示，該方法包含有如下步驟第一、將該試驗器件和試驗板分為數(shù)個測試區(qū)域。
本實施例利用該BGA試驗器件及其菊花鏈路軸向?qū)ΨQ的特點，將該BGA試驗器件分為四個測試區(qū)域(根據(jù)需要，也可分為2個、8個測試區(qū)域)，如圖2所示，如同平面坐標系中的第一象限、第二象限、第三象限、第四象限。
在該試驗板上組裝BGA試驗器件，該試驗板是一種印刷電路板，其上已按設(shè)計要求制作了導(dǎo)線和焊盤，通過焊接組裝，試驗器件的焊端/焊球與焊盤相連，以實現(xiàn)特定功能。組裝后形成如圖4所示的菊花鏈路，該BGA試驗器件的焊球?qū)?yīng)于該試驗板的焊盤，二者之間焊接后通過已有的連線形成電氣通路。
第二、在各個測試區(qū)域中，該試驗器件和試驗板的焊點、線路構(gòu)成獨立的測試通道，即為菊花鏈路，并從該菊花鏈路中引出測試點。
在該試驗板上組裝BGA試驗器件后，如圖4所示，每個測試區(qū)域內(nèi)的焊點11、線路12和13構(gòu)成一條測試通道，其中，焊點11為BGA試驗器件焊球和試驗板焊盤的位置，線路12為BGA試驗器件上已存在的線路；線路13為試驗板上的設(shè)計線路。這樣，由于位置上的對稱性，在四個測試區(qū)域內(nèi)便可得到四條基本相同的、且相互獨立的測試用的菊花鏈路。
在每個測試區(qū)域的菊花鏈路上，首先從該菊花鏈路的兩端分別引出2個測試點，如圖4中的測試點T1+、T1-、T2+、T2-、T3+、T3-、T4+、T4-，相應(yīng)的菊花鏈路為T1、T2、T3、T4。
第三、將該測試點和測試系統(tǒng)的測試接口相連完成測試，從而得到測試數(shù)據(jù)。
將菊花鏈路兩端與可靠性測試系統(tǒng)的測試接口相連構(gòu)成電氣回路，通過對BGA試驗器件施加機械應(yīng)力或熱應(yīng)力使其加速失效，測試系統(tǒng)實時監(jiān)控菊花鏈路的性能變化過程(例如阻值等)，從而能夠自動判斷菊花鏈路是否失效，此時試驗一個BGA試驗器件可得到四個樣本分析數(shù)據(jù)。
本實施例可以通過簡單地改變測試區(qū)域之間菊花鏈路的連接關(guān)系，使同一試驗板適用于不同的可靠性測試系統(tǒng)。
當應(yīng)用測試周期較短的可靠性測試系統(tǒng)A時，如圖5所示，將測試點T1-與T2-相連、T2-與T3-相連、T3-與T4-相連，再與地GND相連，此時一個器件形成四條基本類似的共地的測試鏈路，可靠性試驗后得到四組可靠性壽命數(shù)據(jù)。由于每次測試的時間短，一批試驗板分多次測試，總耗時也不長。當應(yīng)用測試周期較長且測試通道數(shù)相同的可靠性測試系統(tǒng)B時，將T2+與T3+相連，此時四條鏈路形成了一條測試鏈路，如圖6所示，每次試驗可同時進行多塊試驗板和試驗器件的測試，從而減少了試驗次數(shù)，大為縮短了總測試耗時。這樣使兩套不同的測試系統(tǒng)A和B可共用同一試驗板進行測試。
實施例二本實施例和實施例一基本一致，不同之處僅僅在步驟二。本實施例除了在菊花鏈路兩端設(shè)置測試點外，還在每條菊花鏈路中還增加了三個測試點，以便在試驗的測試過程中準確判斷具體的失效位置，以利于進一步分析。
以T2菊花鏈路為例，如圖4所示，在該菊花鏈路中共有5個測試點，即T2+、T21、T20、T22、T2-通過T2+和T21兩個測試點可判斷該菊花鏈路中水平方向的外排鏈路是否失效；通過T2-和T22兩個測試點可判斷該菊花鏈路中水平方向的內(nèi)排鏈路是否失效；通過T20和T21兩個測試點可判斷該菊花鏈路中垂直方向的外排鏈路是否失效；通過T20和T22兩個測試點可判斷該菊花鏈路中水平方向的內(nèi)排鏈路是否失效。
本實施例通過將較少的測試點布局在菊花鏈路中合理的位置，而能夠準確判斷地判斷失效的具體位置。
權(quán)利要求
1.一種測試試驗器件的方法，該方法是在試驗板中組裝試驗器件后，形成菊花鏈路進行測試，其特征在于，包含如下步驟a、將該試驗器件和試驗板分為數(shù)個測試區(qū)域；b、將所述每個測試區(qū)域中的試驗器件和試驗板的焊點及線路構(gòu)成獨立的測試通道，形成菊花鏈路，并從該菊花鏈路引出測試點；c、將所述的測試點和測試系統(tǒng)的測試接口相連并進行完成測試，進而得到測試數(shù)據(jù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟a中的數(shù)個測試區(qū)域為多個結(jié)構(gòu)相互對稱且獨立的測試區(qū)域。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟b中的測試點是從菊花鏈路的兩端引出的。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟b中的測試點還可以是從菊花鏈路中間引出的若干個測試點。
5.如權(quán)利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，所述步驟b和所述步驟c間還包括下列步驟bc1、將各個測試區(qū)域中菊花鏈路兩端的測試點首尾相連，構(gòu)成一條菊花鏈路；或者bc2、將各個測試區(qū)域中菊花鏈路一端的測試點相連后，再和地相連，構(gòu)成菊花鏈路。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種通過菊花鏈路來測試試驗器件的方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的試驗器件需要量大、試驗成本高、試驗周期長和兼容性差等問題。其是在試驗板中組裝試驗器件后，形成菊花鏈路進行測試，該方法包含有如下步驟a.將該試驗器件和試驗板分為數(shù)個測試區(qū)域；b.在該測試區(qū)域中，該試驗器件和試驗板的焊點、線路構(gòu)成獨立的測試通道，即為菊花鏈路，并從該菊花鏈路中引出測試點；c.將該測試點和測試系統(tǒng)的測試接口相連完成測試，從而得到測試數(shù)據(jù)。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)以較少的試驗器件獲得足夠的統(tǒng)計分析樣本數(shù)；通過簡單地改變菊花鏈路的連接關(guān)系，使同一試驗板適用于不同的可靠性測試系統(tǒng)；本發(fā)明節(jié)約了試驗成本，縮短了試驗周期。
文檔編號G01N27/04GK1624467SQ200310120069
公開日2005年6月8日 申請日期2003年12月3日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月3日
發(fā)明者陳松柏, 劉桑 申請人:華為技術(shù)有限公司