Oled器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)及其老化補(bǔ)償方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及平板顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種OLED器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)及其老化補(bǔ)償方法。
【背景技術(shù)】
[0002]有機(jī)發(fā)光顯示器利用有機(jī)發(fā)光二極管(英文全稱Organic Lighting EmittingD1de,簡(jiǎn)稱OLED)顯示圖像，是一種主動(dòng)發(fā)光的顯示器，其顯示方式與傳統(tǒng)的薄膜晶體管液晶顯不器(英文全稱 Thin Film Transistor liquid crystal display，簡(jiǎn)稱 TFT-LCD)顯示方式不同，無需背光燈，而且，具有對(duì)比度高、響應(yīng)速度快、輕薄等諸多優(yōu)點(diǎn)。因此，有機(jī)發(fā)光顯示器被譽(yù)為可以取代薄膜晶體管液晶顯示器的新一代的顯示器。
[0003]通常的，有機(jī)發(fā)光顯示器的每個(gè)像素均包括一 OLED器件和用于驅(qū)動(dòng)所述OLED器件發(fā)光的像素驅(qū)動(dòng)電路。OLED器件發(fā)生老化后即使流過相同大小的電流，OLED器件的發(fā)光亮度與新像素相比也會(huì)有所下降，老化后的OLED器件對(duì)應(yīng)于像素驅(qū)動(dòng)電路的響應(yīng)曲線發(fā)生了改變。隨著使用時(shí)間的延長(zhǎng)，OLED器件的材料特性逐漸變差，導(dǎo)致像素的亮度不斷衰減。而且，由于每個(gè)像素的多個(gè)子像素所用的OLED材料是不同的，因此亮度的衰減速度也會(huì)不一致，從而導(dǎo)致有機(jī)發(fā)光顯示器的白平衡出現(xiàn)漂移。
[0004]為此，現(xiàn)有的有機(jī)發(fā)光顯示器在出廠前通常會(huì)進(jìn)行老化處理，即通過一定時(shí)間的點(diǎn)亮使得OLED材料進(jìn)入較為穩(wěn)定的狀態(tài)。經(jīng)過老化之后，有機(jī)發(fā)光顯示器的亮度和色度變化趨于穩(wěn)定，從而滿足出貨需求。
[0005]然而，老化處理會(huì)降低OLED器件的壽命。而且，由于老化處理的時(shí)間比較長(zhǎng)，會(huì)增加生產(chǎn)時(shí)間，影響產(chǎn)線的生產(chǎn)效率。
[0006]基此，如何解決現(xiàn)有的有機(jī)發(fā)光顯示器因OLED器件老化而導(dǎo)致的亮度衰減以及色偏問題已經(jīng)成為本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的一個(gè)技術(shù)問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的在于提供一種OLED器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)及其老化補(bǔ)償方法，以解決現(xiàn)有的有機(jī)發(fā)光顯示器因OLED器件老化而導(dǎo)致亮度衰減以及色偏問題。
[0008]為解決上述問題，本發(fā)明提供一種OLED器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)，包括:像素電路、第一電源、第二電源、老化檢測(cè)電路和驅(qū)動(dòng)芯片；所述像素電路包括一 OLED器件，所述OLED器件連接在所述第一電源和第二電源之間；所述驅(qū)動(dòng)芯片通過一數(shù)據(jù)線與所述像素電路連接，所述驅(qū)動(dòng)芯片用于驅(qū)動(dòng)所述OLED器件發(fā)光；所述老化檢測(cè)電路連接在所述OLED器件的陽(yáng)極與所述驅(qū)動(dòng)芯片之間，所述驅(qū)動(dòng)芯片通過所述老化檢測(cè)電路測(cè)量所述OLED器件的陽(yáng)極電壓，所述驅(qū)動(dòng)芯片具有一數(shù)據(jù)電壓查找表，所述驅(qū)動(dòng)芯片將陽(yáng)極電壓和數(shù)據(jù)電壓查找表進(jìn)行對(duì)比并對(duì)陽(yáng)極電壓進(jìn)行老化補(bǔ)償。
[0009]優(yōu)選的，所述老化檢測(cè)電路包括:晶體管、老化測(cè)量線和老化測(cè)量控制線，所述晶體管的源極與所述OLED器件的陽(yáng)極連接，所述晶體管的漏極通過老化測(cè)量線與所述驅(qū)動(dòng)芯片連接，所述晶體管的柵極通過老化測(cè)量控制線與所述驅(qū)動(dòng)芯片連接。
[0010]優(yōu)選的，所述晶體管為薄膜晶體管。
[0011]優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)芯片包括:低通濾波器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器、邏輯判斷單元、電壓調(diào)節(jié)器和伽馬產(chǎn)生單元；所述低通濾波器的輸出端連接所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器的輸入端，所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器的輸出端連接所述邏輯判斷單元的輸入端，所述邏輯判斷單元的輸出端連接所述電壓調(diào)節(jié)器的輸入端，所述電壓調(diào)節(jié)器的輸出端連接所述伽馬產(chǎn)生單元的輸入端。
[0012]相應(yīng)的，本發(fā)明還提供了一種OLED器件的老化補(bǔ)償方法，所述OLED器件的老化補(bǔ)償方法包括:
[0013]通過實(shí)驗(yàn)測(cè)量獲得OLED器件的老化數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述老化數(shù)據(jù)制作數(shù)據(jù)電壓查找表;
[0014]將所述數(shù)據(jù)電壓查找表存入驅(qū)動(dòng)芯片中；
[0015]提供一有機(jī)發(fā)光顯示器，所述有機(jī)發(fā)光顯示器的顯示區(qū)域劃分為若干個(gè)顯示單元，每個(gè)顯示單元中均設(shè)置有至少一個(gè)老化測(cè)試點(diǎn)，所述老化測(cè)試點(diǎn)包括像素電路和老化檢測(cè)電路，所述像素電路包括一 OLED器件，所述老化檢測(cè)電路連接在所述OLED器件的陽(yáng)極與所述驅(qū)動(dòng)芯片之間；
[0016]利用所述驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)量各個(gè)老化測(cè)試點(diǎn)的OLED器件的陽(yáng)極電壓；
[0017]根據(jù)所述陽(yáng)極電壓和數(shù)據(jù)電壓查找表對(duì)所述有機(jī)發(fā)光顯示器的各個(gè)顯示單元進(jìn)行老化補(bǔ)償。
[0018]優(yōu)選的，根據(jù)所述陽(yáng)極電壓向和數(shù)據(jù)電壓查找表對(duì)各個(gè)顯示單元進(jìn)行老化補(bǔ)償?shù)倪^程包括:
[0019]通過低通濾波器對(duì)所述陽(yáng)極電壓進(jìn)行信號(hào)過濾；
[0020]通過數(shù)模轉(zhuǎn)換器對(duì)所述陽(yáng)極電壓進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換；
[0021]通過邏輯判斷單元將所述陽(yáng)極電壓與所述數(shù)據(jù)電壓查找表進(jìn)行對(duì)比，并計(jì)算每個(gè)顯示單元的老化補(bǔ)償后的數(shù)據(jù)電壓值；
[0022]通過電壓調(diào)節(jié)器將老化補(bǔ)償后的數(shù)據(jù)電壓值反饋到伽馬產(chǎn)生單元；
[0023]通過所述伽馬產(chǎn)生單元向所述有機(jī)發(fā)光顯示器的各個(gè)顯示單元輸送老化補(bǔ)償后的數(shù)據(jù)電壓值。
[0024]優(yōu)選的，所述老化檢測(cè)電路包括晶體管、老化測(cè)量線和老化測(cè)量控制線，所述晶體管的源極與所述OLED器件的陽(yáng)極連接，所述晶體管的漏極通過老化測(cè)量線與所述驅(qū)動(dòng)芯片連接，所述晶體管的柵極通過老化測(cè)量控制線與所述驅(qū)動(dòng)芯片連接。
[0025]優(yōu)選的，所述有機(jī)發(fā)光顯示器的顯示區(qū)域設(shè)置有九個(gè)老化測(cè)試點(diǎn)，所述九個(gè)老化測(cè)試點(diǎn)均勻排布于顯示區(qū)域中。
[0026]優(yōu)選的，所述九個(gè)老化測(cè)試點(diǎn)共用同一條老化測(cè)量控制線。
[0027]優(yōu)選的，所述每個(gè)老化測(cè)試點(diǎn)均包括至少三個(gè)連有老化測(cè)試線的子像素。
[0028]在本發(fā)明提供的OLED器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)及其老化補(bǔ)償方法中，通過設(shè)置老化測(cè)試電路，使得驅(qū)動(dòng)芯片通過所述老化測(cè)試點(diǎn)能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控OLED器件的老化狀況，并根據(jù)老化狀況的不同進(jìn)行分區(qū)補(bǔ)償，從而避免出現(xiàn)因OLED器件老化而導(dǎo)致亮度衰減以及色偏冋題。
【附圖說明】
[0029]圖1是本發(fā)明OLED器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖2是本發(fā)明驅(qū)動(dòng)芯片的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖3是本發(fā)明OLED器件的老化補(bǔ)償方法的流程圖；
[0032]圖4是本發(fā)明有機(jī)發(fā)光顯示器的部分結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0033]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明提出的一種OLED器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)及其老化補(bǔ)償方法作進(jìn)一步詳細(xì)說明。根據(jù)下面說明和權(quán)利要求書，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說明的是，附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實(shí)施例的目的。
[0034]請(qǐng)參考圖1，其為本發(fā)明實(shí)施例的OLED器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，所述OLED器件的老化補(bǔ)償系統(tǒng)100包括:像素電路10、第一電源VDD、第二電源VSS、老化檢測(cè)電路20和驅(qū)動(dòng)芯片30 ;所述像素電路10包括OLED器件，所述OLED器件連接在所述第一電源VDD和第二電源VSS之間，所述驅(qū)動(dòng)芯片30通過數(shù)據(jù)線DATA與所述像素電路10連接，用于驅(qū)動(dòng)所述OLED器件發(fā)光；所述老化檢測(cè)電路20連接在所述OLED器件的陽(yáng)極與所述驅(qū)動(dòng)芯片30之間，所述驅(qū)動(dòng)芯片30通過老化檢測(cè)電路20測(cè)量所述OLED器件的陽(yáng)極電壓，所述驅(qū)動(dòng)芯片30具有一數(shù)據(jù)電壓查找表，所述驅(qū)動(dòng)芯片30將陽(yáng)極電壓和數(shù)據(jù)電壓查找表進(jìn)行對(duì)比并對(duì)陽(yáng)極電壓進(jìn)行老化補(bǔ)償。
[0035]其中，所述老化檢測(cè)電路20包括:晶體管Tl、老化測(cè)量線LI和老化測(cè)量控制線L2，所述晶體管Tl的源極與所述OLED器件的陽(yáng)極連接，所述晶體管Tl的漏極通過老化測(cè)量線LI與所述驅(qū)動(dòng)芯片30連接，所述晶體管Tl的柵極通過老化測(cè)量控制線L2與所述驅(qū)動(dòng)芯片30連接。優(yōu)選的，所述晶體管Tl為薄膜晶體管。
[0036]需要說明的是，所述像素電路10的電路結(jié)構(gòu)在此不做限制，可以采用任何現(xiàn)有的電路結(jié)構(gòu)，包括2T1C、6T1C、6T2C等電路結(jié)構(gòu)，只要所述像素電路10能夠輸出驅(qū)動(dòng)電流驅(qū)動(dòng)所述OLED器件發(fā)光即可。本實(shí)施例中，所述像素電路10以2T1C型電路為例。
[0037]請(qǐng)參考圖3，其為本發(fā)明實(shí)施例的驅(qū)動(dòng)芯片的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示，所述驅(qū)動(dòng)芯片30包括:低通濾波器31、數(shù)模轉(zhuǎn)換器32、邏輯判斷單元33、電壓調(diào)節(jié)器34和伽馬產(chǎn)生單元35 ;所述低通濾波器31的輸出端連接所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器32的輸入端，所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器32的輸出端連接所述邏輯判斷單元33的輸入端，所述邏輯判斷單元33的輸出端連接所述電壓調(diào)節(jié)器34的輸入端，所述電壓調(diào)節(jié)器34的輸出端連接所述伽馬產(chǎn)生單元35的輸入端。
[0038]所述驅(qū)動(dòng)芯片30通過老化檢測(cè)電路20測(cè)得OLED器件的陽(yáng)極電壓，經(jīng)過驅(qū)動(dòng)芯片30內(nèi)部的低通濾波器31和數(shù)模轉(zhuǎn)換器32的處理，再反饋給邏輯判斷單元33，由邏輯判斷單元33根據(jù)OLED器件的陽(yáng)極電壓值判斷OLED器件的老化狀況，所述邏輯判斷單元33將OLED器件的陽(yáng)極電壓值與驅(qū)動(dòng)芯片30內(nèi)儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)電壓查找表進(jìn)行對(duì)比，并計(jì)算出補(bǔ)償后的數(shù)據(jù)電壓值，補(bǔ)償后的數(shù)據(jù)電壓值經(jīng)過所述電壓調(diào)節(jié)器34反饋到伽馬產(chǎn)生單元35，由所述伽馬產(chǎn)生單元35將補(bǔ)償后的數(shù)據(jù)電壓值輸送到顯示區(qū)域。
[0039]由此可見，所述驅(qū)動(dòng)芯片不但能夠定時(shí)檢測(cè)所述老化測(cè)試點(diǎn)中OLED器件的陽(yáng)極電壓，而且能夠根據(jù)所述OLED器件的陽(yáng)極電壓進(jìn)行老化補(bǔ)償。
[0040]相應(yīng)的，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種OLED器件的老化補(bǔ)償方法。請(qǐng)參考圖3，其為本發(fā)明實(shí)施例的OLED器件的老化補(bǔ)償方法的流程圖。如圖3所示，所述OLED器件的老化補(bǔ)償方法包括:
[0041]步驟一:通過實(shí)驗(yàn)測(cè)量獲得OLED器件的老化數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述老化數(shù)據(jù)制作數(shù)據(jù)電壓查找表；
[0042]步驟二:將數(shù)據(jù)電壓查找表存入驅(qū)動(dòng)芯片中；
[0043]步驟三: