本實(shí)用新型涉及車(chē)輛工程技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

HIL(hardware-in-the-loop，硬件在環(huán))測(cè)試系統(tǒng)是整車(chē)控制器測(cè)試中的一種測(cè)試方法。傳統(tǒng)的整車(chē)控制系器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)有以下特點(diǎn)(如圖1所示)：一般主要由1個(gè)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU也可以稱(chēng)之為被測(cè)VCU、HIL設(shè)備(內(nèi)部含硬件接口+單一運(yùn)行模型)、標(biāo)定設(shè)備、監(jiān)控設(shè)備四大部分組成；HIL設(shè)備中由硬件接口、運(yùn)行模型(對(duì)應(yīng)被測(cè)VCU的測(cè)試環(huán)境模型，包括駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型等)組成；四大部分組成閉環(huán)對(duì)VCU進(jìn)行測(cè)試。

但是這種傳統(tǒng)的整車(chē)控制系器HIL測(cè)試系統(tǒng)存在以下問(wèn)題：第一，如果更改被測(cè)VCU，例如將VCU1換為VCU2，則駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型等環(huán)境測(cè)試模型即運(yùn)行模型都需要進(jìn)行修改；即無(wú)法同步對(duì)多個(gè)整車(chē)控制器同時(shí)測(cè)試，在多個(gè)項(xiàng)目同時(shí)需要進(jìn)行HIL測(cè)試時(shí)影響測(cè)試進(jìn)度；第二，由于每次只能對(duì)一個(gè)VCU進(jìn)行測(cè)試，因此無(wú)法進(jìn)行VCU1和其他VCU(VCU2、VCU3、…)測(cè)試結(jié)果的對(duì)比；第三，對(duì)同一個(gè)VCU一次只能進(jìn)行一種運(yùn)行模型下的HIL測(cè)試，無(wú)法快速切換VCU在不同的運(yùn)行模型下的測(cè)試。因此，如何提高整車(chē)控制器HIL測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試效率，是本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的技術(shù)問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的是提供一種整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)，該HIL測(cè)試系統(tǒng)能夠快速同步的對(duì)多個(gè)項(xiàng)目的整車(chē)控制器VCU進(jìn)行HIL測(cè)試，加快多個(gè)項(xiàng)目整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試進(jìn)度，提高測(cè)試效率。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)，包括監(jiān)控設(shè)備，與所述監(jiān)控設(shè)備相連的標(biāo)定設(shè)備，與所述標(biāo)定設(shè)備相連的被測(cè)整車(chē)控制器VCU，還包括HIL設(shè)備；所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU個(gè)數(shù)至少為兩個(gè)；

所述HIL設(shè)備包括預(yù)定個(gè)數(shù)的硬件接口和與各所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU對(duì)應(yīng)的運(yùn)行模型；各所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU分別與一個(gè)所述硬件接口連接。

可選的，所述監(jiān)控設(shè)備還包括接收各所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU的測(cè)試標(biāo)定數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器。

可選的，所述HIL設(shè)備還包括與硬件接口相連，擴(kuò)展所述硬件接口個(gè)數(shù)的備用硬件接口擴(kuò)展接口。

可選的，該整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)還包括：

與所述監(jiān)控設(shè)備相連，接收各所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU的測(cè)試標(biāo)定數(shù)據(jù)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析的數(shù)據(jù)對(duì)比分析設(shè)備。

可選的，該整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)還包括：

與所述數(shù)據(jù)對(duì)比分析設(shè)備相連，輸出數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果的輸出設(shè)備。

可選的，所述輸出設(shè)備具體為顯示器。

可選的，所述輸出設(shè)備具體為顯示器和打印機(jī)。

本實(shí)用新型所提供的一種整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)，包括監(jiān)控設(shè)備，與所述監(jiān)控設(shè)備相連的標(biāo)定設(shè)備，與所述標(biāo)定設(shè)備相連的被測(cè)整車(chē)控制器VCU，還包括HIL設(shè)備；所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU個(gè)數(shù)至少為兩個(gè)；所述HIL設(shè)備包括預(yù)定個(gè)數(shù)的硬件接口和與各所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU對(duì)應(yīng)的運(yùn)行模塊；各所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU分別與一個(gè)所述硬件接口連接；

可見(jiàn)，該整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)在HIL設(shè)備上設(shè)置多個(gè)硬件接口同時(shí)與多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU相連，且HIL設(shè)備內(nèi)部配置了多個(gè)與各個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU相對(duì)應(yīng)的運(yùn)行模型，可以同時(shí)對(duì)多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU進(jìn)行測(cè)試；即能夠快速同步的對(duì)多個(gè)項(xiàng)目的整車(chē)控制器VCU進(jìn)行HIL測(cè)試，加快多個(gè)項(xiàng)目整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試進(jìn)度，提高測(cè)試效率。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的又一整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

本實(shí)用新型的核心是提供一種整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)，該HIL測(cè)試系統(tǒng)能夠快速同步的對(duì)多個(gè)項(xiàng)目的整車(chē)控制器VCU進(jìn)行HIL測(cè)試，加快多個(gè)項(xiàng)目整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試進(jìn)度，提高測(cè)試效率。

為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

請(qǐng)參考圖2，圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；該整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)可以包括監(jiān)控設(shè)備100，與監(jiān)控設(shè)備100相連的標(biāo)定設(shè)備200，與標(biāo)定設(shè)備200相連的被測(cè)整車(chē)控制器VCU300，還包括HIL設(shè)備400；被測(cè)整車(chē)控制器VCU300個(gè)數(shù)至少為兩個(gè)；其中，監(jiān)控設(shè)備100可以是HIL監(jiān)控及標(biāo)定電腦，進(jìn)行監(jiān)控及修訂HIL參數(shù)，標(biāo)定設(shè)備200可以進(jìn)行監(jiān)控及標(biāo)定ECU參數(shù)。

HIL設(shè)備400包括預(yù)定個(gè)數(shù)的硬件接口和與各被測(cè)整車(chē)控制器VCU300對(duì)應(yīng)的運(yùn)行模塊；各被測(cè)整車(chē)控制器VCU300分別與HIL設(shè)備400中一個(gè)硬件接口連接。使得各被測(cè)整車(chē)控制器VCU300與硬件接口及運(yùn)行模塊相對(duì)應(yīng)。

具體的，本實(shí)施例為了解決現(xiàn)有技術(shù)中每次只可以對(duì)一個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU300進(jìn)行HIL測(cè)試，且每次更換被測(cè)整車(chē)控制器VCU300時(shí)都必須對(duì)HIL設(shè)備400中的運(yùn)行模型(駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型等)也可以稱(chēng)為被測(cè)整車(chē)控制器VCU的測(cè)試環(huán)境模型進(jìn)行參數(shù)的修改。增加了對(duì)多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300進(jìn)行HIL測(cè)試的難度和繁雜程度。且如果需要同時(shí)對(duì)多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300進(jìn)行HIL測(cè)試，則需要同時(shí)設(shè)置多個(gè)如圖1所示的測(cè)試系統(tǒng)，硬件花費(fèi)很大，使得測(cè)試成本變得很大。因此，本實(shí)施例通過(guò)對(duì)HIL設(shè)備400進(jìn)行改進(jìn)，增加其硬件接口，使其可以同時(shí)連接多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU300，這里HIL設(shè)備400的硬件接口的個(gè)數(shù)可以由用戶根據(jù)實(shí)際測(cè)試規(guī)模進(jìn)行確定，例如通常都會(huì)對(duì)10個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU300進(jìn)行HIL測(cè)試，這里就可以在HIL設(shè)備400中設(shè)置10個(gè)與之相連的硬件接口，且為了進(jìn)一步提高系統(tǒng)測(cè)試冗余能力也可以設(shè)置12個(gè)與之相連的硬件接口。當(dāng)然用戶也可以長(zhǎng)遠(yuǎn)考慮以備未來(lái)測(cè)試規(guī)模的擴(kuò)大可以在HIL設(shè)備400中設(shè)置備用硬件接口擴(kuò)展接口，可以通過(guò)該接口連接擴(kuò)展的硬件接口，使得滿足被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300數(shù)量的變化。也可以在連接的各擴(kuò)展硬件接口中都預(yù)留一個(gè)備用硬件接口擴(kuò)展接口，使其可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU300進(jìn)行HIL測(cè)試。即可選的，HIL設(shè)備400還包括與硬件接口相連，擴(kuò)展所述硬件接口個(gè)數(shù)的備用硬件接口擴(kuò)展接口。

其次，當(dāng)實(shí)現(xiàn)HIL設(shè)備400與多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的硬件連接之后，還需要使HIL設(shè)備400滿足多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的運(yùn)行模型配置，因此需要將各個(gè)與HIL設(shè)備400相連的被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的運(yùn)行模型導(dǎo)入到HIL設(shè)備400中如圖2所示。使得每個(gè)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300都有與之對(duì)應(yīng)的運(yùn)行模型?？梢岳帽O(jiān)控設(shè)備100對(duì)HIL設(shè)備400中的各個(gè)運(yùn)行模型進(jìn)行參數(shù)修改以及與被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的對(duì)應(yīng)關(guān)系的修改?？梢詫?shí)現(xiàn)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300可以在多種測(cè)試模型環(huán)境即運(yùn)行模型下進(jìn)行多種情況測(cè)試，滿足多種覆蓋下的測(cè)試。例如參考圖2運(yùn)行模型1與被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(1)對(duì)應(yīng)，運(yùn)行模型2與被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(2)對(duì)應(yīng)，運(yùn)行模型3與被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(3)對(duì)應(yīng)，可以通過(guò)修改運(yùn)行模型與被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的對(duì)應(yīng)關(guān)系，如使得運(yùn)行模型1與被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(2)對(duì)應(yīng)，運(yùn)行模型2與被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(3)對(duì)應(yīng)，運(yùn)行模型3與被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(1)對(duì)應(yīng)。這樣通過(guò)一次運(yùn)行模型的設(shè)置可以使得每一個(gè)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300進(jìn)行3次HIL測(cè)試，大大提升了整車(chē)控制器VCU進(jìn)行HIL測(cè)試的效率即提高了運(yùn)行模型的使用效率。還可以對(duì)運(yùn)行模型進(jìn)行更加復(fù)雜的控制，例如將各個(gè)運(yùn)行模型中的內(nèi)容進(jìn)行組合(如下述例子中所述過(guò)程)，再結(jié)合對(duì)各個(gè)運(yùn)行模型參數(shù)的修改可以滿足多種覆蓋下的測(cè)試。且在短時(shí)間內(nèi)滿足所有被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的多種覆蓋下的測(cè)試。

請(qǐng)參考圖2，以N個(gè)被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300為例說(shuō)明上述整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)的工作過(guò)程；具體過(guò)程如下：確定被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300個(gè)數(shù)，建立各被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的運(yùn)行模型(包括駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型等環(huán)境測(cè)試模型)并將全部運(yùn)行模型導(dǎo)入到具有多個(gè)硬件接口的HIL設(shè)備400中將各被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300按照?qǐng)D2方式與HIL設(shè)備400連接，開(kāi)始進(jìn)行HIL測(cè)試；運(yùn)行HIL設(shè)備400，被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(1)到被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(N)首先在對(duì)應(yīng)的運(yùn)行模型1(含駕駛員模型1+道路模型1+車(chē)輛模型1+電池模型1+BMS模型1+電機(jī)模型1+MCU模型1)到運(yùn)行模型N(含駕駛員模型N+道路模型N+車(chē)輛模型N+電池模型N+BMS模型N+電機(jī)模型N+MCU模型N)；完成上面基本測(cè)試后，控制HIL設(shè)備400快速切換不同被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(1)到被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(N)在不同的運(yùn)行模型(如駕駛員模型、道路模型、電池模型、電機(jī)模型)下的測(cè)試。(例如：被測(cè)整車(chē)控制系器VCU(1)在駕駛員模型1+道路模型2+車(chē)輛模型2+電池模型3+BMS模型3+電機(jī)模型4+MCU模型4或者在駕駛員模型1+道路模型1+車(chē)輛模型1+電池模型2+BMS模型2+電機(jī)模型3+MCU模型3或者在駕駛員模型1+道路模型1+車(chē)輛模型1+電池模型1+BMS模型1+電機(jī)模型2+MCU模型2等等條件下的自動(dòng)化測(cè)試，圖2中帶標(biāo)記的線條對(duì)應(yīng)的組合只是示例沒(méi)有全部畫(huà)出各個(gè)模型下的組合)。被測(cè)整車(chē)控制器VCU300在各個(gè)運(yùn)行模型下可以自動(dòng)執(zhí)行，得到測(cè)試結(jié)果。

進(jìn)一步，為了滿足用戶對(duì)得到的測(cè)試結(jié)果即全部被測(cè)整車(chē)控制器VCU300的測(cè)試標(biāo)定數(shù)據(jù)的查看，分析可以將這些數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)，通?？梢灾苯釉诒O(jiān)控設(shè)備100種設(shè)備存儲(chǔ)器，也可以隨著測(cè)試規(guī)模的擴(kuò)大滿足對(duì)海量數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)可以外接大的存儲(chǔ)設(shè)備，使其與監(jiān)控設(shè)備100連接。因此可選的，監(jiān)控設(shè)備100還包括接收各所述被測(cè)整車(chē)控制器VCU的測(cè)試標(biāo)定數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器。這里存儲(chǔ)器的大小和類(lèi)型可以由用戶根據(jù)實(shí)際需求進(jìn)行確定還可以隨著時(shí)間增長(zhǎng)進(jìn)行更換。

基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例提的整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)在HIL設(shè)備上設(shè)置多個(gè)硬件接口同時(shí)與多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU相連，且HIL設(shè)備內(nèi)部配置了多個(gè)與各個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU相對(duì)應(yīng)的運(yùn)行模型，可以同時(shí)對(duì)多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU進(jìn)行測(cè)試；即能夠快速同步的對(duì)多個(gè)項(xiàng)目的整車(chē)控制器VCU進(jìn)行HIL測(cè)試，加快多個(gè)項(xiàng)目整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試進(jìn)度，提高測(cè)試效率且通過(guò)監(jiān)控設(shè)備100對(duì)HIL設(shè)備400中運(yùn)行模型的控制可以滿足所有被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的測(cè)試覆蓋率。

基于上述實(shí)施例，請(qǐng)參考圖3，整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)還可以包括：

與監(jiān)控設(shè)備100相連，接收各被測(cè)整車(chē)控制器VCU300的測(cè)試標(biāo)定數(shù)據(jù)，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析的數(shù)據(jù)對(duì)比分析設(shè)備500。

具體的，該數(shù)據(jù)對(duì)比分析設(shè)備500能夠分析根據(jù)現(xiàn)有分析方法對(duì)多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器數(shù)據(jù)進(jìn)行的同步測(cè)試數(shù)據(jù)分析，更加宏觀的發(fā)現(xiàn)單一被測(cè)整車(chē)控制器VCU300的測(cè)試結(jié)果所不能發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題，提高測(cè)試數(shù)據(jù)的利用率，提高測(cè)試效果。

進(jìn)一步，請(qǐng)參考圖4，為了使得用戶能夠進(jìn)一步對(duì)對(duì)比分析的結(jié)果進(jìn)行觀察，該整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)還可以包括：

與所述數(shù)據(jù)對(duì)比分析設(shè)備500相連，輸出數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果的輸出設(shè)備600。可以直觀顯示對(duì)比及測(cè)試結(jié)果。方便用戶(如測(cè)試人員及參觀人員)對(duì)測(cè)試結(jié)果的獲取。

具體的，這里的輸出設(shè)備600可以為任意形式的輸出，可以有用戶進(jìn)行確定，本實(shí)施例并不限定輸出設(shè)備600的具體內(nèi)容?？蛇x的，輸出設(shè)備600具體為顯示器，可以將對(duì)比結(jié)果通過(guò)顯示器進(jìn)行顯示?？蛇x的，輸出設(shè)備600具體為打印機(jī)，可以將對(duì)比結(jié)果進(jìn)行打印顯示。可選的，輸出設(shè)備600具體為顯示器和打印機(jī)。

基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例提的整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)在HIL設(shè)備上設(shè)置多個(gè)硬件接口同時(shí)與多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU相連，且HIL設(shè)備內(nèi)部配置了多個(gè)與各個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU相對(duì)應(yīng)的運(yùn)行模型，可以同時(shí)對(duì)多個(gè)被測(cè)整車(chē)控制器VCU進(jìn)行測(cè)試，并可以通過(guò)數(shù)據(jù)對(duì)比分析設(shè)備500對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析；即能夠快速同步的對(duì)多個(gè)項(xiàng)目的整車(chē)控制器VCU進(jìn)行HIL測(cè)試，最終將測(cè)試結(jié)果進(jìn)行相關(guān)類(lèi)比分析和對(duì)比研究，加快多個(gè)項(xiàng)目整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試進(jìn)度，提高測(cè)試效率且通過(guò)監(jiān)控設(shè)備100對(duì)HIL設(shè)備400中運(yùn)行模型的控制可以滿足所有被測(cè)整車(chē)控制系器VCU300的測(cè)試覆蓋率。

以上對(duì)本實(shí)用新型所提供的整車(chē)控制器VCU的HIL測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了詳細(xì)介紹。本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對(duì)本實(shí)用新型的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述，以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本實(shí)用新型的方法及其核心思想。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行若干改進(jìn)和修飾，這些改進(jìn)和修飾也落入本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。