多模介質(zhì)介電常數(shù)測試裝置及其使用方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及無線通心射頻器件技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及多模介質(zhì)介電常數(shù)測試裝置及其使用方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著陶瓷介質(zhì)在微波通信領(lǐng)域的迅速發(fā)展，多模介質(zhì)濾波器的應(yīng)用也受到越來越多的關(guān)注，但多模介質(zhì)濾波器研究的難點之一就是對多模介質(zhì)的介電性能及尺寸精度要求較高，必須通過嚴格的加工及精確的測量來保障。
[0003]對于多模介質(zhì)的介電性能測試，目前鮮有涉及，或采用的方式是用介質(zhì)樣品環(huán)替代測試，結(jié)構(gòu)上的差異使得測試準確性較低。
[0004]對于采用介質(zhì)樣品環(huán)替代多模介質(zhì)測試，存在以下弊端:一、介質(zhì)樣品環(huán)為圓形，而實際的多模介質(zhì)為方形，結(jié)構(gòu)上的不同可能導致成型密度不同，使得介電常數(shù)存在差異；二、介質(zhì)樣品環(huán)測試時，通常需要一個圓形支撐體作支撐，該圓形支撐體對介質(zhì)的定位精度較低，不僅影響測試準確性，批量測試一致性也難以保證。
[0005]上述用介質(zhì)樣品環(huán)替代多模介質(zhì)測試存在的弊端促使我們?nèi)ヌ接懶碌臏y試方法，來解決多模介質(zhì)的精確測量要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的不足提供一種多模介質(zhì)介電常數(shù)測試裝置，旨在解決現(xiàn)有的多模介質(zhì)介電性能傳統(tǒng)測試方法的弊端，以提高測量精度，保證產(chǎn)品性能以及產(chǎn)品的批量可制造性。
[0007]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案是:多模介質(zhì)介電常數(shù)測試裝置，包括開設(shè)有屏蔽腔的金屬體以及蓋設(shè)于所述屏蔽腔上方的蓋板，所述屏蔽腔的內(nèi)底部設(shè)置有支撐體，所述支撐體的頂端面開設(shè)有定位槽，所述屏蔽腔相對的兩側(cè)壁分別穿設(shè)有一耦合探針。
[0008]優(yōu)選的，兩所述耦合探針的外端部均設(shè)置有射頻連接器。
[0009]優(yōu)選的，所述定位槽的其中相鄰的兩端為敞開結(jié)構(gòu)，相對該敞開結(jié)構(gòu)的另相鄰的兩端形成L型槽壁。
[0010]優(yōu)選的，所述屏蔽腔為方形屏蔽腔。
[0011]優(yōu)選的，所述支撐體由PTFE、PPE或PI材料制成。
[0012]優(yōu)選的，所述屏蔽腔和蓋板的內(nèi)表面均設(shè)置有鍍銀層。
[0013]優(yōu)選的，所述支撐體開設(shè)有至少一個沉頭孔，所述支撐體通過沉頭螺釘穿設(shè)該沉頭孔與所述屏蔽腔的內(nèi)底部連接。
[0014]優(yōu)選的，所述金屬體的頂部開設(shè)有至少一個第一螺孔，所述蓋板開設(shè)有至少一個與所述第一螺孔對應(yīng)的第二螺孔，所述蓋板通過螺釘穿設(shè)所述第二螺孔和第一螺孔與所述金屬體固定連接。
[0015]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明的多模介質(zhì)介電常數(shù)測試裝置，測試時，將被測的多模介質(zhì)體放在支撐體的定位槽內(nèi)；接著通過定位槽對該多模介質(zhì)體進行定位，并確保多模介質(zhì)體位于兩耦合探針的內(nèi)端部之間；接著將蓋板蓋設(shè)于屏蔽腔的上方并壓緊在金屬體的頂部；接著將頻率測試儀的I/o電纜分別與兩個耦合探針的外端部連接，然后讀取諧振頻率；最后將讀取的諧振頻率以及多模介質(zhì)體的外形尺寸代入仿真軟件，計算出多模介質(zhì)體的介電常數(shù)。本發(fā)明能夠直接對多模介質(zhì)進行測試，無需制作樣品環(huán)，節(jié)省了加工周期，實測得到的數(shù)據(jù)和仿真吻合度較好，保證測試的準確性；且裝置結(jié)構(gòu)簡單，操作簡易，可批量測試，保證多模介質(zhì)濾波器批量制造的可行性。
[0016]本發(fā)明的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的不足提供一種多模介質(zhì)介電常數(shù)測試裝置的使用方法，旨在解決現(xiàn)有的多模介質(zhì)介電性能傳統(tǒng)測試方法的弊端，以提高測量精度，保證產(chǎn)品性能以及產(chǎn)品的批量可制造性。
[0017]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的另一技術(shù)方案是:一種多模介質(zhì)介電常數(shù)測試裝置的使用方法，
[0018](a)將被測的多模介質(zhì)體放在支撐體的定位槽內(nèi)；
[0019](b)通過定位槽對該多模介質(zhì)體進行定位，并確保多模介質(zhì)體位于兩耦合探針的內(nèi)端部之間；
[0020](c)將蓋板蓋設(shè)于屏蔽腔的上方并壓緊在金屬體的頂部；
[0021](d)將頻率測試儀的I/O電纜分別與兩個耦合探針的外端部連接，然后讀取諧振頻率；
[0022](e)將讀取的諧振頻率以及多模介質(zhì)體的外形尺寸代入仿真軟件，計算出多模介質(zhì)體的介電常數(shù)。
[0023]優(yōu)選的，所述步驟(C)具體的為:將蓋板蓋設(shè)于在屏蔽腔的上方并壓緊在金屬體的頂部，然后傾斜金屬體使得多模介質(zhì)體通過自重緊靠于定位槽的槽壁。
[0024]本發(fā)明的有益效果:通過本發(fā)明的方法能夠直接對多模介質(zhì)體進行測試，無需制作樣品環(huán)，節(jié)省了加工周期，實測得到的數(shù)據(jù)和仿真吻合度較好，保證測試的準確性；且操作簡易，可批量測試，保證多模介質(zhì)濾波器批量制造的可行性。
【附圖說明】
[0025]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0026]圖2為本發(fā)明中被測的多模介質(zhì)體的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]附圖標記包括:
[0028]10—金屬體 11一屏蔽腔 12—第一螺孔
[0029]20—蓋板21—第二螺孔30—支撐體
[0030]31 一定位槽 32—沉頭孔 40—親合探針
[0031]41 一射頻連接器50—多模介質(zhì)體。
【具體實施方式】
[0032]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0033]需要說明的是，當元件被稱為“固定于”或“設(shè)置于”另一個元件上時，它可以直接在另一個元件上或者可能同時存在居中元件。當一個元件被稱為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接另一個元件或者可能同時存在居中元件。
[0034]還需要說明的是，本實施例中的左、右、上、下、頂、底等方位用語，僅是互為相對概念或是以產(chǎn)品的正常使用狀態(tài)為參考的，而不應(yīng)該認為是具有限制性的。
[0035]如圖1至圖2所示，本發(fā)明實施例提供的多模介質(zhì)介電常數(shù)測試裝置，包括開設(shè)有屏蔽腔11的金屬體10以及蓋設(shè)于屏蔽腔11上方的蓋板20，屏蔽腔11的內(nèi)底部設(shè)置有支撐體30，支撐體30的頂端面開設(shè)有定位槽31，屏蔽腔11相對的兩側(cè)壁分別穿設(shè)有一耦合探針40。其中，屏蔽腔11可以設(shè)計呈方形的屏蔽腔11。
[0036]具體的，可以通過以下方法步驟使用本實施例的裝置進行多模介質(zhì)介電常數(shù)測試:
[0037](a)將被測的多模介質(zhì)體50放在支撐體30的定位槽31內(nèi)；
[0038](b)通過定位槽31對該多模介質(zhì)體50進行定位，并確保多模介質(zhì)體50位于兩耦合探針40的內(nèi)端部之間；
[0039](c)將蓋板20蓋設(shè)于屏蔽腔11的上方并壓緊在金屬體10的頂部；
[0040](d)將頻率測試儀的I/O電纜分別與兩個耦合探針40的外端部連接，經(jīng)過耦合探針信號耦合測試頻率，然后讀取TEOlδ模諧振頻率；
[0041](e)將讀取的諧振頻率以及多模介質(zhì)體50的外形尺寸代入仿真軟件，其中，多模介質(zhì)體50的外形尺寸分別包括長寬高值，最后計算出多模介質(zhì)體50的介電常數(shù)。
[0042]進一步地，步驟(C)具體的為:將蓋板20蓋設(shè)于在屏蔽腔11的上方并壓緊在金屬體10的頂部，然后傾斜金屬體10使得多模介質(zhì)體50通過自重緊靠于定位槽31的槽壁。這樣，可以確保多模介質(zhì)體50內(nèi)側(cè)相鄰的兩側(cè)面在重力的作用下