本發(fā)明涉及單相電能表檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及單相電能表的調(diào)檢一體化裝置及其方法。

背景技術(shù)：

我們知道一個被校表被檢測出來是否合格，不僅與被校表自身偏差有關(guān)，還可能與標(biāo)準(zhǔn)表偏差有關(guān)，但在現(xiàn)有的調(diào)試和總檢裝置中均缺乏對標(biāo)準(zhǔn)表偏差的監(jiān)控。尤其是在總檢和調(diào)試所具有的相同的測試點處，從理論上來說，在相同的測試點處標(biāo)準(zhǔn)表的讀數(shù)應(yīng)是大致相等的，但由于現(xiàn)有的電能表的調(diào)試和總檢是分開進行的，兩者在相同的測試點處并沒有進行任何信息的交互，當(dāng)然也沒有對標(biāo)準(zhǔn)表的檢測數(shù)據(jù)進行實時地比對，導(dǎo)致標(biāo)準(zhǔn)表的偏差無法得到實時的監(jiān)控。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是：提供一種調(diào)試和總檢同臺、能實時比對標(biāo)準(zhǔn)表在相同測試點處的檢測數(shù)據(jù)、從而可對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行實時監(jiān)控的單相電能表的調(diào)檢一體化裝置。

本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：一種單相電能表的調(diào)檢一體化裝置，包括機架、上位機和程控功率源，所述上位機與程控功率源通信連接，所述機架上設(shè)有1個或多個校表工位，所述程控功率源與安裝在各校表工位上的被校表電連接，用于為被校表提供測試電壓和測試電流，其特征在于：所述機架上還設(shè)有調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表和總檢標(biāo)準(zhǔn)表，所述程控功率源通過一切換模塊在調(diào)試時切換至與調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表電連接，在總檢時切換至與總檢標(biāo)準(zhǔn)表電連接，用于為調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表或總檢標(biāo)準(zhǔn)表提供測試電壓和測試電流，所述調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表和總檢標(biāo)準(zhǔn)表均通過串口服務(wù)器與上位機通信連接用于實時上傳檢測數(shù)據(jù)并保存和比對。

采用上述結(jié)構(gòu)后，本發(fā)明具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明單相電能表的調(diào)檢一體化裝置將調(diào)試和總檢設(shè)置在一起，且分別為調(diào)試和總檢各設(shè)置一個標(biāo)準(zhǔn)表，這樣在調(diào)試時，由調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表上傳檢測數(shù)據(jù)并由上位機進行保存，在總檢時，由總檢標(biāo)準(zhǔn)表上傳檢測數(shù)據(jù)，由于總檢與調(diào)試有一些測試點是相同的，因此在相同的測試點處，由上位機實時比對總檢標(biāo)準(zhǔn)表上傳的檢測數(shù)據(jù)與之前保存在上位機內(nèi)的調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表上傳的檢測數(shù)據(jù)，如果兩者相差太大，則提示其中一個標(biāo)準(zhǔn)表出現(xiàn)偏差，這樣便可在進入下一輪檢測之前排查出有偏差的標(biāo)準(zhǔn)表，從而可實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)表偏差的實時監(jiān)控。

作為優(yōu)選，所述各校表工位包括具有1個或多個表位的托盤、設(shè)置在各表位處的頂針塊組件、以及用于驅(qū)動各頂針塊組件與各表位的被校表連接或分離的前后直線驅(qū)動機構(gòu)，所述程控功率源通過頂針塊組件的電壓電流頂針與被校表的電壓電流接線端子電連接。該設(shè)置可方便將程控功率源的電壓電流接入到被校表。

作為優(yōu)選，還包括設(shè)置在機架上的用于分別監(jiān)控調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表和總檢標(biāo)準(zhǔn)表的調(diào)試基表和總檢基表，所述程控功率源還通過切換模塊在調(diào)試時切換至與調(diào)試基表電連接，在總檢時切換至與總檢基表電連接，用于為調(diào)試基表或總檢基表提供測試電壓和測試電流，所述調(diào)試基表、總檢基表分別與調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表、總檢標(biāo)準(zhǔn)表通信連接用于實時傳輸檢測數(shù)據(jù)給調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表和總檢標(biāo)準(zhǔn)表。該設(shè)置使得在調(diào)試和總檢中可分別利用調(diào)試基表和總檢基表對兩個標(biāo)準(zhǔn)表進行監(jiān)控，使得在調(diào)試過程中就已經(jīng)開始對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控，而在總檢時，不僅能在與調(diào)試相同的測試點處，利用總檢基表和之前保存在上位機內(nèi)的調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表的檢測數(shù)據(jù)同時對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控，而且還在與調(diào)試不同的測試點處，也能利用總檢基表對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控，并且在總檢和調(diào)試相同的測試點處出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)表偏差時，可根據(jù)調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表、總檢標(biāo)準(zhǔn)表、調(diào)試基表和總檢基表檢測到的數(shù)據(jù)，快速排查出出現(xiàn)偏差的標(biāo)準(zhǔn)表，因此監(jiān)控更加全面、實時、準(zhǔn)確，并降低了排查難度、提高了檢測效率。

作為優(yōu)選，所述機架上還設(shè)有用于運送托盤的托盤輸送通道。該設(shè)置可使電能表的調(diào)試和總檢采用流水線的作業(yè)方式，效率較高。

作為優(yōu)選，所述托盤輸送通道上還設(shè)有位置檢測裝置，所述托盤輸送通道和托盤上設(shè)有用于定位托盤的定位裝置。該設(shè)置可在托盤到達相應(yīng)的位置時，利用定位裝置將托盤定位，以方便后續(xù)作業(yè)。

作為優(yōu)選，所述定位裝置包括設(shè)置在托盤底部的至少兩個定位孔以及設(shè)置在托盤輸送通道內(nèi)的浮動接頭，所述浮動接頭包括頂升裝置以及與頂升裝置相連的用于與定位孔相抵的頂塊。該定位裝置結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、定位可靠。

作為優(yōu)選，所述托盤底部設(shè)有用于存儲托盤和被校表關(guān)聯(lián)信息的RFID射頻卡，所述托盤輸送通道內(nèi)設(shè)有用于讀寫RFID射頻卡的RFID掃描器。該設(shè)置可方便對電能表和托盤進行跟蹤。

本發(fā)明要解決的另一技術(shù)問題是：提供一種調(diào)試和總檢同臺、能實時比對標(biāo)準(zhǔn)表在相同測試點處的檢測數(shù)據(jù)、從而可對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行實時監(jiān)控的調(diào)檢一體化方法。

本發(fā)明的另一技術(shù)解決方案是：一種單相電能表的調(diào)檢一體化方法，其特征在于：它包括以下步驟：

(1)上位機控制切換模塊使程控功率源輸出調(diào)試所需的各測試點處的測試電壓和測試電流給調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表和被校表，調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表實時檢測回路中的電量數(shù)據(jù)，并通過串口服務(wù)器上傳數(shù)據(jù)到上位機，由上位機進行保存；

(2)調(diào)試結(jié)束，總檢開始，上位機控制切換模塊使程控功率源輸出總檢所需的各測試點處的測試電壓和測試電流給總檢標(biāo)準(zhǔn)表和被校表，總檢標(biāo)準(zhǔn)表實時檢測回路中的電量數(shù)據(jù)，并通過串口服務(wù)器上傳數(shù)據(jù)到上位機，上位機實時比對總檢與調(diào)試在相同的測試點處的檢測數(shù)據(jù)以對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控。

采用上述方法后，本發(fā)明具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明單相電能表的調(diào)檢一體化方法通過在調(diào)試與總檢相同的測試點處，由上位機實時比對總檢標(biāo)準(zhǔn)表上傳的檢測數(shù)據(jù)與之前保存在上位機內(nèi)的調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表上傳的檢測數(shù)據(jù)，以實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)表偏差的實時監(jiān)控，避免標(biāo)準(zhǔn)表偏差對檢測結(jié)果的影響。

作為優(yōu)選，在步驟(1)中，所述上位機還控制切換模塊使程控功率源輸出調(diào)試所需的各測試點處的測試電壓和測試電流給用于監(jiān)控調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表的調(diào)試基表，所述調(diào)試基表實時檢測回路中的電量數(shù)據(jù)并傳輸給調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表，調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表同時將自身檢測的電量數(shù)據(jù)和調(diào)試基表檢測的電量數(shù)據(jù)一起上傳給上位機，上位機對兩者的數(shù)據(jù)進行實時比對以對調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控，并對上述數(shù)據(jù)進行保存；在步驟(2)中，所述上位機還控制切換模塊使程控功率源輸出總檢所需的各測試點處的測試電壓和測試電流給用于監(jiān)控總檢標(biāo)準(zhǔn)表的總檢基表，所述總檢基表實時檢測回路中的電量數(shù)據(jù)并傳輸給總檢標(biāo)準(zhǔn)表，總檢標(biāo)準(zhǔn)表同時將自身檢測的電量數(shù)據(jù)和總檢基表檢測的電量數(shù)據(jù)一起上傳給上位機，上位機對兩者的數(shù)據(jù)進行實時比對以對總檢標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控，并且在總檢與調(diào)試相同的測試點處，還可根據(jù)調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表、總檢標(biāo)準(zhǔn)表、調(diào)試基表、總檢基表檢測的數(shù)據(jù)來判斷哪個標(biāo)準(zhǔn)表出現(xiàn)偏差。該設(shè)置不僅能在調(diào)試和總檢過程中實時監(jiān)控標(biāo)準(zhǔn)表的偏差，還可根據(jù)相同測試點處調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表、總檢標(biāo)準(zhǔn)表、調(diào)試基表和總檢基表檢測到的數(shù)據(jù)，快速排查出出現(xiàn)偏差的標(biāo)準(zhǔn)表，因此監(jiān)控更加全面、實時、準(zhǔn)確，并降低了排查難度、提高了檢測效率。

附圖說明：

圖1為本發(fā)明具有多個倉位時的電能表的調(diào)檢一體化裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明每個倉位的電能表的調(diào)檢一體化裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明每個倉位的電能表的調(diào)檢一體化裝置的另一結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本發(fā)明托盤與頂針塊組件的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明調(diào)檢一體化裝置的電氣原理圖；

圖中：1-機架，2-上位機，3-程控功率源，4-托盤，5-頂針塊組件，6-調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表，7-總檢標(biāo)準(zhǔn)表，8-前后直線驅(qū)動機構(gòu)，9-切換模塊，10-串口服務(wù)器，11-調(diào)試基表，12-總檢基表，13-托盤輸送通道，14-位置檢測裝置，15-定位裝置，16-定位孔，17-浮動接頭，18-頂升裝置，19-頂塊，20-RFID射頻卡，21-RFID掃描器，22-被校表。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖，并結(jié)合實施例對本發(fā)明做進一步的說明。

實施例：

如圖1至圖5所示，本發(fā)明提供一種單相電能表的調(diào)檢一體化裝置，包括機架1、上位機2和程控功率源3，所述上位機2與程控功率源3通信連接，所述機架1上設(shè)有1個或多個校表工位，所述程控功率源3與安裝在各校表工位上的被校表22電連接，用于為被校表22提供測試電壓和測試電流，其特征在于：所述機架1上還設(shè)有調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6和總檢標(biāo)準(zhǔn)表7，所述程控功率源3還通過一切換模塊9在調(diào)試時切換至與調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6電連接，在總檢時切換至與總檢標(biāo)準(zhǔn)表7電連接，用于為調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6或總檢標(biāo)準(zhǔn)表7提供測試電壓和測試電流，所述切換模塊9采用現(xiàn)有技術(shù)即可，所述調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6和總檢標(biāo)準(zhǔn)表7均通過串口服務(wù)器10與上位機2通信連接用于實時上傳檢測數(shù)據(jù)并保存和比對。

本發(fā)明電能表的調(diào)檢一體化裝置將調(diào)試和總檢設(shè)置在一起，且分別為調(diào)試和總檢各設(shè)置一個標(biāo)準(zhǔn)表，這樣在調(diào)試時，由調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6上傳檢測數(shù)據(jù)并由上位機2進行保存，在總檢時，由總檢標(biāo)準(zhǔn)表7上傳檢測數(shù)據(jù)，由于總檢與調(diào)試有一些測試點是相同的，因此在相同的測試點處，由上位機2實時比對總檢標(biāo)準(zhǔn)表7上傳的檢測數(shù)據(jù)與之前保存在上位機2內(nèi)的調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6上傳的檢測數(shù)據(jù)，如果兩者相差太大，則提示其中一個標(biāo)準(zhǔn)表出現(xiàn)偏差，這樣便可在進入下一輪檢測之前排查出有偏差的標(biāo)準(zhǔn)表，從而可實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)表偏差的實時監(jiān)控。

作為優(yōu)選，所述各校表工位包括具有1個或多個表位的托盤4、設(shè)置在各表位處的頂針塊組件5、以及用于驅(qū)動頂針塊組件5與各表位的被校表22連接或分離的前后直線驅(qū)動機構(gòu)8，所述程控功率源3通過頂針塊組件5的電壓電流頂針與被校表22的電壓電流接線端子電連接。該設(shè)置可方便將程控功率源3的電壓電流接入到被校表22。

作為優(yōu)選，還包括設(shè)置在機架1上的用于分別監(jiān)控調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6和總檢標(biāo)準(zhǔn)表7的調(diào)試基表11和總檢基表12，所述程控功率源3還通過切換模塊9在調(diào)試時切換至與調(diào)試基表11電連接，在總檢時切換至與總檢基表12電連接，用于為調(diào)試基表11或總檢基表12提供測試電壓和測試電流，所述調(diào)試基表11、總檢基表12分別與調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6、總檢標(biāo)準(zhǔn)表7通信連接用于實時傳輸檢測數(shù)據(jù)給調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6和總檢標(biāo)準(zhǔn)表7。該設(shè)置使得在調(diào)試和總檢中可分別利用調(diào)試基表11和總檢基表12對兩個標(biāo)準(zhǔn)表進行監(jiān)控，使得在調(diào)試過程中就已經(jīng)開始對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控，而在總檢時，不僅能在與調(diào)試相同的測試點處，利用總檢基表12和之前保存在上位機2內(nèi)的調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6的檢測數(shù)據(jù)同時對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控，而且還在與調(diào)試不同的測試點處，也能利用總檢基表12對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控，并且在總檢和調(diào)試相同的測試點處出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)表偏差時，可根據(jù)調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6、總檢標(biāo)準(zhǔn)表7、調(diào)試基表11和總檢基表12檢測到的數(shù)據(jù)，快速排查出出現(xiàn)偏差的標(biāo)準(zhǔn)表，因此監(jiān)控更加全面、實時、準(zhǔn)確，并降低了排查難度、提高了檢測效率。

作為優(yōu)選，所述機架1上還設(shè)有用于運送托盤4的托盤輸送通道13。該設(shè)置可使電能表的調(diào)試和總檢采用流水線的作業(yè)方式，效率更高。

作為優(yōu)選，所述托盤輸送通道13上還設(shè)有位置檢測裝置14，所述托盤輸送通道13和托盤4上設(shè)有用于定位托盤4的定位裝置15。該設(shè)置可在托盤4到達相應(yīng)的位置時，利用定位裝置15將托盤4定位，以方便后續(xù)作業(yè)。

作為優(yōu)選，所述定位裝置15包括設(shè)置在托盤4底部的至少兩個定位孔16以及設(shè)置在托盤輸送通道13內(nèi)的浮動接頭17，所述浮動接頭17包括頂升裝置18以及與頂升裝置18相連的用于與定位孔16相抵的頂塊19，所述頂升裝置18可為氣缸。該定位裝置15結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、定位可靠。

作為優(yōu)選，所述托盤4底部設(shè)有用于存儲托盤4和被校表22關(guān)聯(lián)信息的RFID射頻卡20，所述托盤輸送通道13內(nèi)設(shè)有用于讀寫RFID射頻卡20的RFID掃描器21。該設(shè)置可方便對被校表22和托盤4進行跟蹤。

作為優(yōu)選，所述托盤4為兩排三列六表位托盤4。六表位托盤4工作效率高。

作為優(yōu)選，所述頂針塊組件5分別設(shè)置在托盤4兩側(cè)的各表位處。各設(shè)置可方便托盤4和頂針塊組件5的對接。

本發(fā)明還提供一種單相電能表的調(diào)檢一體化方法，其特征在于：它包括以下步驟：

(1)上位機2控制切換模塊9使程控功率源3輸出調(diào)試所需的各測試點處的測試電壓和測試電流給調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6和被校表22，調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6實時檢測回路中的電量數(shù)據(jù)，并通過串口服務(wù)器10上傳數(shù)據(jù)到上位機2，由上位機2進行保存；

(2)調(diào)試結(jié)束，開始總檢，上位機2控制切換模塊9使程控功率源3輸出總檢所需的各測試點處的測試電壓和測試電流給總檢標(biāo)準(zhǔn)表7和被校表22，總檢標(biāo)準(zhǔn)表7實時檢測回路中的電量數(shù)據(jù)，并通過串口服務(wù)器10上傳數(shù)據(jù)到上位機2，上位機2實時比對總檢與調(diào)試在相同的測試點處的檢測數(shù)據(jù)以對標(biāo)準(zhǔn)表的偏差進行監(jiān)控。

本發(fā)明單相電能表的調(diào)檢一體化方法通過在調(diào)試與總檢相同的測試點處，由上位機2實時比對總檢標(biāo)準(zhǔn)表7上傳的檢測數(shù)據(jù)與之前保存在上位機2內(nèi)的調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6上傳的檢測數(shù)據(jù)，以實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)表偏差的實時監(jiān)控，避免標(biāo)準(zhǔn)表偏差對檢測結(jié)果的影響。

作為優(yōu)選，在步驟(1)中，所述上位機2還控制切換模塊9使程控功率源3輸出調(diào)試所需的各測試點處的測試電壓和測試電流給用于監(jiān)控調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6的調(diào)試基表11，所述調(diào)試基表11實時檢測回路中的電量數(shù)據(jù)并傳輸給調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6，調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6同時將自身檢測的電量數(shù)據(jù)和調(diào)試基表11檢測的電量數(shù)據(jù)一起上傳給上位機2，上位機2對兩者的數(shù)據(jù)進行實時比對以對調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6的偏差進行監(jiān)控，并對上述數(shù)據(jù)進行保存；在步驟(2)中，所述上位機2還控制切換模塊9使程控功率源3輸出總檢所需的各測試點處的測試電壓和測試電流給用于監(jiān)控總檢標(biāo)準(zhǔn)表7的總檢基表12，所述總檢基表12實時檢測回路中的電量數(shù)據(jù)并傳輸給總檢標(biāo)準(zhǔn)表7，總檢標(biāo)準(zhǔn)表7同時將自身檢測的電量數(shù)據(jù)和總檢基表12檢測的電量數(shù)據(jù)一起上傳給上位機2，上位機2對兩者的數(shù)據(jù)進行實時比對以對總檢標(biāo)準(zhǔn)表7的偏差進行監(jiān)控，并且在總檢與調(diào)試相同的測試點處，還可根據(jù)調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6、總檢標(biāo)準(zhǔn)表7、調(diào)試基表11、總檢基表12檢測的數(shù)據(jù)來判斷哪個標(biāo)準(zhǔn)表出現(xiàn)偏差。該設(shè)置不僅能在調(diào)試和總檢過程中實時監(jiān)控標(biāo)準(zhǔn)表的偏差，還可根據(jù)相同測試點處調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)表6、總檢標(biāo)準(zhǔn)表7、調(diào)試基表11和總檢基表12檢測到的數(shù)據(jù)，快速排查出出現(xiàn)偏差的標(biāo)準(zhǔn)表，因此監(jiān)控更加全面、實時、準(zhǔn)確，并降低了排查難度、提高了檢測效率。

作為優(yōu)選，在步驟(1)之前還包括由一托盤輸送通道13將一組托盤4輸送至各校表工位的步驟。采用流水線的作業(yè)方法，效率更高。

作為優(yōu)選，在將一組托盤4輸送至各校表工位后，還包括由一前后直線驅(qū)動機構(gòu)8驅(qū)動頂針塊組件5前移，以使各頂針塊組件5的電壓電流頂針與各表位的被校表22的電壓電流接線端子電連接的步驟。該設(shè)置可方便程控功率源3與被校表22的對接。

作為優(yōu)選，還包括步驟(2)總檢結(jié)束后，由前后直線驅(qū)動機構(gòu)8驅(qū)動頂針塊組件5后移，以使各頂針塊組件5與各表位的被校表22分離，由托盤輸送通道13將該組托盤4全部移出校表工位，以進行下一組表計的檢測的步驟。該設(shè)置可方便程控功率源3與被校表22的分離，并方便進行下一組表計的檢測。