一種非平整表面工件無損探測設(shè)備的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種非平整表面工件無損探測設(shè)備，包括密封罩、封裝外殼，所述封裝外殼與密封罩之間通過螺紋連接，其內(nèi)安裝有一永磁鐵棒，使用密封樹脂充滿封裝外殼與永磁鐵棒之間的空隙，所述永磁鐵棒上纏繞有電磁感應(yīng)線圈，其前端設(shè)有強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼，電磁感應(yīng)線圈連接到電磁檢測裝置，之后連接弱信號放大器，弱信號放大器將信號放大后傳遞給控制系統(tǒng)，所述封裝外殼外設(shè)有紅外測距裝置，其連接于控制系統(tǒng)，紅外測距裝置時刻測量強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼與被測工件表面之間的距離，并通過控制系統(tǒng)調(diào)控升降裝置保持強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼與被測工件表面之間處于合適的距離。本發(fā)明的有益效果是：結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)置合理，檢測信號穩(wěn)定，且裝置結(jié)構(gòu)簡單，價格低廉。
【專利說明】一種非平整表面工件無損探測設(shè)備
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及無損檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，具體是指一種非平整表面工件無損探測設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]非平整表面工件由于加工制作殘余應(yīng)力、材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)不連續(xù)性等原因，不可避免地存在應(yīng)力集中，這些應(yīng)力集中部位在介質(zhì)、溫度和壓力的共同作用下容易產(chǎn)生應(yīng)力腐蝕開裂、疲勞損傷和誘發(fā)裂紋，在高溫設(shè)備上還容易產(chǎn)生蠕變損傷。因此，找出非平整表面工件上應(yīng)力集中部位，確定應(yīng)力集中的大小，分析其對安全性能的影響，成為非平整表面工件無損檢測中應(yīng)關(guān)注的問題。常規(guī)的無損檢測方法(如射線、超聲和滲透檢測等)只能檢測出一定尺寸的宏觀缺陷，很難發(fā)現(xiàn)微觀缺陷。而磁感應(yīng)檢測技術(shù)能檢出可能誘發(fā)損傷或破壞的應(yīng)力集中部位，為壓力容器的早期診斷提供了依據(jù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鐵基材料制造的非平整表面工件在受到外部作用力時，材料內(nèi)部磁疇的取向會發(fā)生變化，并在地磁環(huán)境中表現(xiàn)為應(yīng)力集中部位的局部磁場異常，形成“漏磁場”，并在工作載荷去除后仍然保留，這被稱作磁記憶效應(yīng)。
[0004]本發(fā)明利用以上原理提出一種非平整表面工件無損探測設(shè)備。
[0005]本發(fā)明的技術(shù) 方案是一種非平整表面工件無損探測設(shè)備，包括密封罩、封裝外殼，所述封裝外殼與密封罩之間通過螺紋連接，其內(nèi)安裝有一永磁鐵棒，使用密封樹脂充滿封裝外殼與永磁鐵棒之間的空隙，所述永磁鐵棒上纏繞有電磁感應(yīng)線圈，其前端設(shè)有強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼，電磁感應(yīng)線圈連接到電磁檢測裝置，之后連接弱信號放大器，弱信號放大器將信號放大后傳遞給控制系統(tǒng)，所述封裝外殼外設(shè)有紅外測距裝置，其連接于控制系統(tǒng)，紅外測距裝置時刻測量強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼與被測工件表面之間的距離，并通過控制系統(tǒng)調(diào)控升降裝置保持強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼與被測工件表面之間處于合適的距離。
[0006]使用本發(fā)明對非平整表面工件進(jìn)行快速掃查，以發(fā)現(xiàn)存在的應(yīng)力峰值部位，然后對這些部位進(jìn)行內(nèi)部超聲檢測、硬度測試或金相分析，以發(fā)現(xiàn)可能存在的表面缺陷、內(nèi)部缺陷或材料微觀損傷。
[0007]本發(fā)明的有益效果是:結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)置合理，檢測信號穩(wěn)定，且裝置結(jié)構(gòu)簡單，價格低廉。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0009]圖中:
[0010]1.密封罩2.封裝外殼3.永磁鐵棒4.密封樹脂
[0011]5.強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼 6.電磁感應(yīng)線圈7.電磁檢測裝置 8.弱信號放大器
[0012]9.控制系統(tǒng) 10.紅外測距裝置11.升降裝置【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)一步說明。
[0014]參照圖1對本發(fā)明進(jìn)行說明，一種非平整表面工件無損探測設(shè)備，包括密封罩1、封裝外殼2，所述封裝外殼2與密封罩I之間通過螺紋連接，其內(nèi)安裝有一永磁鐵棒3，使用密封樹脂4充滿封裝外殼2與永磁鐵棒3之間的空隙，所述永磁鐵棒3上纏繞有電磁感應(yīng)線圈6，其前端設(shè)有強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼5，電磁感應(yīng)線圈6連接到電磁檢測裝置7，之后連接弱信號放大器8，弱信號放大器8將信號放大后傳遞給控制系統(tǒng)9，所述封裝外殼2外設(shè)有紅外測距裝置10，其連接于控制系統(tǒng)9，紅外測距裝置10時刻測量強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼5與被測工件表面之間的距離，并通過控制系統(tǒng)9調(diào)控升降裝置11保持強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼9與被測工件表面之間處于合適的距離?？刂葡到y(tǒng)9將所測結(jié)果實(shí)時顯示在顯示屏上，方便工作人員的觀察。
[0015]使用本發(fā)明對非平整表面工件進(jìn)行快速掃查，以發(fā)現(xiàn)存在的應(yīng)力峰值部位，然后對這些部位進(jìn)行內(nèi)部超聲檢測、硬度測試或金相分析，以發(fā)現(xiàn)可能存在的表面缺陷、內(nèi)部缺陷或材料微觀損傷。
[0016]本發(fā)明的有益效果是:結(jié)構(gòu)簡單，設(shè)置合理，檢測信號穩(wěn)定，且裝置結(jié)構(gòu)簡單，價格低廉。
【權(quán)利要求】
1.一種非平整表面工件無損探測設(shè)備，其特征是:包括密封罩、封裝外殼，所述封裝外殼與密封罩之間通過螺紋連接，其內(nèi)安裝有一永磁鐵棒，使用密封樹脂充滿封裝外殼與永磁鐵棒之間的空隙,所述永磁鐵棒上纏繞有電磁感應(yīng)線圈,其前端設(shè)有強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼，電磁感應(yīng)線圈連接到電磁檢測裝置，之后連接弱信號放大器，弱信號放大器連接控制系統(tǒng)，所述封裝外殼外設(shè)有紅外測距裝置，其連接于控制系統(tǒng)，控制系統(tǒng)調(diào)控升降裝置保持強(qiáng)導(dǎo)磁磁鋼與被測工件表 面之間處于合適的距離。
【文檔編號】G01N27/82GK103901096SQ201210596430
【公開日】2014年7月2日 申請日期:2012年12月27日 優(yōu)先權(quán)日:2012年12月27日
【發(fā)明者】韓曉耕, 張勇, 田文文, 段輝 申請人:天津欣維檢測技術(shù)有限公司