一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及機(jī)械加工領(lǐng)域,具體涉及一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置。包括底座,所述底座為矩形,底座上設(shè)置有X軸試件、Y軸試件、Z軸試件、A軸試件、B軸?C軸試件和原點(diǎn)孔;所述X軸試件、Y軸試件和A軸試件均與底座的邊緣平行;所述X軸試件設(shè)置于底座的邊緣,Y軸試件和A軸試件分別設(shè)置于與X軸試件相鄰的底座的邊緣;所述Z軸試件為縱切面為梯形的凸起,且設(shè)置于底座的中部;所述原點(diǎn)孔設(shè)置于Z軸試件頂部平面的中部;所述B軸?C軸試件為圓環(huán)狀,設(shè)置于Z軸試件與X軸試件、Y軸試件和A軸試件之間。本實(shí)用新型通過各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工,將復(fù)雜的多軸同時(shí)加工產(chǎn)生的工件表面質(zhì)量問題分解,實(shí)現(xiàn)故障原因的準(zhǔn)確、快速定位。
【專利說明】
一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及機(jī)械加工領(lǐng)域,具體涉及一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]表面質(zhì)量是評價(jià)工件好壞的一項(xiàng)重要指標(biāo),加工中的機(jī)床坐標(biāo)軸振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致工件產(chǎn)生表面質(zhì)量問題,當(dāng)機(jī)床加工復(fù)雜工件時(shí),因多個(gè)坐標(biāo)軸同時(shí)參與加工,會(huì)使表面質(zhì)量問題產(chǎn)生的原因變得更加復(fù)雜。目前對該問題的判斷主要有兩種方法,一是依據(jù)經(jīng)驗(yàn),制定先后順序,對各坐標(biāo)軸進(jìn)行檢修,這種方法的準(zhǔn)確程度依據(jù)機(jī)床維修人員的經(jīng)驗(yàn),且經(jīng)常出現(xiàn)定位不準(zhǔn)確導(dǎo)致的大量無用工作,甚至?xí)虼似茐脑械臋C(jī)械性能,導(dǎo)致機(jī)床長期停工。二是通過圓度測試對各坐標(biāo)軸進(jìn)行動(dòng)態(tài)性能檢測,這種方法對機(jī)床維修人員要求較高,且無法給出定性的分析結(jié)果。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于,為解決現(xiàn)有技術(shù)存在的原因定位不準(zhǔn)確,處理周期長的問題,本實(shí)用新型提供了一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,通過各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工,將復(fù)雜的多軸同時(shí)加工產(chǎn)生的工件表面質(zhì)量問題分解,實(shí)現(xiàn)故障原因的準(zhǔn)確、快速定位。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為:
[0005]—種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,包括底座,所述底座為矩形,底座上設(shè)置有X軸試件、Y軸試件、Z軸試件、八軸試件、B軸-C軸試件和原點(diǎn)孔;所述X軸試件、Y軸試件和A軸試件均為長條狀凸起,且均與底座的邊緣平行;所述X軸試件設(shè)置于底座的邊緣,Y軸試件和A軸試件分別設(shè)置于與X軸試件相鄰的底座的邊緣;所述Z軸試件為縱切面為梯形的凸起,且設(shè)置于底座的中部;所述原點(diǎn)孔為盲孔,設(shè)置于Z軸試件頂部平面的中部;所述B軸-C軸試件為圓環(huán)狀,設(shè)置于Z軸試件與X軸試件、Y軸試件和A軸試件之間。
[0006]進(jìn)一步地,所述Z軸試件與底座的接觸面為長方形,該長方形較長的邊與X軸試件平行,較短的邊與Y軸試件和A軸試件平行。
[0007]更進(jìn)一步地,所述底座的四個(gè)角分別設(shè)置有壓緊孔。
[0008]更進(jìn)一步地,所述B軸-C軸試件5包括B軸試件和C軸試件。
[0009]由于采用了上述技術(shù)方案,本實(shí)用新型的有益效果是:
[0010]1、本實(shí)用新型通過各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工,將復(fù)雜的多軸同時(shí)加工產(chǎn)生的工件表面質(zhì)量問題分解,實(shí)現(xiàn)故障原因的準(zhǔn)確、快速定位。
[0011]2、最少軸參與加工的方法直接展現(xiàn)各軸加工的表面質(zhì)量,快速、準(zhǔn)確的將多軸加工產(chǎn)生的表面質(zhì)量問題分解,使得原因查找迅速、準(zhǔn)確。
[0012]3、試切方案靈活可變,可根據(jù)參與加工的坐標(biāo)軸進(jìn)行增減。
[0013]4、各軸正、反向分別加工,全面展示該軸加工狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。
[0014]5、加工件最小厚度不低于8MM的規(guī)定,將工藝參數(shù)的影響徹底排除,直接展現(xiàn)機(jī)床的實(shí)際加工狀態(tài)。該8mm規(guī)定的由來是“S型試件”在申請國際標(biāo)準(zhǔn)時(shí),德國專家提出,我國申報(bào)版本為3mm試件,易受工藝參數(shù)、工件材料等影響,不能準(zhǔn)確反映機(jī)床自身狀態(tài)。當(dāng)厚度不低于8mm時(shí),以上因素將不會(huì)影響工件表面質(zhì)量,即將其它影響因素降至最低,可以較好的反映出機(jī)床自身的狀態(tài)。目前“S型試件”已經(jīng)進(jìn)入國際標(biāo)準(zhǔn)申報(bào)的第三階段,及CD階段(委員會(huì)草案),其采納了該德國專家的建議。故本試件在申請時(shí)參照了該建議。
[0015]6、在多軸加工時(shí)出現(xiàn)問題的部位進(jìn)行各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工,排除了長行程機(jī)床不同位置機(jī)械磨損狀態(tài)不同的問題。
[0016]7、使用機(jī)床原有的系統(tǒng)數(shù)據(jù)、補(bǔ)償數(shù)據(jù)等參數(shù)的方法,真實(shí)還原多軸加工時(shí)的機(jī)床狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。
[0017]8、使用工藝原有的進(jìn)給速度、主軸轉(zhuǎn)數(shù)等參數(shù)的方法,真實(shí)還原多軸加工時(shí)的工藝狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。
[0018]9、使用刀具原因的刃數(shù)、齒數(shù)等參數(shù),真實(shí)還原多軸加工時(shí)的刀具狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。
[0019]10、不參與加工的坐標(biāo)軸,在試切時(shí)有夾緊功能的應(yīng)使用夾緊功能,該措施將進(jìn)一步降低其它軸對試切件的影響,提高試切準(zhǔn)確性。
[0020]11、原點(diǎn)孔用于加工前的原點(diǎn)設(shè)定,試件壓緊孔,用于試件的固定,均提高了原因查找的精準(zhǔn)度。
【附圖說明】
[0021]圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)圖。
[0022]圖中標(biāo)記:1、X軸試件;2、Y軸試件;3、Z軸試件;4、A軸試件;5、B軸-C軸試件;6、原點(diǎn)孔;7、壓緊孔。
【具體實(shí)施方式】
[0023]下面結(jié)合附圖,對本實(shí)用新型做詳細(xì)的說明。
[0024]實(shí)施例1
[0025]作為本實(shí)用新型的一種較佳實(shí)施例,參照說明書附圖1,本實(shí)施例公開了一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,本實(shí)施例包括:
[0026]—種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,包括底座,所述底座為矩形,底座上設(shè)置有X軸試件1、Y軸試件2、Z軸試件3、A軸試件4、B軸-C軸試件(5 )和原點(diǎn)孔6;所述X軸試件1、Y軸試件2和A軸試件4均為長條狀凸起,且均與底座的邊緣平行;所述X軸試件I設(shè)置于底座的邊緣,Y軸試件2和A軸試件4分別設(shè)置于與X軸試件I相鄰的底座的邊緣;所述Z軸試件3為縱切面為梯形的凸起,且設(shè)置于底座的中部;所述原點(diǎn)孔6為盲孔,設(shè)置于Z軸試件3頂部平面的中部;所述B軸-C軸試件5為圓環(huán)狀,設(shè)置于Z軸試件3與X軸試件1、Y軸試件2和A軸試件4之間。
[0027]所述Z軸試件3與底座的接觸面為長方形,該長方形較長的邊與X軸試件I平行,較短的邊與Y軸試件2和A軸試件4平行。所述底座的四個(gè)角分別設(shè)置有壓緊孔7。
[0028]本實(shí)用新型通過各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工,將復(fù)雜的多軸同時(shí)加工產(chǎn)生的工件表面質(zhì)量問題分解,實(shí)現(xiàn)故障原因的準(zhǔn)確、快速定位。最少軸參與加工的方法直接展現(xiàn)各軸加工的表面質(zhì)量,快速、準(zhǔn)確的將多軸加工產(chǎn)生的表面質(zhì)量問題分解,使得原因查找迅速、準(zhǔn)確。試切方案靈活可變,可根據(jù)參與加工的坐標(biāo)軸進(jìn)行增減。各軸正、反向分別加工,全面展示該軸加工狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。加工件最小厚度不低于8MM的規(guī)定,將工藝參數(shù)的影響徹底排除,直接展現(xiàn)機(jī)床的實(shí)際加工狀態(tài)。在多軸加工時(shí)出現(xiàn)問題的部位進(jìn)行各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工,排除了長行程機(jī)床不同位置機(jī)械磨損狀態(tài)不同的問題。使用機(jī)床原有的系統(tǒng)數(shù)據(jù)、補(bǔ)償數(shù)據(jù)等參數(shù)的方法,真實(shí)還原多軸加工時(shí)的機(jī)床狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。使用工藝原有的進(jìn)給速度、主軸轉(zhuǎn)數(shù)等參數(shù)的方法,真實(shí)還原多軸加工時(shí)的工藝狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。使用刀具原因的刃數(shù)、齒數(shù)等參數(shù),真實(shí)還原多軸加工時(shí)的刀具狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。不參與加工的坐標(biāo)軸,在試切時(shí)有夾緊功能的應(yīng)使用夾緊功能,該措施將進(jìn)一步降低其它軸對試切件的影響,提高試切準(zhǔn)確性。原點(diǎn)孔6用于加工前的原點(diǎn)設(shè)定,試件壓緊孔7,用于試件的固定,均提高了原因查找的精準(zhǔn)度。
[0029]當(dāng)工件出現(xiàn)表面質(zhì)量問題時(shí),首先找出工件的加工程序在加工該部位時(shí),使用了機(jī)床的哪幾個(gè)坐標(biāo)軸,并結(jié)合機(jī)床各坐標(biāo)軸的實(shí)際運(yùn)動(dòng)情況,確定有哪些坐標(biāo)軸參與了加工。在工件出現(xiàn)問題的位置,安裝試切裝置,將各參與加工的坐標(biāo)軸分別在試切裝置上試切,表面質(zhì)量最差的一個(gè)坐標(biāo)軸,即為導(dǎo)致多軸加工的工件出現(xiàn)表面質(zhì)量問題的原因軸。
[0030]為提高準(zhǔn)確性,需遵循以下幾個(gè)試切原則:
[0031 ] 一、試切時(shí)采用最少軸參與加工的原則;
[0032]二、各試切軸正、反向分別加工;
[0033]三、各試切軸的加工件最小厚度不得低于8MM;
[0034]四、在多軸加工時(shí)出現(xiàn)問題的部位進(jìn)行各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工;
[0035]五、使用機(jī)床原有的系統(tǒng)數(shù)據(jù)、補(bǔ)償數(shù)據(jù)等參數(shù);
[0036]六、使用工藝原有的進(jìn)給速度、主軸轉(zhuǎn)速等參數(shù);
[0037]七、使用刀具原有的刃數(shù)、齒數(shù)等參數(shù);
[0038]八、不參與加工的坐標(biāo)軸,加工時(shí)有夾緊功能時(shí)應(yīng)使用夾緊功能。
[0039]表面質(zhì)量問題分析步驟:
[0040]—、找到程序中使用了機(jī)床的哪些坐標(biāo)軸。
[0041 ] 若加工程序如下:
[0042]XO YO ZO AO CO
[0043]Xl Yl Zl Al Cl
[0044]Χ2 Y2 Z2 A2 C2
[0045]以上加工程序使用了機(jī)床的X,Y,Z,A,C軸。
[0046]在工件出現(xiàn)問題的位置,安裝試切裝置。
[0047]二、工件在機(jī)床上安裝的位置:
[0048]XlOO YlOO
[0049]以上坐標(biāo)為工件安裝在機(jī)床上的坐標(biāo)位置,試切裝置也需安裝在XlOOYlOO的位置。
[0050]將各參與加工的坐標(biāo)軸在出現(xiàn)問題的位置上試切。
[0051 ]分析X軸時(shí),A軸試件4夾緊,X軸試件I沿正、負(fù)方向獨(dú)立加工,加工參數(shù)選用工件出現(xiàn)表面質(zhì)量問題時(shí)的加工參數(shù),如主軸20000轉(zhuǎn)/分,進(jìn)給速度7000mm/分,軸向每層切削3麗,徑向每層切削3麗,工件厚度8MM ;[0052 ]分析Y軸時(shí),A軸試件4夾緊,Y軸試件2沿正、負(fù)方向獨(dú)立加工;
[0053]分析Z軸時(shí),A軸試件4夾緊,為避免Y軸或Z軸有附加平衡裝置影響Z軸試件3獨(dú)立加工效果,故該軸聯(lián)合沒有附加平衡裝置的X軸試件I進(jìn)行斜面加工;
[0054]分析A軸時(shí),A軸試件4沿正、負(fù)方向獨(dú)立加工;
[0055]分析B軸時(shí),A軸試件4夾緊,B軸試件沿正、負(fù)方向獨(dú)立加工;
[0056]分析C軸時(shí),A軸試件4夾緊,C軸試件沿正、負(fù)方向獨(dú)立加工;
[0057]試件各組成部分說明:
[0058]所述B軸-C軸試件5包括B軸試件和C軸試件。
[0059]X軸試件I,沿X軸放置在試件下側(cè)。下側(cè)的表面用于檢測X軸負(fù)向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況,上側(cè)的表面用于檢測X軸正向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況;
[0060]Y軸試件2,沿Y軸放置在試件左側(cè)。左側(cè)的表面用于檢測Y軸正向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況,右側(cè)的表面用于檢測Y軸負(fù)向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況;
[0061]Z軸試件3,沿X軸放置在試件中央。左側(cè)的傾斜表面用于檢測Z軸正向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況,右側(cè)的傾斜表面用于檢測Z軸負(fù)向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況。傾斜角度可變;
[0062]A軸試件4,沿Y軸放置在試件右側(cè)。左側(cè)的表面用于檢測A軸正向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況,右側(cè)的表面用于檢測A軸負(fù)向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況;
[0063]B軸試件,沿Z軸放置在試件中央。內(nèi)側(cè)的傾斜表面用于檢測B軸負(fù)向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況,外側(cè)的傾斜表面用于檢測B軸正向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況。傾斜角度可變;
[0064]C軸試件;沿Z軸放置在試件中央。內(nèi)側(cè)的傾斜表面用于檢測C軸正向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況,外側(cè)的傾斜表面用于檢測C軸負(fù)向運(yùn)動(dòng)的振動(dòng)情況。傾斜角度可變。
[0065]實(shí)施例2
[0066]作為本實(shí)用新型的一種較佳實(shí)施例,參照說明書附圖1,本實(shí)施例公開了一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,本實(shí)施例包括:
[0067]—種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,包括底座,所述底座為矩形,底座上設(shè)置有X軸試件1、Y軸試件2、Z軸試件3、A軸試件4、B軸-C軸試件(5 )和原點(diǎn)孔6;所述X軸試件1、Y軸試件2和A軸試件4均為長條狀凸起,且均與底座的邊緣平行;所述X軸試件I設(shè)置于底座的邊緣,Y軸試件2和A軸試件4分別設(shè)置于與X軸試件I相鄰的底座的邊緣;所述Z軸試件3為縱切面為梯形的凸起,且設(shè)置于底座的中部;所述原點(diǎn)孔6為盲孔,設(shè)置于Z軸試件3頂部平面的中部;所述B軸-C軸試件5為圓環(huán)狀,設(shè)置于Z軸試件3與X軸試件1、Y軸試件2和A軸試件4之間。
[0068]本實(shí)用新型通過各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工,將復(fù)雜的多軸同時(shí)加工產(chǎn)生的工件表面質(zhì)量問題分解,實(shí)現(xiàn)故障原因的準(zhǔn)確、快速定位。最少軸參與加工的方法直接展現(xiàn)各軸加工的表面質(zhì)量,快速、準(zhǔn)確的將多軸加工產(chǎn)生的表面質(zhì)量問題分解,使得原因查找迅速、準(zhǔn)確。試切方案靈活可變,可根據(jù)參與加工的坐標(biāo)軸進(jìn)行增減。各軸正、反向分別加工,全面展示該軸加工狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。加工件最小厚度不低于8ΜΜ的規(guī)定,將工藝參數(shù)的影響徹底排除,直接展現(xiàn)機(jī)床的實(shí)際加工狀態(tài)。在多軸加工時(shí)出現(xiàn)問題的部位進(jìn)行各坐標(biāo)軸的獨(dú)立加工,排除了長行程機(jī)床不同位置機(jī)械磨損狀態(tài)不同的問題。使用機(jī)床原有的系統(tǒng)數(shù)據(jù)、補(bǔ)償數(shù)據(jù)等參數(shù)的方法,真實(shí)還原多軸加工時(shí)的機(jī)床狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。使用工藝原有的進(jìn)給速度、主軸轉(zhuǎn)數(shù)等參數(shù)的方法,真實(shí)還原多軸加工時(shí)的工藝狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。使用刀具原因的刃數(shù)、齒數(shù)等參數(shù),真實(shí)還原多軸加工時(shí)的刀具狀態(tài),使得原因分析準(zhǔn)確。不參與加工的坐標(biāo)軸,在試切時(shí)有夾緊功能的應(yīng)使用夾緊功能,該措施將進(jìn)一步降低其它軸對試切件的影響,提高試切準(zhǔn)確性。原點(diǎn)孔6用于加工前的原點(diǎn)設(shè)定,試件壓緊孔7,用于試件的固定,均提高了原因查找的精準(zhǔn)度。
[0069]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本申請的【具體實(shí)施方式】,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對本申請保護(hù)范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本申請技術(shù)方案構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本申請的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,其特征在于:包括底座,所述底座為矩形,底座上設(shè)置有X軸試件(I)、Y軸試件(2)、Z軸試件(3)、A軸試件(4)、B軸-C軸試件(5)和原點(diǎn)孔(6);所述X軸試件(1)、Y軸試件(2)和A軸試件(4)均為長條狀凸起,且均與底座的邊緣平行;所述X軸試件(I)設(shè)置于底座的邊緣,Y軸試件(2)和A軸試件(4)分別設(shè)置于與X軸試件(I)相鄰的底座的邊緣;所述Z軸試件(3)為縱切面為梯形的凸起,且設(shè)置于底座的中部;所述原點(diǎn)孔(6)為盲孔,設(shè)置于Z軸試件(3)頂部平面的中部;所述B軸-C軸試件(5)為圓環(huán)狀,設(shè)置于Z軸試件(3 )與X軸試件(I)、Y軸試件(2 )和A軸試件(4 )之間。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,其特征在于,所述Z軸試件(3)與底座的接觸面為長方形,該長方形較長的邊與X軸試件(I)平行,較短的邊與Y軸試件(2)和A軸試件(4)平行。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,其特征在于,所述底座的四個(gè)角分別設(shè)置有壓緊孔(7)。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種工件表面質(zhì)量問題分析試切裝置,其特征在于,所述B軸-C軸試件(5)包括B軸試件和C軸試件。
【文檔編號】B23Q17/00GK205552149SQ201620244140
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年3月28日
【發(fā)明人】張偉偉, 張?jiān)? 李連玉
【申請人】成都飛機(jī)工業(yè)(集團(tuán))有限責(zé)任公司