專利名稱：一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種驅(qū)動電路，特別是涉及一種適用于等離子顯示面板驅(qū)動電路的可靠性的改進方法。
背景技術：
等離子體顯示面板(PDP)是一種利用氣體放電產(chǎn)生紫外線，進而激發(fā)熒光粉發(fā)出可見光而顯像的一種顯示器，等離子顯示面板是實現(xiàn)放電發(fā)光的主要結構，其由前后兩個基板組成，在前基板上設置由橫向的ITO電極和BUS電極，以及之上的介質(zhì)層和介質(zhì)保護膜，后基板上設置有縱向的尋址電極和障壁結構，放電在前后基板及障壁所組成的空間內(nèi)進行。等離子顯示面板的工作，靠驅(qū)動電路的驅(qū)動完成；等離子面板的使用壽命主要取決于驅(qū)動電路的使用壽命，等離子顯示面板的驅(qū)動電路和驅(qū)動波形的合理配合可提高驅(qū)動電路的可靠性，是提升離子顯示面板壽命的主要手段之一。當前等離子體顯示面板的畫面顯示效果，驅(qū)動波形的復位期起了決定性作用，復位電壓和時間配合恰到好處，可減少顯示面板的誤放電。而復位期的電壓變化非常大，rampup電路的高電壓達到+310V左右,ramp down電路的低電壓達到-190V左右，高低電壓歸零都是瞬時完成的，Λ V/At很大，長時間工作后，功率器件的溫升很高，易導致器件失效。目前所使用的驅(qū)動電路，對功率器件的保護不足，導致市場上的等離子體顯示面板的失效率偏高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法，該方法通過改變驅(qū)動電路中掃描驅(qū)動芯片的寄存器設置，從而改變驅(qū)動波形復位電壓和時間的配合。解決了目前所使用驅(qū)動電路對功率器件保護不足的問題，降低等離子顯示面板的失效率。本發(fā)明采用的技術方案如下一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法，其特征在于
步驟一，運行邏輯控制單元的ramp up電路；
步驟二，將掃描驅(qū)動芯片第一寄存器接口 OCl、第二寄存器接口 0C2設置為全高； 步驟三，將驅(qū)動電壓在復位期高電壓和負電壓歸零的時段維持一段時間T ；
步驟四，維持一段時間T后運行邏輯控制單元的ramp down電路。作為優(yōu)選，所述步驟三中是將驅(qū)動電壓在140V的時候維持一段時間T。作為優(yōu)選，所述驅(qū)動電壓在140V的時候所維持的時間200ns蘭T蘭3 μ S。作為優(yōu)選，所述維持時間T為400ns。作為優(yōu)選，所述維持時間T為500ns。作為優(yōu)選，所述維持時間T為600ns。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明的有益效果是
I.本發(fā)明技術方案通過改變驅(qū)動電路中掃描驅(qū)動芯片的寄存器設置，從而改變驅(qū)動波形復位電壓和時間的配合，降低等離子顯示面板的失效率；
2.本發(fā)明技術方案中維持時間在400ns、500ns和600ns時，等離子顯示面板的失效率最低。


圖I為現(xiàn)有技術中等離子顯示驅(qū)動電路的驅(qū)動波形圖。圖2為本發(fā)明更改后的驅(qū)動波形圖。
具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步的說明。如圖I所示，實施前，邏輯控制電路在波形上升期間運行ramp up電路，等離子顯示器的主復位期間，ramp up電路運行結束時的驅(qū)動電壓為310V左右,然后運行ramp down電路，ramp down電路的起點是O電平，ramp up電路和ramp down電路的切換在瞬間完成，AV=310V，此時Λ V/At很大，導致流過功率器件的電流大，器件的溫升高容易失效。如圖2所示，為本發(fā)明更改后的驅(qū)動波形圖。一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法為
步驟一，在驅(qū)動波形的復位期，運行邏輯控制單元的ramp up電路；
步驟二，將掃描驅(qū)動芯片第一寄存器接口 OCl、第二寄存器接口 0C2設置為全高； 步驟三，將驅(qū)動電壓在復位期高電壓和負電壓歸零的時段維持一段時間T ；
步驟四，在驅(qū)動波形的復位期，維持一段時間T后運行邏輯控制單元的ramp down電路。所述步驟三中是將驅(qū)動電壓在140V的時候維持一段時間T。所述驅(qū)動電壓在140V的時候所維持的時間200ns ^ T ^ 3μ So所述維持時間T為400ns。所述維持時間T為500ns。所述維持時間T為600ns。本發(fā)明方案是在運行邏輯控制單元的ramp up電路后，通過設置掃描驅(qū)動芯片(如AN16538)的第一寄存器接口 0C1、第二寄存器接口 0C2為全高，然后再運行邏輯控制單元的ramp down電路,使得驅(qū)動波形中復位期驅(qū)動電壓在310V瞬間下降歸零時段，140V時維持一段時間T，有一個臺階電壓。這樣，AV1=310-140=170V，Λ V2 = 140V，這樣大大減少了AV/Δ t，流過功率器件的電流變小，溫升不高，器件失效率降低。所維持的一段時間T的范圍為200ns ^ T ^ 3 μ s，在本方案中取400ns、500ns或600ns，去這三個維持時間T值時，既可以保證維持時間足夠長，又可以避免因維持時間過長所造成的時間浪費，并且此三個時間維持T值可以使等離子顯示面板的失效率達到最低。
權利要求
1.一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法，其特征在于步驟一，運行邏輯控制單元的ramp up電路；步驟二，將掃描驅(qū)動芯片第一寄存器接口 OCl、第二寄存器接口 0C2設置為全高；步驟三，將驅(qū)動電壓在復位期高電壓和負電壓歸零的時段維持一段時間T ；步驟四，維持一段時間T后運行邏輯控制單元的ramp down電路。
2.根據(jù)權利要求I所述的可靠性改進方法，其特征在于所述步驟三中是將驅(qū)動電壓在140V的時候維持一段時間T。
3.根據(jù)權利要求2所述的可靠性改進方法，其特征在于所述驅(qū)動電壓在140V的時候所維持的時間200ns ^ T ^ 3u So
4.根據(jù)權利要求3所述的可靠性改進方法，其特征在于所述維持時間T為400ns。
5.根據(jù)權利要求3所述的可靠性改進方法，其特征在于所述維持時間T為500ns。
6.根據(jù)權利要求3所述的可靠性改進方法，其特征在于所述維持時間T為600ns。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種等離子顯示面板電路可靠性改進方法，涉及驅(qū)動電路領域，該方法通過改變驅(qū)動電路中掃描驅(qū)動芯片的寄存器設置，從而改變驅(qū)動波形復位期復位電壓和時間的配合。解決了目前所使用驅(qū)動電路對功率器件保護不足的問題，降低了等離子顯示面板的失效率。
文檔編號G09G3/28GK102760399SQ201210227910
公開日2012年10月31日 申請日期2012年7月4日 優(yōu)先權日2012年7月4日
發(fā)明者周業(yè)密 申請人:四川虹歐顯示器件有限公司