專利名稱：顯示器驅(qū)動電路的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路測試的技術(shù)，且特別是涉及一種顯示器驅(qū)動電 路的測試裝置。
背景技術(shù)：
平面顯示器，例如液晶顯示器(LCD)，近年來已經(jīng)被廣泛地使用。液晶 顯示器具有消耗功率低、體積小、重量輕、分辨率高、色彩飽和度高及產(chǎn)品 壽命長等優(yōu)點，因而廣泛地被應(yīng)用在筆記型計算機或桌上型計算機的液晶屏 幕及液晶電視(LCD TV)等與生活息息相關(guān)的電子產(chǎn)品。其中，液晶顯示器的 驅(qū)動電路更是影響液晶顯示器品質(zhì)及成本的關(guān)鍵元件。
為了確保液晶顯示器能夠正常動作，液晶顯示器驅(qū)動電路在封裝時必須 要做測試。目前，液晶顯示器驅(qū)動電路，例如源極驅(qū)動芯片，在封裝測試 時，會做芯片探針(Chip Probe,簡稱CP)測試。其中，在對源極驅(qū)動芯片作 芯片探針測試時，由于源極驅(qū)動芯片所輸出的模擬電壓需要相當(dāng)準(zhǔn)確，故測 試此源極驅(qū)動芯片需要使用非常精確而昂貴的模擬測試機臺來測試每一個源 極驅(qū)動芯片的接腳的電壓。
然而，隨著液晶顯示器的液晶顯示面板尺寸越來越大，故源極驅(qū)動芯片 的輸出針腳數(shù)量也會越來越多。因此，芯片探針測試的工作量也會隨之越來 越重，故而發(fā)展出便宜而快速的測試裝置以取代昂貴的測試機臺已顯得刻不 容緩。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是在提供一種顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，用于減低芯 片測試成本。
本發(fā)明所提出的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其包括選擇電路、參考電
6壓產(chǎn)生電路，以及模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器。選擇電路包括多個輸入端與 一個輸出端， 其中上述輸入端分別耦接于顯示器驅(qū)動電路的多個輸出端口 ，而此選擇電路 用于選擇上述輸出端口的其中之一電性連接到其輸出端。參考電壓產(chǎn)生電路 耦接于上述輸出端口至少其一，并用于產(chǎn)生一個參考電壓。模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 耦接于選擇電路與參考電壓產(chǎn)生電路，并根據(jù)選擇電路的輸出端所輸出的輸 出電壓與上述參考電壓間的差值，而產(chǎn)生一個數(shù)字值。
在本發(fā)明的一實施例中，上述的參考電壓產(chǎn)生電路更耦接于上述輸出端 口的第一特定接腳與第二特定接腳，并用于依據(jù)第一特定接腳與第二特定接 腳的輸出電壓的極性而擇一作為上述的參考電壓，或?qū)⒌谝惶囟ń幽_的輸出 電壓以及第二特定接腳的輸出電壓作平均以作為上述的參考電壓。
在本發(fā)明的 一 實施例中，上述測試裝置配置在晶片的切割在線。 為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較 佳實施例，并配合附圖，作詳細說明如下。


圖1示出了本發(fā)明一實施例的測試裝置的電路方塊圖。
圖2示出了本發(fā)明一實施例的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器的電路方塊圖。
圖3A與圖3B分別示出了本發(fā)明一實施例的計數(shù)電路的電路方塊圖。 圖4示出了本發(fā)明一實施例的誤差放大器的電路方塊圖。 圖5示出了本發(fā)明一實施例的測試裝置的配置圖。
附圖符號說明100測試裝置
101選擇電路
102參考電壓產(chǎn)生電路
103模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器
104顯示器驅(qū)動電路
105數(shù)字測試機臺
VREF:參考電壓pinl、 pin2:顯示器驅(qū)動電路的輸出端口 Vs:選擇電路的輸出電壓VAL數(shù)字值
Vcl第一校正電壓
Vc2第二校正電壓
CS:控制信號
201誤差放大器
202斜波產(chǎn)生器
203計數(shù)電路
204校正單元
VI:第一電壓
V2:第二電壓
Vramp:斜波電壓301第一比較器
302第二比較器
303計數(shù)器
EN1第一使能信號
EN2第二j吏能信號
304邏輯門
405全差動放大器
C401 C404:電容。
具體實施例方式
圖1示出了本發(fā)明一實施例的測試裝置100的電路方塊圖。請參照圖1， 此測試裝置100包括選擇電路101、參考電壓產(chǎn)生電路102以及模擬/數(shù)字轉(zhuǎn) 換器103。而為了要方便說明本發(fā)明所欲闡述的精神，在此圖1中更示出了 了一個待測的顯示器驅(qū)動電路104與一臺數(shù)字測試機臺105。其中，在此假 設(shè)顯示器驅(qū)動電路104為液晶顯示器所使用的源極驅(qū)動器(source driver), 且數(shù)字測試機臺105是用于輸出已知的測試數(shù)據(jù)至此待測的源極驅(qū)動器104， 藉此，測試裝置100再據(jù)以進行測試后以將其測試結(jié)果輸出至數(shù)字測試機臺 105,如此數(shù)字測試機臺105即可判斷出此待測的源極驅(qū)動器104的良窳。
另夕卜，在本實施例中，假設(shè)此源極驅(qū)動器104的輸出電壓范圍為0~14V，且此源極驅(qū)動器104的每個通道所接收的像素數(shù)據(jù)為8位，故相鄰兩灰階的 驅(qū)動電壓間的差異即為14V/256=54. 7mV。
在本實施例中，當(dāng)測試裝置100欲進行測試時，源極驅(qū)動器104的每個 信道接收由數(shù)字測試機臺105輸出的相同的像素數(shù)據(jù)，因此，在理想的情況 下，此源極驅(qū)動器104的每一個信道所輸出的電壓應(yīng)該相同。舉例來說，假 設(shè)上述所輸入的像素數(shù)據(jù)為128,故源極驅(qū)動器104的每一個通道的輸出端 口所輸出的電壓應(yīng)當(dāng)會落在7V左右。再者，假設(shè)上述所輸入的像素數(shù)據(jù)為 64，故源極驅(qū)動器104的每一個輸出端口所輸出的電壓應(yīng)當(dāng)會落在3. 5V左右。
上述的假設(shè)僅限以說明使用，亦即實際上的源極驅(qū)動器104并不一定是 線性輸出，其仍有可能必須經(jīng)由例如GAMMA修正或穿透率修正等等。
一般而言，判斷一個源極驅(qū)動器104是否符合規(guī)格，其輸出電壓是否準(zhǔn) 確并非為最重要的判斷依據(jù)，而是其輸出電壓的一致性，也就是說，在相同 像素數(shù)據(jù)下，在其每個接腳的輸出電壓是否非常相近。
在本實施例中，參考電壓產(chǎn)生電路102耦接至源極驅(qū)動器104的第1與 第2個輸出端口 pinl與pin2,來用于產(chǎn)生一個參考電壓VREF。 一般而言， 參考電壓產(chǎn)生電路102例如可以依據(jù)輸出端口 pinl與pin2的輸出電壓的極 性而擇一作為上述的參考電壓VREF，或?qū)⑤敵龆丝?pinl與pin2所輸出的電 壓作平均以作為上述的參考電壓VREF。
選擇電路101包括多個輸入端與一個輸出端，其中，選擇電路101的輸 入端分別耦接于源極驅(qū)動器104的多個輸出端口，以選擇上述輸出端口的其 中之一電性連接到選擇電路101的輸出端。模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103耦接于選擇 電路IOI的輸出端，并根據(jù)選擇電路101的輸出端所輸出的輸出電壓Vs與參 考電壓產(chǎn)生電路102所產(chǎn)生的參考電壓VREF而產(chǎn)生一個數(shù)字值VAL。
故依據(jù)上述可知，若利用上述實施例的測試裝置100來進行測試時，其 只需要利用數(shù)字測試機臺105來用于判讀上述的數(shù)字值VAL后，即可知道源 極驅(qū)動器104的輸出端口間的電壓誤差。由于本測試裝置100的參考電壓是 由待測的源極驅(qū)動器104本身所產(chǎn)生，如此，外部便不需要提供精準(zhǔn)而昂貴 的模擬測試機臺來產(chǎn)生精確的參考電壓，且也不需利用模擬測試機臺對源極 驅(qū)動器104的每個輸出通道進行精確的測量，故本實施例所提供的測試裝置 100便可大大地降低測試成本。雖然上述實施例提供了一種測試裝置100的實施型態(tài)，但依本發(fā)明領(lǐng)域 具有通常知識者應(yīng)當(dāng)可知，要做到準(zhǔn)確的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103并不容易。故
在此提供一個模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103的實施例，以便于本發(fā)明領(lǐng)域具有通常知 識者能夠據(jù)以實施上述實施例所提出的測試裝置100。
圖2示出了為本發(fā)明一實施例的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103的電路方塊圖。請 合并參照圖1及圖2，模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103包括誤差放大器201、斜波產(chǎn)生 器202、計^:電^各203,以及;f交正單元204。其中，誤差i文大器201的正端用 于接收選擇電路IOI的輸出端所輸出的輸出電壓Vs，而誤差放大器201的負 端則用于接收參考電壓產(chǎn)生電路102所產(chǎn)生的參考電壓VREF。以理想的情況 來說，源極驅(qū)動器104的各輸出端口間所輸出的電壓差異會很小，故通過誤 差放大器201將上述輸出電壓Vs與參考電壓VREF的差異值作放大處理后會 得到一差動對信號，其包括第一電壓VI及第二電壓V2。另外，本實施例的 斜波產(chǎn)生器202會產(chǎn)生隨時間上升的斜波電壓Vramp,例如為鋸齒波或三角 波。
在本實施例中，當(dāng)斜波電壓Vramp大于等于第一電壓VI時，計^:電3各 203便開始計數(shù)數(shù)字值VAL，并當(dāng)斜波電壓Vramp大于等于第二電壓V2時， 計數(shù)電路203便停止計數(shù)并輸出上述數(shù)字值VAL。其中，當(dāng)此數(shù)字值VAL越 大時，代表了選擇電路101所選擇的輸出端口的輸出電壓Vs與參考電壓VREF 的差距越大，亦即代表此源極驅(qū)動器104的品質(zhì)很差，而當(dāng)此數(shù)字值VAL越 小時，代表了選擇電路101所選擇的輸出端口的輸出電壓Vs與參考電壓VREF 的差距越小，亦即代表此源極驅(qū)動器104的品質(zhì)很好。
此外，校正單元204具有校正模式與測試模式，其中，此校正單元204 依據(jù)數(shù)字測試機臺105所輸出的控制信號CS,而決定其處在校正模式或測試 模式，并當(dāng)校正單元204處在校正模式時，其會接收數(shù)字測試機臺105所提 供的第一校正電壓Vcl與第二校正電壓Vc2，并據(jù)以提供至誤差放大器201 的正端及負端，而誤差放大器201此時會利用第一校正電壓Vcl與第二校正 電壓Vc2的差異值作;改大處理，以得到上述的第一電壓VI與第二電壓V2。 接著，校正單元204會根據(jù)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103依據(jù)第一校正電壓Vcl與第 二校正電壓Vc2所產(chǎn)生的數(shù)字值VAL,而決定是否對模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103作 補償，以消除模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103本身的誤差。
10在本實施例中，第一校正電壓Vcl與第二校正電壓Vc2可通過使用者對
數(shù)字測試機臺105作定義，故而可知的是，第一校正電壓Vcl與第二校正電 壓Vc2是已知的數(shù)值，所以模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103此時依據(jù)第一校正電壓Vcl 與第二校正電壓Vc2所產(chǎn)生的數(shù)字值VAL即可事先預(yù)知。故當(dāng)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換 器103依據(jù)第一校正電壓Vcl與第二校正電壓Vc2實際所產(chǎn)生的數(shù)字值VAL 與上述預(yù)先知道的數(shù)字值VAL不同時，即可知曉模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103本身有 誤差，此時校正單元204便會對模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103作補償，以消除模擬/ 數(shù)字轉(zhuǎn)換器103本身的誤差。
而值得一提的是，若當(dāng)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103本身相當(dāng)精準(zhǔn)時，亦即模擬 /數(shù)字轉(zhuǎn)換器103本身并沒有誤差，此時模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103就不需加入校 正單元204。
另外，當(dāng)校正單元204對模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103作補償，以消除模擬/數(shù) 字轉(zhuǎn)換器103本身的誤差后，數(shù)字測試機臺105便會再次輸出控制信號CS, 以致使校正單元204處在測試模式，故此時校正單元204就會接收選擇電路 101的輸出端所輸出的輸出電壓Vs與上述的參考電壓VREF,并據(jù)以提供至誤 差放大器201的正端及負端，如此本發(fā)明所提出的測試裝置100便可精準(zhǔn)的 測量源極驅(qū)動器104的所有輸出端口間的電壓誤差。
圖3A與圖3B分別示出了為本發(fā)明一實施例的計數(shù)電路203的電路方塊 圖。請先參照圖3A,圖3A的計數(shù)電路203包括第一比較器301、第二比較器 302,以及計數(shù)器303。其中，第一比較器301及第二比較器302的正端接收 上述的斜波電壓Vramp，第一比較器301及第二比較器302的負端分別接收 上述的第一電壓VI及第二電壓V2，而第一比較器301及第二比較器302的 輸出端則分別輸出第一使能信號EN1及第二使能信號EN2,以當(dāng)?shù)谝皇鼓苄?號EN1使能時，亦即為邏輯高電位，計數(shù)器303便會開始計數(shù)數(shù)字值VAL, 并當(dāng)?shù)诙鼓苄盘朎N2使能時，計數(shù)器303會停止計數(shù)并輸出數(shù)字值VAL。
接下來，請再參照圖3B,圖3B與圖3A所揭露的計數(shù)電路203的結(jié)構(gòu)類 似，其差別在于計數(shù)器303與第一、第二比較器301、 302之間多了一個邏輯 門304。依據(jù)計數(shù)電路203的運作方式來說，此邏輯門304應(yīng)使用異或門(XOR gate),以當(dāng)異或門304的輸出為邏輯高電位時，則表示斜波電壓Vramp提升 到大于第一電壓VI，此時計數(shù)器303便開始計數(shù)數(shù)字值VAL,并當(dāng)異或門304的輸出由邏輯高電位轉(zhuǎn)為邏輯低電位時，則表示斜波電壓Vramp提升到大于 第二電壓V2,此時計數(shù)器303便停止計數(shù)并輸出數(shù)字值VAL。
然而，依本發(fā)明領(lǐng)域具有通常知識者應(yīng)當(dāng)可知，若斜波電壓Vramp與第 一、第二電壓V1、 V2所耦接的第一、第二比較器301、 302的正負端點不同 時，所選用的邏輯門也會隨之改變，故本發(fā)明應(yīng)當(dāng)不以所例舉的異或門為限。
在本實施例可以清楚地看出，模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103雖然難以達到像一般 模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器能進行快速的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換，但是本實施例的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn) 換器103可以做到非常精準(zhǔn)的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換，相當(dāng)于以時間換取模擬/數(shù)字 轉(zhuǎn)換的準(zhǔn)確性。故可以預(yù)期的是，本實施例的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器103的電路尺 寸將會非常小，故其制作成本將會非常的低廉。
圖4示出了為本發(fā)明一實施例的誤差放大器201的電路方塊圖。請參照 圖4，誤差放大器201包括全差動放大器405以及第一、第二、第三與第四 電容C401 C404。其中，第一電容C401的一端接收上述輸出電壓Vs，而其 另一端耦接于全差動放大器405的正輸入端。第二電容C402的一端接收上述 參考電壓VREF，而其另一端耦接于全差動放大器405的負輸入端。第三電容 C403耦接于全差動放大器405的正輸入端與負輸出端之間，而第四電容C404 則耦接于全差動放大器405的負輸入端與正輸出端之間。其中，全差動放大 器405的正輸出端與負輸出端用于各別輸出第一與第二電壓VI、 V2。
圖5示出了為本發(fā)明一實施例的測試裝置的配置圖。請參照圖5,由上 述幾個實施例的敘述不難發(fā)現(xiàn)，本實施例的測試裝置IOO可以整合在晶片上， 以作內(nèi)建自我測試(Build-In Self-Test)。在本實施例中，測試裝置100是 配置在每個芯片(die)附近的切割線(Scribe Line)上，而一般的源極驅(qū)動芯 片寬度大約為14500um,且切割線的寬度約為80um。如此，這樣的尺寸是足 以將本發(fā)明的測試裝置100實施在晶片上作內(nèi)建自我測試。故當(dāng)測試裝置100 進行測試完畢后，便可將此測試裝置100在晶片進行切割時將其割除即可， 因此不需增加芯片面積。
綜上所述，本發(fā)明因采用選擇電路選擇驅(qū)動電路的輸出端口的其中之一， 并且利用上述輸出端口至少其一來產(chǎn)生參考電壓，最后再通過模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換 器根據(jù)選擇電路所選的輸出端口所輸出的輸出電壓與參考電壓間的差值，以 產(chǎn)生一個數(shù)字值，以作為測試通過與否的基準(zhǔn)。因此，本發(fā)明至少具有下列好處
1. 本發(fā)明所提供的測試裝置易于整合在顯示器驅(qū)動電路晶片中作內(nèi)建自 我測試。
2. 本發(fā)明所提供的測試裝置可以直接輸出數(shù)字值。因此，并不需使用昂 貴的測試才幾臺，即可減少集成電^各的測試成本。
雖然本發(fā)明已經(jīng)以較佳實施例揭露如上，然其并非用于限定本發(fā)明，任 何所屬技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作 些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當(dāng)視本發(fā)明的申請專利范圍所界 定者為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1. 一種顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于包括選擇電路，具有多個輸入端及一輸出端，其中，所述輸入端分別耦接該顯示器驅(qū)動電路的多個輸出端口，該選擇電路用于選擇所述輸出端口的其中之一電性連接到該輸出端；參考電壓產(chǎn)生電路，耦接所述輸出端口至少其一，并用于產(chǎn)生一參考電壓；以及模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，耦接該選擇電路與該參考電壓產(chǎn)生電路，用于根據(jù)該選擇電路的該輸出端所輸出的一輸出電壓與該參考電壓間的差值，而產(chǎn)生一數(shù)字值。
2. 如權(quán)利要求1所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該參考電壓產(chǎn)生電路更耦接所述輸出端口的第一特定接腳與第二特定接腳， 并用于依據(jù)該第一特定接腳與該第二特定接腳的輸出電壓的極性而擇一作為 該參考電壓，或?qū)⒃摰?一特定接腳的輸出電壓以及該第二特定接腳的輸出電 壓作平均以作為該參考電壓。
3. 如權(quán)利要求1所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器包括誤差放大器，用于接收該輸出電壓與該參考電壓，并利用該輸出電壓與 該參考電壓的差異值作一放大處理，以得到一第一電壓與一第二電壓； 斜波產(chǎn)生器，用于產(chǎn)生隨時間上升的一斜波電壓；以及 計數(shù)電路，用于當(dāng)該斜波電壓大于等于該第一電壓時，開始計數(shù)該數(shù)字 值，并當(dāng)該斜波電壓大于等于該第二電壓時，停止計數(shù)并輸出該數(shù)字值。
4. 如權(quán)利要求3所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器更包括校正單元，具有校正模式與測試模式，用于當(dāng)該校正單元處在該校正模 式時，接收一第一校正電壓與一第二校正電壓，并據(jù)以提供至該誤差放大器， 而該誤差放大器利用該第一校正電壓與該第二校正電壓的差異值作該放大處 理，以得到該第一電壓與該第二電壓；其中，該校正單元根據(jù)該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器依據(jù)該第一校正電壓與該第二 校正電壓所產(chǎn)生的該數(shù)字值，而決定是否對該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器作補償，以消 除該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器本身的誤差。
5. 如權(quán)利要求4所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 當(dāng)該校正單元處在該測試模式時，用于接收該輸出電壓與該參考電壓，并據(jù) 以提供至該誤差放大器，而該誤差放大器利用該輸出電壓與該參考電壓的差 異值作該;改大處理，以得到該第一電壓與該第二電壓。
6. 如權(quán)利要求5所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該校正單元依據(jù)外部的 一數(shù)字測試機臺所產(chǎn)生的控制信號而決定其處在該校 正沖莫式或該測試才莫式，并當(dāng)該;歐正單元處在該;f交正才莫式時，該數(shù)字測試^L臺 供應(yīng)該第 一校正電壓與該第二校正電壓，以判讀該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器依據(jù)該第 一校正電壓與該第二校正電壓所產(chǎn)生的該數(shù)字值的大小，且當(dāng)該校正單元處 在該測試模式時，該數(shù)字測試機臺直接判讀該模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器依據(jù)該輸出電 壓與該參考電壓所產(chǎn)生的該數(shù)字值的大小。
7. 如權(quán)利要求3所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該計數(shù)電路包括第一比較器，其第一輸入端接收該斜波電壓，其第二輸入端接收該第一 電壓，當(dāng)該斜波電壓大于等于該第一電壓時，其輸出端輸出一第一使能信號；第二比較器，其第一輸入端接收該斜波電壓，其第二輸入端接收該第二 電壓，當(dāng)該斜波電壓大于等于該第二電壓時，其輸出端輸出一第二使能信號； 以及計數(shù)器，當(dāng)該第一使能信號使能時，開始計數(shù)該數(shù)字值，當(dāng)該第二使能 信號使能時，停止計數(shù)并輸出該數(shù)字值。
8. 如權(quán)利要求3所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該計數(shù)電路包括第一比較器，其第一輸入端接收該斜波電壓，其第二輸入端接收該第一 電壓，當(dāng)該斜波電壓大于等于該第一電壓時，其輸出端輸出一第一使能信號； 第二比較器，其第一輸入端接收該斜波電壓，其第二輸入端接收該第二電壓，當(dāng)該斜波電壓大于等于該第二電壓時，其輸出端輸出一第二使能信號； 邏輯門，接收該第一使能信號以及該第二使能信號，輸出一邏輯使能信號；以及計數(shù)器，當(dāng)該邏輯使能信號使能時，開始計數(shù)該數(shù)字值，當(dāng)該邏輯使能 信號失能時，停止計數(shù)并輸出該數(shù)字值。
9. 如權(quán)利要求3所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該誤差放大器包括全差動放大器，其正輸入端接收該模擬電壓，其負輸入端接收該參考電 壓，其正輸出端輸出該第一電壓，而其負輸出端輸出該第二電壓。
10. 如權(quán)利要求9所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該誤差放大器更包括第一電容， 一端接收該模擬電壓，另一端耦接該全差動放大器的正輸入二山，禍；第二電容， 一端接收該參考電壓，另一端耦接該全差動放大器的負輸入二山，禍；第三電容，耦接在該全差動放大器的正輸入端與負輸出端之間；以及 第四電容，耦"l妻在該全差動;^大器的負輸入端與正輸出端之間。
11. 如權(quán)利要求1所述的顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，其特征在于其中， 該測試裝置配置在一晶片的一切割在線。
12. —種晶片，其特征在于包括 多個芯片；以及多個切割道，用于分隔所迷芯片，包括多個測試電路，分別對應(yīng)于所述 芯片之一，每一個測試電路包括選擇電路，具有多個輸入端及一輸出端，其中，所述輸入端分別耦接對 應(yīng)的該芯片的多個輸出端口 ，該選擇電路用于選擇所述輸出端口的其中之一 電性連接到該輸出端；參考電壓產(chǎn)生電路，耦接所述輸出端口至少其一，并用于產(chǎn)生一參考電 壓；以及模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，耦接該選擇電路與該參考電壓產(chǎn)生電路，用于根據(jù)該 選擇電路的該輸出端所輸出的一輸出電壓與該參考電壓間的差值，而產(chǎn)生一 數(shù)字值。
13. 如權(quán)利要求12所述的晶片，其特征在于其中，該參考電壓產(chǎn)生電路更耦接所述輸出端口的一第一特定接腳與一第二特定接腳，并用于依據(jù)該第 一特定接腳與該第二特定接腳的輸出電壓的極性而擇一作為該參考電壓，或 將該第一特定接腳的輸出電壓以及該第二特定接腳的輸出電壓作平均以作為 該參考電壓。
14.如權(quán)利要求12所述的晶片，其特征在于其中，所述芯片包括顯示器 驅(qū)動電路。
全文摘要
一種顯示器驅(qū)動電路的測試裝置，此測試裝置包括選擇電路、參考電壓產(chǎn)生電路，以及模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器。選擇電路包括多個輸入端與一個輸出端，且上述輸入端分別耦接驅(qū)動電路的多個輸出端口，而選擇電路用于選擇上述輸出端口的其中之一電性連接到其輸出端。參考電壓產(chǎn)生電路耦接上述輸出端口至少其一，用于產(chǎn)生參考電壓。模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器耦接選擇電路的輸出端，并根據(jù)選擇電路的輸出端所輸出的輸出電壓與參考電壓產(chǎn)生電路所產(chǎn)生的參考電壓間的差值，而輸出一個數(shù)字值。
文檔編號H03K5/24GK101430849SQ20071018600
公開日2009年5月13日 申請日期2007年11月9日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月9日
發(fā)明者李權(quán)哲, 黃俊郎, 黃瑞澤 申請人:奇景光電股份有限公司;黃俊郎