陣列基板、陣列基板的制造方法和顯示裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種陣列基板、陣列基板的制造方法和顯示
目.0
【背景技術(shù)】
[0002]陣列基板是顯示裝置的重要組成部分，陣列基板的顯示區(qū)域和周邊區(qū)域均設(shè)置有工作電路。目前一些陣列基板由于結(jié)構(gòu)復(fù)雜，如低溫多晶娃(英文:Low TemperaturePoly-Silicon ;簡稱:LTPS)陣列基板，需要在生產(chǎn)階段對LTPS陣列基板上的工作電路進(jìn)行相關(guān)的測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決相關(guān)技術(shù)中細(xì)長的測試線路容易因?yàn)樘炀€效應(yīng)而聚集較多的電荷，這些電荷可能損壞工作電路的問題，本發(fā)明提供了一種陣列基板、陣列基板的制造方法和顯示裝置。所述技術(shù)方案如下:
[0004]根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供一種陣列基板，所述陣列基板包括:
[0005]連接工作電路接口和測試接口的測試線路；
[0006]其中，所述測試線路上包含至少一個(gè)斷開點(diǎn)，所述測試線路上每個(gè)所述斷開點(diǎn)的兩端都設(shè)置有貫通到所述陣列基板上表面的導(dǎo)電接點(diǎn)；
[0007]在對所述工作電路進(jìn)行測試時(shí)，通過導(dǎo)通所有所述斷開點(diǎn)的兩端的導(dǎo)電接點(diǎn)能夠?qū)崿F(xiàn)所述測試線路的導(dǎo)通。
[0008]可選的，所述測試線路中的至少一條線路的中點(diǎn)處設(shè)置有斷開點(diǎn)。
[0009]可選的，所述測試線路中的至少一條線路的兩端設(shè)置有斷開點(diǎn)。
[0010]可選的，所述導(dǎo)電接點(diǎn)為從所述斷開點(diǎn)一端貫通到所述陣列基板上表面的過孔，所述過孔中設(shè)置有延伸到所述陣列基板上表面的導(dǎo)電物質(zhì)。
[0011]可選的，每個(gè)所述斷開點(diǎn)的兩端的導(dǎo)電接點(diǎn)之間的距離大于5微米。
[0012]可選的，每個(gè)所述斷開點(diǎn)的兩端的導(dǎo)電接點(diǎn)都能夠通過導(dǎo)電銀膠電連接。
[0013]可選的，所述至少一個(gè)斷開點(diǎn)將所述測試線路劃分為多條子測試線路，所述多條子測試線路形成于所述陣列基板上的同一層或不同層。
[0014]可選的，所述工作電路接口包括顯示區(qū)域的工作電路接口和周邊區(qū)域的工作電路接口 ；
[0015]所述測試接口包括顯示區(qū)域的測試接口和周邊區(qū)域的測試接口 ；
[0016]所述測試線路包括顯示區(qū)域的測試線路和周邊區(qū)域的測試線路；
[0017]其中，所述顯示區(qū)域的測試線路連接所述顯示區(qū)域的工作電路接口和所述顯示區(qū)域的測試接口；
[0018]所述周邊區(qū)域的測試線路連接所述周邊區(qū)域的工作電路接口和所述周邊區(qū)域的測試接口。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種陣列基板的制造方法，所述方法包括:
[0020]在基板上形成包含至少一個(gè)斷開點(diǎn)的測試線路，所述測試線路的兩端分別連接工作電路接口和測試接口；
[0021]在所述測試線路上每個(gè)所述斷開點(diǎn)的兩端形成貫通到所述陣列基板上表面的導(dǎo)電接點(diǎn)；
[0022]在對所述工作電路進(jìn)行測試時(shí)，通過導(dǎo)通所有所述斷開點(diǎn)的兩端的導(dǎo)電接點(diǎn)能夠?qū)崿F(xiàn)所述測試線路的導(dǎo)通。
[0023]可選的，所述測試線路中的至少一條線路的中點(diǎn)處設(shè)置有斷開點(diǎn)。
[0024]可選的，所述測試線路中的至少一條線路的兩端設(shè)置有斷開點(diǎn)。
[0025]可選的，所述導(dǎo)電接點(diǎn)為形成有導(dǎo)電物質(zhì)的過孔，
[0026]所述在所述測試線路上每個(gè)所述斷開點(diǎn)的兩端形成貫通到所述陣列基板上表面的導(dǎo)電接點(diǎn)，包括:
[0027]在所述測試線路上每個(gè)所述斷開點(diǎn)的兩端形成貫通到所述陣列基板上表面的過孔；
[0028]在所述過孔中形成延伸到所述陣列基板上表面的導(dǎo)電物質(zhì)。
[0029]可選的，每個(gè)所述斷開點(diǎn)的兩端的導(dǎo)電接點(diǎn)之間的距離大于5微米。
[0030]可選的，在所述測試線路上每個(gè)所述斷開點(diǎn)的兩端形成貫通到所述陣列基板上表面的導(dǎo)電接點(diǎn)之后，所述方法還包括:
[0031 ] 通過導(dǎo)電銀膠導(dǎo)通所有所述斷開點(diǎn)的兩端的導(dǎo)電接點(diǎn)。
[0032]可選的，所述在基板上形成包含至少一個(gè)斷開點(diǎn)的測試線路，包括:
[0033]在基板上形成所述包含至少一個(gè)斷開點(diǎn)的測試線路與柵極圖案；
[0034]或者，在形成有絕緣層的基板上形成所述包含至少一個(gè)斷開點(diǎn)的測試線路與源漏極圖案。
[0035]可選的，所述在基板上形成包含至少一個(gè)斷開點(diǎn)的測試線路，包括:
[0036]在基板上形成第一子測試線路的圖案與柵極圖案；
[0037]在形成有所述第一子測試線路的圖案與柵極圖案的基板上形成絕緣層；
[0038]在形成有絕緣層的基板上形成第二子測試線路的圖案與源漏極圖案，所述第一子測試線路的圖案和所述第二子測試線路的圖案組成所述包含至少一個(gè)斷開點(diǎn)的所述測試線路。
[0039]可選的，所述工作電路接口包括顯示區(qū)域的工作電路接口和周邊區(qū)域的工作電路接口 ；
[0040]所述測試接口包括顯示區(qū)域的測試接口和周邊區(qū)域的測試接口 ；
[0041]所述測試線路包括顯示區(qū)域的測試線路和周邊區(qū)域的測試線路；
[0042]其中，所述顯示區(qū)域的測試線路連接所述顯示區(qū)域的工作電路接口和所述顯示區(qū)域的測試接口；
[0043]所述周邊區(qū)域的測試線路連接所述周邊區(qū)域的工作電路接口和所述周邊區(qū)域的測試接口。
[0044]根據(jù)本發(fā)明的第三方面，提供一種顯示裝置，所述顯示裝置包括:第一方面提供的陣列基板。
[0045]本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果:
[0046]通過在形成測試線路時(shí)，在測試線路上設(shè)置至少一個(gè)斷開點(diǎn)，使斷開點(diǎn)分割而成的子測試線路都不會過長，減小了測試線路過長時(shí)產(chǎn)生的天線效應(yīng)，解決了相關(guān)技術(shù)中細(xì)長的測試線路容易因?yàn)樘炀€效應(yīng)而聚集較多的電荷，這些電荷可能損壞工作電路的問題；達(dá)到了測試線路不會因?yàn)樘炀€效應(yīng)損壞工作電路的效果。
[0047]應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本發(fā)明。
【附圖說明】
[0048]此處的附圖被并入說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分，示出了符合本發(fā)明的實(shí)施例，并與說明書一起用于解釋本發(fā)明的原理。
[0049]圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0050]圖2是圖1所示的陣列基板中斷開點(diǎn)處的左視截面圖；
[0051]圖3是根據(jù)一不例性實(shí)施例不出的另一種陣列基板的結(jié)構(gòu)不意圖；
[0052]圖4是圖3所示的陣列基板中斷開點(diǎn)處的左視截面圖；
[0053]圖5是圖3所示的陣列基板中多條子測試線路形成于陣列基板上不同層時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0054]圖6是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種陣列基板的制造方法的流程圖；
[0055]圖7是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的另一種陣列基板的制造方法的流程圖；
[0056]圖8至圖14是圖7所示實(shí)施例中基板的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0057]通過上述附圖，已示出本發(fā)明明確的實(shí)施例，后文中將有更詳細(xì)的描述。這些附圖和文字描述并不是為了通過任何方式限制本發(fā)明構(gòu)思的范圍，而是通過參考特定實(shí)施例為本領(lǐng)域技術(shù)人員說明本發(fā)明的概念。
【具體實(shí)施方式】
[0058]這里將詳細(xì)地對示例性實(shí)施例進(jìn)行說明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時(shí)，除非另有表示，不同附圖中的相同數(shù)字表示相同或相似的要素。以下示例性實(shí)施例中所描述的實(shí)施方式并不代表與本發(fā)明相一致的所有實(shí)施方式。相反，它們僅是與如所附權(quán)利要求書中所詳述的、本發(fā)明的一些方面相一致的裝置和方法的例子。
[0059]發(fā)明人經(jīng)過研宄發(fā)現(xiàn)，一種陣列基板，該陣列基板中設(shè)置有測試線路，該測試線路分別連接位于陣列基板長度方向上一端的工作電路接口(工作電路接口與工作電路電連接)及位于陣列基板長度方向上另一端的測試接口，之后在進(jìn)行測試時(shí)直接通過測試接口向測試線路輸入測試信號，由于測試線路與工作電路連接，可以實(shí)現(xiàn)對工作電路進(jìn)行測試。
[0060]為了實(shí)現(xiàn)陣列基板的有效測試，測試線路的長度通常較長，細(xì)長的測試線路容易因?yàn)樘炀€效應(yīng)而聚集較多的電荷，這些電荷可能損壞工作電路。
[0061]圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖。該陣列基板可以包括:
[0062]連接工作電路接口 101和測試接口 102的測試線路103。
[0063]其中，測試線路103上包含至少一個(gè)斷開點(diǎn)A，測試線路103上每個(gè)斷開點(diǎn)的兩端都設(shè)置有貫通到陣列基板上表面的導(dǎo)電接點(diǎn)(圖1中未示出)。
[0064]在對工作電路104進(jìn)行測試時(shí)，通過導(dǎo)通所有斷開點(diǎn)的兩端的導(dǎo)電接點(diǎn)能夠?qū)崿F(xiàn)測試線路的導(dǎo)通。
[0065]綜上所述，本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板，通過在形成測試線路時(shí)，在測試線路上設(shè)置至少一個(gè)斷開點(diǎn)，使斷開點(diǎn)分割而成的子測試線路都不會過長，減小了測試線路過長時(shí)產(chǎn)生的天線效應(yīng)，解決了相關(guān)技術(shù)中細(xì)長的測試線路容易因?yàn)樘炀€效應(yīng)而聚集較多的電荷，這些電荷可能損壞工作電路