專利名稱：嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法及嵌入式系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及嵌入式技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法及嵌入式系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
隨著片上系統(tǒng)(SOC)的發(fā)展，集成電路的規(guī)模越來越大，在電路中將集成越來越大的嵌入式存儲器，目前整個系統(tǒng)芯片中嵌入式內(nèi)存的面積已經(jīng)超過了芯片的30%，甚至很多芯片中已經(jīng)超過了 60%。尤其鑒于嵌入式存儲器的特殊結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致它可能產(chǎn)生的故障類型也是多種多樣，為了保證芯片的可靠性，必須對嵌入式內(nèi)存進行測試，現(xiàn)有技術(shù)中普遍采用的是在芯片中內(nèi)建自測試邏輯的方案，但這樣會額外耗費芯片的硬件資源，影響嵌入式系統(tǒng)的性能。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法及嵌入式系統(tǒng)，旨在不影響嵌入式系統(tǒng)的性能情況下高效的對內(nèi)存進行測試。為了達到上述目的，本發(fā)明提出一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法，包括:向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；讀取所述存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)；將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常。優(yōu)選地，所述向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的步驟包括:根據(jù)所述存儲器存儲數(shù)據(jù)的類型選擇相應(yīng)類型的測試數(shù)據(jù)作為預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；通過芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入所述存儲器中。優(yōu)選地，所述根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常的步驟包括:當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)相同時，判斷內(nèi)存工作正常；當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)不同時，判斷內(nèi)存工作不正常。優(yōu)選地，當(dāng)被檢測內(nèi)存為多片存儲器時，在所述將預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常的步驟之前還包括:同時向所述多片存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；同時讀取所述多片存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)。優(yōu)選地，當(dāng)需要提高測試能力時，所述向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的步驟之前還包括:增加需要測試的類型數(shù)據(jù)到所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)中。本發(fā)明還提出一種測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng)，包括:寫入模塊，用于向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；讀取模塊，用于讀取所述存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)；
比較判斷模塊，用于將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常。優(yōu)選地，所述寫入模塊包括:選擇單元，用于根據(jù)所述存儲器存儲數(shù)據(jù)的類型選擇相應(yīng)類型的測試數(shù)據(jù)作為預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；轉(zhuǎn)換寫入單元，用于通過芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入所述存儲器中。優(yōu)選地，所述比較判斷模塊用于:當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)相同時，判斷內(nèi)存工作正常；當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)不同時，判斷內(nèi)存工作不正常。優(yōu)選地，還包括:多片存儲器寫入模塊，用于同時向多片存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；多片存儲器讀取模塊，用于同時讀取多片存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)。優(yōu)選地，所述寫入模塊之前還包括:升級模塊，用于當(dāng)需要提高測試能力時，增加需要測試的類型數(shù)據(jù)到所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)中。本發(fā)明提出的一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法及嵌入式系統(tǒng)，通過從外部輸入與存儲器存儲數(shù)據(jù)類型相應(yīng)的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)到芯片，利用芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換在存儲器上完成所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的寫入和讀取操作，根據(jù)寫入和讀取的數(shù)據(jù)是否相同來判斷內(nèi)存是否工作正常，既不會占用芯片硬件資源，影響系統(tǒng)性能，又能簡單高效的測試內(nèi)存的工作狀態(tài)，非常實用。


圖1是本發(fā)明嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法第一實施例的流程示意圖；圖2是本發(fā)明嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法第一實施例中向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的流程示意圖；圖3是本發(fā)明嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法第二實施例的流程示意圖；圖4是本發(fā)明嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法第三實施例的流程示意圖；圖5是本發(fā)明測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng)第一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是本發(fā)明測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng)第一實施例中寫入模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；圖7是本發(fā)明測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng)第二實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖8是本發(fā)明測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng)第三實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。為了使本發(fā)明的技術(shù)方案更加清楚、明了，下面將結(jié)合附圖作進一步詳述。
具體實施例方式本發(fā)明實施例的解決方案主要是:通過從外部輸入與存儲器存儲數(shù)據(jù)類型相應(yīng)的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)到芯片，利用芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換在存儲器上完成所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的寫入和讀取操作，根據(jù)寫入和讀取的數(shù)據(jù)是否相同來判斷內(nèi)存是否工作正常。
如圖1所示，本發(fā)明第一實施例提出一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法，包括:步驟S101，向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；嵌入式系統(tǒng)中不同類型的存儲器存儲的數(shù)據(jù)類型不同，根據(jù)被檢測的存儲器中存儲數(shù)據(jù)的類型選擇相應(yīng)類型的測試數(shù)據(jù)作為預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)，這樣通過測試預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的存儲情況即能判斷被檢測的存儲器的工作狀態(tài)。對芯片發(fā)送控制信號，通過所述芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換在所述控制信號指定的位置將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入所述芯片被檢測的存儲器中。步驟S102，讀取所述存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)；對芯片發(fā)送控制信號，在所述控制信號指定的位置讀取步驟SlOl中寫入被檢測的存儲器中的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)。步驟S103，將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常。將步驟S102中讀取的所述寫出數(shù)據(jù)與步驟SlOl中寫入的所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進行比較，當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)相同時，說明被檢測的存儲器存儲狀況正常，則判斷內(nèi)存工作正常；當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)不同時，說明被檢測的存儲器存儲狀況異常，不能正常讀取寫入的數(shù)據(jù)，則判斷內(nèi)存工作不正常。具體地,如圖2所示,上述步驟SlOl可以包括:步驟S1011，根據(jù)所述存儲器存儲數(shù)據(jù)的類型選擇相應(yīng)類型的測試數(shù)據(jù)作為預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；步驟S1012，通過芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入所述存儲器中。本實施例通過上述方案，既不會占用芯片硬件資源，影響系統(tǒng)性能，又能簡單高效的測試內(nèi)存的工作狀態(tài)，非常實用。如圖3所示，本發(fā)明第二實施例提出一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法，在上述第一實施例的基礎(chǔ)上，當(dāng)被檢測內(nèi)存為多片存儲器時，在步驟S103之前還包括:步驟S104，同時向所述多片存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；步驟S105，同時讀取所述多片存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)。本實施例與上述第一實施例的區(qū)別在于，當(dāng)被檢測內(nèi)存為多片存儲器時，采用并行的方式，在外部控制信號下同時將預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入多片存儲器中，并同時讀取所述多片存儲器中寫入的所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)，再將所述寫出數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)比較的結(jié)果通過芯片的引腳輸出，這樣向多片存儲器中同時進行寫入和讀取的操作極大的提高測試的效率，在需測試內(nèi)存中多片存儲器時，節(jié)省了測試所需的時間與精力。如圖4所示，本發(fā)明第三實施例提出一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法，在上述第一實施例的基礎(chǔ)上，在上述步驟SlOl之前還包括:步驟S106，增加需要測試的類型數(shù)據(jù)到所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)中。本實施例與上述第一實施例的區(qū)別在于，當(dāng)需要提高測試能力時，即需要測試內(nèi)存中不同類型的存儲器時，根據(jù)需要測試的存儲器存儲數(shù)據(jù)的類型，增加相應(yīng)類型的數(shù)據(jù)到所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)中，這樣就升級了本實施例對不同類型存儲器的測試能力，即增強了對各種類型的存儲器的測試能力，且升級過程十分簡易，花費代價不高。如圖5所示，本發(fā)明第一實施例提出一種測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng)，包括:寫入模塊501、讀取模塊502以及比較判斷模塊503，其中:寫入模塊501，用于向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；嵌入式系統(tǒng)中不同類型的存儲器存儲的數(shù)據(jù)類型不同，根據(jù)被檢測的存儲器中存儲數(shù)據(jù)的類型選擇相應(yīng)類型的測試數(shù)據(jù)作為預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)，這樣通過測試預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的存儲情況即能判斷被檢測的存儲器的工作狀態(tài)。對芯片發(fā)送控制信號，通過所述芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換在所述控制信號指定的位置將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入所述芯片被檢測的存儲器中。讀取模塊502，用于讀取所述存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)；對芯片發(fā)送控制信號，在所述控制信號指定的位置讀取寫入模塊501寫入被檢測的存儲器中的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)，將讀取的數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)。比較判斷模塊503，用于將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常。將讀取模塊502讀取的所述寫出數(shù)據(jù)與寫入模塊501寫入的所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)進行比較，當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)相同時，說明被檢測的存儲器存儲狀況正常，則判斷內(nèi)存工作正常；當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)不同時，說明被檢測的存儲器存儲狀況異常，不能正常讀取寫入的數(shù)據(jù)，則判斷內(nèi)存工作不正常。具體地，如圖6所示，所述寫入模塊501可以包括:選擇單元5011以及轉(zhuǎn)換寫入單元5012，其中: 選擇單元5011，用于根據(jù)所述存儲器存儲數(shù)據(jù)的類型選擇相應(yīng)類型的測試數(shù)據(jù)作為預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；轉(zhuǎn)換寫入單元5012，用于通過芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入所述存儲器中。本實施例通過上述方案，既不會占用芯片硬件資源，影響系統(tǒng)性能，又能簡單高效的測試內(nèi)存的工作狀態(tài)，非常實用。如圖7所示，本發(fā)明第二實施例提出一種測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng)，在上述第一實施例的基礎(chǔ)上，當(dāng)被檢測內(nèi)存為多片存儲器時，在比較判斷模塊503之前還包括:多片存儲器寫入模塊504，用于同時向多片存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；多片存儲器讀取模塊505，用于同時讀取多片存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)。本實施例與上述第一實施例的區(qū)別在于，當(dāng)被檢測內(nèi)存為多片存儲器時，采用并行的方式，在外部控制信號下同時將預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入多片存儲器中，并同時讀取所述多片存儲器中寫入的所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)，再將所述寫出數(shù)據(jù)與所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)比較的結(jié)果通過芯片的引腳輸出，這樣向多片存儲器中同時進行寫入和讀取的操作極大的提高測試的效率，在需測試內(nèi)存中多片存儲器時，節(jié)省了測試所需的時間與精力。如圖8所示，本發(fā)明第三實施例提出一種測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng)，在上述第一實施例的基礎(chǔ)上，所述寫入模塊501之前還包括:升級模塊506，用于當(dāng)需要提高測試能力時，增加需要測試的類型數(shù)據(jù)到所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)中。本實施例與上述第一實施例的區(qū)別在于，當(dāng)需要提高測試能力時，即需要測試內(nèi)存中不同類型的存儲器時，根據(jù)需要測試的存儲器存儲數(shù)據(jù)的類型，增加相應(yīng)類型的數(shù)據(jù)到所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)中，這樣就升級了本實施例對不同類型存儲器的測試能力，即增強了對各種類型的存儲器的測試能力，且升級過程十分簡易，花費代價不高。本發(fā)明提出的一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法及嵌入式系統(tǒng)，通過從外部輸入與存儲器存儲數(shù)據(jù)類型相應(yīng)的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)到芯片，利用芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換在存儲器上完成所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的寫入和讀取操作，根據(jù)寫入和讀取的數(shù)據(jù)是否相同來判斷內(nèi)存是否工作正常，既不會占用芯片硬件資源，影響系統(tǒng)性能，又能簡單高效的測試內(nèi)存的工作狀態(tài)，非常實用。以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或流程變換，或直接或間接運用在其它相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法，其特征在于，包括: 向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)； 讀取所述存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)； 將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法， 其特征在于，所述向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的步驟包括: 根據(jù)所述存儲器存儲數(shù)據(jù)的類型選擇相應(yīng)類型的測試數(shù)據(jù)作為預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)； 通過芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入所述存儲器中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常的步驟包括: 當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)相同時，判斷內(nèi)存工作正常； 當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)不同時，判斷內(nèi)存工作不正常。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，當(dāng)被檢測內(nèi)存為多片存儲器時，在所述將預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常的步驟之前還包括: 同時向所述多片存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)； 同時讀取所述多片存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，當(dāng)需要提高測試能力時，所述向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的步驟之前還包括: 增加需要測試的類型數(shù)據(jù)到所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)中。
6.—種測試內(nèi)存的嵌入式系統(tǒng),其特征在于,包括: 寫入模塊，用于向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)； 讀取模塊，用于讀取所述存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)； 比較判斷模塊，用于將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述寫入模塊包括: 選擇單元，用于根據(jù)所述存儲器存儲數(shù)據(jù)的類型選擇相應(yīng)類型的測試數(shù)據(jù)作為預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)； 轉(zhuǎn)換寫入單元，用于通過芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)寫入所述存儲器中。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述比較判斷模塊用于: 當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)相同時，判斷內(nèi)存工作正常； 當(dāng)所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)不同時，判斷內(nèi)存工作不正常。
9.根據(jù)權(quán)利要求6、7或8所述的系統(tǒng)，其特征在于，還包括: 多片存儲器寫入模塊，用于同時向多片存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)； 多片存儲器讀取模塊，用于同時讀取多片存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述寫入模塊之前還包括:升級模塊，用于當(dāng)需要提高測試能力時，增加需要測試的類型數(shù)據(jù)到所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)中 。
全文摘要
本發(fā)明公開一種嵌入式系統(tǒng)的內(nèi)存測試方法及嵌入式系統(tǒng)，其方法包括向存儲器中寫入預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)；讀取所述存儲器中寫入的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)作為寫出數(shù)據(jù)；將所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)與所述寫出數(shù)據(jù)進行比較，根據(jù)比較結(jié)果判斷內(nèi)存工作是否正常。本發(fā)明通過從外部輸入與存儲器存儲數(shù)據(jù)類型相應(yīng)的預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)到芯片，利用芯片內(nèi)部的邏輯轉(zhuǎn)換在存儲器上完成所述預(yù)設(shè)測試數(shù)據(jù)的寫入和讀取操作，根據(jù)寫入和讀取的數(shù)據(jù)是否相同來判斷內(nèi)存是否工作正常，既不會占用芯片硬件資源，影響系統(tǒng)性能，又能簡單高效的測試內(nèi)存的工作狀態(tài)，非常實用。
文檔編號G11C29/56GK103208314SQ20131006825
公開日2013年7月17日 申請日期2013年3月4日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月4日
發(fā)明者羅挺, 吳大畏 申請人:深圳市硅格半導(dǎo)體有限公司