嵌入式系統(tǒng)的測試方法、測試裝置和測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及嵌入式技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種嵌入式系統(tǒng)的測試方法、一種嵌入式系統(tǒng)的測試裝置和一種嵌入式系統(tǒng)的測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]當(dāng)前嵌入式領(lǐng)域發(fā)展迅速，嵌入式設(shè)備和主控芯片的復(fù)雜度越來越高，相應(yīng)的針對嵌入式系統(tǒng)的測試過程越來越復(fù)雜。當(dāng)前針對嵌入式系統(tǒng)的測試主要分為前端設(shè)計的功能測試和后端設(shè)計的性能測試。其測試出發(fā)點均立足于驗證嵌入式系統(tǒng)和內(nèi)部設(shè)備的功能與性能的正確性和可靠性，即以測試系統(tǒng)是否能正確實現(xiàn)功能和是否具有正常的性能指標(biāo)為目的，制定測試方案進行測試。
[0003]對于嵌入式系統(tǒng)來說，由于系統(tǒng)功能繁多，設(shè)計復(fù)雜度增加，導(dǎo)致嵌入式系統(tǒng)本身的故障發(fā)生率也隨之增高。但是，相關(guān)技術(shù)基于一般的測試思路和測試方法，未能有效的針對嵌入式系統(tǒng)內(nèi)部故障或者具有以嵌入式系統(tǒng)出現(xiàn)故障為目的測試，即沒有特定的針對嵌入式系統(tǒng)出現(xiàn)故障或錯誤的容錯能力與糾錯能力進行測試。這種情況下，雖然保證了嵌入式系統(tǒng)或內(nèi)部設(shè)備功能的正確性，但對于嵌入式系統(tǒng)與內(nèi)部設(shè)備的故障和容錯和糾錯性能缺少整體的評估檢驗，使嵌入式系統(tǒng)本身承擔(dān)了一定風(fēng)險性，嵌入式產(chǎn)品的可靠性降低，或者相關(guān)技術(shù)中即使有上述測試內(nèi)容，但缺少特定的測試邏輯與測試方法的支持，使得測試方案制定繁瑣，測試花費時間較長，影響效率，人力物力成本高。因此，需要對相關(guān)技術(shù)進行改進。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的旨在至少從一定程度上解決上述的技術(shù)問題之一。
[0005]為此，本發(fā)明的一個目的在于提出一種嵌入式系統(tǒng)的測試方法，該嵌入式系統(tǒng)的測試方法能夠?qū)η度胧较到y(tǒng)中內(nèi)部設(shè)備的容錯和糾錯性能進行全面的檢測和驗證，實施成本低，效率高。
[0006]本發(fā)明的另一個目的在于提出一種嵌入式系統(tǒng)的測試裝置。
[0007]本發(fā)明的再一個目的在于提出一種嵌入式系統(tǒng)的測試系統(tǒng)。
[0008]為達到上述目的，本發(fā)明一方面實施例提出了一種嵌入式系統(tǒng)的測試方法，該嵌入式系統(tǒng)的測試方法包括以下步驟:獲取嵌入式系統(tǒng)中待測設(shè)備的驅(qū)動程序、故障發(fā)生模擬程序和測試程序，并寫入嵌入式系統(tǒng)；根據(jù)所述測試程序?qū)λ龉收习l(fā)生模擬程序進行配置以使所述故障發(fā)生模擬程序生成測試實例；所述嵌入式系統(tǒng)執(zhí)行所述驅(qū)動程序以運行所述待測設(shè)備；以及通過所述故障發(fā)生模擬程序根據(jù)所述測試實例對所述嵌入式系統(tǒng)中的待測設(shè)備進行修改，并對所述待測設(shè)備進行測試。
[0009]本發(fā)明實施例提出的嵌入式系統(tǒng)的測試方法，在將獲取的待測設(shè)備的驅(qū)動程序、故障發(fā)生模擬程序和測試程序?qū)懭肭度胧较到y(tǒng)，以及在根據(jù)測試程序?qū)收习l(fā)生模擬程序進行配置，使得故障發(fā)生模擬程序生成測試實例后，在嵌入式系統(tǒng)執(zhí)行驅(qū)動程序運行待測設(shè)備時，通過故障發(fā)生模擬程序根據(jù)測試實例對嵌入式系統(tǒng)中的待測設(shè)備進行修改，并對待測設(shè)備進行測試。該嵌入式系統(tǒng)的測試方法針對嵌入式系統(tǒng)中待測設(shè)備的故障進行測試，能夠?qū)η度胧较到y(tǒng)的容錯和糾錯性能進行全面的檢測和驗證，實施成本低，效率高。
[0010]為達到上述目的，本發(fā)明另一方面實施例還提出了一種嵌入式系統(tǒng)的測試裝置，該嵌入式系統(tǒng)的測試裝置包括:故障發(fā)生模擬程序模塊，用于根據(jù)測試程序生成測試實例，并在所述嵌入式系統(tǒng)運行待測設(shè)備時，根據(jù)所述測試實例對所述嵌入式系統(tǒng)中的待測設(shè)備進行修改；測試模塊，用于對所述待測設(shè)備進行測試。
[0011]本發(fā)明實施例提出的嵌入式系統(tǒng)的測試裝置，通過故障發(fā)生模擬程序模塊根據(jù)測試程序生成測試實例，并在嵌入式系統(tǒng)運行待測設(shè)備時，故障發(fā)生模擬程序模塊根據(jù)測試實例對嵌入式系統(tǒng)中的待測設(shè)備進行修改，進而通過測試模塊對待測設(shè)備進行測試。該嵌入式系統(tǒng)的測試裝置針對嵌入式系統(tǒng)中待測設(shè)備的故障進行測試，能夠?qū)η度胧较到y(tǒng)的容錯和糾錯性能進行全面的檢測和驗證，實施成本低，效率高。
[0012]為達到上述目的，本發(fā)明再一方面實施例還提出了一種嵌入式系統(tǒng)的測試系統(tǒng)，該嵌入式系統(tǒng)的測試系統(tǒng)包括所述的嵌入式系統(tǒng)的測試裝置。
[0013]本發(fā)明實施例提出的嵌入式系統(tǒng)的測試系統(tǒng)，通過嵌入式系統(tǒng)的測試裝置根據(jù)測試程序生成測試實例，并在嵌入式系統(tǒng)運行待測設(shè)備時，根據(jù)測試實例對嵌入式系統(tǒng)中的待測設(shè)備進行修改，最后對待測設(shè)備進行測試。該嵌入式系統(tǒng)的測試系統(tǒng)能夠針對嵌入式系統(tǒng)中待測設(shè)備的故障進行測試，從而實現(xiàn)對嵌入式系統(tǒng)的容錯和糾錯性能進行全面的檢測和驗證，實施成本低，效率高。
[0014]本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。
【附圖說明】
[0015]本發(fā)明上述的和/或附加的方面和優(yōu)點從下面結(jié)合附圖對實施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中:
[0016]圖1為根據(jù)本發(fā)明實施例的嵌入式系統(tǒng)的測試裝置的方框示意圖；
[0017]圖2為根據(jù)本發(fā)明一個實施例的嵌入式系統(tǒng)的測試裝置的故障發(fā)生模擬程序模塊的方框示意圖；
[0018]圖3為根據(jù)本發(fā)明一個具體實施例的嵌入式系統(tǒng)的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖4為根據(jù)本發(fā)明實施例的嵌入式系統(tǒng)的測試方法的流程圖；以及
[0020]圖5為根據(jù)本發(fā)明一個具體實施例的嵌入式系統(tǒng)的測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0021]下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能解釋為對本發(fā)明的限制。
[0022]下文的公開提供了許多不同的實施例或例子用來實現(xiàn)本發(fā)明的不同結(jié)構(gòu)。為了簡化本發(fā)明的公開，下文中對特定例子的部件和設(shè)置進行描述。當(dāng)然，它們僅僅為示例，并且目的不在于限制本發(fā)明。此外，本發(fā)明可以在不同例子中重復(fù)參考數(shù)字和/或字母。這種重復(fù)是為了簡化和清楚的目的，其本身不指示所討論各種實施例和/或設(shè)置之間的關(guān)系。此夕卜，本發(fā)明提供了的各種特定的工藝和材料的例子，但是本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以意識到其他工藝的可應(yīng)用于性和/或其他材料的使用。另外，以下描述的第一特征在第二特征之“上”的結(jié)構(gòu)可以包括第一和第二特征形成為直接接觸的實施例，也可以包括另外的特征形成在第一和第二特征之間的實施例，這樣第一和第二特征可能不是直接接觸。
[0023]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解，例如，可以是機械連接或電連接，也可以是兩個元件內(nèi)部的連通，可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語的具體含義。
[0024]下面參照附圖來描述根據(jù)本發(fā)明實施例提出的嵌入式系統(tǒng)的測試方法、嵌入式系統(tǒng)的測試裝置和嵌入式系統(tǒng)的測試系統(tǒng)。
[0025]首先參照附圖來描述根據(jù)本發(fā)明實施例提出的嵌入式系統(tǒng)的測試裝置。
[0026]如圖1所示，本發(fā)明實施例提出的嵌入式系統(tǒng)的測試裝置1包括故障發(fā)生模擬程序模塊10和測試模塊20。其中，故障發(fā)生模擬程序模塊10用于根