Lte fdd自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型LTE FDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包括有頻譜儀、綜測(cè)儀、信號(hào)源、射頻切換控制箱、工控計(jì)算機(jī)和被測(cè)件，頻譜儀、綜測(cè)儀、信號(hào)源和射頻切換控制箱集成在機(jī)柜上，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源通過(guò)GPIB控制線串聯(lián)，射頻切換控制箱通過(guò)USB控制線與工控計(jì)算機(jī)相連，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源與工控計(jì)算機(jī)通過(guò)GPIB轉(zhuǎn)USB控制線相連，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源輸入端口通過(guò)射頻線纜與射頻切換控制箱后面板對(duì)應(yīng)端口相連。本實(shí)用新型可以實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試進(jìn)行操作和交互，控制儀表設(shè)置參數(shù)，讀取儀表數(shù)據(jù)，分析對(duì)比顯示數(shù)據(jù)，存儲(chǔ)結(jié)果，生成報(bào)告等。對(duì)指定的設(shè)備環(huán)境，實(shí)現(xiàn)智能化檢測(cè)待測(cè)件，設(shè)計(jì)優(yōu)化檢測(cè)算法，并行檢測(cè)，提高效率。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
LTE FDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實(shí)用新型涉及一種LTE FDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前現(xiàn)有的LTEFDD移動(dòng)終端測(cè)試子系統(tǒng)客戶進(jìn)行檢測(cè)需要手動(dòng)在儀表按鍵上對(duì)儀表的參數(shù)進(jìn)行逐一設(shè)置，需要進(jìn)行大量的循環(huán)操作，讀取記錄結(jié)果，和標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)比對(duì)，逐一記錄合格與否。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
[0004]為了解決現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:
[0005]LTE FDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括有:頻譜儀、綜測(cè)儀、信號(hào)源、射頻切換控制箱、工控計(jì)算機(jī)和被測(cè)件，頻譜儀、綜測(cè)儀、信號(hào)源和射頻切換控制箱集成在機(jī)柜上，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源通過(guò)GPIB控制線串聯(lián)，射頻切換控制箱通過(guò)USB控制線與工控計(jì)算機(jī)相連，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源與工控計(jì)算機(jī)通過(guò)GPIB轉(zhuǎn)USB控制線相連，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源輸入端口通過(guò)射頻線纜與射頻切換控制箱后面板對(duì)應(yīng)端口相連。
[0006]所述的頻譜分析儀為N9030A信號(hào)分析儀。
[0007]所述的綜合測(cè)試儀為CTP3110。
[0008]所述的信號(hào)發(fā)生器為N5182B。
[0009]所述的射頻切換控制箱包括有射頻切換控制箱TH2900F-1和射頻切換控制箱TH2900F-2 兩部分。
[0010]所述的射頻切換控制箱TH2900F-1與射頻切換控制箱TH2900F-2通過(guò)射頻線纜相連。
[0011]所述的射頻切換控制箱包括有3dB衰減器、功分器、耦合器、Bandl帶阻濾波器、Band3帶阻濾波器、Band7帶阻濾波器、低通濾波器、高通濾波器、電磁開(kāi)關(guān)、單向器、UE終端I與UE終端2，其中:所述的3dB衰減器對(duì)輸入信號(hào)幅度進(jìn)行衰減，確保輸入信號(hào)電平不會(huì)超出儀表量程，對(duì)儀表起到保護(hù)作用；
[0012]所述的功分器將輸入信號(hào)分離成兩路，一路與綜測(cè)儀相連，一路經(jīng)過(guò)濾波單元與頻譜儀相連；
[0013]所述的耦合器將輸入信號(hào)與干擾信號(hào)產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物并將其輸入到頻譜分析儀進(jìn)行測(cè)試；
[0014]所述的Bandl帶阻濾波器對(duì)Bandl主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試；
[0015]所述的Band3帶阻濾波器對(duì)Band3主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試；
[0016]所述的Band7帶阻濾波器對(duì)Band7主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試；
[0017]所述的低通濾波器對(duì)9kHZ-1000MHZ進(jìn)行濾波，濾波后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試；
[0018]所述的高通濾波器對(duì)3000MHz -12750MHz進(jìn)行濾波，濾波后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試；
[0019]所述的UE終端I與UE終端2為被測(cè)件提供射頻輸入信號(hào)。
[0020]LTE FDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，包括以下步驟:
[0021]①創(chuàng)建測(cè)試項(xiàng)目；
[0022]②填寫(xiě)公共信息和加載校準(zhǔn)結(jié)果文件；
[0023]③創(chuàng)建和導(dǎo)入、導(dǎo)出測(cè)試計(jì)劃；
[0024]④修改和配置參數(shù)；
[0025]⑤初始化儀表；
[0026]⑥連接被測(cè)設(shè)備；
[0027]⑦執(zhí)行測(cè)試；
[0028]⑧測(cè)試完成后點(diǎn)擊“測(cè)試結(jié)果”來(lái)查詢完成的測(cè)試數(shù)據(jù)和對(duì)其中測(cè)試項(xiàng)的復(fù)測(cè)工作；
[0029]⑨測(cè)試結(jié)束；
[°03°]⑩生成報(bào)告。
[0031 ]本實(shí)用新型所具有的優(yōu)點(diǎn)與效果是:
[0032]本實(shí)用新型LTE FDD移動(dòng)終端測(cè)試子系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)測(cè)試進(jìn)行操作和交互，包括基礎(chǔ)信息記錄，儀表矯正，誤差補(bǔ)償，控制儀表設(shè)置參數(shù)，讀取儀表數(shù)據(jù)，分析對(duì)比顯示數(shù)據(jù)，存儲(chǔ)結(jié)果，生成報(bào)告等。對(duì)指定的設(shè)備環(huán)境，實(shí)現(xiàn)智能化檢測(cè)待測(cè)件，設(shè)計(jì)優(yōu)化檢測(cè)算法，并彳丁檢測(cè)，提尚效率。
【附圖說(shuō)明】
[0033]圖1為本實(shí)用新型LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)原理圖；
[0034]圖2為本實(shí)用新型射頻切換控制箱TH2900F-1結(jié)構(gòu)原理圖；
[0035]圖3為本實(shí)用新型射頻切換控制箱TH2900F-2結(jié)構(gòu)原理圖；
[0036]圖4為本實(shí)用新型LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0037]如圖1所示，本實(shí)用新型LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括有:頻譜儀、綜測(cè)儀、信號(hào)源、射頻切換控制箱、工控計(jì)算機(jī)和被測(cè)件，頻譜儀、綜測(cè)儀、信號(hào)源和射頻切換控制箱集成在機(jī)柜上，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源通過(guò)GPIB控制線串聯(lián)，射頻切換控制箱通過(guò)USB控制線與工控計(jì)算機(jī)相連，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源與工控計(jì)算機(jī)通過(guò)GPIB轉(zhuǎn)USB控制線相連，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源輸入端口通過(guò)射頻線纜與射頻切換控制箱后面板對(duì)應(yīng)端口相連。
[0038]頻譜分析儀主要功能為完成發(fā)射互調(diào)測(cè)試項(xiàng)目中的對(duì)互調(diào)產(chǎn)物進(jìn)行測(cè)試，并讀出測(cè)試結(jié)果;完成傳導(dǎo)雜散發(fā)射項(xiàng)目測(cè)試，按照標(biāo)準(zhǔn)要求的頻段逐段掃描。
[0039]信號(hào)發(fā)生器主要功能為發(fā)射互調(diào)測(cè)試項(xiàng)目提供干擾信號(hào)，與被測(cè)件發(fā)射信號(hào)產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物。
[0040]綜合測(cè)試儀主要功能為完成型號(hào)核準(zhǔn)測(cè)試要求的17項(xiàng)測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試，包括最大發(fā)射功率、最大功率回退(MPR)、配置UE發(fā)射功率、最小輸出功率、發(fā)射關(guān)功率、通用發(fā)射開(kāi)/關(guān)時(shí)間模板、絕對(duì)功率控制容限、相對(duì)功率控制容限、總功率控制容限、頻率誤差、誤差矢量幅度(EVM)、載波泄漏、帶內(nèi)雜散(未分配資源塊)、EVM均衡器頻譜平坦度、占用帶寬、頻譜發(fā)射模板、鄰道泄漏抑制比(ACLR);
[0041 ]射頻切換單元將各儀表的射頻輸入端口連接到射頻切換單元與之對(duì)應(yīng)的輸出端口，為被測(cè)件的輸入信號(hào)提供射頻路徑切換，確保將被測(cè)件的射頻信號(hào)輸入到不同儀表，通過(guò)工控機(jī)發(fā)送控制命令切換內(nèi)部電磁開(kāi)關(guān)實(shí)現(xiàn)不同路徑切換。
[0042]所述的頻譜分析儀為N9030A信號(hào)分析儀。
[0043]所述的綜合測(cè)試儀為CTP3110。
[0044]所述的信號(hào)發(fā)生器為N5182B。
[0045]如圖2、3所示，所述的射頻切換控制箱包括有射頻切換控制箱TH2900F-1和射頻切換控制箱TH2900F-2兩部分。
[0046]所述的射頻切換控制箱TH2900F-1與射頻切換控制箱TH2900F-2通過(guò)射頻線纜相連。
[0047]所述的射頻切換控制箱包括有3dB衰減器、功分器、耦合器、Bandl帶阻濾波器、Band3帶阻濾波器、Band7帶阻濾波器、低通濾波器、高通濾波器、電磁開(kāi)關(guān)、單向器、UE終端I與UE終端2，其中:所述的3dB衰減器對(duì)輸入信號(hào)幅度進(jìn)行衰減，確保輸入信號(hào)電平不會(huì)超出儀表量程，對(duì)儀表起到保護(hù)作用。
[0048]所述的功分器將輸入信號(hào)分離成兩路，一路與綜測(cè)儀相連，一路經(jīng)過(guò)濾波單元與頻譜儀相連，其作用為通過(guò)對(duì)綜測(cè)儀的操作來(lái)改變輸入信號(hào)的頻率、信號(hào)特性，滿足發(fā)射互調(diào)與傳導(dǎo)雜散的測(cè)試。
[0049]所述的耦合器將輸入信號(hào)與干擾信號(hào)產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物并將其輸入到頻譜分析儀進(jìn)行測(cè)試。
[0050]所述的Bandl帶阻濾波器對(duì)BandU 1920MHz-1980MHz)主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試，其主要作用為提高頻譜分析儀的動(dòng)態(tài)范圍，提高傳導(dǎo)雜散測(cè)試的準(zhǔn)確性。
[0051 ] 所述的Band3帶阻濾波器對(duì)Band3( 1710MHz-1785MHz)主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試，其主要作用為提高頻譜分析儀的動(dòng)態(tài)范圍，提高傳導(dǎo)雜散測(cè)試的準(zhǔn)確性。；
[0052]所述的Band7帶阻濾波器對(duì)Band7(2500MHz-2570MHz)主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試，其主要作用為提高頻譜分析儀的動(dòng)態(tài)范圍，提高傳導(dǎo)雜散測(cè)試的準(zhǔn)確性。；
[0053]所述的低通濾波器對(duì)9kHz-1000MHz進(jìn)行濾波，濾波后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試，其主要作用為確保9kHz-1000MHz范圍內(nèi)的頻譜純度，提高傳導(dǎo)雜散測(cè)試的準(zhǔn)確性。；
[0054]所述的高通濾波器對(duì)3000MHz _12750MHz進(jìn)行濾波，濾波后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試，其主要作用為確保3000MHz -12750MHz范圍內(nèi)的頻譜純度，提高傳導(dǎo)雜散測(cè)試的準(zhǔn)確性。；
[0055]所述的電磁開(kāi)關(guān)(圖2中的SI，S2，S3):通過(guò)工控機(jī)的控制實(shí)現(xiàn)不同路徑切換。
[0056]所述的單向器實(shí)現(xiàn)單向通路，其主要作用為防止輸入信號(hào)通過(guò)耦合端進(jìn)入信號(hào)源前端，起保護(hù)信號(hào)源前端作用。
[0057]所述的UE終端I與UE終端2為被測(cè)件提供射頻輸入信號(hào)。
[0058]如圖4所示，本實(shí)用新型LTE FDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法，包括以下步驟:
[0059]啟動(dòng)檢測(cè)軟件:在合法用戶(系統(tǒng)管理員和操作員)進(jìn)行正確登錄后，進(jìn)入LTEFDD數(shù)字終端自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)試軟。創(chuàng)建測(cè)試項(xiàng)目:填寫(xiě)公共信息和加載校準(zhǔn)結(jié)果文件。創(chuàng)建和導(dǎo)入、導(dǎo)出測(cè)試計(jì)劃:創(chuàng)建好項(xiàng)目信息后，可以通過(guò)點(diǎn)擊左側(cè)欄的“測(cè)試計(jì)劃信息”來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)當(dāng)前測(cè)試項(xiàng)目使用測(cè)試計(jì)劃的設(shè)置。創(chuàng)建測(cè)試計(jì)劃:點(diǎn)擊新建計(jì)劃按鈕，在彈出測(cè)試計(jì)劃菜單內(nèi)勾選當(dāng)前計(jì)劃包含測(cè)試項(xiàng)目后點(diǎn)擊保存，完成新建測(cè)試計(jì)劃。導(dǎo)入與導(dǎo)出測(cè)試計(jì)劃:新建或修改后的測(cè)試計(jì)劃點(diǎn)擊“導(dǎo)出計(jì)劃”在指定路徑保存為測(cè)試計(jì)劃文件，后續(xù)新的測(cè)試項(xiàng)目需要相同的測(cè)試計(jì)劃時(shí)可以點(diǎn)擊“導(dǎo)入計(jì)劃”按鈕直接調(diào)用之前導(dǎo)出的測(cè)試計(jì)劃。修改和配置參數(shù)(測(cè)試信道、帶寬、RB數(shù)量、調(diào)制方式)新建與導(dǎo)入的測(cè)試計(jì)劃，都可通過(guò)雙擊測(cè)試計(jì)劃中顯示的測(cè)試項(xiàng)來(lái)配置當(dāng)前計(jì)劃中該測(cè)試項(xiàng)相應(yīng)的測(cè)試參數(shù)。執(zhí)行測(cè)試規(guī)劃:點(diǎn)擊“開(kāi)始”按鈕。選擇測(cè)試樣機(jī)和測(cè)試計(jì)劃。等待注冊(cè)。開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。
[0060]測(cè)試過(guò)程:開(kāi)始測(cè)試后會(huì)按照至上而下的順序逐項(xiàng)完成當(dāng)前測(cè)試計(jì)劃中勾選的測(cè)試項(xiàng);軟件“測(cè)試輸出信息”界面中下部為測(cè)試結(jié)果顯示，會(huì)實(shí)時(shí)逐項(xiàng)輸出當(dāng)前正在測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)據(jù)結(jié)果。
[0061]測(cè)試過(guò)程當(dāng)中可以通過(guò)上部按鈕“暫停”測(cè)試或者“停止”測(cè)試，暫停的測(cè)試可以繼續(xù)完成，終止的測(cè)試則不能馬上繼續(xù)，只有通過(guò)重新確認(rèn)測(cè)試計(jì)劃后重新開(kāi)始測(cè)試來(lái)完成剩余的測(cè)試；
[0062]測(cè)試當(dāng)中會(huì)有一些需要測(cè)試人員手動(dòng)操作配合的提示，如“儀表連接失敗，請(qǐng)先確認(rèn)儀表是否連接成功!”等；
[0063]測(cè)試完畢后會(huì)彈出提示對(duì)話框，儀表、控制箱均切換到初始狀態(tài)，測(cè)試信號(hào)鏈路中斷。
[0064]結(jié)果查詢與復(fù)測(cè):測(cè)試完成后可以點(diǎn)擊如下圖中左側(cè)信息欄中“測(cè)試結(jié)果”，來(lái)查詢完成的測(cè)試數(shù)據(jù)和對(duì)其中測(cè)試項(xiàng)的復(fù)測(cè)工作
[0065]結(jié)果查詢:對(duì)于測(cè)試結(jié)果的查看可以按照如圖中顯示的“樣機(jī)”，“計(jì)劃”，“測(cè)試項(xiàng)”等不同篩選項(xiàng)來(lái)進(jìn)行
[0066]結(jié)果復(fù)測(cè):測(cè)試完成后，對(duì)于未通過(guò)或有疑問(wèn)的測(cè)試項(xiàng)可通過(guò)勾選相應(yīng)的配置項(xiàng)來(lái)選擇需要結(jié)果復(fù)測(cè)的測(cè)試項(xiàng)，點(diǎn)擊“啟動(dòng)復(fù)測(cè)”開(kāi)始測(cè)試。
[0067]生成報(bào)告文檔:測(cè)試完成后點(diǎn)擊生成報(bào)告按鈕，加載報(bào)告模板與原始記錄報(bào)告模板，點(diǎn)擊確定，自動(dòng)將測(cè)試數(shù)據(jù)插入到報(bào)告模板中，完成測(cè)試數(shù)據(jù)的導(dǎo)出。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.LTE FDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括有:頻譜儀、綜測(cè)儀、信號(hào)源、射頻切換控制箱、工控計(jì)算機(jī)和被測(cè)件，頻譜儀、綜測(cè)儀、信號(hào)源和射頻切換控制箱集成在機(jī)柜上，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源通過(guò)GPIB控制線串聯(lián)，射頻切換控制箱通過(guò)USB控制線與工控計(jì)算機(jī)相連，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源與工控計(jì)算機(jī)通過(guò)GPIB轉(zhuǎn)USB控制線相連，頻譜儀、綜測(cè)儀和信號(hào)源輸入端口通過(guò)射頻線纜與射頻切換控制箱后面板對(duì)應(yīng)端口相連。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的頻譜分析儀為N9030A信號(hào)分析儀。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的綜測(cè)儀為CTP3110。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的信號(hào)發(fā)生器為N5182B。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的射頻切換控制箱包括有射頻切換控制箱TH2900F-1和射頻切換控制箱TH2900F-2兩部分。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的射頻切換控制箱TH2900F-1與射頻切換控制箱TH2900F-2通過(guò)射頻線纜相連。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LTEFDD自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的射頻切換控制箱包括有3dB衰減器、功分器、耦合器、Bandl帶阻濾波器、Band3帶阻濾波器、Band7帶阻濾波器、低通濾波器、高通濾波器、電磁開(kāi)關(guān)、單向器、UE終端I與UE終端2，其中:所述的3dB衰減器對(duì)輸入信號(hào)幅度進(jìn)行衰減，確保輸入信號(hào)電平不會(huì)超出儀表量程，對(duì)儀表起到保護(hù)作用； 所述的功分器將輸入信號(hào)分離成兩路，一路與綜測(cè)儀相連，一路經(jīng)過(guò)濾波單元與頻譜儀相連； 所述的耦合器將輸入信號(hào)與干擾信號(hào)產(chǎn)生互調(diào)產(chǎn)物并將其輸入到頻譜分析儀進(jìn)行測(cè)試； 所述的Bandl帶阻濾波器對(duì)Bandl主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試； 所述的Band3帶阻濾波器對(duì)Band3主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試； 所述的Band7帶阻濾波器對(duì)Band7主峰信號(hào)進(jìn)行大幅度衰減后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試； 所述的低通濾波器對(duì)9kHZ-1000MHZ進(jìn)行濾波，濾波后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試； 所述的高通濾波器對(duì)3000MHz -12750MHz進(jìn)行濾波，濾波后進(jìn)入頻譜分析儀進(jìn)行雜散測(cè)試； 所述的UE終端I與UE終端2為被測(cè)件提供射頻輸入信號(hào)。
【文檔編號(hào)】H04W24/02GK205490613SQ201620253816
【公開(kāi)日】2016年8月17日
【申請(qǐng)日】2016年3月30日
【發(fā)明人】林兆楠, 丁寶軍, 孔凡江, 姜涵什, 薛俊婷, 劉志爽, 劉連穎
【申請(qǐng)人】遼寧信鼎檢測(cè)認(rèn)證有限公司