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透明體檢查方法及透明體檢查裝置的制造方法_4

文檔序號:8255055閱讀:來源:國知局
0060]接著,標(biāo)記部13判斷選中的像素的微分值(即,步驟S4中計算出的微分值)是否超過第一微分閾值、或者是否不到第二微分閾值(步驟S5)。
[0061]在微分值超過第一微分閾值、或者不到第二微分閾值的情況下(步驟S5的是),將該選中的像素作為起點像素,進(jìn)行步驟S6之后的處理。步驟S6中,標(biāo)記部13判斷選中的像素的灰度值是否超過第一灰度值閾值、是否處于第二灰度值閾值以上第一灰度值閾值以下的范圍內(nèi)、是否不到第二灰度值閾值,對該像素標(biāo)記判斷結(jié)果(步驟S6)。在灰度值超過第一灰度值閾值的情況下,標(biāo)記部13使該含義的信息與像素相對應(yīng)。這表示該像素屬于亮區(qū)域。另外,在灰度值不到第二灰度值閾值的情況下,標(biāo)記部13使該含義的信息與像素相對應(yīng)。這表示該像素屬于暗區(qū)域。另外,在灰度值處于第二灰度值閾值以上第一灰度值閾值以下的范圍內(nèi)的情況下,標(biāo)記部13使該含義的信息與像素相對應(yīng)。這表示該像素屬于背景區(qū)域。
[0062]在判斷為像素的灰度值處于第二灰度值閾值以上第一灰度值閾值以下的范圍內(nèi)的情況下(步驟S7的是),轉(zhuǎn)移到步驟S12。
[0063]另外,在判斷為像素的灰度值超過第一灰度值閾值、或者不到第二灰度值閾值的情況下(步驟S7的否),轉(zhuǎn)移到步驟S8。下面,將灰度值超過第一灰度值閾值的像素記為亮像素。另外,將灰度值不到第二灰度值閾值的像素記為暗像素。
[0064]步驟S8中,標(biāo)記部13從在選中的一條線內(nèi)已判斷為亮像素或暗像素的像素中,確定出與選中的像素最接近的像素。這里,確定出的像素的亮像素或暗像素的種類、和選中的像素的亮像素或暗像素的種類也可不同。標(biāo)記部13判斷該確定出的像素、與選中的像素之間的距離是否在預(yù)先確定的閾值(用于步驟S8的判斷而預(yù)先確定的閾值)以下。若距離在閾值以下,則標(biāo)記部13向選中的像素分配與分配給該確定出的像素的缺陷ID相同的缺陷ID(步驟S8)。步驟S8的處理可稱作一條線內(nèi)的缺陷附近結(jié)合處理。
[0065]在步驟S8之后,標(biāo)記部13從已完成選擇的其他線內(nèi)的像素中判斷為亮像素或暗像素的像素中,確定出與選中的像素最接近的像素。這里,確定出的像素的亮像素或暗像素的種類、和選中的像素的亮像素或暗像素的種類也可不同標(biāo)記部13判斷該確定出的像素、與選中的像素之間的距離是否在預(yù)先確定的閾值(步驟S9的判斷用中預(yù)先確定的閾值)以下。若距離在閾值以下,則標(biāo)記部13向選中的像素分配與分配給該確定出的像素的缺陷ID相同的缺陷ID(步驟S9)。步驟S9的處理可稱作與其他線之間的缺陷附近結(jié)合處理。
[0066]缺陷ID是用于識別缺陷的識別信息。分配了相同的缺陷ID的像素表示彼此因相同的缺陷(氣泡、異物)而變成亮像素或暗像素。
[0067]不管是步驟S8還是S9中,在未向選中的像素分配缺陷ID的情況下,標(biāo)記部13向選中的像素分配新的缺陷ID。
[0068]接著,標(biāo)記部13判斷選中的一條線中是否存在步驟S3、Sll中都未選擇的像素(步驟S10)。若存在未選擇的像素(步驟SlO的是),則從選中的線中新選擇選中的像素的下一個像素(步驟Sll)。然后,標(biāo)記部13對于該像素執(zhí)行步驟S6之后的處理。若不存在未選擇的像素(步驟SlO的否),則轉(zhuǎn)移到步驟S13(參照圖8)。
[0069]另外,步驟S5中,在選中的像素的微分值處于第二微分閾值以上第一微分閾值以下的范圍內(nèi)的情況下(步驟S5的否),標(biāo)記部13判斷選中的一條線中是否存在步驟S3、S11中都未選擇的像素(步驟S12)。若存在未選擇的像素(步驟S12的是),則重復(fù)步驟S3之后的處理。即,微分處理部12從選中的線中新選擇選中的像素的下一個像素(步驟S3),對于該像素進(jìn)行步驟S4之后的處理。若不存在未選擇的像素(步驟S12的否),則轉(zhuǎn)移到步驟S13(參照圖8)。
[0070]步驟S13中,線選擇部11判斷是否已選擇所輸入的拍攝圖像的最后一條線(步驟S13)。若還未選擇最后一條線(步驟S13的否),則重復(fù)步驟S2之后的處理。S卩,線選擇部11新選擇選中的線的下一條線(步驟S2),對于該條線進(jìn)行步驟S3之后的處理。
[0071]若已選擇最后一條線(步驟S13的是),則檢查部14確定出分配了共同的缺陷ID的像素的集合。該像素的集合中,有時還包含亮像素(灰度值超過第一灰度值閾值的像素)及暗像素(灰度值不到第二閾值的像素)。檢查部14從分配了共同的缺陷ID的像素的集合中,進(jìn)一步地分別確定出亮像素(灰度值超過第一灰度值閾值的像素)的集合區(qū)域、和暗像素(灰度值不到第二閾值的像素)的集合區(qū)域(步驟S14)。檢查部14對每一缺陷ID進(jìn)行步驟S14的處理。
[0072]在步驟S14之后,檢查部14對每一缺陷ID,基于步驟S14中確定出的亮像素的集合區(qū)域和暗像素的集合區(qū)域,計算出缺陷的特征量。下面,示出特征量的計算例。
[0073]檢查部14分別計算出屬于步驟S14中確定出的亮像素的集合區(qū)域的亮像素的像素數(shù)、和該亮像素的灰度值的總和、屬于步驟S14中確定出的暗像素的集合區(qū)域的暗像素的像素數(shù)、和該暗像素的灰度值的總和,以作為缺陷的特征量。
[0074]另外,檢查部14也可計算出屬于包含步驟S14中確定出的亮像素的集合區(qū)域和暗像素的集合區(qū)域在內(nèi)的外接矩形的像素數(shù)以作為缺陷的特征量。另外,檢查部14也可計算出屬于亮像素的集合區(qū)域和暗像素的集合區(qū)域的像素數(shù)相對于屬于該外接矩形的像素數(shù)的比例以作為缺陷的特征量。該比例可稱作為外接矩形內(nèi)的密集度。圖9是表示包含步驟S14中確定的區(qū)域的外接矩形的示例的說明圖。步驟S14中確定出區(qū)域91?95。向?qū)儆趨^(qū)域91?95的各像素分配的缺陷ID是共同的。檢查部14也可確定出包含區(qū)域91?95的外接矩形99,并計算出屬于外接矩形99的像素數(shù)以作為特征量。另外,檢查部14也可計算出屬于區(qū)域91?95的像素數(shù)相對于屬于外接矩形99的像素數(shù)的比例(密集度)以作為特征量。
[0075]接著,檢查部14對于每一缺陷ID,識別缺陷的種類(步驟S16)。具體而言,檢查部14對于所關(guān)注的缺陷ID,在步驟S14中僅確定出暗像素的集合區(qū)域,而未確定出亮像素的集合區(qū)域的情況下,與該缺陷ID相對應(yīng)的缺陷判斷為是附著于玻璃板表面的異物。另一方面,檢查部14對于所關(guān)注的缺陷ID,在步驟S14中確定出暗像素的集合區(qū)域、和亮像素的集合區(qū)域的情況下,與該缺陷ID相對應(yīng)的缺陷判斷為是存在于玻璃板內(nèi)部的氣泡、異物。
[0076]接著,圖像切出部15對于每一缺陷ID,從所輸入的拍攝圖像中切出包含分配了共同的缺陷ID的作為像素集合的各區(qū)域在內(nèi)的區(qū)域(步驟S17)。步驟S17中切出的區(qū)域成為比分配了缺陷ID的作為像素集合的各區(qū)域的外接矩形要大的區(qū)域。圖像切出部15例如使步驟S17中切出的區(qū)域顯示在設(shè)置于運算裝置10的顯示器裝置(圖中省略)上。
[0077]運算裝置10在從線傳感器攝像頭I新輸入了一定大小的拍攝圖像的情況下,執(zhí)行步驟S2之后的處理。
[0078]對本實施方式的效果進(jìn)行說明。
圖10是表示在所選擇的線中存在比背景要暗的區(qū)域101時的線內(nèi)的各像素的微分值的變化的示意圖。背景區(qū)域的像素的灰度值是相同的值。因此,如圖10所示,背景區(qū)域的像素的微分值不太發(fā)生變化。而且,背景區(qū)域和區(qū)域101中,由于像素的灰度值不同,因此區(qū)域101的外邊緣附近的像素中,微分值變化較大。本實施方式中,如此將微分值變化較大的部位作為起點像素來檢測出。
[0079]另外,圖10中省略了圖示,但在高溫環(huán)境下,會產(chǎn)生圖15所例示的條紋97 (熱波動缺陷)。這種熱波動缺陷以沿著拍攝圖像內(nèi)的各條線的方式產(chǎn)生。即使產(chǎn)生熱波動缺陷,在線內(nèi)對應(yīng)于熱波動缺陷的像素也連續(xù)排列,這些像素的灰度值成為大致相同的值。因而,在線內(nèi)對應(yīng)于熱波動缺陷的像素的微分值也不太發(fā)生變化,難以將對應(yīng)于熱波動缺陷的像素作為起點像素檢測出。
[0080]而且,標(biāo)記部13若檢測出起點像素,則對于起點像素之后的像素,判斷灰度值是否超過第一灰度值閾值、是否處于第二灰度值閾值以上第一灰度值閾值以下的范圍內(nèi)、是否不到第二灰度值閾值,對于像素標(biāo)記判斷結(jié)果。標(biāo)記部13執(zhí)行該處理,直到檢測出灰度值處于第二灰度值閾值以上第一灰度值閾值以下的范圍內(nèi)的像素為止。
[0081]因而,對應(yīng)于熱波動缺陷的像素不會成為標(biāo)記部13的處理對象,不會標(biāo)記由標(biāo)記部13得到的判斷結(jié)果。因而,能夠防止因熱波動缺陷而引起的誤檢測。
[0082]另外,本實施方式中,對于起點像素之后的像素,在
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