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Aoi檢測裝置的制造方法

文檔序號:8255048閱讀:465來源:國知局
Aoi檢測裝置的制造方法
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及太陽能器械技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種結(jié)構(gòu)簡單,可以釋放均勻色光的AOI檢測裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]太陽能電池片是一種以硅為主要材料的節(jié)能部件,在其加工和運(yùn)輸過程中可能出現(xiàn)表面缺陷,嚴(yán)重的會影響太陽能電池片的性能和壽命。因此太陽能電池片必須要經(jīng)過光學(xué)檢測來辨認(rèn)表面存在的細(xì)微裂紋或顏色不均勻,以及時發(fā)現(xiàn)和處理問題產(chǎn)品?,F(xiàn)有技術(shù)中太陽能電池片色彩檢測通過自動光學(xué)檢測(Automatic Optic Inspect1n,簡稱AOI)裝置完成。檢測系統(tǒng)的核心在于提供各向均勻光照,使產(chǎn)品的外觀能夠清晰地被攝像頭捕捉到。以往的設(shè)備中要獲得各向均勻的可見光裝置較為復(fù)雜,效果不穩(wěn)定。因此,有必要提供一種新的AOI檢測裝置來解決上述問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的主要目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單,可以釋放均勻色光的AOI檢測裝置。
[0004]本發(fā)明通過如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)上述目的:一種AOI檢測裝置,包括支架、安裝于所述支架上部的攝像頭和安裝于所述攝像頭下方的面光發(fā)生機(jī)構(gòu),所述面光發(fā)生機(jī)構(gòu)包括空心的筒體、固定于所述筒體下部且中空的托架、設(shè)于托架上的光源以及設(shè)于所述筒體上方的穹頂,所述穹頂上部中心設(shè)有對應(yīng)所述攝像頭鏡頭的通孔。
[0005]具體的,所述筒體內(nèi)壁呈圓柱面,所述光源為繞所述筒體軸線圓形布置的LED光源。
[0006]具體的,所述光源包括紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈,所述紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈呈周期性交替分布。
[0007]具體的,所述穹頂內(nèi)表面設(shè)有納米級的凸起。
[0008]具體的,所述筒體內(nèi)壁呈光滑鏡面。
[0009]具體的,所述面光發(fā)生機(jī)構(gòu)的下方設(shè)有背光發(fā)生機(jī)構(gòu)。
[0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明AOI檢測裝置的有益效果在于:該檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單,能通過穹頂散射下方光源產(chǎn)生的色光,并且在筒體內(nèi)多次反射形成各向均勻的復(fù)合光,保證照射在位于筒體下方的電池片上的光照各向一致,令攝像頭取到清晰的圖片,使檢測結(jié)果更準(zhǔn)確。
【【附圖說明】】
[0011]圖1為本發(fā)明AOI檢測裝置的立體圖;
[0012]圖2為本發(fā)明AOI檢測裝置的主剖視圖;
[0013]圖3為圖2中的A-A剖視圖;
[0014]圖4為穹頂表面的微觀結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015]圖中數(shù)字表示:
[0016]1-支架,2-攝像頭,3-面光發(fā)生機(jī)構(gòu),31-筒體,32-托架,321-中空部分,33-光源,331-紅色LED燈,332-綠色LED燈,333-藍(lán)色LED燈,34-穹頂,341-通孔,342-凸起,4-背光發(fā)生機(jī)構(gòu)。
【【具體實(shí)施方式】】
[0017]下面結(jié)合具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0018]如圖1至圖3所示,本發(fā)明的一種AOI檢測裝置,包括支架1、安裝于支架I上部的攝像頭2、安裝于攝像頭2下方的面光發(fā)生機(jī)構(gòu)3和位于面光發(fā)生機(jī)構(gòu)3下方的背光發(fā)生機(jī)構(gòu)4,面光發(fā)生機(jī)構(gòu)3包括空心圓柱形的筒體31、固定于筒體31下部且環(huán)形中空的托架32、設(shè)于托架32上的繞筒體31軸線圓形布置得光源33以及設(shè)于筒體31上方的穹頂34,穹頂34上部中心設(shè)有對應(yīng)攝像頭2鏡頭的通孔341。托架32上的光源33往筒體31上方發(fā)光,經(jīng)過穹頂34內(nèi)壁反射后再筒體31內(nèi)壁的反射形成各向均勻的復(fù)合光最終穿過托架32中空部分321投射到位于面光發(fā)生機(jī)構(gòu)I下方的電池片上,攝像頭2可透過穹頂34上的通孔341以及托架32的中空部分321獲取電池片上的表面圖像。該裝置結(jié)構(gòu)簡單,能保證照射在位于筒體31下方的電池片上的光照各向一致,令攝像頭2取到清晰的圖片,使檢測結(jié)果更準(zhǔn)確。背光發(fā)生機(jī)構(gòu)4可以使電池片邊緣在圖像上清晰可認(rèn),用來確認(rèn)圖像的位置基準(zhǔn)。
[0019]如圖3所示,光源33包括紅色LED燈331、綠色LED燈332和藍(lán)色LED燈333,紅色LED燈331、綠色LED燈332和藍(lán)色LED燈333呈周期性交替分布。由于不同色光中缺陷可以被突出,比如在紅色光中電池片表面缺陷比較清晰,明黃色光中電池片深層缺陷比較清晰,深藍(lán)色光中電池片色彩差異比較清晰,因此通過光源33的三種LED燈利用RDB三色光組合原理可以配合形成多種色光,在電池片不移動的情況下判斷多種缺陷。
[0020]如圖2、圖4所示,穹頂34內(nèi)表面設(shè)有納米級的凸起342,筒體31內(nèi)壁呈光滑鏡面。由于同色的LED燈也可能存在細(xì)微的深淺,為了避免光源33本身色彩不均而帶來的誤判問題,穹頂34設(shè)置了凸起342,使穹頂34粗糙,而令來自不同LED燈的色光散射出去并多次反射,避免色彩不均的光投射到固定區(qū)域而產(chǎn)生非電池片本身原因出現(xiàn)的色差。筒體31內(nèi)壁光滑能夠減少色光反射帶來的損耗,使面光發(fā)生機(jī)構(gòu)3產(chǎn)生的光照亮度適合需要。
[0021]實(shí)用過程中,電池片被輸送到面光發(fā)生機(jī)構(gòu)3和背光發(fā)生機(jī)構(gòu)4之間,背光發(fā)生機(jī)構(gòu)4發(fā)出明亮的白光,使攝像頭2取照時能夠清晰辨認(rèn)電池片的邊緣,方便判斷圖像的基準(zhǔn)位置;然后按照顏色的設(shè)定,光源33分別調(diào)整LED燈光的深淺,組合出紅色光、明黃色光和深藍(lán)色光,攝像頭2連續(xù)對電池片拍攝3張不同色光下的圖片,并分析出電池片存在的缺陷以指導(dǎo)后續(xù)處理。
[0022]以上所述的僅是本發(fā)明的一些實(shí)施方式。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明創(chuàng)造構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種AOI檢測裝置,包括支架、安裝于所述支架上部的攝像頭和安裝于所述攝像頭下方的面光發(fā)生機(jī)構(gòu),其特征在于:所述面光發(fā)生機(jī)構(gòu)包括空心的筒體、固定于所述筒體下部且中空的托架、設(shè)于托架上的光源以及設(shè)于所述筒體上方的穹頂,所述穹頂上部中心設(shè)有對應(yīng)所述攝像頭鏡頭的通孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI檢測裝置,其特征在于:所述筒體內(nèi)壁呈圓柱面,所述光源為繞所述筒體軸線圓形布置的LED光源。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的AOI檢測裝置,其特征在于:所述光源包括紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈,所述紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈呈周期性交替分布。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI檢測裝置,其特征在于:所述穹頂內(nèi)表面設(shè)有納米級的凸起。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的AOI檢測裝置,其特征在于:所述筒體內(nèi)壁呈光滑鏡面。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI檢測裝置,其特征在于:所述面光發(fā)生機(jī)構(gòu)的下方設(shè)有背光發(fā)生機(jī)構(gòu)。
【專利摘要】本發(fā)明為一種AOI檢測裝置,包括支架、安裝于所述支架上部的攝像頭和安裝于所述攝像頭下方的面光發(fā)生機(jī)構(gòu),所述面光發(fā)生機(jī)構(gòu)包括空心的筒體、固定于所述筒體下部且中空的托架、設(shè)于托架上的光源以及設(shè)于所述筒體上方的穹頂,所述穹頂上部中心設(shè)有對應(yīng)所述攝像頭鏡頭的通孔。本發(fā)明檢測裝置結(jié)構(gòu)簡單,能通過穹頂散射下方光源產(chǎn)生的色光,并且在筒體內(nèi)多次反射形成各向均勻的復(fù)合光,保證照射在位于筒體下方的電池片上的光照各向一致,令攝像頭取到清晰的圖片,使檢測結(jié)果更準(zhǔn)確。
【IPC分類】G01N21-95
【公開號】CN104568980
【申請?zhí)枴緾N201410842098
【發(fā)明人】李華超, 劉華亭, 惠大波
【申請人】蘇州巨能圖像檢測技術(shù)有限公司
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2014年12月30日
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