一種按鍵耐久性測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種按鍵耐久性測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)包括測試主機、執(zhí)行機構(gòu)及顯示模塊，執(zhí)行機構(gòu)包括動力機構(gòu)及定位機構(gòu)，動力機構(gòu)中包括一橢圓狀的轉(zhuǎn)動塊，該轉(zhuǎn)動塊上形成有可分別按下和釋放按鍵的第一位置和第二位置，通過第一位置和第二位置的循環(huán)轉(zhuǎn)動，可實現(xiàn)對按鍵的周期性按壓動作。本實用新型按鍵耐久性測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、適用范圍廣，并且可實時檢測記錄并顯示每個測試周期的測試結(jié)果，測試效率更高，測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
【專利說明】一種按鍵耐久性測試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及測試系統(tǒng)相關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種按鍵耐久性測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，在對車載多媒體娛樂系統(tǒng)產(chǎn)品上設(shè)置的按鍵進行耐久可靠性測試時，主要使用的測試方式是通過按鍵測試設(shè)備首先進行長周期的循環(huán)測試，然后再關(guān)注測試完成后按鍵的可用性，而在整個的測試的過程中，缺少對每次測試結(jié)果的精確監(jiān)控。當(dāng)測試完成且顯示測試結(jié)果為異常時，根據(jù)這種測試模式，并不能檢測到是在第幾次循環(huán)測試時已經(jīng)出現(xiàn)按鍵失效，因此，給設(shè)計及分析結(jié)構(gòu)帶來了一些阻礙。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的目的在于提供一種按鍵耐久性測試系統(tǒng)，其能夠在測試的過程中實時監(jiān)控每一次循環(huán)測試過程、并記錄和顯示該次循環(huán)測試的測試結(jié)果。
[0004]本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為:一種按鍵耐久性測試系統(tǒng)，其用于對各種鍵盤上的按鍵進行耐久性測試，該測試系統(tǒng)包括:用于按動所述按鍵以進行按鍵耐久性測試的執(zhí)行機構(gòu)；與所述執(zhí)行機構(gòu)電連接、用于驅(qū)動所述執(zhí)行機構(gòu)運行和實時反饋檢測結(jié)果的測試主機；以及用于顯示檢測參數(shù)及輸出測試結(jié)果的顯示模塊。
[0005]在優(yōu)選的實施例中，所述測試主機包括:向所述執(zhí)行機構(gòu)發(fā)送執(zhí)行指令、并實時接收所述執(zhí)行機構(gòu)的執(zhí)行結(jié)果的控制組件；以及用于實時檢測所述執(zhí)行機構(gòu)每次按下按鍵后、并實時反饋檢測結(jié)果至控制組件的檢測組件。
[0006]在優(yōu)選的實施例中，所述執(zhí)行機構(gòu)包括用于反復(fù)按壓按鍵的動力機構(gòu)及用于對所述動力機構(gòu)進行定位的定位機構(gòu)。
[0007]在優(yōu)選的實施例中，所述動力機構(gòu)包括:用于與所述按鍵接觸的觸控桿、用于驅(qū)動所述觸控桿反復(fù)按壓所述按鍵的轉(zhuǎn)動塊、以及用于驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動塊轉(zhuǎn)動的電機；所述轉(zhuǎn)動塊的中心套設(shè)在所述電機的轉(zhuǎn)軸上、并隨所述電機轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動而轉(zhuǎn)動；所述觸控桿的前端與所述轉(zhuǎn)動塊的外側(cè)壁接觸、其尾端與所述按鍵接觸。
[0008]在優(yōu)選的實施例中，所述定位機構(gòu)包括:一可使所述觸控桿沿垂直方向做往復(fù)運動的縱向滑軌、一可使所述縱向滑軌沿水平方向做往復(fù)運動的橫向滑軌、以及一個連接所述縱向滑軌與所述橫向滑軌的定位柱。
[0009]在優(yōu)選的實施例中，所述轉(zhuǎn)動塊呈橢圓塊狀，沿其長軸方向的兩端側(cè)壁分別形成第一位置、其余部分形成第二位置；其中，所述第一位置與所述觸控桿的前端抵觸時可順勢推動觸控桿并使其尾端按壓所述按鍵，所述轉(zhuǎn)動塊轉(zhuǎn)至第二位置時可釋放所述觸控桿尾端對所述按鍵的按壓。
[0010]本實用新型按鍵耐久性測試系統(tǒng)的有益效果在于:該測試系統(tǒng)包括測試主機、執(zhí)行機構(gòu)及顯示模塊，執(zhí)行機構(gòu)包括動力機構(gòu)及定位機構(gòu)，動力機構(gòu)中包括一橢圓狀的轉(zhuǎn)動塊，該轉(zhuǎn)動塊上形成有可分別按下和釋放按鍵的第一位置和第二位置，通過第一位置和第二位置的循環(huán)轉(zhuǎn)動，可實現(xiàn)對按鍵的周期性按壓動作。本實用新型按鍵耐久性測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、適用范圍廣，并且可實時檢測記錄并顯示每個測試周期的測試結(jié)果，測試效率更高，測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1為一實施例中按鍵耐久性測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)原理圖。
[0012]圖2為圖1中執(zhí)行機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖3為圖2中執(zhí)行機構(gòu)按壓按鍵的結(jié)構(gòu)原理圖。
[0014]圖4為圖1中顯示模塊的操作界面。
[0015]圖5為一實施例中按鍵耐久性測試系統(tǒng)的邏輯流程圖。
【具體實施方式】
[0016]下面將結(jié)合具體實施例及附圖對本實用新型按鍵耐久性測試系統(tǒng)作進一步詳細描述。
[0017]請參見圖1，一種按鍵耐久性測試系統(tǒng)，其用于對各種鍵盤上的按鍵10進行耐久性測試，該測試系統(tǒng)包括互為電流通路的執(zhí)行機構(gòu)20、測試主機30和顯示模塊40，其中，執(zhí)行機構(gòu)20用于按動按鍵10以進行按鍵耐久性測試，測試主機30用于驅(qū)動執(zhí)行機構(gòu)20運行和實時反饋檢測結(jié)果，顯示模塊40用于顯示輸入的檢測參數(shù)及輸出測試結(jié)果。
[0018]測試主機30包括控制組件31和檢測組件32，其中，控制組件31用于向執(zhí)行機構(gòu)20發(fā)送執(zhí)行指令、并實時接收執(zhí)行機構(gòu)20的執(zhí)行結(jié)果，檢測組件32用于檢測執(zhí)行機構(gòu)20是否控制按鍵10做按下的動作、并實時反饋檢測結(jié)果至控制組件31。
[0019]請參見圖2，執(zhí)行機構(gòu)20包括動力機構(gòu)21和定位機構(gòu)22，其中，動力機構(gòu)21用于執(zhí)行反復(fù)按壓按鍵10，定位機構(gòu)22用于根據(jù)按鍵10的不同位置適應(yīng)調(diào)整動力機構(gòu)21并對其進行定位。
[0020]動力機構(gòu)21包括觸控桿213、轉(zhuǎn)動塊212和電機211，觸控桿213用于與按鍵10接觸，轉(zhuǎn)動塊212用于驅(qū)動觸控桿213對按鍵10做反復(fù)按壓的動作，電機211用于驅(qū)動轉(zhuǎn)動塊212轉(zhuǎn)動。
[0021]轉(zhuǎn)動塊212呈橢圓塊狀，其中心套設(shè)在電機211的轉(zhuǎn)軸上、并可隨電機211轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動而轉(zhuǎn)動；觸控桿213的前端可分離地與轉(zhuǎn)動塊212的外側(cè)壁接觸，其尾端可分離地與按鍵10接觸。
[0022]定位機構(gòu)22包括呈垂直相交的縱向滑軌221和橫向滑軌222，縱向滑軌221和橫向滑軌222的交叉處還設(shè)置有一用于限制縱向滑軌221和橫向滑軌222做相對運動定位柱223，觸控桿213的尾端穿過縱向滑軌221并可沿其垂直方向做往復(fù)運動。
[0023]請同時參見圖3，沿轉(zhuǎn)動塊212長軸方向的兩端側(cè)壁分別形成第一位置2121、其余側(cè)壁形成第二位置2122。其中，當(dāng)轉(zhuǎn)動塊212的第一位置2121與觸控桿213的前端抵觸時可順勢推動觸控桿213并使其尾端按壓按鍵10，從而使按鍵10開通或關(guān)斷；當(dāng)轉(zhuǎn)動塊212轉(zhuǎn)動至第二位置2122時，動力機構(gòu)21可釋放觸控桿213尾端與按鍵10的按壓，從而使按鍵10復(fù)原至原態(tài)；隨著轉(zhuǎn)動塊212的不停轉(zhuǎn)動，可實現(xiàn)觸控桿213反復(fù)按壓按鍵10?？梢岳斫獾?，當(dāng)轉(zhuǎn)動塊212的第一位置與觸控桿213的前端抵觸時便可完成執(zhí)行一次對按鍵10的按下動作，即為本測試系統(tǒng)的一個測試周期，在本實施例中，轉(zhuǎn)動塊212轉(zhuǎn)動一周，可完成兩個測試周期。在其他實施例中，轉(zhuǎn)動塊還可大致呈齒輪狀，在其側(cè)壁上形成有多組第一位置及第二位置，轉(zhuǎn)動塊轉(zhuǎn)動一周即可完成多次測試周期。
[0024]請參見圖4，通過顯示模塊可顯示出檢測參數(shù)及檢測結(jié)果，檢測開始前，首先通過測試主機輸入檢測參數(shù)，檢測開始時，系統(tǒng)可根據(jù)檢測參數(shù)執(zhí)行檢測動作，其中，每個測試周期均會在顯示模塊上顯示出檢測結(jié)果，以便檢測人員可實時直觀的觀察檢測結(jié)果。
[0025]請同時參見圖5所示的按鍵耐久性測試系統(tǒng)的邏輯流程圖，本按鍵耐久性測試系統(tǒng)的工作原理為:首先一個或多個按鍵開關(guān)置于工作臺上，調(diào)整執(zhí)行機構(gòu)使每個觸控桿的尾端分別與按鍵一一對應(yīng)，然后啟動測試主機并使電機開始工作，電機驅(qū)動轉(zhuǎn)動塊轉(zhuǎn)動、并帶動觸控桿周期交替按下按鍵，同時在顯示模塊上顯示出觸控桿每個周期對按鍵的執(zhí)行結(jié)果。測試開始時，測試主機發(fā)送執(zhí)行指令至執(zhí)行機構(gòu)，執(zhí)行機構(gòu)開始運行并實時將執(zhí)行情況反饋至測試主機的控制組件，然后執(zhí)行機構(gòu)驅(qū)動轉(zhuǎn)動塊轉(zhuǎn)動，當(dāng)轉(zhuǎn)動塊的第一位置與觸控桿抵觸時，觸控桿的尾端按下對應(yīng)的按鍵，測試主機的檢測組件實時檢測此時執(zhí)行機構(gòu)的執(zhí)行效果，然后將檢測結(jié)果發(fā)送至控制組件，控制組件再對檢測結(jié)果進行仲裁和計數(shù)，并把測試結(jié)果顯示到顯示模塊，當(dāng)轉(zhuǎn)動塊轉(zhuǎn)動至第二位置時，觸控桿釋放對按鍵的按下動作，按鍵恢復(fù)至原態(tài)，此時，即完成一個周期的測試。然后隨著轉(zhuǎn)動塊的不停轉(zhuǎn)動，再次觸發(fā)下個測試循環(huán)。
[0026]綜上，本實用新型按鍵耐久性測試系統(tǒng)包括測試主機、執(zhí)行機構(gòu)及顯示模塊，執(zhí)行機構(gòu)包括動力機構(gòu)及定位機構(gòu)，動力機構(gòu)中包括一橢圓狀的轉(zhuǎn)動塊，該轉(zhuǎn)動塊上形成有可分別按下和釋放按鍵的第一位置和第二位置，通過第一位置和第二位置的循環(huán)轉(zhuǎn)動，可實現(xiàn)對按鍵的周期性按壓動作。本實用新型按鍵耐久性測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、操作方便、適用范圍廣，并且可實時檢測記錄并顯示每個測試周期的測試結(jié)果，測試效率更高，測試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
[0027]雖然對本實用新型的描述是結(jié)合以上具體實施例進行的，但是，熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的人員能夠根據(jù)上述的內(nèi)容進行許多替換、修改和變化、是顯而易見的。因此，所有這樣的替代、改進和變化都包括在附后的權(quán)利要求的精神和范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種按鍵耐久性測試系統(tǒng)，其用于對各種鍵盤上的按鍵進行耐久性測試，其特征在于，該測試系統(tǒng)包括: 用于按動所述按鍵以進行按鍵耐久性測試的執(zhí)行機構(gòu)； 與所述執(zhí)行機構(gòu)電連接、用于驅(qū)動所述執(zhí)行機構(gòu)運行和實時反饋檢測結(jié)果的測試主機；以及 用于顯示檢測參數(shù)及輸出測試結(jié)果的顯示模塊； 所述執(zhí)行機構(gòu)包括用于反復(fù)按壓按鍵的動力機構(gòu)及用于對所述動力機構(gòu)進行定位的定位機構(gòu)； 所述動力機構(gòu)包括:用于與所述按鍵接觸的觸控桿、用于驅(qū)動所述觸控桿反復(fù)按壓所述按鍵的轉(zhuǎn)動塊、以及用于驅(qū)動所述轉(zhuǎn)動塊轉(zhuǎn)動的電機；所述轉(zhuǎn)動塊的中心套設(shè)在所述電機的轉(zhuǎn)軸上、并隨所述電機轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動而轉(zhuǎn)動；所述觸控桿的前端與所述轉(zhuǎn)動塊的外側(cè)壁接觸、其尾端與所述按鍵接觸； 所述定位機構(gòu)包括:一可使所述觸控桿沿垂直方向做往復(fù)運動的縱向滑軌、一可使所述縱向滑軌沿水平方向做往復(fù)運動的橫向滑軌、以及一個連接所述縱向滑軌與所述橫向滑軌的定位柱； 所述轉(zhuǎn)動塊呈橢圓塊狀，沿其長軸方向的兩端側(cè)壁分別形成第一位置、其余部分形成第二位置；其中，所述第一位置與所述觸控桿的前端抵觸時可順勢推動觸控桿并使其尾端按壓所述按鍵，所述轉(zhuǎn)動塊轉(zhuǎn)至第二位置時可釋放所述觸控桿尾端對所述按鍵的按壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的按鍵耐久性測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試主機包括: 向所述執(zhí)行機構(gòu)發(fā)送執(zhí)行指令、并實時接收所述執(zhí)行機構(gòu)的執(zhí)行結(jié)果的控制組件；以及 用于實時檢測所述執(zhí)行機構(gòu)每次按下按鍵后、并實時反饋檢測結(jié)果至控制組件的檢測組件。
【文檔編號】G01M13/00GK203455160SQ201320532752
【公開日】2014年2月26日 申請日期:2013年8月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月29日
【發(fā)明者】王曉榕, 朱學(xué)科 申請人:惠州市德賽西威汽車電子有限公司