專利名稱：基于四針飛針測試路徑的優(yōu)化方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電路測試技術(shù)，尤其涉及一種基于四針飛針測試路徑的優(yōu)化方法。
背景技術(shù)：
目前，國外許多廠商在印刷電路板(簡稱PCB)的設(shè)計和可制造性分析等方面取得了很大 的進展。隨著微電子技術(shù)的進步，元件布局密度增高，走線間距不斷縮小，復(fù)雜度不斷增加 ，單塊PCB板測試時間長達數(shù)小時，甚至幾天，由人工完成的PCB在線測試和設(shè)置電路檢測 試點，已越來越不能滿足生產(chǎn)的要求，極大地影響了產(chǎn)品的生產(chǎn)周期。國內(nèi)的印制板生產(chǎn)廠 商為了提高測試效率，也在測試路徑優(yōu)化方面下功夫，但取得的效果都不是很理想。
飛針測試機的測試路徑文件是飛針測試機的核心，它直接決定測試機的測試次數(shù)和測試 路徑距離，只要減小測試次數(shù)和縮小測試路徑的長度就可以提高測試速度，縮短生產(chǎn)周期并 降低生產(chǎn)成本。
目前，對于測試路徑優(yōu)化，在工業(yè)應(yīng)用上主要采用的是禁忌搜索算法來求解優(yōu)化，雖然 該算法通用易實現(xiàn)，且容易理解，但其搜索性能完全依賴于領(lǐng)域結(jié)構(gòu)和初解，尤其會陷入局 部極小而無法保證全局優(yōu)化性，很難保證其優(yōu)化效率。由于飛針測試路徑優(yōu)化中，路徑行數(shù) 從幾十行到幾十萬行，跨度非常大，采取設(shè)定其初解和領(lǐng)域結(jié)構(gòu)來達到較好的測試路徑優(yōu)化 效果是難實現(xiàn)的，而且隨著測試點數(shù)量的不斷增加在優(yōu)化過程中可能出現(xiàn)算法無法收斂、優(yōu) 化效率極低的情況發(fā)生，從而無法到達理想優(yōu)化程度和效率，從一定程度上增加了測試時間 ，造成測試效率低；也是由于現(xiàn)有技術(shù)的飛針路徑測試沒有對測試點進行配對，造成測試路 徑很長即測試行數(shù)很多，也增加了測試時間。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足提出一種減小測試次數(shù)和測試路徑 的基于四針飛針測試路徑的優(yōu)化方法。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題采用的技術(shù)方案是基于四針飛針測試路徑的優(yōu)化方法，包括 以下步驟
a. 讀入IPC356格式文件，提取測試點信息及相鄰網(wǎng)絡(luò)信息；
b. 統(tǒng)計同一網(wǎng)絡(luò)號同一測試標識相同測試點的個數(shù)，得到反面測試點點數(shù)，正面測試點 點數(shù)，通孔測試點點數(shù)；c. 根據(jù)正面測試點點數(shù)、反面測試點點數(shù)的大小，把通孔測試點按照使得正面測試點點 數(shù)與反面測試點點數(shù)差值最小的方式進行劃分，生成正面測試點集合和反面測試點集合；
d. 分別對正面測試點集合和反面測試點集合進行基于X坐標與Y坐標的二維排序，生成正 面測試點隊列與反面測試點隊列；
e. 對正面測試點隊列和反面測試點隊列分別進行配對
el.當正面測試點隊列長度和反面測試點隊列長度均大于O時，正面測試點隊列、反面測 試點隊列均采用取二出一，取二出二方式交替出列進行配對，生成正面測試點行隊列和反面 測試點行隊列；
e2.當反面測試點隊列長度為O時，采取正面測試點隊列取二出一方式進行配對，生成正 面測試點行隊列；
e3.當正面測試點隊列長度為O時，采取反面測試點隊列取二出一方式進行配對，生成反 面測試點行隊列；
f. 分別對正面測試點行隊列和反面測試點行隊列進行配對，采取取二出二方式進行行配
對；
g. 對所有的測試點進行基于X坐標與Y坐標的二維排序，生成一個初始的測試隊列；
h. 將該測試隊列以N行為一個子隊列的方式進行劃分；
i. 對每個子隊列采用最短路徑插值法生成新的子隊列； j.對新的子隊列兩兩之間首尾連接，最終生成測試路徑。 所述步驟h中，是將測試隊列以5000行為一個子隊列的方式進行劃分 本發(fā)明的有益效果減少測試次數(shù)，縮小測試路徑，進而提高了測試效率。
具體實施例方式
本發(fā)明就是針對現(xiàn)有技術(shù)中的飛針路徑測試中沒有進行測試點配對而弓1起測試行數(shù)多及 采用的禁忌搜索算法不容易收斂而引起測試效率低下的不足，提出一種基于四針飛針測試路 徑的優(yōu)化方法，該方法采用四針聯(lián)動對測試點進行配對，使得飛針測試行數(shù)大大縮短，并采 用創(chuàng)新的啟發(fā)式優(yōu)化算法，能夠快速的找到較優(yōu)測試路徑，使得飛針測試效果提高。
在具體實施上，采取以下步驟實現(xiàn)a.讀入IPC356格式文件，提取測試點信息及相鄰網(wǎng) 絡(luò)信息；b.統(tǒng)計同一網(wǎng)絡(luò)號同一測試標識相同測試點的個數(shù)，得到反面測試點點數(shù)，正面 測試點點數(shù)，通孔測試點點數(shù)；c.根據(jù)正面測試點點數(shù)、反面測試點點數(shù)的大小，把通孔測試 點按照使得正面測試點點數(shù)與反面測試點點數(shù)差值最小的方式進行劃分，生成正面測試點集 合和反面測試點集合；d.分別對正面測試點集合和反面測試點集合進行基于X坐標與Y坐標的二維排序，生成正面測試點隊列與反面測試點隊列；e.對正面測試點隊列和反面測試點隊列 分別進行配對el.當正面測試點隊列長度和反面測試點隊列長度均大于O時，正面測試點隊 列、反面測試點隊列均采用取二出一，取二出二方式交替出列進行配對，生成正面測試點行 隊列和反面測試點行隊列；e2.當反面測試點隊列長度為O時，采取正面測試點隊列取二出一 方式進行配對，生成正面測試點行隊列；e3.當正面測試點隊列長度為O時，采取反面測試點 隊列取二出一方式進行配對，生成反面測試點行隊列；f.分別對正面測試點行隊列和反面測 試點行隊列進行配對，采取取二出二方式進行行配對；g.對所有的測試點進行基于X坐標與 Y坐標的二維排序，生成一個初始的測試隊列；h.將該測試隊列以N行為一個子隊列的方式進 行劃分， 一般我們采用以5000行為一個子隊列的方式進行劃分；i.對每個子隊列采用最短路 徑插值法生成新的子隊列；j.對新的子隊列兩兩之間首尾連接，最終生成測試路徑。
本發(fā)明的創(chuàng)新點在于飛針測試配對中，提出采用四針聯(lián)動方式生成配對點方法，上述 步驟中a至f均為四針聯(lián)動配對方法的過程，當正面測試點隊列長度和反面測試點隊列長度均 大于O時，正面測試點隊列、反面測試點隊列均采用取二出一，取二出二方式交替出列進行 配對，生成正面測試點行隊列和反面測試點行隊列，這種方法經(jīng)過數(shù)學推導(dǎo)驗證在保證了連 通性的同時也是最優(yōu)的配對方式，得到的是最優(yōu)行數(shù)解。上述步驟g至j可歸為我們采用的創(chuàng) 新的啟發(fā)式優(yōu)化算法，它是先采用先聚合分類，再進行分而自治并與最短路徑插值法相結(jié)合 的一種啟發(fā)性算法，能快速的找到較優(yōu)路徑，提高測試效率。此外，在配對時我們采用了步 驟d與步驟g兩次二維排序使得測試行之間的距離是最接近的，基本達到了 "四針歸一"的效 果，也在一定程度上提高了測試效率。本發(fā)明中所提到的最短路徑插值法為現(xiàn)有技術(shù)，在學 術(shù)論文中及算法領(lǐng)域教程中經(jīng)常出現(xiàn)，這里不再對其贅述。
權(quán)利要求
權(quán)利要求1基于四針飛針測試路徑的優(yōu)化方法，其特征在于包括以下步驟，a. 讀入IPC356格式文件，提取測試點信息及相鄰網(wǎng)絡(luò)信息；b. 統(tǒng)計同一網(wǎng)絡(luò)號同一測試標識相同測試點的個數(shù)，得到反面測試點點數(shù)，正面測試點點數(shù)，通孔測試點點數(shù)；c. 根據(jù)正面測試點點數(shù)、反面測試點點數(shù)的大小，把通孔測試點按照使得正面測試點點數(shù)與反面測試點點數(shù)差值最小的方式進行劃分，生成正面測試點集合和反面測試點集合；d. 分別對正面測試點集合和反面測試點集合進行基于X坐標與Y坐標的二維排序，生成正面測試點隊列與反面測試點隊列；e. 對正面測試點隊列和反面測試點隊列分別進行配對e1. 當正面測試點隊列長度和反面測試點隊列長度均大于0時，正面測試點隊列、反面測試點隊列均采用取二出一，取二出二方式交替出列進行配對，生成正面測試點行隊列和反面測試點行隊列；e2. 當反面測試點隊列長度為0時，采取正面測試點隊列取二出一方式進行配對，生成正面測試點行隊列；e3. 當正面測試點隊列長度為0時，采取反面測試點隊列取二出一方式進行配對，生成反面測試點行隊列；f. 分別對正面測試點行隊列和反面測試點行隊列進行配對，采取取二出二方式進行行配對；g. 對所有的測試點進行基于X坐標與Y坐標的二維排序，生成一個初始的測試隊列；h. 將該測試隊列以N行為一個子隊列的方式進行劃分；i. 對每個子隊列采用最短路徑插值法生成新的子隊列；j. 對新的子隊列兩兩之間首尾連接，最終生成測試路徑。
2.如權(quán)利要求l所述的基于四針飛針測試路徑的優(yōu)化方法，其特征在 于所述步驟h中，是將測試隊列以5000行為一個子隊列的方式進行劃分。
全文摘要
本發(fā)明涉及電路測試技術(shù)，尤其涉及一種基于四針飛針測試路徑的優(yōu)化方法。本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足提出一種減小測試次數(shù)和測試路徑的基于四針飛針測試路徑的優(yōu)化方法。其技術(shù)方案的要點可概括為在提取測試點信息后，對測試點進行劃分，生成正面測試點集合和反面測試點集合，進行一次二維排序后再進行配對，配對完成后進行第二次二維排序，生成初始的測試隊列，將該測試隊列以N行為一個子隊列的方式進行劃分；對每個子隊列采用最短路徑插值法生成新的子隊列；對新的子隊列兩兩之間首尾連接，最終生成測試路徑。本發(fā)明的有益效果是減少測試次數(shù)，縮小測試路徑，進而提高了測試效率。
文檔編號G01R31/28GK101424723SQ200810306198
公開日2009年5月6日 申請日期2008年12月12日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月12日
發(fā)明者健 余, 王海鵬 申請人:四川長虹電器股份有限公司