專利名稱：?jiǎn)瘟屑呻娐吩骷匣瘻y(cè)試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種微電子元器件老化測(cè)試裝置，尤其能對(duì)單列集成電路元器件可靠性 進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和測(cè)試的插座。
背景技術(shù)：
目前，在我國可靠性技術(shù)領(lǐng)域，國內(nèi)老化試驗(yàn)插座系列產(chǎn)品本體材料采用的是非耐高溫 普通工程塑料，在對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)，老化工作溫度僅為-25°C +85°C，且老化工作時(shí) 間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，存在著與被測(cè)器件之間接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性不高和機(jī)械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領(lǐng)域，單列集成電路元 器件高端技術(shù)產(chǎn)品，因無高溫老化可靠性試驗(yàn)的專用裝置，不能滿足對(duì)器件性能指標(biāo)的測(cè)試 要求，容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。
發(fā)明內(nèi)容
為克服現(xiàn)有老化試驗(yàn)插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不足，本實(shí) 用新型提供一種高溫老化試驗(yàn)和測(cè)試的插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25'C +85°(:擴(kuò)大到-65°<: +150°(:, —次老化連續(xù)工作時(shí)間長達(dá)1000h(150°C)以上，插拔壽命5000
次以上，而且在對(duì)被測(cè)試器件進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試過程中，具有接觸電阻小、 一致 性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點(diǎn)，大大提高了插座的可靠性和使用 壽命。
本實(shí)用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是按照24線單列型的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和尺寸要 求，將插座設(shè)計(jì)成三大組成部分，即插座體、接觸件和鎖緊裝置。插座體由座、蓋組成，選 用進(jìn)口的耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體，用于被試器件的定 位安裝；接觸件以鈹青銅材料經(jīng)線切割機(jī)切割下料及打彎成型，經(jīng)30(TC高溫淬火處理及電 鍍硬金層技術(shù)表面鍍金，采用與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)、縱向排列、自動(dòng)鎖緊和零插拔力結(jié) 構(gòu)安裝于插座體的座中；鎖緊裝置由滑塊、手柄和軸組成，由以往縱向推拉鎖緊改為橫向推 拉鎖緊結(jié)構(gòu)，當(dāng)手柄受力帶動(dòng)軸順時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，由于軸的徑向尺寸差，使滑塊產(chǎn)生位移，促 使接觸件上端閉緊，接觸件自動(dòng)鎖緊被試器件引出線達(dá)到鎖緊器件的效果。通電后進(jìn)行高溫 老化試驗(yàn)和性能測(cè)試。這種以與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)的、縱向排列、橫向自鎖式和零插拔 力為設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的試驗(yàn)插座，徹底解決了在高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試過程中的接觸電阻大、耐 環(huán)境弱、 一致性差和機(jī)械壽命不長的技術(shù)難點(diǎn)。
本實(shí)用新型的有益效果是可以滿足24線單列集成電路元器件和其它同類單列集成電路 元器件、任意跨距零插拔力直插式元器件高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試，填補(bǔ)了國內(nèi)空白，替代 進(jìn)口，為國家節(jié)約了外匯，為用戶節(jié)約了成本，可以獲得較大的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。

圖1是本實(shí)用新型的外形結(jié)構(gòu)縱剖面構(gòu)造圖。
圖2是本實(shí)用新型外型結(jié)構(gòu)俯視圖。
圖l: l座2不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘3壓簧4接觸件5蓋 6滑塊 7不銹鋼十字開槽盤頭螺釘8小墊圈9手柄10軸11擋板
具體實(shí)施方式
在圖1中，先按孔的位置將滑塊6放在座1上，再將接觸件即簧片4按縱向排列、自動(dòng) 鎖緊和零插拔力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座1內(nèi)；安裝擋板ll，裝上壓簧3，將軸10裝入插座體 的座1中；將蓋5按孔擺在座1上，用不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘2將圖中的蓋5和座1固定； 再將手柄9放在蓋5上，再將小墊圈8放在手柄上，并將孔對(duì)齊，最后用不銹鋼十字開槽盤 頭螺釘7將手柄9與插座體的座1固定。
該方案中，插座體用于被試器件的安裝定位，接觸件由鍍金簧片2. 54mm間距按縱向排列、
橫向自動(dòng)鎖緊和零插拔力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中，與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)，鎖緊裝置由 滑塊、手柄和軸組成，安裝于插座體之上。當(dāng)手柄處于初始位置時(shí)，接觸件張開，放入被試 器件后，手柄受力順時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，接觸件自動(dòng)鎖緊被試器件。
權(quán)利要求1.一種適用于單列集成電路元器件老化測(cè)試插座，其特征是它是由插座體、接觸件和鎖緊裝置三個(gè)部分統(tǒng)一組成，插座體由座(1)和蓋(5)組成，插座體選用進(jìn)口耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造而成，接觸件(4)與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)并安裝于插座體的座(1)中，鎖緊裝置安裝于插座體的座(1)中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的單列集成電路元器件老化測(cè)試插座，其特征是插座體、接觸 件和鎖緊裝置是一個(gè)統(tǒng)一整體，接觸件(4)由24線、2. 54mm間距的鍍金簧片縱向排列組成, 并安裝于座(1)內(nèi)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的單列集成電路元器件老化測(cè)試插座，其特征是插座的鎖緊裝 置由滑塊(6)、手柄(9)和軸(10)組成，以橫向推拉式結(jié)構(gòu)把接觸件(4)設(shè)計(jì)成自鎖式、 零插拔力結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種微電子元器件老化試驗(yàn)插座，尤其能對(duì)單列集成電路元器件可靠性進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和測(cè)試的插座。該插座按照24線單列型集成電路元器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和尺寸要求，將插座設(shè)計(jì)成插座體、接觸件和鎖緊裝置三大組成部分。插座體由座、蓋組成，座和蓋選用進(jìn)口耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體，用于被試器件的定位安裝。接觸件選用鈹青銅材料經(jīng)線切割機(jī)切割下料及打彎成型簧片，經(jīng)300℃高溫淬火處理及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金，采用與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)、2.54mm間距縱向排列、橫向自動(dòng)鎖緊結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中。鎖緊裝置由滑塊和手柄和軸組成，為橫向推拉鎖緊結(jié)構(gòu)。
文檔編號(hào)G01R1/02GK201199248SQ200720109318
公開日2009年2月25日 申請(qǐng)日期2007年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月10日
發(fā)明者曹宏國 申請(qǐng)人:曹宏國