專利名稱：陶瓷四邊引線片式載體元器件老化測(cè)試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種微電子元器件老化測(cè)試插座，尤其能對(duì)陶瓷四邊引線片式載體元器 件可靠性進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和測(cè)試的插座。
背景技術(shù)：
目前，在我國(guó)可靠性技術(shù)領(lǐng)域，公知的老化試驗(yàn)插座本體材料采用的是非耐高溫普通工 程塑料，而在對(duì)陶瓷四邊引線片式載體元器件可靠性進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和測(cè)試時(shí)，老化工作
溫度僅為-25。C +85'C，且老化工作時(shí)間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，存在著與 被測(cè)器件之間接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性不高和機(jī)械壽命不長(zhǎng)的重大缺陷。在我國(guó)微電 子元器件可靠性領(lǐng)域，這種陶瓷四邊引線片式載體元器件高端技術(shù)產(chǎn)品，因無(wú)高溫老化可靠 性試驗(yàn)和測(cè)試的專用裝置，不能滿足對(duì)器件性能指標(biāo)的測(cè)試要求，容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。
發(fā)明內(nèi)容
為克服陶瓷四邊引線片式載體元器件現(xiàn)有老化試驗(yàn)插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以 及使用壽命方面的不足，本實(shí)用新型提供一種高溫老化試驗(yàn)測(cè)試插座。該插座不僅能將老化 工作溫度范圍從-25'C +85'C提高到-65'C +150'C、 一次老化連續(xù)工作時(shí)間長(zhǎng)達(dá)1000hl50 'C以上、插拔壽命5000次以上，而且在對(duì)被測(cè)試器件進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試過(guò)程中， 具有接觸電阻小、 一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的優(yōu)點(diǎn)，大大提高 了插座的可靠性和使用壽命。
本實(shí)用新型解決技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是按照44線陶瓷四邊引線片式載體元器件 的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和尺寸要求，將插座設(shè)計(jì)成插座體、接觸件和定位裝置三大組成部分，插座體主 要由座、蓋、鉤組成，座和蓋選用進(jìn)口 PPS耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制 造成插座本體，用于被試器件的定位壓緊。選用QBe2鈹青銅材料經(jīng)沖壓成型的簧片，經(jīng)300 'C高溫淬火處理及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金為接觸件，由軸向?qū)ΨQ的44線、1.27mm細(xì)節(jié)距 結(jié)構(gòu)技術(shù)設(shè)計(jì)成前、后腳對(duì)稱組成的四面簧片排列組成，分別嵌裝于座的四面凹槽中，與被試 器件引出線相對(duì)應(yīng)，安裝于插座體座上。定位裝置由定位板和壓塊組成，改變了以往"座" 定位的形式，同時(shí)定位板四個(gè)腳上的壓簧有很強(qiáng)的彈性力，可達(dá)到更好的鎖緊效果。當(dāng)鉤受 力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時(shí)，被試器件自動(dòng)壓緊接觸件，通電進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試。當(dāng) 鉤受力向上翻轉(zhuǎn)與座嚙離時(shí)，接觸件復(fù)位初始。這種翻蓋式機(jī)構(gòu)把接觸件設(shè)計(jì)成零插拔力的 結(jié)構(gòu)，以避免接觸件插拔時(shí)磨損電鍍層，影響電接觸性能，徹底解決了在高溫老化試驗(yàn)和性 能測(cè)試過(guò)程中的接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性差和機(jī)械壽命不長(zhǎng)的技術(shù)難點(diǎn)；且該實(shí)用新 型可滿足被試器件不同引線的要求。
本實(shí)用新型的有益效果是可以滿足44線及其它同類陶瓷四邊引線片式載體元器件高溫老化試驗(yàn)和性能測(cè)試，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)空白，替代了進(jìn)口，為國(guó)家節(jié)約了外匯，為用戶節(jié)約了成 本，可以獲得較大的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。
以下結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。

圖1是本實(shí)用新型的外形結(jié)構(gòu)縱剖面構(gòu)造圖。 圖2是本實(shí)用新型外型結(jié)構(gòu)俯視圖。
圖l: l前腳簧片2后腳簧片3座4定位板5壓簧6大扭簧 7軸 8壓板9軸 10蓋ll壓簧12鉤
具體實(shí)施方式
在圖1中，第一步將接觸件即前腳簧片1和后腳簧片2按與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)結(jié)
構(gòu)插入座3中，將鉤12、壓簧ll、軸9和壓板8裝入蓋10內(nèi)；第二步裝入壓簧5，將定 位板4裝入座3中；第三步再將裝好的蓋IO、大扭簧6和軸7裝入座3內(nèi)。
該方案中，插座體用于被試器件的自動(dòng)壓緊，當(dāng)鉤受力向下翻轉(zhuǎn)與座嚙合時(shí)，被試器件 自動(dòng)壓緊接觸件，采用定位板和壓塊組成的定位裝置安裝于座，改變了以往"座"定位的形 式，同時(shí)定位板四個(gè)腳上的壓簧有很強(qiáng)的彈性力，可達(dá)到更好的鎖緊效果。當(dāng)鉤受力向上翻 轉(zhuǎn)與座嚙離時(shí)，接觸件復(fù)位初始。
權(quán)利要求1.一種適用于陶瓷四邊引線片式載體元器件老化測(cè)試插座，其特征是它是由插座體、接觸件和定位裝置三個(gè)部分統(tǒng)一組成，插座體由座(3)、蓋(10)和鉤(12)組成，座(3)、蓋(10)選用進(jìn)口PPS耐高溫型工程塑料經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體，接觸件與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)并安裝于插座體的座中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的陶瓷四邊引線片式載體元器件老化測(cè)試插座，其特征是插座 體和接觸件是一個(gè)統(tǒng)一整體，接觸件由軸向?qū)ΨQ的44線、1.27mm細(xì)節(jié)距結(jié)構(gòu)技術(shù)設(shè)計(jì)成前 后腳對(duì)稱組成的四面簧片排列組成，分別嵌裝于座(3)的四面凹槽中，與被試器件引出線相 對(duì)應(yīng)，安裝于插座體座(3)上。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的陶瓷四邊引線片式載體元器件老化測(cè)試插座，其特征是插座 的壓緊裝置由座(3)、鉤(12)和定位板(4)組成，以翻蓋式結(jié)構(gòu)把接觸件設(shè)計(jì)成自動(dòng)扣緊 鎖式、零插拔力結(jié)構(gòu)，定位裝置由壓塊(8)和定位板(4)組成。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種微電子元器件老化試驗(yàn)插座，尤其能對(duì)陶瓷四邊引線片式載體元器件可靠性進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和測(cè)試的插座。該插座按照44線陶瓷四邊引線片式載體元器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和尺寸要求，將插座設(shè)計(jì)成插座體、接觸件和定位裝置三大組成部分，座和蓋選用進(jìn)口耐高溫型工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體。選用鈹青銅材料經(jīng)沖壓成型的簧片，經(jīng)300℃高溫淬火處理及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金為接觸件，由軸向?qū)ΨQ的44線、1.27mm細(xì)節(jié)距結(jié)構(gòu)技術(shù)設(shè)計(jì)成前、后腳對(duì)稱組成的四面簧片排列組成，分別嵌裝于座的四面凹槽中，與被試器件引出線相對(duì)應(yīng)，安裝于插座體座上。定位裝置由定位板和壓塊組成，改變了以往“座”定位的形式，同時(shí)定位板四個(gè)腳上的壓簧有很強(qiáng)的彈性力，可達(dá)到更好的鎖緊效果。
文檔編號(hào)G01R1/02GK201141874SQ20072010930
公開(kāi)日2008年10月29日 申請(qǐng)日期2007年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月10日
發(fā)明者曹宏國(guó) 申請(qǐng)人:曹宏國(guó)