專利名稱：電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是關(guān)于一種電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，特別是關(guān)于將電路板放置在測(cè)試臺(tái)上做電性測(cè)試時(shí)先對(duì)該電路板進(jìn)行平整度檢測(cè)的裝置。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有對(duì)電路板做電性測(cè)試的方式，是將電路板放置在一電路檢測(cè)器(In Circuit Tester，ICT)作電性測(cè)試，該電路檢測(cè)器主要由底座及位于該底座上的測(cè)試針座組成。測(cè)試時(shí)將電路板放置在底座上，再使該測(cè)試針座與電路板元件接觸，以精確測(cè)出該電路板的電阻、電感、電容、二極管等通用及特殊元件的漏接、錯(cuò)裝、線路板開路或短路等故障問題，并將故障元件、開路或短路的位置精確顯示給作業(yè)員。該測(cè)試臺(tái)的測(cè)試速度快，適用單一產(chǎn)品的線路板及大規(guī)模生產(chǎn)測(cè)試。
該測(cè)試臺(tái)的測(cè)試針座由氣壓缸帶動(dòng)，該測(cè)試針座在下壓測(cè)試前，采用人工檢測(cè)方式檢測(cè)電路板放置在該測(cè)試臺(tái)底座上的平整度。但是該平整度檢測(cè)方法存在隨機(jī)性及誤差大等缺點(diǎn)，當(dāng)該電路板放置的平整度不良時(shí)，該測(cè)試針座下壓在電路板上會(huì)造成測(cè)試針座損壞，或?qū)㈦娐钒鍓簤摹?br> 因此，如何提供一種可準(zhǔn)確方便判斷電路板在測(cè)試臺(tái)上平整度的檢測(cè)技術(shù)，已成為亟待解決的技術(shù)問題。
實(shí)用新型內(nèi)容為克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，克服人工判斷平整度可能導(dǎo)致的壓壞電路板的缺點(diǎn)。
本實(shí)用新型的又一目的在于提供一種電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，避免造成錯(cuò)誤電性測(cè)試結(jié)果。
本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單及實(shí)用可靠。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其在該測(cè)試臺(tái)設(shè)有該平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，由該平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)放置在該測(cè)試臺(tái)上的電路板進(jìn)行平整度檢測(cè)，該平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)至少包括三個(gè)檢測(cè)單元，設(shè)在該測(cè)試臺(tái)上同一平面且不在同一直線的位置。
該測(cè)試臺(tái)由一底座及位于該底座上的測(cè)試針座組成，該測(cè)試針座由一控制電路控制上下位移，該控制電路電性連接該三個(gè)檢測(cè)單元，當(dāng)該電路板放置在該測(cè)試臺(tái)的底座時(shí)，位于底座表面的三檢測(cè)單元檢測(cè)該電路板的平整度，以控制該測(cè)試針座的下壓動(dòng)作，利用三點(diǎn)構(gòu)成同一平面的原理，當(dāng)該三個(gè)檢測(cè)單元同時(shí)檢測(cè)到電路板時(shí)，即表示該電路板位于平整的位置，該測(cè)試臺(tái)的測(cè)試針座就可下移壓觸在該電路板表面進(jìn)行電性測(cè)試；否則，如果三個(gè)檢測(cè)單元中的一個(gè)沒有檢測(cè)到電路板，即表示該電路板處在不平整狀態(tài)，必須采用其它方式做電性測(cè)試，因此，可避免在該電路板處于不平整狀態(tài)時(shí)進(jìn)行電性測(cè)試，避免該電路板被測(cè)試針座壓壞，或該測(cè)試針座損壞，并可防止在電路板處于不平整狀態(tài)時(shí)作電性測(cè)試時(shí)無法完全點(diǎn)觸檢測(cè)點(diǎn)而造成錯(cuò)誤電性測(cè)試的結(jié)果。
該控制電路還至少包括二個(gè)控制開關(guān)，當(dāng)該三個(gè)檢測(cè)單元完全與電路板接觸時(shí)，該二個(gè)控制開關(guān)中的一個(gè)不被作業(yè)員雙手同時(shí)按壓導(dǎo)通，則該測(cè)試針座就無下壓動(dòng)作，可避免作業(yè)員雙手被下壓測(cè)試針座壓傷的意外。
因此，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型在該測(cè)試臺(tái)的底座表面至少設(shè)有三個(gè)在同一平面不在同一直線的如極限開關(guān)的檢測(cè)單元，由至少三點(diǎn)構(gòu)成同一平面的原理檢測(cè)電路板平整度是否達(dá)到測(cè)試要求，并在沒有達(dá)到要求時(shí)使電性測(cè)試無法進(jìn)行，本實(shí)用新型可以克服人工判斷平整度極易造成壓壞電路板或造成測(cè)試針座損壞的缺點(diǎn)，避免電性測(cè)試錯(cuò)誤的情況產(chǎn)生，并且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單易于實(shí)施。


圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的立體示意圖；以及圖3是本實(shí)用新型的電路示意圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例如圖1及圖2是本實(shí)用新型的電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。在一測(cè)試臺(tái)1設(shè)有平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)2，該測(cè)試臺(tái)1由一底座11及位于該底座上的測(cè)試針座12組成，該平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)2至少由三個(gè)如極限開關(guān)的檢測(cè)單元21a、21b及21c組成，該檢測(cè)單元21a、21b及21c設(shè)在該底座11表面上同一平面上，且該三個(gè)檢測(cè)單元不在同一直線上。將待測(cè)試的電路板3放置在底座11上，由該三個(gè)檢測(cè)單元21a、21b及21c可構(gòu)成同一平面的原理，對(duì)擺放在該底座11上的電路板3做平整度檢測(cè)。
請(qǐng)參閱圖3，該三個(gè)檢測(cè)單元21a、21b及21c電性連接一控制電路4，該三個(gè)檢測(cè)單元21a、21b及21c是串聯(lián)，并電性連接該控制電路4，該控制電路4還至少包括二個(gè)串聯(lián)的控制開關(guān)51a、51b。
當(dāng)該電路板3放置在該底座11時(shí)，以位于該底座11表面上的三檢測(cè)單元21a、21b及21c可構(gòu)成同一平面的原理，檢測(cè)該電路板3的平整度。當(dāng)該三個(gè)檢測(cè)單元21a、21b及21c同時(shí)檢測(cè)到電路板時(shí)，即表示該電路板3位于平整的位置，且該控制開關(guān)51a、51b同時(shí)被按壓時(shí)，該測(cè)試臺(tái)1的測(cè)試針座12可下移壓觸到該電路板3表面進(jìn)行電性測(cè)試。
如果該三個(gè)檢測(cè)單元21a、21b及21c中的一個(gè)沒有檢測(cè)到電路板3，即表示該電路板3處于不平整狀態(tài)；這時(shí)即使同時(shí)按壓該二個(gè)控制開關(guān)51a、51b，該測(cè)試針座12也不產(chǎn)生任何動(dòng)作，這樣可判斷該電路板3處于不平整狀態(tài)，必須采用其它方式做電性測(cè)試或調(diào)整該電路板位置。如此，可避免在該電路板3處于不平整狀態(tài)時(shí)做電性測(cè)試，避免該電路板3被測(cè)試針座12壓壞，或該測(cè)試針座12損壞。可防止在電路板3處于不平整狀態(tài)做電性測(cè)試時(shí)，無法完全點(diǎn)觸檢測(cè)點(diǎn)造成錯(cuò)誤的電性測(cè)試結(jié)果。
當(dāng)放開該二個(gè)控制開關(guān)51a、51b中的一個(gè)時(shí)，該測(cè)試針座12向上移動(dòng)，可在完成測(cè)試后將該電路板3取出。
該控制電路的二個(gè)控制開關(guān)51a、51b提供一種安全機(jī)制，當(dāng)該三個(gè)檢測(cè)單元21a、21b及21c完全與電路板3接觸時(shí)，即表示該電路板3處于平整狀態(tài)，當(dāng)該二個(gè)控制開關(guān)51a、51b中的一個(gè)沒有被作業(yè)員雙手同時(shí)按壓導(dǎo)通，則該測(cè)試針座12無下壓動(dòng)作，這樣可避免作業(yè)員雙手沒有退出測(cè)試針座12作業(yè)區(qū)時(shí)被下壓的測(cè)試針座12意外壓傷。
綜上所述，本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，在該測(cè)試臺(tái)底座表面至少設(shè)有三個(gè)如極限開關(guān)的檢測(cè)單元，該檢測(cè)單元以在同一平面且不在同一直線的方式排列，由三點(diǎn)構(gòu)成同一平面的原理檢測(cè)電路板平整度，本實(shí)用新型可以避免現(xiàn)有人工判斷平整度極易造成壓壞電路板或造成測(cè)試針座損壞的缺點(diǎn)，避免電性測(cè)試錯(cuò)誤的情況產(chǎn)生，并且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且易于實(shí)施。
權(quán)利要求1.一種電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，對(duì)放置在該測(cè)試臺(tái)上的電路板進(jìn)行平整度檢測(cè)，其特征在于，該電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)至少包括三個(gè)檢測(cè)單元，設(shè)在該測(cè)試臺(tái)上同一平面且不在同一直線的位置。
2.如權(quán)利要求1所述的電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，該測(cè)試臺(tái)由一底座及位于該底座上的測(cè)試針座組成，該三個(gè)檢測(cè)單元設(shè)在該底座表面，該三個(gè)檢測(cè)單元控制該測(cè)試針座下壓，使該測(cè)試針座壓觸在該電路板表面進(jìn)行電性測(cè)試。
3.如權(quán)利要求2所述的電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，該測(cè)試針座由一控制電路控制其上下移動(dòng)。
4.如權(quán)利要求3所述的電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，該控制電路電性連接該檢測(cè)單元。
5.如權(quán)利要求4所述的電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，該三個(gè)檢測(cè)單元是串聯(lián)，且電性連接該控制電路。
6.如權(quán)利要求5所述的電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，該控制電路還包括至少二個(gè)控制開關(guān)。
7.如權(quán)利要求6所述的電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，該三個(gè)檢測(cè)單元中的一個(gè)不與電路板接觸，該二個(gè)控制開關(guān)不被按壓導(dǎo)通，即該測(cè)試針座沒有動(dòng)作。
8.如權(quán)利要求1所述的電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，該檢測(cè)單元是一極限開關(guān)。
專利摘要一種電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其對(duì)放置在該測(cè)試臺(tái)上的電路板進(jìn)行平整度檢測(cè)，該電路板測(cè)試臺(tái)的平整度檢測(cè)機(jī)構(gòu)至少包括三個(gè)檢測(cè)單元，設(shè)在該測(cè)試臺(tái)上同一平面且不在同一直線的不同位置，該構(gòu)成同一水平面的三個(gè)檢測(cè)單元檢測(cè)該電路板是否擺放平整。本實(shí)用新型可避免該電路板在測(cè)試臺(tái)上擺放不平整而造成損壞，防止測(cè)試臺(tái)無法點(diǎn)測(cè)該電路板的缺點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01B7/00GK2857033SQ20052014667
公開日2007年1月10日 申請(qǐng)日期2005年12月20日 優(yōu)先權(quán)日2005年12月20日
發(fā)明者楊波, 薛其瑞 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司