本發(fā)明屬于手機外殼平面度測量技術領域,具體是涉及一種平面度檢測方法。
背景技術:
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由于現(xiàn)代電子技術的快速發(fā)展,手機已經(jīng)成為人們生活的必需品。隨著人們對手機的需求量越來越多,對手機質(zhì)量與工藝的要求也越來越高。早期手機外殼的平面度檢測多采用人工塞尺的方法,后來也產(chǎn)生光電檢測的人工設備,但這些技術設備本身存在很大的誤差,無法得出平面度的真實值;加之人工檢測的效率較低,無法滿足當前的生產(chǎn)需求。
隨著工業(yè)自動化的不斷發(fā)展,手機生產(chǎn)自動化已經(jīng)成為一種趨勢。傳統(tǒng)的平面度檢測方法多采用了人工檢測,這種做法極為不便,不僅測量的方法不夠精確,導致產(chǎn)品良率的降低;同時生產(chǎn)效率低下,嚴重制約了生產(chǎn)線的效率、速度以及品質(zhì)。
技術實現(xiàn)要素:
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為此,本發(fā)明所要解決的技術問題在于現(xiàn)有技術中平面度檢測方法測量精確度低、導致良品率低、生成效率低下,制約了生產(chǎn)線的效率、速度以及品質(zhì),從而提出一種平面度檢測方法,主要應用于測量手機外殼的平面度,并根據(jù)軟件設置的平面度值,檢出OK和NG產(chǎn)品。
為達到上述目的,本發(fā)明的技術方案如下:
一種平面度檢測方法,包括如下步驟:
S1:規(guī)劃產(chǎn)品上多個測量點位的位置分布,建立X-Y二維坐標系,并獲取產(chǎn)品上多個測量點位在所述X-Y二維坐標系下的坐標位置。
S2:采用基恩士的LV-7060線鐳射方法測量并獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。
S3:將步驟S2中的測量數(shù)據(jù)進行保存,所述測量數(shù)據(jù)包括測量時間、測量工位、所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。
S4:根據(jù)步驟S2中獲取的所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及擬合平面的方法,計算出產(chǎn)品多個區(qū)域的平面度值并保存。
S5:設定產(chǎn)品多個區(qū)域的平面度NG值,將步驟S4中的產(chǎn)品多個區(qū)域的平面度值分別和產(chǎn)品多個區(qū)域的平面度NG值進行比較判定,獲取產(chǎn)品是否合格的判斷結(jié)果。
S6:顯示每個產(chǎn)品的平面度數(shù)據(jù),所述平面度數(shù)據(jù)包括所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及判斷結(jié)果。
作為上述技術方案的優(yōu)選,步驟S2中:
所述基恩士的LV-7060線鐳射方法中的運動機構(gòu)采用ACS直線電機,所述ACS直線電機的X軸攜帶鐳射頭。
作為上述技術方案的優(yōu)選,步驟S2中,所述基恩士的LV-7060線鐳射方法具體包括如下步驟:
S21:將所述ACS直線電機X軸上的鐳射頭安裝成一定角度。
S22:所述ACS直線電機按照步驟S1中規(guī)劃的產(chǎn)品上多個測量點位的位置分布進行運動。
S23:所述ACS直線電機每到一個測量點位的坐標位置上即停止運動,所述鐳射頭進行鐳射,實時測量并獲取該測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。
S24:重復步驟S22-S23,獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。
作為上述技術方案的優(yōu)選,步驟S2中:
所述多個區(qū)域包括外觀面、點膠面和LCD倉面。
作為上述技術方案的優(yōu)選,步驟S5具體包括如下步驟:
S51:獲取步驟S4中的外觀面平面度值、點膠面平面度值、LCD倉面平面度值。
S52:分別設定外觀面的平面度NG值、點膠面的平面度NG值、LCD倉面的平面度NG值。
S53:將外觀面平面度值和外觀面的平面度NG值進行比較,得出第一判斷結(jié)果,將點膠面平面度值和點膠面的平面度NG值進行比較,得出第二判斷結(jié)果,將LCD倉面平面度值和LCD倉面的平面度NG值進行比較,得出第三判斷結(jié)果。
S54:對所述第一判斷結(jié)果、所述第二判斷結(jié)果、第三判斷結(jié)果進行分析,若所述第一判斷結(jié)果、所述第二判斷結(jié)果、所述第三判斷結(jié)果均為合格,則判定該產(chǎn)品為合格。
本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明采用計算機自動檢測產(chǎn)品平面度設備,大大減輕生產(chǎn)管理部門的負荷,測量精度高,生成效率高,使得生產(chǎn)線的生產(chǎn)更加智能化,自動化,并且實現(xiàn)平面度值的數(shù)字化,提高了產(chǎn)品的品質(zhì)。品管部門對產(chǎn)品的品質(zhì)管理也更加簡便和準確,無須浪費時間在不良產(chǎn)品的數(shù)據(jù)采集與稽核。同時,平面測量的原始數(shù)值對于工程部門分析產(chǎn)品不良,改善產(chǎn)品模具,提高工程管理,都提供具體準確的數(shù)值參考。進而對生產(chǎn)部門的生產(chǎn)要求更加有依據(jù),改善措施也更加準確。
附圖說明:
以下附圖僅旨在于對本發(fā)明做示意性說明和解釋,并不限定本發(fā)明的范圍。其中:
圖1為本發(fā)明一個實施例的一種平面度檢測方法流程圖;
圖2為本發(fā)明一個實施例的整體原理圖;
圖3為本發(fā)明一個實施例的產(chǎn)品平面度的測量點位示意圖;
圖4為本發(fā)明一個實施例的基恩士的LV-7060線鐳射方法示意圖;
圖5為本發(fā)明一個實施例的數(shù)據(jù)保存表格目錄示意圖;
圖6為本發(fā)明一個實施例的保存數(shù)據(jù)結(jié)果示意圖;
圖7為本發(fā)明一個實施例的平面度測量的原理示意圖;
圖8為本發(fā)明一個實施例的平面度判斷設置示意圖;
圖9為本發(fā)明一個實施例的結(jié)果顯示數(shù)據(jù)示意圖;
圖10為本發(fā)明一個實施例的平面度判斷示意圖;
圖11為本發(fā)明一個實施例的作業(yè)流程圖。
圖中符號說明:
1-測量點,2-擬合面,3-產(chǎn)品,4-測量點位。
具體實施方式:
如圖1、圖2所示,本發(fā)明的一種平面度檢測方法,包括如下步驟:
S1:點位規(guī)劃,如圖3所示,規(guī)劃產(chǎn)品3上多個測量點位4的位置分布,建立X-Y二維坐標系,并獲取產(chǎn)品上多個測量點位在所述X-Y二維坐標系下的坐標位置。點位規(guī)劃即產(chǎn)品測量點位的規(guī)劃,也就是鐳射所要測量的每個點的位置分布,以一個點為基準點(原點),建立一個X-Y二維坐標系,其他各點的位置均表示在該坐標系下。
S2:數(shù)據(jù)采集,采用基恩士的LV-7060線鐳射方法測量并獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。如圖4所示,(1)數(shù)據(jù)采集的媒介,本發(fā)明的平面度檢測方法采用了基恩士的LV-7060線鐳射,精度高,響應快。(2)測量方法,本發(fā)明的平面度檢測方法,運動機構(gòu)采用ACS直線電機,具有定位準確、重復精度高等優(yōu)點。所述ACS直線電機的X軸攜帶鐳射頭。由直線電機定位到產(chǎn)品的每個測量點位,鐳射進行測量。
所述基恩士的LV-7060線鐳射方法具體包括如下步驟:
S21:將所述ACS直線電機X軸上的鐳射頭安裝成一定角度。以便能夠測試產(chǎn)品外觀一周的平面度。同時,由于采用線鐳射,可以測量產(chǎn)品不同區(qū)域的平面度,本發(fā)明的平面度檢測方法,測量了外觀面、點膠面和LCD倉面這三個面的平面度。
S22:所述ACS直線電機按照步驟S1中規(guī)劃的產(chǎn)品上多個測量點位的位置分布進行運動。
S23:所述ACS直線電機每到一個測量點位的坐標位置上即停止運動,所述鐳射頭進行鐳射,實時測量并獲取該測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。本實施例中,所述多個區(qū)域包括外觀面、點膠面和LCD倉面。
S24:重復步驟S22-S23,獲取所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。
S3:數(shù)據(jù)保存,將步驟S2中的測量數(shù)據(jù)進行保存,所述測量數(shù)據(jù)包括測量時間、測量工位、所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)。當鐳射按照點位測量完產(chǎn)品后,上位機程序會將所測的每個點位原始數(shù)據(jù)及計算后的平面度值寫入到Excel表格中,進行保存。這個表格是由程序自動建立在指定的文件夾目錄下,如圖5所示。
如圖6所示,該表格記錄了步驟S24中獲取的平面度測量的時間,測量工位,每個點位鐳射測量的原始數(shù)據(jù)以及步驟S4中獲取的平面度值。
S4:數(shù)據(jù)處理,根據(jù)步驟S2中獲取的所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及擬合平面的方法,計算出產(chǎn)品多個區(qū)域的平面度值并保存。本實施例中的平面度檢測方法,運用了一種特殊的平面度算法,通過鐳射采集的對每個點位的原始數(shù)據(jù),計算出平面度的值。如圖7所示,鐳射在每個測量點1位測量出一個原始數(shù)值,通過這種平面度算法,擬合出一個平面,即為擬合面2。擬合面2位于各個測量點1的中間位置,平面度為擬合面2兩邊最遠的測量點到擬合面的距離之和。
S5:數(shù)據(jù)分析,設定產(chǎn)品多個區(qū)域的平面度NG值,將步驟S4中的產(chǎn)品多個區(qū)域的平面度值分別和產(chǎn)品多個區(qū)域的平面度NG值進行比較判定,獲取產(chǎn)品是否合格的判斷結(jié)果。本發(fā)明的平面度檢測方法,可以人工設置上位機判斷平面度的臨界值,根據(jù)設置的臨界值,判斷所測產(chǎn)品的OK與否。本實施例中,步驟S5具體包括如下步驟:
S51:獲取步驟S4中的外觀面平面度值、點膠面平面度值、LCD倉面平面度值。
S52:分別設定外觀面的平面度NG值、點膠面的平面度NG值、LCD倉面的平面度NG值。
S53:將外觀面平面度值和外觀面的平面度NG值進行比較,得出第一判斷結(jié)果,將點膠面平面度值和點膠面的平面度NG值進行比較,得出第二判斷結(jié)果,將LCD倉面平面度值和LCD倉面的平面度NG值進行比較,得出第三判斷結(jié)果。
S54:對所述第一判斷結(jié)果、所述第二判斷結(jié)果、第三判斷結(jié)果進行分析,若所述第一判斷結(jié)果、所述第二判斷結(jié)果、所述第三判斷結(jié)果均為合格,則判定該產(chǎn)品為合格。
如圖8所示,外觀面的平面度NG值設為了0.25。當測量產(chǎn)品的外觀面平面度大于0.25時,上位機會判斷為該產(chǎn)品的外觀面平面度不合格,顯示NG。
S6:結(jié)果顯示,當處理分析完數(shù)據(jù)后,在上位機程序界面中,會顯示每個產(chǎn)品的平面度數(shù)據(jù),所述平面度數(shù)據(jù)包括所有測量點位上的多個區(qū)域原始數(shù)據(jù)以及判斷結(jié)果,如圖9和圖10所示。
本發(fā)明的作業(yè)流程如圖11所示,具體如下:
首先,運動機構(gòu)直線電機按照規(guī)劃好的點位運動,每到一個點位,攜帶的鐳射頭便測量一次。
然后,鐳射頭測量完所有點位后,即產(chǎn)品測量完成,程序后臺會保存所有的原始數(shù)據(jù),并且算出平面度。
再者,平面度計算后,上位機程序界面會顯示出值,同時,執(zhí)行機構(gòu)會對平面度OK、NG的產(chǎn)品進行篩選。
最后,顯示測量結(jié)果。
本實施例所述的一種平面度檢測方法,采用計算機自動檢測產(chǎn)品平面度設備,大大減輕生產(chǎn)管理部門的負荷,測量精度高,生成效率高,使得生產(chǎn)線的生產(chǎn)更加智能化,自動化,并且實現(xiàn)平面度值的數(shù)字化,提高了產(chǎn)品的品質(zhì)。品管部門對產(chǎn)品的品質(zhì)管理也更加簡便和準確,無須浪費時間在不良產(chǎn)品的數(shù)據(jù)采集與稽核。同時,平面測量的原始數(shù)值對于工程部門分析產(chǎn)品不良,改善產(chǎn)品模具,提高工程管理,都提供具體準確的數(shù)值參考。進而對生產(chǎn)部門的生產(chǎn)要求更加有依據(jù),改善措施也更加準確。
顯然,上述實施例僅僅是為清楚地說明所作的舉例,而并非對實施方式的限定。對于所屬領域的普通技術人員來說,在上述說明的基礎上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這里無需也無法對所有的實施方式予以窮舉。而由此所引伸出的顯而易見的變化或變動仍處于本發(fā)明創(chuàng)造的保護范圍之中。