專利名稱:具有憎水覆層的氣相質(zhì)譜儀樣品支架的制作方法
相關(guān)申請(qǐng)的參照文獻(xiàn)本專利申請(qǐng)要求1999年4月29日提交的臨時(shí)專利申請(qǐng)U.S.S.N60/131652的優(yōu)先權(quán),其內(nèi)容全文參考結(jié)合于此。
有關(guān)聯(lián)邦資助的研究和開發(fā),不能申請(qǐng)專利權(quán)。
背景技術(shù):
本發(fā)明涉及質(zhì)譜的領(lǐng)域,更具體地涉及具有憎水覆層的樣品試棒,該覆層能改善液體樣品對(duì)試棒特征部位的結(jié)合作用。
現(xiàn)代的激光解吸/電離質(zhì)譜(“LDI-MS”)實(shí)用時(shí)能有兩種主要方式基底輔助的激光解吸/電離(“MALDI”)質(zhì)譜和表面增強(qiáng)的激光解吸/電離(“SELDI”)。在MALDI中,可含有生物分子的分析物與含基底的溶液混合,一滴該液體放到試棒表面上。基底溶液與生物分子于是共結(jié)晶。將試棒插入質(zhì)譜儀中。令激光能量投射到試棒表面上,使生物分子解吸并電離,但不會(huì)明顯地使其碎裂。但是,MALDI作為分析工具具有局限性,它不會(huì)使樣品分級(jí),尤其對(duì)于低分子量分析物,基底材料會(huì)干擾檢測(cè)。見例如美國專利№5118937(Hillenkamp等人)和5045694(Beavis & Chait)。
在SELDI中,試棒表面作了改進(jìn),使它在解吸過程中作為一個(gè)主動(dòng)參與物。在一種方法中,試棒表面上衍生有能選擇性地與分析物結(jié)合的親合試劑。在另一種方法中,試棒表面上衍生有在激光照射時(shí)不會(huì)解吸的能吸收能量的分子。在又一種方法中,試棒表面上衍生有能結(jié)合分析物,且含有激光照射時(shí)會(huì)發(fā)生光解的鍵的分子。在上述這每種方法中,衍生上去的試劑通常位于施加樣品的試棒表面特定位置上。見美國專利№5719060(Hutchens & Yip)和WO 98/59361(Hutchens & Yip)。
所述方法的兩種可以結(jié)合起來,例如使用SELDI試棒親合表面來捕獲分析物,并將含基底的液體加到捕獲的分析物上提供吸收能量的物質(zhì)。
在質(zhì)譜儀的操作中,使樣品在試棒表面上局部定位是有利的。局部定位可使樣品更集位中于激光照射的位置。在親合型SELDI中,局部定位很重要,因?yàn)檫@可使親合試劑捕獲更多的分析物,由此提高檢測(cè)靈敏度。但是,液體樣品會(huì)在試棒表面上鋪展開來,妨礙局部定位。當(dāng)試棒是用于承載多個(gè)樣品,而這些樣品不能結(jié)合到特定位置上時(shí),這個(gè)問題尤其明顯。
需要一種更好的辦法,可使液體樣品結(jié)合到試棒表面的某個(gè)位置上。
發(fā)明的概述本發(fā)明提供一種質(zhì)譜儀試棒,它能夠?qū)⒁后w樣品結(jié)合到試棒表面的一些特定位置即特征部位上。該試棒包括一個(gè)具有一個(gè)表面的基底和覆蓋該表面的膜。質(zhì)譜儀中使用的樣品一般是溶解于水溶液中的。因此,要選擇膜使其憎水性比該表面大(表面張力較低)。
這種涂膜(涂以覆層的辦法)與采用機(jī)械邊界相比有幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)。首先,避免了會(huì)妨礙質(zhì)量分辨率和質(zhì)量精確度的電場干擾。第二,避免樣品可能集中在一些區(qū)域。并優(yōu)先在非探測(cè)區(qū)結(jié)晶。第三,例如在采用上凸的樣品脊或下陷的樣品井情況下,這些情況會(huì)導(dǎo)致分子量測(cè)定準(zhǔn)確度和精確度變差,所以需要嚴(yán)格保持脊或井的機(jī)械公差。這里就不存在這個(gè)需要。第四,與采用上凸的邊緣不同,不必使用會(huì)限制探測(cè)區(qū)域的光闌。
涂膜的一個(gè)不太有效的方法是在試棒表面上手工施加一個(gè)憎水性圓環(huán)。該圓環(huán)能夠用購自Polysciences(Warrington,賓夕法尼亞州,美國)的PAP筆施加。該P(yáng)AP筆的筆芯中裝有溶于有機(jī)溶劑內(nèi)的憎水性材料。用該筆芯在探棒基底表面上劃一條封閉線,就施加上了一層膜。PAP筆所施加的材料的接觸角約為90°。
本發(fā)明的一個(gè)方面是提供一種試棒,它能夠可抽出地插入氣相離子探測(cè)器(例如質(zhì)譜儀)中,它包括a)一個(gè)基底,它具有一個(gè)表面,適于將分析物·呈現(xiàn)給電離源,b)一層覆蓋所述表面的膜,所述的膜i)有至少一個(gè)使所述表面露出的孔,因此界定了施加含分析物的液體的特征部位,ii)具有120°-180°的水接觸角,iii)表面張力比基底表面的小,因此施加到特征部位上的液體可結(jié)合在該特征部位內(nèi)。
在另一方面,本發(fā)明提供一種系統(tǒng),它包括一個(gè)有進(jìn)口的氣相離子檢測(cè)器,本發(fā)明的試棒就插入該進(jìn)口內(nèi)。
在又一方面,本發(fā)明提供一種檢測(cè)分析物的方法,它包括a)將分析物置于本發(fā)明試棒表面的特征部位上;b)將試棒插入氣相離子檢測(cè)器的進(jìn)口,該檢測(cè)器包括i)從試棒表面上將分析物解吸進(jìn)入氣相并電離分析物的電離源,ii)與試棒表面連通的檢測(cè)解吸離子的離子檢測(cè)器;c)用電離源解吸并電離分析物,d)用離子檢測(cè)器檢測(cè)經(jīng)電離的分析物。
附圖的簡要說明
圖1顯示質(zhì)譜檢測(cè)用的本發(fā)明試棒樣品。
發(fā)明的詳細(xì)說明I.定義除非另有說明,本文中使用的所有技術(shù)術(shù)語的含義都是本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中普通技術(shù)人員所明白的普通含義。下面的文獻(xiàn)會(huì)為普通技術(shù)人員提供了本發(fā)明中所使用許多術(shù)語的一般定義Singleton等人的Dictionary ofMicrobiology and Molecular Biology(1994,第二版);The CambridgeDictionary of Science and Technology(Walker等人,1988);The Glossaryof Genetics,第五版,R.Rieger等人(編者),Springer Verlag(1991);Hale& Marham,The Harper Collins Dictionary of Biology(1991)。
除非另有說明,本文中使用的下列術(shù)語具有其自身的含義。
“氣相離子光譜儀”指樣品電離進(jìn)入氣相時(shí)能夠測(cè)量轉(zhuǎn)換成形成離子的質(zhì)量電荷比的某一參數(shù)的儀器。所述離子通常攜帶一個(gè)電荷,所以質(zhì)量電荷比經(jīng)常簡稱為質(zhì)量。
“質(zhì)譜儀”指氣相離子光譜儀,它包括進(jìn)口系統(tǒng)、電離源、離子光學(xué)組件、質(zhì)量分析儀和檢測(cè)儀。
“激光解吸質(zhì)譜儀”指使用激光作為解吸分析物的電離源的質(zhì)譜儀。
“試棒”指可抽出地插入氣相離子檢測(cè)儀的(例如質(zhì)譜儀)裝置,它包括具有一個(gè)表面的基底,在所述表面上呈現(xiàn)分析物進(jìn)行檢測(cè)。該試棒由于進(jìn)行了分析會(huì)發(fā)生變化,可以棄置掉。
“基底”指能夠承載分析物的固體材料。
“表面”指物體或基底的外界面或上界面。
“膜”指聚合物材料或有機(jī)分子材料構(gòu)成的薄層(例如Langmuir-Blodgett膜或自積聚的單層物質(zhì))。
“表面張力”指在恒定溫度和壓力和組成下形成單位表面積所需的可逆功。表面張力的衡量是g=(dG/dA)T,P,N,其中g(shù)=表面張力,G=體系的吉布斯自由能;A=表面積;T=溫度;P=壓力;和N=組成。
“接觸角”指在三相(固體/液體/氣體)接觸點(diǎn)位置固體表面平面與液體界面的正切線之間的夾角。
“帶”指基本平整或平面的長而又窄的材料。
“片”指基本平整或平面的薄材料,它能夠是任何合適的形狀(例如長方形、正方形、橢圓形、圓形等)。
“基本平整”指基底具有基本平行并明顯大于次表面的主表面(例如帶或片)。
“導(dǎo)電”指能夠傳輸電或電子。
“吸收劑”指具有能吸附分析物的結(jié)合官能團(tuán)的材料。
“結(jié)合官能團(tuán)”指結(jié)合分析物的官能團(tuán)。結(jié)合官能團(tuán)能夠包括而不局限于羧基、磺酸根、磷酸根、銨基、親水性基團(tuán)、憎水性基團(tuán)、反應(yīng)性基團(tuán)、鰲合金屬的基團(tuán)、硫醚基團(tuán)、生物素基團(tuán)、硼化基團(tuán)(boronate group)、染料基團(tuán)、膽固醇基團(tuán)及它們的衍生物或它們的任意組合物。結(jié)合官能團(tuán)還能夠包括其他能夠基于其各自結(jié)構(gòu)性能,例如抗原與抗體的相互作用、酶與底物類似物的相互作用、核酸與結(jié)合蛋白質(zhì)的相互作用和激素與受體的相互作用,而結(jié)合分析物的官能團(tuán)。
“分析物”指所要求檢測(cè)的樣品組分。該詞也可以指樣品內(nèi)的一種組分和一系列組分。
“吸附”指用洗提液(選擇性極限的改性劑)洗滌之前或之后結(jié)合官能團(tuán)與分析物之間的顯著結(jié)合。
“分辨”或“分析物的分辨”產(chǎn)就樣品內(nèi)至少一種分析物的檢測(cè)而言。分辨包括通過分離和隨后的差示檢測(cè),來檢測(cè)樣品內(nèi)的多種分析物。分辨并不需要將一種分析物和混合物中的其他分析物完全分離。使至少兩種分析物能明顯區(qū)別的任意程度分離就足夠。
“檢測(cè)”指識(shí)別要檢測(cè)的物質(zhì)是否存在或確定其數(shù)量。
“吸收能量的分子或(EAM)”指在質(zhì)譜儀內(nèi)能從能源吸收能量,從而能使分析物從試棒表面解吸的分子。MALDI中使用的吸收能量的分子經(jīng)常稱為“基底”。肉桂酸衍生物、芥子酸和二羥基苯甲酸經(jīng)常在激光解吸生物有機(jī)分子中用作吸收能量的分子。關(guān)于吸收能量的分子進(jìn)一步說明,可見美國專利5719060(Hutchens&Yip)。
II.試棒本發(fā)明提供一種試棒,它能夠可抽出地插入質(zhì)譜儀中,它包括具有一個(gè)表面的基底和覆蓋該表面的膜,并在膜上有使表面露出的一些孔。所述膜的水接觸角為120°-180°,該膜的表面張力比基底表面小,使施加到露出表面上的液體可結(jié)合在這些表面上。在有些實(shí)施方式中,本發(fā)明的膜的憎水性明顯比可手工施加的膜大。
A.基底基底能夠由任何可承載膜和樣品的合適材料制成。例如,基底材料能夠包括而不局限于玻璃、陶瓷(例如氧化鈦、氧化硅)、有機(jī)聚合物、金屬(例如鎳、黃銅、鋼、鋁和金)、紙、金屬與聚合物的復(fù)合物或它們的組合。
所述基底能夠具有各種性能?;淄ǔJ菬o孔的例如是實(shí)心的,而且基本是剛性的,能提供結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。此外,基底能夠不導(dǎo)電或?qū)щ姟T谝粋€(gè)優(yōu)選的實(shí)施方式中,基底能導(dǎo)電,從而能減少表面電荷并提高質(zhì)量分辨率。使用導(dǎo)電聚合物(例如碳化的聚醚醚酮、聚乙炔、聚亞苯基、聚吡咯、聚苯胺、聚噻吩等)或?qū)щ姷牧钐盍?例如碳黑、金屬粉、導(dǎo)電聚合物顆粒、玻璃纖維填充的塑料/聚合物、彈性體等)之類的材料,就能夠獲得導(dǎo)電性。
基底能夠是任意形狀,只要它能使試棒可抽出地插入質(zhì)譜儀。在一個(gè)實(shí)施方式中,基底基本上是平整和剛性的。試棒的形狀一般能夠是個(gè)棒,棒一端的表面是承載樣品的表面、也可以是帶或長方形或圓形的板。此外,基底的厚度能夠約為0.1mm至約10cm或更大,優(yōu)選約為0.5mm至約1cm或更大,更優(yōu)選約為0.8mm至約0.5cm或更大?;妆旧碜詈靡銐虼?,以便能夠用手拿住探棒。例如,基底橫截面的最大尺寸能夠至少約為1cm或更大,優(yōu)選·約為2cm或更大,更優(yōu)選至少約為5cm或更大。
試棒一般適合用于質(zhì)譜儀的進(jìn)口和檢測(cè)器。例如,試棒能夠適于安裝在水平和/或垂直平移的架子上,所述架子能夠?qū)⒃嚢羲胶?或垂直移動(dòng)到以后一個(gè)位置上。這樣的架子能使試棒上的許多個(gè)特征部位位于能量束的途徑中,由此就能夠檢測(cè)分析物,不需要使試棒重新定位。
在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施方式中,本發(fā)明的試棒適用于SELDI。因此,要形成特征部位的表面區(qū)域能固定有可選擇性地結(jié)合分析物的吸附劑。吸附劑對(duì)于某種分析物例如抗體能夠具有很高的特效性,或者它們能夠是特效性較差的,例如陽離子或陰離子交換樹脂。另外,所述探棒的表面也能夠固定有吸收能量的分子或光致不穩(wěn)定的附加基團(tuán)。例如各見美國專利№5719060(Hutchens &Yip)和WO98/59361(Hutchens & Yip)。
B.膜本發(fā)明試棒的基底用膜覆蓋著。所述膜的用途是雙重的。首先,膜限定著放置樣品的位置(也稱為特征部位)。第二,因?yàn)槟さ乃佑|角大,其表面張力比試棒表面小,所以膜會(huì)阻止置于特征部位上的液態(tài)樣品溢流開來。
為了使膜能夠結(jié)合液態(tài)樣品,它的表面張力應(yīng)當(dāng)比試棒表面的小。通常,樣品是水溶液。在此情況下,為了發(fā)揮其作用,膜應(yīng)是憎水性的。但是,本發(fā)明也考慮了其他液態(tài)樣品。在這樣的情形下,膜由不溶于液態(tài)樣品的材料制成。當(dāng)膜的水接觸角至少為120-180°時(shí),也可獲得最好的結(jié)果。水接觸角最好大于160°。
試棒表面上的膜厚為1埃至1毫米。該厚度優(yōu)選為1-1000微米(1毫米)。最優(yōu)選約為10-500微米。大約100微米的厚度尤其適用。
膜以這樣的方式覆蓋表面,使膜中留下至少一個(gè)孔或空隙,能露出試棒的表面。該孔構(gòu)成施加樣品的特征部位。因此,雖然膜不需要覆蓋試棒的整個(gè)表面,但是它應(yīng)當(dāng)以足夠的寬度環(huán)繞著孔,以便能實(shí)現(xiàn)阻止液體溢流的功能。通常,環(huán)繞著孔的膜帶至少0.3mm寬,更優(yōu)選至少1.5mm寬。
更一般的情況是,膜在試棒的大部分表面上形成連續(xù)的覆層,而在此整個(gè)連續(xù)的膜表面上具有許多個(gè)孔。這些特征部位優(yōu)選以有序的方式排列,例如線形、長方形或圓形,以便于尋址。
當(dāng)試棒適用于增強(qiáng)表面親合性的捕獲型SELDI時(shí),膜通常圍繞著結(jié)合有親合性物質(zhì)的特征部位。因此,膜起著圍繞島形親合性物質(zhì)的憎水性海洋的作用。
膜優(yōu)選是聚合物膜。例如,該聚合物可選自全氟烴、鹵代烴、脂肪烴、芳香烴、聚硅烷、有機(jī)硅烷及其組合。聚合物膜用的物質(zhì)的一個(gè)廠家是美國馬里蘭州Beltsville的Cytonix公司。在其他實(shí)施方式中,膜是有機(jī)分子物質(zhì)(例如Langmuir-Blodgett膜或金上的自積聚單層例如癸烷硫醇)聚合物優(yōu)選是全氟聚合物。示例性的氟化聚合物包括聚(六氟丙烯)、聚(四氟乙烯)(例如Teflon)、聚(三氟乙烯)、聚(氟乙烯)、聚(1,1-二氟乙烯)、聚((七氟異丙氧)乙烯)、聚(1-((七氟異丙氧)甲基)丙烯-斯達(dá)(stat)-馬來酸)、聚(1-七氟異丙氧)丙烯)、聚(丙烯酸(1-氯二氟甲基)四氟乙酯)、聚(丙烯酸二(氯二氟甲基)氟甲酯)、聚(丙烯酸1,1-二氫七氟丁酯)、聚(丙烯酸七氟異丙酯)、聚(丙烯酸2-(七氟丙氧基)乙酯)、聚(丙烯酸九氟異丁酯)和聚(甲基丙烯酸叔-九氟丁酯)。一種適用的氟化聚合物在美國專利5853891(Brown)中有描述。
示例性的鹵代聚合物包括聚(氯三氟乙烯)、聚(氯乙烯)和聚(1,1-二氯乙烯)。
示例性的脂族聚合物包括聚(異丁烯)、聚乙烯、聚異戊二烯、聚(4-甲基-1-戊烯)、聚(丁酸乙烯酯)、聚(十二烷酸乙烯酯)、聚(十六烷酸乙烯酯)、聚(丙酸乙烯酯)、聚(辛酸乙烯酯)、聚(甲基丙烯腈)、聚(乙烯醇)和聚(乙烯基丁縮醛)。
示例性的環(huán)氧樹脂包括雙酚A的二縮水甘油醚、2,3-二(環(huán)氧丙氧基-1,4-亞苯基)丙烷、含有0.5%用g-環(huán)氧丙氧丙基三甲氧基硅烷(g-glycidoxyproplytrimethoxysilane)固化的g-環(huán)氧丙氧丙基三甲氧基硅烷的雙酚A二縮水甘油醚。
示例性的芳族聚合物包括聚(苯乙烯)、聚(2-甲基苯乙烯)、聚(二甲苯)(polyxylelene)和酚醛樹脂例如酚醛清漆。
示例性的聚硅烷和有機(jī)硅烷包括聚(氧二乙基亞甲硅烷)、聚(氧二甲基亞甲硅烷)、聚(氧甲基苯基亞甲硅烷)、稠合的甲基三甲氧基硅烷和稠合的g-氨基丙基三乙氧基硅烷。
這些聚合物的沉積在例如Ulman A.(編者),ManningGreenwich于1995年出版的Characterization of Organic Thin Films(ISBN 0-7506-9467-X);和1989年John Wiley & SonsNew York出版(ISBN0-471-81244-7)的Brandrup,J.和Immergut,E.H.,(編者)的第三版Polymer Handbook中有描述。
所用聚合物的表面張力通常小于40,優(yōu)選小于30,更優(yōu)選小于20。使聚合物具有微孔,就能夠提高其表面張力。微孔膜上具有尺寸約5微米的孔。
膜能夠用本行業(yè)已知的任何方法施加到基底上,包括例如絲網(wǎng)印刷、電噴、噴墨、蒸汽沉積或等離子體沉積或旋涂。為了形成特征部位,能夠使用平版印刷方法。是在沉積之前掩蓋要形成特征部位的那些區(qū)域,或者在沉積之后用電子束、激光束或離子束蝕刻掉或燒去要形成特征部位區(qū)域上的沉積物質(zhì),或者采用更精細(xì)的光刻法。
III.檢測(cè)方法本發(fā)明的試棒可用于檢測(cè)置于試棒特征部位上的分析物。在這些方法中,試棒與氣相離子光譜儀(包括例如質(zhì)譜儀、離子遷移光譜儀或總離子流測(cè)量儀)結(jié)合使用。
在一個(gè)實(shí)施方式中,質(zhì)譜儀使用本發(fā)明的試棒。置于本發(fā)明試棒的特征部位上的樣品插入質(zhì)譜儀的進(jìn)口系統(tǒng)。接著,樣品被電離源所電離。一般的電離源包括例如激光、快原子轟擊或等離子體。產(chǎn)生的離子由離子光學(xué)組件收集,接著,一質(zhì)量分析儀分散并分析經(jīng)過的離子。用檢測(cè)器檢測(cè)存在于質(zhì)量分析儀中的離子。然后,檢測(cè)器將所測(cè)離子的信息轉(zhuǎn)換成質(zhì)量電荷比。對(duì)分析物的檢測(cè)一般是檢測(cè)信號(hào)的強(qiáng)度,而強(qiáng)度反映結(jié)合在試棒上的分析物的數(shù)量。關(guān)于質(zhì)譜儀的其他資料,可見例如1985年費(fèi)城Saunders CollegePublishing出版的Skoog的第三版Principles of Instrumental Analysis;和Kirk-Othmer Encyclopedia of Chemical Technology第四版,第15卷,第1071-1094頁(1995年New York,John Wiley & Sons出版)。
在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施方式中,一種激光解吸飛行-時(shí)間質(zhì)譜儀與本發(fā)明的試棒一同使用。在激光解吸的質(zhì)譜儀中,置于試棒上的樣品放入進(jìn)口系統(tǒng)。來自電離源的激光將樣品解吸并電離進(jìn)入氣相。產(chǎn)生的離子用離子光學(xué)組件收集,然后,在飛行時(shí)間質(zhì)量分析儀中,離子經(jīng)過一短的高壓電場加速,而偏移進(jìn)入一高真空室內(nèi)。在高真空室的遠(yuǎn)端,被加速的離子在不同時(shí)刻沖擊靈敏的檢測(cè)器表面。因?yàn)轱w行時(shí)間隨離子質(zhì)量而異,所以能夠使用電離與沖擊之間經(jīng)過的時(shí)間來表示特定質(zhì)量分子的存在或不存在。本行業(yè)內(nèi)的普通技術(shù)人員會(huì)明白,激光解吸飛行時(shí)間質(zhì)譜儀的所述任何部件都能夠與本文所述使·用各種解吸、加速、檢測(cè)、測(cè)量時(shí)間等裝置的質(zhì)譜儀組合件內(nèi)的其他部件組合。
此外,離子遷移光譜儀也能夠用來分析樣品。離子遷移光譜儀的原理是根據(jù)離子的遷移率不同。具體地說,通過樣品電離產(chǎn)生的離子由于其例如質(zhì)量、電荷或形狀不同,所以在電場作用下會(huì)以不同速率運(yùn)動(dòng)通過一管子。檢測(cè)器對(duì)離子作記錄(一般為電流形式),它隨后能夠用來標(biāo)識(shí)樣品。離子遷移光譜儀的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它能夠在大氣壓下操作。
此外,也能夠使用總離子流測(cè)量儀分析樣品。當(dāng)試棒具有僅能結(jié)合一種分析物的表面化學(xué)性能時(shí),能夠使用這種儀器。當(dāng)一種分析物結(jié)合到試棒上時(shí),電離分析物而產(chǎn)生的總離子流就會(huì)反映分析物的種類。然后,能夠?qū)⒎治鑫锏目傠x子流與儲(chǔ)存的已知化合物的總離子流進(jìn)行比較。由此,就能夠確定結(jié)合到試棒上的分析物。
實(shí)施例本發(fā)明試棒的制造如下所述(見圖1)。制備尺寸為80mm×9mm×25mm的鋁帶101。將聚(四氟乙烯)絲網(wǎng)印刷到該帶的長表面上,形成膜102。該膜實(shí)際上覆蓋著整個(gè)表面,形成特征部位103的8個(gè)圓形孔(直徑2.4mm)除外。接著,將3-(甲基丙烯酰胺基)丙基三甲基氯化銨(15重量%)、N,N’-亞甲基-二丙烯酰胺(0.4重量%)、(-)-核黃素(0.01重量%)和過硫酸銨(0.2重量%)的水溶液沉積到每個(gè)孔上(每個(gè)孔上0.5μL)。然后,該帶用近紫外光曝光系統(tǒng)(Hg短弧燈,365nm的20mW/cm2)照射5分鐘。這使孔中的試棒表面能夠結(jié)合具有銨官能團(tuán)的分析物。用氯化鈉(1M)溶液洗滌表面一次,用去離子水洗滌兩次后,試棒就可備用。
本發(fā)明提供新型的氣相離子檢測(cè)器用的試棒,它表面上具有可結(jié)合樣品的膜。雖然提供了特定的實(shí)施例,但是上述描述僅是說明性的,并不限制本發(fā)明。閱讀本文后,本行業(yè)內(nèi)的普通技術(shù)人員會(huì)明白可有許多種變化。因此,本發(fā)明的范圍不應(yīng)當(dāng)由上述說明限定,而應(yīng)當(dāng)由所附權(quán)利要求及其等效的內(nèi)容所限定。
在本文中引述的所有文獻(xiàn)和專利的內(nèi)容參考結(jié)合于此,各文獻(xiàn)或?qū)@募际菃为?dú)表示的。通過本文中引述各種文獻(xiàn),本申請(qǐng)人并不認(rèn)可任何具體文獻(xiàn)是所述發(fā)明的“現(xiàn)有技術(shù)”。
權(quán)利要求
1.一種試棒,它能夠可抽出地插入氣相離子探測(cè)器中,該試棒包括a)具有適于將分析物呈現(xiàn)給電離源的表面的基底,b)一層覆蓋所述表面的膜,所述的膜i)具有至少一個(gè)將基底表面露出的孔,該孔界定著施加含分析物的液體的特征部位,ii)具有120°-180°的水接觸角,iii)表面張力比基底表面的小,因此,施加到特征部位上的液體可結(jié)合在特征部位內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的試棒,其中所述的膜包括全氟烴、鹵代烴、脂族烴、芳族烴、聚硅烷、有機(jī)硅烷或它們的組合。
3.如權(quán)利要求1所述的試棒,其中所述的膜包括全氟烴。
4.如權(quán)利要求1所述的試棒,其中所述的膜有許多個(gè)規(guī)則排列的孔。
5.如權(quán)利要求1所述的試棒,其中所述的膜能導(dǎo)電。
6.如權(quán)利要求2所述的試棒,其中所述的基底表面包含金屬。
7.如權(quán)利要求2所述的試棒,其中有一種含有結(jié)合官能團(tuán)的吸收劑結(jié)合到特征部位上。
8.一種系統(tǒng),它包括a)有進(jìn)口的氣相離子檢測(cè)器,b)插入該進(jìn)口內(nèi)的權(quán)利要求1所述的試棒。
9.如權(quán)利要求8所述的系統(tǒng),其中所述的氣相離子檢測(cè)器是質(zhì)譜儀。
10.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng),其中所述的質(zhì)譜儀是激光解吸質(zhì)譜儀。
11.一種檢測(cè)分析物的方法,它包括a)將分析物置于權(quán)利要求的試棒的表面的特征部位上;b)將試棒插入氣相離子檢測(cè)器的進(jìn)口,該檢測(cè)器包括i)從試棒表面上將分析物解吸進(jìn)入氣相并電離分析物的電離源,ii)與試棒表面連通的檢測(cè)解吸離子的離子檢測(cè)器;c)用電離源解吸并電離分析物,d)用離子檢測(cè)器檢測(cè)經(jīng)電離的分析物。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,其中所述的氣相離子檢測(cè)器是質(zhì)譜儀。
13.如權(quán)利要求12所述的方法,其中所述的質(zhì)譜儀是激光解吸質(zhì)譜儀。
全文摘要
本發(fā)明提供質(zhì)譜儀用的樣品支架,它包括具有一表面的基底和覆蓋該表面的膜。所述膜上有一些孔,用來界定顯現(xiàn)分析物的特征部位。所述膜的表面張力比基底表面低,它的水接觸角為120-180°。
文檔編號(hào)H01J49/04GK1359532SQ00806375
公開日2002年7月17日 申請(qǐng)日期2000年4月27日 優(yōu)先權(quán)日1999年4月29日
發(fā)明者J·比徹, F·朔伊費(fèi)倫, K·沃沃多夫, S·溫伯格, W·C·蘭格拉夫 申請(qǐng)人:賽弗根生物系統(tǒng)股份有限公司