[0024]【附圖說(shuō)明】:
圖1為現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)光模塊測(cè)試框架示意圖。
[0025]圖2為本發(fā)明實(shí)施例1中對(duì)光模塊測(cè)試框架示意圖。
[0026]圖3為本發(fā)明實(shí)施例2中對(duì)光模塊測(cè)試框架示意圖。
[0027]圖4為本發(fā)明實(shí)施例中各個(gè)光模塊某一時(shí)刻測(cè)試示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實(shí)施例，凡基于本
【發(fā)明內(nèi)容】
所實(shí)現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。
實(shí)施例1:如圖2所示，本實(shí)施例提供一種光模塊多通道并行測(cè)試系統(tǒng)，包括，測(cè)試板模塊2，包括協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊21及16個(gè)待測(cè)試光模塊接口，所述待測(cè)試光模塊接口均連接一待測(cè)試光模塊22 ;所述協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊21用于將接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為與對(duì)應(yīng)待測(cè)試光模塊22相匹配的通訊協(xié)議，所述協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊21還將轉(zhuǎn)換后的所述測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送至對(duì)應(yīng)待測(cè)試光模塊22 ;
光源4，通過(guò)1*16光開(kāi)關(guān)與所述16個(gè)待測(cè)試光模塊22連接并為各個(gè)待測(cè)試光模塊提供光；
本實(shí)施例中有三種光學(xué)測(cè)試設(shè)備3，分別為一臺(tái)示波器、一臺(tái)誤碼儀和一臺(tái)光譜儀(應(yīng)注意的是，所示光學(xué)測(cè)試設(shè)備的種類(lèi)及臺(tái)數(shù)可以根據(jù)需求而設(shè)置，如在另外一些實(shí)施例中光學(xué)測(cè)試設(shè)備還可以包括信號(hào)發(fā)生器，而在另外一些實(shí)施例中，光學(xué)測(cè)試設(shè)備3可以同時(shí)包括2臺(tái)示波器、3臺(tái)誤碼儀、4臺(tái)光譜儀及7臺(tái)信號(hào)發(fā)生器);本實(shí)施例中，所述光學(xué)測(cè)試設(shè)備3均為通過(guò)1*16光開(kāi)關(guān)與所述16個(gè)待測(cè)試光模塊22連接(一些實(shí)施例中，各個(gè)光學(xué)測(cè)試設(shè)備3可以分別單獨(dú)通過(guò)1*1光開(kāi)關(guān)與各個(gè)待測(cè)試光模塊22連接)，用于對(duì)所述待測(cè)試光模塊22進(jìn)行性能測(cè)試；其中，示波器用來(lái)測(cè)試光口和電口的眼圖參數(shù)。測(cè)光口時(shí)，輸入到光口的光強(qiáng)度和實(shí)際模塊的光強(qiáng)度差異不能太大。所以直接將光開(kāi)關(guān)的輸出端接到示波器光口。測(cè)試電眼圖時(shí)，將測(cè)試板的電信號(hào)直接接到示波器的電口輸入端。多個(gè)模塊的RX信號(hào)可以通過(guò)外接電開(kāi)關(guān)或者電開(kāi)關(guān)芯片進(jìn)行切換。連接方式和光開(kāi)關(guān)一致。測(cè)試項(xiàng)目主要有:ER，Crossing Point, Jitter 等。
[0029]光功率計(jì)和光譜儀的輸入口，可以直接接到光開(kāi)關(guān)的輸出端，如果光開(kāi)關(guān)輸出端數(shù)量有限，可以通過(guò)分光器進(jìn)行分路處理，如圖1。光功率主要測(cè)試模塊發(fā)光強(qiáng)度，實(shí)際測(cè)試值和真實(shí)值需要進(jìn)行校正。光譜儀主要測(cè)試光信號(hào)的SMSR等。
[0030]誤碼儀用來(lái)測(cè)試模塊的靈敏度。
[0031]上位機(jī)1，同時(shí)與所述測(cè)試板模塊2及光學(xué)測(cè)試設(shè)備3連接，所述上位機(jī)I通過(guò)控制各個(gè)光開(kāi)關(guān)的通斷(本實(shí)施例中因?yàn)楣忾_(kāi)關(guān)為1*16光開(kāi)關(guān)，因此上位機(jī)實(shí)際控制的為各個(gè)1*16光開(kāi)關(guān)不同通道的通斷)及發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)控制所述16個(gè)待測(cè)試光模塊22進(jìn)行性能測(cè)試，應(yīng)注意的是，圖1中未顯示上位機(jī)I與各個(gè)光開(kāi)關(guān)的連接關(guān)系。本實(shí)施例中，所述上位機(jī)I通過(guò)不同的端口向不同的待測(cè)試光模塊22發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)；同時(shí)所述協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊21通過(guò)辨認(rèn)上位機(jī)I發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)的端口判斷該測(cè)試數(shù)據(jù)的目標(biāo)待測(cè)試光模塊22，如來(lái)自8080端口號(hào)的測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)給第5個(gè)待測(cè)試光模塊22，將來(lái)自8081端口號(hào)的測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)發(fā)給第6個(gè)待測(cè)試光模塊22 ;另外一些實(shí)施例中，所述上位機(jī)I通過(guò)一個(gè)端口向不同的待測(cè)試光模塊22發(fā)送測(cè)試數(shù)據(jù)，并在測(cè)試數(shù)據(jù)中包含目標(biāo)待測(cè)試光模塊22的標(biāo)識(shí)；所述協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊21通過(guò)辨認(rèn)測(cè)試數(shù)據(jù)中的標(biāo)識(shí)判斷該測(cè)試數(shù)據(jù)的目標(biāo)待測(cè)試光模塊22。
[0032]另外，所述上位機(jī)還對(duì)光學(xué)測(cè)試設(shè)備21進(jìn)行直接控制，從而獲得測(cè)試數(shù)據(jù)；如，測(cè)眼圖時(shí)，上位機(jī)給示波器下達(dá)測(cè)試眼圖的指令.測(cè)試光功率時(shí)，上位機(jī)給光功率計(jì)下達(dá)測(cè)試功率的指令，并將測(cè)試值返回到上位機(jī)。
[0033]進(jìn)一步的，本實(shí)施例中，所述測(cè)試板模塊2還設(shè)置有與所述待測(cè)試光模塊22 —一對(duì)應(yīng)的光提示模塊(圖1中未顯示)；所述光提示模塊通過(guò)不同顏色的指示燈區(qū)分所述待測(cè)試光模塊的測(cè)試狀態(tài)，如綠色指示燈表示對(duì)應(yīng)待測(cè)試光模塊22正在測(cè)試，黃色指示燈表示對(duì)應(yīng)待測(cè)試光模塊22測(cè)試結(jié)束。本實(shí)施例中所述測(cè)試狀態(tài)包括測(cè)試前狀態(tài)、測(cè)試隊(duì)列等待狀態(tài)、測(cè)試中狀態(tài)及測(cè)試結(jié)束狀態(tài)，。
[0034]進(jìn)一步的，所述待測(cè)試光模塊22為通過(guò)熱插拔方式與所述待測(cè)試光模塊接口連接，所述協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊21通過(guò)所述待測(cè)試光模塊接口向待測(cè)試光模塊22發(fā)送信息。本實(shí)施例中，所述待測(cè)試光模塊22為通過(guò)USB連接的方式與所述協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊21連接；而在另外一些實(shí)施例中也可采用網(wǎng)口或串口方式將所述待測(cè)試光模塊22與所述協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊21連接。
[0035]本實(shí)施例中，假設(shè)每個(gè)光模塊把每項(xiàng)性能測(cè)試做完需要160s，其中瓶頸環(huán)節(jié)為光口眼圖測(cè)試(應(yīng)用示波器進(jìn)行測(cè)試)需要30s，而現(xiàn)有技術(shù)中更換不同光模塊時(shí)間為15s，則意味著采用現(xiàn)有技術(shù)中的單通道測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試:測(cè)試一個(gè)模塊需要:175s，其中，示波器利用率:30/175xl00%，為 17.1% ;人員利用率:15/175 xlOO%，為 8.55%。
[0036]圖4為本實(shí)施例中同時(shí)對(duì)16個(gè)待測(cè)試光模塊22進(jìn)行性能測(cè)試的示意圖，圖中通道I表示第I個(gè)待測(cè)試光模塊22，通道4表示第4個(gè)待測(cè)試光模塊，通道14表示第14個(gè)待測(cè)試光模塊22，通道1、通道4、通道14從上往下依次排列表示三個(gè)待測(cè)四光模塊在排隊(duì)等待使用示波器，這樣示波器及人員的利用率理論可以達(dá)到100%。
[0037]實(shí)施例2:—些實(shí)施例中，還可以通過(guò)增加光分光器的方式進(jìn)一步來(lái)增加接入的待測(cè)試光模塊或光學(xué)測(cè)試設(shè)備3的數(shù)量，如通過(guò)2*N光開(kāi)關(guān)和多路分光器配合使用。
[0038]如圖3所示，本實(shí)施例中，同樣有16個(gè)待測(cè)試光模塊22，而光學(xué)測(cè)試設(shè)備3包括示波器、光譜儀及光功率計(jì)，所述待測(cè)試光模塊22分別與一 2*16光開(kāi)關(guān)的16路輸入端連接，該2*16光開(kāi)關(guān)的一路輸出端與不波器連接，而另一路輸出端通過(guò)一 1*2分光器分別與光譜儀及光功率計(jì)連接，這種連接方式無(wú)疑會(huì)更加節(jié)省開(kāi)關(guān)器件。另外，在需要的情況下，所述16個(gè)待測(cè)試光模塊同樣可以采用如實(shí)施例1的方式另外通過(guò)一個(gè)個(gè)1*16光開(kāi)關(guān)連接一個(gè)誤碼儀(圖3中未顯示與誤碼儀連接的光開(kāi)關(guān))。
[0039]應(yīng)注意的是，采用光開(kāi)關(guān)與多路分光器配合使用作為待測(cè)試光模塊22與光學(xué)測(cè)試設(shè)備3的連接中介具有多種形式，需要根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行配置，并不僅限于上述情況。
[0040]實(shí)施例3:本發(fā)明同時(shí)提供一種光模塊多通道并行測(cè)試方法，包括，
上位機(jī)I將兩個(gè)以上的待測(cè)試光模塊的測(cè)試數(shù)據(jù)以通信協(xié)議的方式統(tǒng)一發(fā)送至協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊，所述協(xié)議轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)發(fā)模塊將接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為與各個(gè)待測(cè)試光模塊相匹配的通訊協(xié)議并將所述測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)送至對(duì)應(yīng)待測(cè)試光模塊22 ;
所述兩個(gè)以上的待測(cè)試光模塊22與光學(xué)測(cè)試設(shè)備3及光源4之間通過(guò)光開(kāi)關(guān)連接；上位機(jī)通過(guò)控制光開(kāi)關(guān)的通斷及測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)任意時(shí)刻同一光學(xué)測(cè)試設(shè)備只與一個(gè)待測(cè)試光模塊接通并對(duì)其進(jìn)行性能測(cè)試；
進(jìn)一步的，所述光學(xué)測(cè)試設(shè)備3為示波器、誤碼儀、信號(hào)發(fā)生器和/或光譜儀；即所述光學(xué)測(cè)試設(shè)備可以是示波器、誤碼儀、信號(hào)發(fā)生器及光譜儀中的一種或幾種或全部，且每種光學(xué)測(cè)試設(shè)備的數(shù)量可以根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整，如可以同時(shí)有2臺(tái)示波器、I臺(tái)誤碼儀、3臺(tái)信號(hào)發(fā)生器及4臺(tái)光譜儀等(數(shù)量?jī)H為列舉，不代表任何限定)。
[0041]進(jìn)一步的，所述兩個(gè)以上的待測(cè)試光模塊22分別通過(guò)1*N光開(kāi)關(guān)或2*N光開(kāi)關(guān)與所述光源及光學(xué)測(cè)試設(shè)備連接#大于或等于所述待測(cè)試光模塊22數(shù)量，如，允許使用1*16光開(kāi)關(guān)，但同時(shí)只對(duì)10個(gè)待測(cè)試光模塊22進(jìn)行性能測(cè)試。
[0042]上位機(jī)通過(guò)控制各個(gè)1*N光開(kāi)關(guān)各路輸入輸出的通斷/切換實(shí)現(xiàn)待測(cè)試光模塊22與光源4、示波器或其他光學(xué)測(cè)試設(shè)備3的接通、關(guān)斷。