一種光模塊多通道并行測試系統(tǒng)及方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及光模塊測試領域，特別涉及一種光模塊多通道并行測試系統(tǒng)及方法。
【背景技術】
[0002]在當前光模塊測試領域，通常的測試模式為:由一臺上位機(一般為電腦)通過中間轉接板(也可稱之為協(xié)議轉換轉發(fā)模塊，其負責將上位機發(fā)送的協(xié)議轉換為待測試光模塊可以識別的協(xié)議，如RS232轉IIC、USB轉IIC等)向待測試光模塊發(fā)送測試數(shù)據；這種測試方式的缺點為:每次僅將一個待測試光模塊與上位機連接，而在一個待測試光模塊測試完畢后，需人工將該待測試光模塊取下，再將下一塊待測試光模塊與上位機連接，才能進行后續(xù)的測試；而在更換待測試光模塊的這段時間，會造成另外外圍測試設備(如示波器)會一直等待狀態(tài)，這無疑造成了測試設備資源的浪費；同時，相對于待測試光模塊與測試設備之間的通訊速度，上位機與待測試光模塊之間的通信速度相對較慢(以IIC通信接口為例，最大的傳輸速度只能達到400kbit/s)，這也會造成這造成在測試過程中測試設備(尤其是進行光眼圖測試的示波器)經常處于等待狀態(tài)，特別的，當同一個上位機連接多個設備時，其中一個設備正在使用時，其他的設備必須等待，造成測試設備資源浪費；這都造成了整個光模塊測試效率的低下。

【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有測試方式中外圍測試設備(如示波器)經常處于等待狀態(tài)而造成的測試效率低下的問題，提供一種可以同時向兩個以上的光模塊發(fā)送測試數(shù)據，以使得各個待測試光模塊可以無間隔利用外圍測試設備進行測試的光模塊多通道并行測試系統(tǒng)
為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明提供了以下技術方案:
一種光模塊多通道并行測試系統(tǒng)，包括，
測試板模塊，包括協(xié)議轉換轉發(fā)模塊及兩個以上的待測試光模塊接口 ；所述待測試光模塊接口用于連接待測試光模塊，每個所述待測試光模塊接口均可連接一待測試光模塊；所述協(xié)議轉換轉發(fā)模塊用于將接收到的測試數(shù)據轉換為接收到的上位機通信接口協(xié)議(該協(xié)議中包含著各個待測試光模塊的測試數(shù)據)與對應待測試光模塊相匹配的通訊協(xié)議，所述協(xié)議轉換轉發(fā)模塊還將轉換后的所述測試數(shù)據發(fā)送至對應待測試光模塊；
光源，通過光開關與待測試光模塊連接并為各個待測試光模塊提供光；
至少一臺光學測試設備，通過光開關(某些實施例中還包括分光器)與所述兩個以上待測試光模塊連接，用于對所述待測試光模塊進行性能測試；
上位機，同時與所述測試板模塊及光學測試設備連接，所述上位機根據測試流程對兩個以上待測試光模塊進行讀寫操作。所述上位機還通過控制光開關的通斷/切換(與上述的對待測試光模塊進行讀寫操作發(fā)送測試數(shù)據共同作用)控制所述兩個以上的待測試光模塊進行性能測試。
[0004]進一步的，所述光學測試設備為示波器、誤碼儀、信號發(fā)生器和/或光譜儀，其中，示波器用來測試光口和電口的眼圖參數(shù)。測光口時，輸入到光口的光強度和實際模塊的光強度差異不能太大。所以直接將光開關的輸出端接到示波器光口。測試電眼圖時，將測試板的電信號直接接到示波器的電口輸入端。多個模塊的RX信號可以通過外接電開關或者電開關芯片進行切換。連接方式和光開關一致。測試項目主要有:ER，Crossing Point，Jitter 等。
[0005]光功率計和光譜儀的輸入口，可以直接接到光開關的輸出端，如果光開關輸出端數(shù)量有限，可以通過分光器進行分路處理，如圖1。光功率主要測試模塊發(fā)光強度，實際測試值和真實值需要進行校正。光譜儀主要測試光信號的SMSR等。
[0006]誤碼儀用來測試模塊的靈敏度。
[0007]進一步的，所述兩個以上的待測試光模塊分別通過1*N光開關或2*N光開關與所述光源及光學測試設備連接；N大于或等于所述待測試光模塊數(shù)量；
進一步的，所述測試板模塊還設置有與所述待測試光模塊一一對應的聲提示模塊或光提示模塊；所述聲提示模塊通過不同的聲音區(qū)分所述待測試光模塊的測試狀態(tài)；所述光提示模塊通過不同顏色的指示燈區(qū)分所述待測試光模塊的測試狀態(tài)。
[0008]進一步的，所述測試狀態(tài)包括測試前狀態(tài)、測試隊列等待狀態(tài)、測試中狀態(tài)及測試結束狀態(tài)。
[0009]進一步的，待測試光模塊接口與所述待測試光模塊為電氣連接。
[0010]進一步的，待測試光模塊接口與所述待測試光模塊為熱插拔方式連接。
[0011]進一步的，上位機與協(xié)議轉換轉發(fā)模塊通過網口連接、USB連接或串口連接。
[0012]進一步的，所述上位機通過不同的通信端口向不同的待測試光模塊發(fā)送測試數(shù)據；同時所述協(xié)議轉換轉發(fā)模塊通過辨認上位機發(fā)送測試數(shù)據的端口判斷該測試數(shù)據的目標待測試光模塊。
進一步的，所述上位機通過同一通信端口向不同的待測試光模塊發(fā)送測試數(shù)據，并在測試數(shù)據中包含目標待測試光模塊的標識；所述協(xié)議轉換轉發(fā)模塊通過辨認測試數(shù)據中的標識判斷該測試數(shù)據的目標待測試光模塊。
[0013]優(yōu)選的，所述測試板模塊中包含8個、16個或32個待測試光模塊。
[0014]本發(fā)明同時提供一種光模塊多通道并行測試方法，包括，
上位機將兩個以上的待測試光模塊的測試數(shù)據統(tǒng)一發(fā)送至協(xié)議轉換轉發(fā)模塊，所述協(xié)議轉換轉發(fā)模塊將接收到的測試數(shù)據轉換為與各個待測試光模塊相匹配的通訊協(xié)議并將所述測試數(shù)據發(fā)送至對應待測試光模塊；
所述兩個以上的待測試光模塊與光學測試設備及光源之間通過光開關連接；上位機通過控制光開關的通斷及測試數(shù)據實現(xiàn)任意時刻同一光學測試設備只與一個待測試光模塊接通并對其進行性能測試；
進一步的，所述光學測試設備為示波器、誤碼儀、信號發(fā)生器和/或光譜儀；即所述光學測試設備可以是示波器、誤碼儀、信號發(fā)生器及光譜儀中的一種或幾種或全部，且每種光學測試設備的數(shù)量可以根據需要進行調整，如可以同時有2臺示波器、I臺誤碼儀、3臺信號發(fā)生器及4臺光譜儀等(數(shù)量僅為列舉，不代表任何限定)。
[0015]進一步的，所述兩個以上的待測試光模塊分別通過1*N光開關與所述光源及光學測試設備連接；N大于或等于所述待測試光模塊數(shù)量；
上位機通過控制各個1*N光開關各路輸入輸出的通斷實現(xiàn)待測試光模塊與光源、示波器或其他光學設備的接通、關斷。
[0016]進一步的，本方法通過光提示方式或聲提示方式對各個待測試光模塊的測試狀態(tài)進行提示；所述聲提示方式指通過不同的聲音區(qū)分待測試光模塊的測試狀態(tài)；所述光提示方式指通過不同顏色的指示燈區(qū)分待測試光模塊的測試狀態(tài)。
[0017]進一步的，所述測試狀態(tài)包括測試前狀態(tài)、測試隊列等待狀態(tài)、測試中狀態(tài)及測試結束狀態(tài)。
[0018]進一步的，待測試光模塊接口與所述待測試光模塊為電氣連接。
[0019]進一步的，待測試光模塊接口與所述待測試光模塊為熱插拔方式連接。
[0020]進一步的，所述上位機與協(xié)議轉換轉發(fā)模塊通過網口連接、USB連接或串口連接。
[0021]進一步的，所述上位機通過不同的端口向不同的待測試光模塊發(fā)送測試數(shù)據；同時所述協(xié)議轉換轉發(fā)模塊通過辨認上位機發(fā)送測試數(shù)據的端口判斷該測試數(shù)據的目標待測試光模塊。
[0022]進一步的，所述上位機通過一個端口向不同的待測試光模塊發(fā)送測試數(shù)據，并在測試數(shù)據中包含目標待測試光模塊的標識；所述協(xié)議轉換轉發(fā)模塊通過辨認測試數(shù)據中的標識判斷該測試數(shù)據的目標待測試光模塊。
[0023]與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供的多通道并行測試系統(tǒng)及方法可實現(xiàn)同時對多個待測試光模塊進行性能測試，可通過上位機切換不同的待測試光模塊利用不同的測試設備完成不同的性能測試，使得測試設備和人員利用率理論上可以達到100%，大大提高了測試效率。