一種光模塊測試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了光模塊測試系統(tǒng)及方法，系統(tǒng)包括至少兩個測試板，用于安裝待測光模塊，在進行測試時任意一個測試板向所述服務(wù)器發(fā)送訪問所述測試儀器的訪問請求；服務(wù)器，用于當(dāng)接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。本發(fā)明提高測試儀器使用率，減少測試資源浪費，提高光模塊測試效率從而提高生產(chǎn)效率。
【專利說明】一種光模塊測試系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及光模塊測試領(lǐng)域，特別涉及一種光模塊測試系統(tǒng)及方法。

【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的光模塊測試時，通常在一個測試平臺上設(shè)置多個測試儀器，在進行多個光模塊測試時，測試平臺上的多個測試儀器無法合理分配，測試儀器整體的利用率非常低，浪費測試儀器資源，影響光模塊生產(chǎn)效率。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的上述不足，提供一種光模塊測試系統(tǒng)及方法，以提高測試儀器使用率，減少測試資源浪費，提高光模塊測試效率從而提高生產(chǎn)效率。
[0004]為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種光模塊測試系統(tǒng)，包括至少兩個測試板，所述至少兩個測試板各自均連接至服務(wù)器，所述服務(wù)器連接有測試儀器、光開光和/或電開關(guān)，所述光開光和/或電開關(guān)分別與所述測試儀器連接，所述至少兩個測試板各自均連接到所述光開光和/或電開關(guān)；
所述至少兩個測試板，用于安裝待測光模塊，在進行測試時任意一個測試板向所述服務(wù)器發(fā)送訪問所述測試儀器的訪問請求；
所述服務(wù)器，用于當(dāng)接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。
[0005]優(yōu)選的，所述至少兩個測試板還用于在測試前分別向所述服務(wù)器發(fā)送注冊請求，所述服務(wù)器根據(jù)所述注冊請求為每個所述測試板分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道，并存儲每個測試板與所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道之間的對應(yīng)關(guān)系。
[0006]優(yōu)選的，所述服務(wù)器還用于當(dāng)接收到所述訪問請求后，判斷發(fā)送所述訪問請求的測試板是否已經(jīng)分配了所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的相應(yīng)通道，若否，則為其分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的對應(yīng)通道并關(guān)聯(lián)存儲。
[0007]優(yōu)選的，所述光開光和/或電開關(guān)上的每個通道具有唯一識別信息，所述至少兩個測試板分別連接到所述光開光和/或電開關(guān)上的一個通道。
[0008]優(yōu)選的，所述光開關(guān)和/或電開關(guān)為程控的光開光和/或電開關(guān)。
[0009]優(yōu)選的，所述測試儀器為物理實體測試儀器或虛擬測試儀器。
[0010]優(yōu)選的，每個所述測試板具有電接口和/或光接口，每個所述測試板通過所述電接口連接所述電開關(guān)，通過所述光接口連接所述光開關(guān)。
[0011]本發(fā)明還提供一種光模塊測試方法，應(yīng)用上所的光模塊測試系統(tǒng)進行測試，包括如下步驟:所述至少兩個測試板在進行測試時任意一個測試板向所述服務(wù)器發(fā)送訪問所述測試儀器的訪問請求；所述服務(wù)器當(dāng)接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。
[0012]優(yōu)選的，所述至少兩個測試板在測試前分別向所述服務(wù)器發(fā)送注冊請求，所述服務(wù)器根據(jù)所述注冊請求為每個所述測試板分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道，并存儲每個測試板與所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道之間的對應(yīng)關(guān)系。
[0013]優(yōu)選的，該方法還包括:當(dāng)所述服務(wù)器接收到所述訪問請求后，判斷發(fā)送所述訪問請求的測試板是否已經(jīng)分配了所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的相應(yīng)通道，若否，則為其分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的對應(yīng)通道并關(guān)聯(lián)存儲。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果:
本發(fā)明測試時，測試板向服務(wù)器發(fā)送訪問測試儀器的訪問請求，服務(wù)器接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，之后就可對待測光模塊進行相應(yīng)測試。如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。由于測試儀器資源由服務(wù)器統(tǒng)一管理，整個過程采用競爭機制，就是當(dāng)前共享的測試儀器如果空閑，測試板中誰先請求誰先獲取，而非隊列等待。測試板得到分配使用測試儀器后完成相應(yīng)的測試，這樣就提高了測試儀器的使用率，及時分配測試儀器資源，減少測試資源浪費，提高光模塊測試效率從而提高生產(chǎn)效率。
[0014]【專利附圖】

【附圖說明】:
圖1是本發(fā)明實施例中的光模塊測試系統(tǒng)示意圖。

【具體實施方式】
[0015]下面結(jié)合【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步的詳細描述。但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實施例，凡基于本
【發(fā)明內(nèi)容】
所實現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。
[0016]如圖1所示的光模塊測試系統(tǒng)，包括至少兩個用于安裝待測光模塊的測試板，所述至少兩個測試板各自均連接至服務(wù)器，所述服務(wù)器連接有測試儀器、光開光和/或電開關(guān)，所述光開光和/或電開關(guān)分別與所述測試儀器連接，所述至少兩個測試板各自均連接到所述光開光和/或電開關(guān)。本實施例中以兩個測試板為例說明，圖中僅示出2個測試板，不用于限定本發(fā)明。
[0017]具體的，所述光開光和電開關(guān)是可選的，根據(jù)測試儀器種類選擇，可以使單個光開關(guān)或單個電開關(guān)，也可是同時具有光開光和電開關(guān)，本實施例中以同時具有光開光和電開關(guān)為例說明。本實施例中所述光開光和電開關(guān)上的每個通道具有唯一識別信息，服務(wù)器可根據(jù)該識別信息監(jiān)測每個通道的使用情況(打開或關(guān)閉)，不至于混淆各個通道，監(jiān)測結(jié)果準(zhǔn)確無誤可靠性高，所述至少兩個測試板分別連接到所述光開光和電開關(guān)上的一個通道，每個測試板對應(yīng)光開關(guān)或電開關(guān)上的一個通道從而通過相應(yīng)開關(guān)與測試儀器連接。所述光開關(guān)和電開關(guān)均為程控的多通道光開光和電開關(guān)。所述測試儀器為物理實體測試儀器或虛擬測試儀器，測試儀器可以是示波器、光功率計或其他任何光模塊測試用的測試儀器。每個所述測試板具有電接口和/或光接口，每個所述測試板通過在所述電接口連接電路線纜再連接至所述電開關(guān)，和/或通過在所述光接口連接光纖再連接至所述光開關(guān)，從而實現(xiàn)測試板與測試儀器電路和/或光路的連通，方便后續(xù)測試進行。測試板通過PC機與與服務(wù)器通信，PC機執(zhí)行相應(yīng)測試程序(如光功率測試)完成光模塊的測試，同時測試板上設(shè)有插接待測光模塊的標(biāo)準(zhǔn)插座或接口(如SFP、SFP+、CSFP標(biāo)準(zhǔn)插座、接口等)以及相應(yīng)的電路和/或光路實現(xiàn)待測光模塊與測試板的連接。測試板上的各個器件均為現(xiàn)有技術(shù)中的成熟產(chǎn)品，不再詳述。
[0018]具體測試時，測試板在進行測試時任意一個測試板向所述服務(wù)器發(fā)送訪問所述測試儀器的訪問請求；所述服務(wù)器，用于當(dāng)接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，由測試板和PC機完成后續(xù)測試。如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。整個過程采用競爭機制，就是當(dāng)前共享的測試儀器如果空閑，測試板中誰先請求誰先獲取，而非隊列等待。
[0019]所述服務(wù)器檢測所述測試儀器是否被另外的測試板占用而在使用中，即通過所述光開光和電開關(guān)上每個通道的唯一識別信息監(jiān)測每個通道的使用情況，若所述光開光或電開關(guān)上有任何一個通道處于打開狀態(tài)則測試儀器正在使用，否則測試儀器空閑未使用。若所述測試儀器未在使用中，服務(wù)器則控制所述光開光和電開關(guān)打開相應(yīng)的通道實現(xiàn)所述發(fā)送所述訪問請求的測試板與所述測試儀器的連接。若所述測試儀器在使用中，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。
[0020]本發(fā)明測試時，測試板向服務(wù)器發(fā)送訪問測試儀器的訪問請求，服務(wù)器接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，之后就可對待測光模塊進行相應(yīng)測試。如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。由于測試儀器資源由服務(wù)器統(tǒng)一管理，整個過程采用競爭機制，就是當(dāng)前共享的測試儀器如果空閑，測試板中誰先請求誰先獲取，而非隊列等待。測試板得到分配使用測試儀器后完成相應(yīng)的測試，這樣就提高了測試儀器的使用率，及時分配測試儀器資源，減少測試資源浪費，提高光模塊測試效率從而提高生產(chǎn)效率。
[0021]優(yōu)選的，測試板在測試前分別向所述服務(wù)器發(fā)送注冊請求，所述服務(wù)器根據(jù)所述注冊請求為每個所述測試板分配所述光開關(guān)和電開關(guān)的不同通道，并存儲每個測試板與所述光開關(guān)和電開關(guān)的不同通道之間的對應(yīng)關(guān)系，每個通道具有唯一識別信息，故該對應(yīng)關(guān)系也是唯一的。也就說測試前，測試板已經(jīng)在服務(wù)器端注冊，服務(wù)器端已知每個測試板自身使用所述光開光和電開關(guān)上的哪一個通道來連接測試儀器。那么在后續(xù)測試時，服務(wù)器可根據(jù)每個通道的唯一識別信息判斷通道的使用狀態(tài)從而判斷測試儀器是否被占用，便于及時分配測試儀器資源，提高利用率。
[0022]進一步的，所述服務(wù)器當(dāng)接收到所述訪問請求后，判斷發(fā)送所述訪問請求的測試板是否已經(jīng)分配了所述光開關(guān)和電開關(guān)的相應(yīng)通道，若否，則為其分配所述光開關(guān)和電開關(guān)的對應(yīng)通道并關(guān)聯(lián)存儲。也就是說，該測試系統(tǒng)可以不斷擴展，當(dāng)一個新的測試板加入系統(tǒng)后，需要重新注冊獲得自身測試時需要連接測試儀器時使用所述光開光和電開關(guān)的通道，這樣便于更大規(guī)模的測試。
[0023]基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實施例還提供一種光模塊測試方法，應(yīng)用上述圖1所示的光模塊測試系統(tǒng)進行測試，包括如下步驟:
所述至少兩個測試板在進行測試時任意一個測試板向所述服務(wù)器發(fā)送訪問所述測試儀器的訪問請求；所述服務(wù)器當(dāng)接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。
[0024]優(yōu)選的，所述至少兩個測試板在測試前分別向所述服務(wù)器發(fā)送注冊請求，所述服務(wù)器根據(jù)所述注冊請求為每個所述測試板分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道，并存儲每個測試板與所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道之間的對應(yīng)關(guān)系。
[0025]優(yōu)選的，當(dāng)所述服務(wù)器接收到所述訪問請求后，判斷發(fā)送所述訪問請求的測試板是否已經(jīng)分配了所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的相應(yīng)通道，若否，則為其分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的對應(yīng)通道并關(guān)聯(lián)存儲。
[0026]本實施例中以兩個測試板為例說明，具體的，所述光開光和電開關(guān)是可選的，根據(jù)測試儀器種類選擇，可以使單個光開關(guān)或單個電開關(guān)，也可是同時具有光開光和電開關(guān)，本實施例中以同時具有光開光和電開關(guān)為例說明。本實施例中所述光開光和電開關(guān)上的每個通道具有唯一識別信息，服務(wù)器可根據(jù)該識別信息監(jiān)測每個通道的使用情況(打開或關(guān)閉)，不至于混淆各個通道，監(jiān)測結(jié)果準(zhǔn)確無誤可靠性高，所述至少兩個測試板分別連接到所述光開光和電開關(guān)上的一個通道，每個測試板對應(yīng)光開關(guān)或電開關(guān)上的一個通道從而通過相應(yīng)開關(guān)與測試儀器連接。所述光開關(guān)和電開關(guān)均為程控的多通道光開光和電開關(guān)。所述測試儀器為物理實體測試儀器或虛擬測試儀器，測試儀器可以是示波器、光功率計或其他任何光模塊測試用的測試儀器。每個所述測試板具有電接口和/或光接口，每個所述測試板通過在所述電接口連接電路線纜再連接至所述電開關(guān)，和/或通過在所述光接口連接光纖再連接至所述光開關(guān)，從而實現(xiàn)測試板與測試儀器電路和/或光路的連通，方便后續(xù)測試進行。測試板通過PC機與與服務(wù)器通信，PC機執(zhí)行相應(yīng)測試程序(如光功率測試)完成光模塊的測試，同時測試板上設(shè)有插接待測光模塊的標(biāo)準(zhǔn)插座或接口(如SFP、SFP+、CSFP標(biāo)準(zhǔn)插座、接口等)以及相應(yīng)的電路和/或光路實現(xiàn)待測光模塊與測試板的連接。測試板上的各個器件均為現(xiàn)有技術(shù)中的成熟產(chǎn)品，不再詳述。
[0027]具體測試時，測試板在進行測試時任意一個測試板向所述服務(wù)器發(fā)送訪問所述測試儀器的訪問請求；所述服務(wù)器，用于當(dāng)接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，由測試板和PC機完成后續(xù)測試。如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。整個過程采用競爭機制，就是當(dāng)前共享的測試儀器如果空閑，測試板中誰先請求誰先獲取，而非隊列等待。
[0028]所述服務(wù)器檢測所述測試儀器是否被另外的測試板占用而在使用中，即通過所述光開光和電開關(guān)上每個通道的唯一識別信息監(jiān)測每個通道的使用情況，若所述光開光或電開關(guān)上有任何一個通道處于打開狀態(tài)則測試儀器正在使用，否則測試儀器空閑未使用。若所述測試儀器未在使用中，服務(wù)器則控制所述光開光和電開關(guān)打開相應(yīng)的通道實現(xiàn)所述發(fā)送所述訪問請求的測試板與所述測試儀器的連接。若所述測試儀器在使用中，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。
[0029]本發(fā)明測試時，測試板向服務(wù)器發(fā)送訪問測試儀器的訪問請求，服務(wù)器接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，之后就可對待測光模塊進行相應(yīng)測試。如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。由于測試儀器資源由服務(wù)器統(tǒng)一管理，整個過程采用競爭機制，就是當(dāng)前共享的測試儀器如果空閑，測試板中誰先請求誰先獲取，而非隊列等待。測試板得到分配使用測試儀器后完成相應(yīng)的測試，這樣就提高了測試儀器的使用率，及時分配測試儀器資源，減少測試資源浪費，提高光模塊測試效率從而提高生產(chǎn)效率。
[0030]優(yōu)選的，測試板在測試前分別向所述服務(wù)器發(fā)送注冊請求，所述服務(wù)器根據(jù)所述注冊請求為每個所述測試板分配所述光開關(guān)和電開關(guān)的不同通道，并存儲每個測試板與所述光開關(guān)和電開關(guān)的不同通道之間的對應(yīng)關(guān)系，每個通道具有唯一識別信息，故該對應(yīng)關(guān)系也是唯一的。也就說測試前，測試板已經(jīng)在服務(wù)器端注冊，服務(wù)器端已知每個測試板自身使用所述光開光和電開關(guān)上的哪一個通道來連接測試儀器。那么在后續(xù)測試時，服務(wù)器可根據(jù)每個通道的唯一識別信息判斷通道的使用狀態(tài)從而判斷測試儀器是否被占用，便于及時分配測試儀器資源，提高利用率。
[0031]進一步的，所述服務(wù)器當(dāng)接收到所述訪問請求后，判斷發(fā)送所述訪問請求的測試板是否已經(jīng)分配了所述光開關(guān)和電開關(guān)的相應(yīng)通道，若否，則為其分配所述光開關(guān)和電開關(guān)的對應(yīng)通道并關(guān)聯(lián)存儲。也就是說，該測試系統(tǒng)可以不斷擴展，當(dāng)一個新的測試板加入系統(tǒng)后，需要重新注冊獲得自身測試時需要連接測試儀器時使用所述光開光和電開關(guān)的通道，這樣便于更大規(guī)模的測試。
[0032]上面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】進行了詳細說明，但本發(fā)明并不限制于上述實施方式，在不脫離本申請的權(quán)利要求的精神和范圍情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以作出各種修改或改型。
【權(quán)利要求】
1.一種光模塊測試系統(tǒng)，其特征在于，包括至少兩個測試板，所述至少兩個測試板各自均連接至服務(wù)器，所述服務(wù)器連接有測試儀器、光開光和/或電開關(guān)，所述光開光和/或電開關(guān)分別與所述測試儀器連接，所述至少兩個測試板各自均連接到所述光開光和/或電開關(guān); 所述至少兩個測試板，用于安裝待測光模塊，在進行測試時任意一個測試板向所述服務(wù)器發(fā)送訪問所述測試儀器的訪問請求； 所述服務(wù)器，用于當(dāng)接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光模塊測試系統(tǒng)，其特征在于，所述至少兩個測試板還用于在測試前分別向所述服務(wù)器發(fā)送注冊請求，所述服務(wù)器根據(jù)所述注冊請求為每個所述測試板分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道，并存儲每個測試板與所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道之間的對應(yīng)關(guān)系。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光模塊測試系統(tǒng)，其特征在于，所述服務(wù)器還用于當(dāng)接收到所述訪問請求后，判斷發(fā)送所述訪問請求的測試板是否已經(jīng)分配了所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的相應(yīng)通道，若否，則為其分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的對應(yīng)通道并關(guān)聯(lián)存儲。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光模塊測試系統(tǒng)，其特征在于，所述光開光和/或電開關(guān)上的每個通道具有唯一識別信息，所述至少兩個測試板分別連接到所述光開光和/或電開關(guān)上的一個通道。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的光模塊測試系統(tǒng),其特征在于,所述光開關(guān)和/或電開關(guān)為程控的光開光和/或電開關(guān)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的光模塊測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試儀器為物理實體測試儀器或虛擬測試儀器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的光模塊測試系統(tǒng)，其特征在于，每個所述測試板具有電接口和/或光接口，每個所述測試板通過所述電接口連接所述電開關(guān)，通過所述光接口連接所述光開關(guān)。
8.一種光模塊測試方法，其特征在于，應(yīng)用權(quán)利要求1所述的光模塊測試系統(tǒng)進行測試，包括如下步驟: 所述至少兩個測試板在進行測試時任意一個測試板向所述服務(wù)器發(fā)送訪問所述測試儀器的訪問請求； 所述服務(wù)器當(dāng)接收到所述訪問請求時，檢查所請求的所述測試儀器是否已經(jīng)被其他測試板占用，如果沒有被占用則根據(jù)所述訪問請求操作相應(yīng)的所述光開關(guān)和/或電開關(guān)打開相應(yīng)通道，并將所述測試儀器的使用權(quán)交給發(fā)送訪問請求的測試板，如果已經(jīng)被占用，則發(fā)送拒絕消息給發(fā)送訪問請求的測試板。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光模塊測試方法，其特征在于，所述至少兩個測試板在測試前分別向所述服務(wù)器發(fā)送注冊請求，所述服務(wù)器根據(jù)所述注冊請求為每個所述測試板分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道，并存儲每個測試板與所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的不同通道之間的對應(yīng)關(guān)系。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光模塊測試方法，其特征在于，還包括: 當(dāng)所述服務(wù)器接收到所述訪問請求后，判斷發(fā)送所述訪問請求的測試板是否已經(jīng)分配了所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的相應(yīng)通道，若否，則為其分配所述光開關(guān)和/或電開關(guān)的對應(yīng)通道并關(guān)聯(lián)存儲。
【文檔編號】H04B10/07GK104410447SQ201410850335
【公開日】2015年3月11日 申請日期:2014年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月31日
【發(fā)明者】代輝, 陳曉鵬, 曾海峰 申請人:索爾思光電（成都）有限公司