一種TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置的制造方法
【專利說明】一種TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ] 本發(fā)明涉及TD-LTE基站射頻一致性測試應(yīng)用領(lǐng)域，具體是一種TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著TD-LTE網(wǎng)絡(luò)大規(guī)模的建設(shè)以及TD-LTE-Advanced技術(shù)的推進，作為布網(wǎng)前測試、驗證關(guān)鍵一環(huán)，基站射頻一致性測試系統(tǒng)起到非常關(guān)鍵的作用。3GPP TS36.141定義了基站入網(wǎng)測試的全部射頻一致性測試用例，要求對基站每一格測試用例進行精確測試，這樣就需要有不同功能的測試儀器對其進行測試，對于基站的研發(fā)和生產(chǎn)測試的過程中，如何對如此之多的測儀器進行調(diào)度、如何避免對于不同測試用例頻繁而復(fù)雜的連接測試電纜及如何提高測試效率，成為越來越急需解決的問題，因此開發(fā)出一種TD-LTE/LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置對基研發(fā)、生產(chǎn)測試具有較高的必要性，同時對整個移動通信行業(yè)的發(fā)展具有非常重要的意義。
[0003]傳統(tǒng)的基站射頻一致性測試是通過對不同測試用例通過電纜，功分器、衰減器等手動連接相關(guān)測試儀器，這樣會造成測試過程復(fù)雜、測試時間較長、測試效率較低的缺點，同時由于連接過于復(fù)雜很難保證整個測量通道的頻率響應(yīng)以及通道增益得到很好的校準(zhǔn)及補償，因此開發(fā)出一種TD-LTE/LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置已迫在眉睫。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)存在的問題。
[0005]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:
[0006]一種TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置，其特征在于:包括雙刀雙擲開關(guān)K2-1—K2-5、K3-1—K3-6，單刀雙擲開關(guān)K2-7、K2-8、K3-7，雙刀單擲開關(guān)K2-6、K2-9，單刀三擲開關(guān)Κ3-9 ;其中雙刀雙擲開關(guān)Κ2-1的一個輸入端與基站天線I連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-1的一個輸入端與基站天線2連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-2的一個輸入端與基站天線3連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-3的一個輸入端與基站天線4連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-4的一個輸入端與基站天線5連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-5的一個輸入端與基站天線6連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-6的一個輸入端與基站天線7連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ2-1另一個輸入端與一個帶有隔離度的合路器I的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-1另一個輸入端與一個帶有隔離度的合路器2的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-2另一個輸入端與一個帶有隔離度的合路器3的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-3另一個輸入端與一個帶有隔離度的合路器4的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-4另一個輸入端與一個帶有隔離度的合路器5的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)Κ3-5另一個輸入端與一個帶有隔離度的合路器6的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)K3-6另一個輸入端與一個帶有隔離度的合路器7的一個輸入端連接，合路器7的另一個輸入端與基站天線8連接，合路器7的輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K3-6的一個輸出端連接，雙刀雙擲開關(guān)K3-6的另一個輸出端與合路器6的另一個輸入端連接，合路器6的輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K3-5的一個輸出端連接，雙刀雙擲開關(guān)K3-5的另一個輸出端與合路器5的另一個輸入端連接，合路器5的輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K3-4的一個輸出端連接，雙刀雙擲開關(guān)K3-4的另一個輸出端與合路器4的另一個輸入端連接，合路器4的輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K3-3的一個輸出端連接，雙刀雙擲開關(guān)K3-3的另一個輸出端與合路器3的另一個輸入端連接，合路器3的輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K3-2的一個輸出端連接，雙刀雙擲開關(guān)K3-2的另一個輸出端與合路器2的另一個輸入端連接，合路器2的輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K3-1的一個輸出端連接，雙刀雙擲開關(guān)K3-1的另一個輸出端與合路器I的另一個輸入端連接，合路器I的輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K2-1的一個輸出端連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-1的另一個輸出端與單刀三擲開關(guān)K3-9的輸入端連接；
[0007]單刀三擲開關(guān)K3-9的一個輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K2-2的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-2的另一個輸入端與衰減裝置輸入連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-2的一個輸出端與衰減裝置輸出連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-2的另一個輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K2-3的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-3的另一個輸入端與濾波裝置輸入連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-3的一個輸出端與濾波裝置輸出連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-3的另一個輸出端與單刀雙擲開關(guān)K3-7的輸入端連接，單刀雙擲開關(guān)K3-7的一個輸出端與單刀三擲開關(guān)K3-9的第二個輸出端連接，單刀雙擲開關(guān)K3-7的另一個輸出端與雙刀雙擲開關(guān)K2-4的一個輸入端連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-4的另一個輸入端與頻譜分析儀輸入連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-4的兩個輸出端分別與一個環(huán)形器I連接，所述雙刀雙擲開關(guān)K2-5的一個輸入端與環(huán)形器I連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-5的另一個輸入端、一個輸出端分別與一個放大器I的兩端連接，雙刀雙擲開關(guān)K2-5的另一個輸出端與雙刀單擲開關(guān)K2-6的一個輸出端連接，雙刀單擲開關(guān)K2-6的另一個輸入端與單刀雙擲開關(guān)K2-7的一個輸出端連接，雙刀單擲開關(guān)K2-6的輸出端與矢量信號發(fā)生器I連接，單刀雙擲開關(guān)K2-7的另一個輸出端與負(fù)載I連接，單刀雙擲開關(guān)K2-7的輸入端與一個單路輸入、雙路輸出的帶有隔離度的合路器8其中一個輸出端連接，合路器8的輸入端與一個環(huán)形器2連接，所述單刀三擲開關(guān)K3-9的第二個輸出端亦與環(huán)形器2連接，所述單刀雙擲開關(guān)K2-8輸入端與合路器8的另一個輸出端連接，單刀雙擲開關(guān)K2-8的一個輸出端連接負(fù)載2，單刀雙擲開關(guān)K2-8的另一個輸出端連接矢量信號發(fā)生器2，所述雙刀單擲開關(guān)K2-9的一個輸入端連接環(huán)形器2，雙刀單擲開關(guān)K2-9的另一個輸入端連接信道模擬器輸入，雙刀單擲開關(guān)K2-9的輸出端連接基站綜測儀，所述單刀三擲開關(guān)K3-9的第三個輸出端連接信道模擬器輸出。
[0008]所述的一種TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置，其特征在于:通過控制雙刀雙擲開關(guān)K2-1使基站天線I與單刀三擲開關(guān)K3-9相連；控制單刀三擲開關(guān)K3-9，同時控制雙刀雙擲開關(guān)K2-2使衰減器裝置輸入與單刀三擲開關(guān)K3-9相連，衰減器裝置輸出與雙刀雙擲開關(guān)K2-2相連；控制雙刀雙擲開關(guān)K2-3使雙刀雙擲開關(guān)K2-2與單刀雙擲開關(guān)K3-7相連；控制單刀雙擲開關(guān)K3-7使雙刀雙擲開關(guān)K2-3與環(huán)形器2相連；控制雙刀單擲開關(guān)K2-9使環(huán)形器2與基站綜測儀相連，來實現(xiàn)對基站輸出功率、輸出功率動態(tài)范圍、傳輸信號質(zhì)量、頻率誤差及下行參考信號功率等基站射頻一致性功能的測量。
[0009]所述的一種TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置，其特征在于:通過控制雙刀雙擲開關(guān)K2-1使基站天線I與單刀三擲開關(guān)K3-9相連；控制單刀三擲開關(guān)K3-9，同時控制雙刀雙擲開關(guān)K2-2使衰減器裝置輸入與單刀三擲開關(guān)K3-9相連，衰減器裝置輸出與雙刀雙擲開關(guān)K2-3相連；控制雙刀雙擲開關(guān)K2-3使濾波裝置輸入端與雙刀雙擲開關(guān)K2-2，濾波裝置輸出端與單刀雙擲開關(guān)K3-7相連；控制雙刀雙擲開關(guān)K2-4使單刀雙擲開關(guān)K3-7與環(huán)形器I相連；控制雙刀雙擲開關(guān)K2-5使環(huán)形器I通過放大器I與雙刀單擲開關(guān)K2-6相連；控制雙刀單擲開關(guān)開關(guān)K2-6使雙刀雙擲開關(guān)K2-5與矢量信號發(fā)生器I相連，控制單刀雙擲開關(guān)K3-7使雙刀雙擲開關(guān)K2-3與環(huán)形器2相連；控制雙刀單擲開關(guān)K2-9使環(huán)形器2與基站綜測儀相連，來實現(xiàn)對基站發(fā)射互調(diào)功能的測試。
[0010]所述的一種TD-LTE/TD-LTE-Advanced基站射頻一致性測試系統(tǒng)開關(guān)切換裝置，其特征在于:通過控制雙刀雙擲開關(guān)K3-1、雙刀雙擲開關(guān)K3-2、雙刀雙擲開關(guān)K3-3、雙刀雙擲開關(guān)K3-4、雙刀雙擲開關(guān)K3-5、雙刀雙擲開關(guān)K3-6使基站天線2、3、4、5、6、7、8與合路器1、2、3、4、5、6、7相連；控制雙刀雙擲開關(guān)k2-