離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路測試技術領域，尤其是一種離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法。
【背景技術】
[0002]隨著智能手機、數(shù)碼相機、平板電腦等消費電子、醫(yī)療影像、汽車、安全監(jiān)控、空間科學、機器視覺等領域的飛速發(fā)展，市場對圖像傳感芯片的需求也在成倍增長。如果說CPU是系統(tǒng)的心臟，那圖像傳感芯片就是系統(tǒng)的眼睛。圖像傳感芯片中的壞點會嚴重影響芯片的使用，目前很多圖像傳感芯片通過測試可找出其壞點，并根據(jù)不同的算法將壞點進行校正，以得到更好的圖像質量。但是，如果壞點是連續(xù)的，那就很難通過簡單的算法予以校正。通常需要先對連續(xù)壞點進行定位，然后再判斷是通過算法進行校正還是放棄該芯片。
[0003]現(xiàn)有技術中，通常是在在線測試過程中判斷連續(xù)壞點，也就是說，當圖像傳感芯片在線測試時，通過對所述圖像傳感芯片每個壞點周圍像素點進行逐個判斷是否也是壞點，再依次擴大周圍像素點范圍，從而將整個所述圖像傳感芯片的每個像素點遍歷一次，從而得到連續(xù)壞點的位置及數(shù)量，并進行記錄，得到測試結果。但該方法耗時較長，且占用在線測試時間，占用了在線測試資源，測試效率低。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法，以解決在線測試時定位連續(xù)壞點耗時長，占用在線測試資源，測試效率低的問題。
[0005]為了達到上述目的，本發(fā)明提供了一種離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法，包括以下步驟:
[0006]獲取被測圖像傳感芯片通過測試得到的一幀測試圖像，并將所述測試圖像存儲于一離線終端上；
[0007]將所述測試圖像中的壞點進行標記得到一第一二進制圖像；
[0008]獲取所述測試圖像中有(N+1)個及以上行連續(xù)壞點的位置及相應壞點的個數(shù)；
[0009]獲取所述測試圖像中有(N+1)個及以上列連續(xù)壞點的位置及相應壞點的個數(shù)；
[0010]獲取所述被測圖像傳感芯片上有(N+1)個及以上連續(xù)壞點的位置及個數(shù)；
[0011]其中，N為自然數(shù)。
[0012]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，獲取所述測試圖像中有(N+1)個及以上行連續(xù)壞點的位置及相應壞點的個數(shù)包括以下步驟:
[0013]將所述第一二進制圖像向左移動N列，得到一第二二進制圖像；
[0014]將所述第二二進制圖像與所述第一二進制圖像進行第一次運算，得到一第三二進制圖像；
[0015]將所述第一二進制圖像向右移動N列，得到一第四二進制圖像；
[0016]將所述第四二進制圖像與所述第一二進制圖像進行第二次運算，得到一第五二進制圖像；
[0017]將所述第三二進制圖像和所述第五二進制圖像進行第三次運算，得到一第六二進制圖像；
[0018]根據(jù)所述第六二進制圖像來判斷所述測試圖像中有(N+1)個及以上行連續(xù)壞點的位置及相應壞點的個數(shù)。
[0019]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，所述第一次運算的具體步驟為:將所述第二二進制圖像中每個像素點的值與所述第一二進制圖像中對應像素點的值進行與運算。
[0020]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，所述第二次運算的具體步驟為:將所述第四二進制圖像中每個像素點的值與所述第一二進制圖像中對應像素點的值進行與運算。
[0021]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，所述第三次運算的具體步驟為:將所述第三二進制圖像中每個像素點的值與所述第五二進制圖像中對應像素點的值進行或運算。
[0022]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，獲取所述測試圖像中有(N+1)個及以上列連續(xù)壞點的位置及相應壞點的個數(shù)包括以下步驟:
[0023]將所述第一二進制圖像向上移動N行，得到一第七二進制圖像；
[0024]將所述第七二進制圖像中每個像素點的值與所述第一二進制圖像對應像素點的值進行與運算，得到一第八二進制圖像；
[0025]將所述第一二進制圖像向下移動N行，得到一第九二進制圖像；
[0026]將所述第九二進制圖像中每個像素點的值與所述第一二進制圖像對應像素點的值進行與運算，得到一第十二進制圖像；
[0027]將所述第八二進制圖像中每個像素點的值和所述第十二進制圖像對應像素點的值進行或運算，得到一第十一二進制圖像；
[0028]根據(jù)所述第十一二進制圖像來判斷所述測試圖像中有(N+1)個及以上列連續(xù)壞點的位置及相應壞點的個數(shù)；
[0029]其中，N為自然數(shù)。
[0030]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，所述第四次運算的具體步驟為:將所述第七二進制圖像中每個像素點的值與所述第一二進制圖像對應像素點的值進行與運算。
[0031]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，所述第五次運算的具體步驟為:將所述第九二進制圖像中每個像素點的值與所述第一二進制圖像對應像素點的值進行與運算。
[0032]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，所述第六次運算的具體步驟為:所述第八二進制圖像中每個像素點的值和所述第十二進制圖像對應像素點的值進行或運算。
[0033]優(yōu)選的，在上述的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，將所述測試圖像中的壞點標記為1，其余像素點標記為0，從而得到一第一二進制圖像。
[0034]在本發(fā)明提供的離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法中，通過測試機臺獲取一幀測試圖像后，將所述測試圖像存儲于一離線終端上，分別獲取所述測試圖像中行、列連續(xù)壞點的位置及個數(shù)，從而得到被測圖像傳感芯片上的所有連續(xù)壞點的位置及個數(shù)，提高所述測試圖像中連續(xù)壞點的定位速度，且不占用在線測試資源，提高了測試效率。
【附圖說明】
[0035]圖1為本發(fā)明實施例中離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法的流程圖；
[0036]圖2為本發(fā)明實施例中離線定位圖像傳感芯片行連續(xù)壞點的方法的流程圖；
[0037]圖3為本發(fā)明實施例中的第一二進制圖像；
[0038]圖4為本發(fā)明實施例中的第二二進制圖像；
[0039]圖5為本發(fā)明實施例中的第三二進制圖像；
[0040]圖6為本發(fā)明實施例中的第四二進制圖像；
[0041]圖7為本發(fā)明實施例中的第五二進制圖像；
[0042]圖8為本發(fā)明實施例中的第六二進制圖像；
[0043]圖9為本發(fā)明實施例中離線定位圖像傳感芯片列連續(xù)壞點的方法的流程圖；
[0044]圖10為本發(fā)明實施例中的第七二進制圖像；
[0045]圖11為本發(fā)明實施例中的第八二進制圖像；
[0046]圖12為本發(fā)明實施例中的第九二進制圖像；
[0047]圖13為本發(fā)明實施例中的第十二進制圖像；
[0048]圖14為本發(fā)明實施例中的第^^一二進制圖像。
【具體實施方式】
[0049]下面將結合示意圖對本發(fā)明的【具體實施方式】進行更詳細的描述。根據(jù)下列描述和權利要求書，本發(fā)明的優(yōu)點和特征將更清楚。需說明的是，附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精準的比例，僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實施例的目的。
[0050]如圖1所示，本發(fā)明提供了一種離線定位圖像傳感芯片連續(xù)壞點的方法，包括以下步驟:
[0051]S1:獲取被測圖像傳感芯片通過測試得到的一幀測試圖像，并將所述測試圖像存儲于一離線終端上。
[0052]具體的，在對所述被測圖像傳感芯片進行在線測試時，通過測試機臺獲取所述被測圖像傳感芯片的一幀所述測試圖像，然后將所