專利名稱：測試裝置以及測試方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及電子設備的測試裝置以及測試方法，尤其涉及對被測試存 儲器進行測試的測試裝置以及測試方法，該被測試存儲器用于存儲在每頁 上附加了錯誤訂正符號的數(shù)據(jù)流。本申請與下述的日本申請有關。對于允 許加入?yún)⒖嘉墨I的指定國，將下述申請所記載的內(nèi)容加入到本申請中并作 為本申請的一部分。特愿2006-105394號申請日2006年4月6曰 背景技術(shù)半導體存儲器測試裝置在每一測試周期，對被測試存儲器的輸出與期 望值進行邏輯比較，如果比較的結(jié)果一致則檢測為合格，如果不一致就檢 測為失效。因此，例如，如閃速存儲器那樣，存儲的數(shù)據(jù)經(jīng)過多個周期以 頁為單位進行讀取，并且以頁為單位附加錯誤訂正符號的被測試存儲器，只 要檢測出一次失效，則檢測該被測試存儲器為不合格。這里，閃速存儲器會有時因產(chǎn)生程序干擾模式而使寫入對象的存儲單 元以外的數(shù)據(jù)被改寫，產(chǎn)生非永久性的軟件錯誤。對于產(chǎn)生這樣的錯誤，希 望參照下述的非專利文獻1。在實際使用狀態(tài)下，如果產(chǎn)生這樣的軟件錯誤， 則控制閃速存儲器的存儲控制器對從閃速存儲器讀取的數(shù)據(jù)進行錯誤訂 正。從而，在進行閃速存儲器的測試時，在產(chǎn)生屬于可通過錯誤訂正符號 訂正的范圍內(nèi)的錯誤的情況下，被測試存儲器應被判斷為合格品。但是，由 于閃速存儲器的不同，既有由于上述的軟件錯誤而容易發(fā)生錯誤的情況，也 有一個比特(Bit)的不合格也不存在的情況。因此，對于可正常操作的閃 速存儲器，例如，為了決定其用途和銷售價格等，有時會希望根據(jù)產(chǎn)生錯 誤的難易度來進行分類。 .非專利文獻l:作田康司著，[面向Silicon Movie時代的大容量NAND 閃速存儲器技術(shù)]，F(xiàn)ED期刊，Vol.11, No. 3, 2000年，P76-88為了根據(jù)錯誤產(chǎn)生的難易度來對閃速存儲器進行分類，針對每一頁統(tǒng) 計在該頁產(chǎn)生的錯誤的個數(shù)，并判斷該個數(shù)是否滿足預定的質(zhì)量標準。對 于不滿足質(zhì)量標準的頁，嘗試進行用預備的存儲單元置換不合格的存儲單 元的修復處理。如果通過修復處理而滿足質(zhì)量標準，則將該閃速存儲器分 類到與其質(zhì)量標準相對應的級別。為此，可以從測試裝置輸出關于包含在所有頁中的全部存儲單元是否 合格的數(shù)據(jù)，并通過人工或者利用計算機等對該數(shù)據(jù)進行分析。但是由于 存儲單元的數(shù)量龐大，所以分析需要花費功夫與時間。由于頁的不同，也有 已經(jīng)滿足質(zhì)量標準而不需要修復處理的情況，因此，存在輸出的數(shù)據(jù)成為 無用的情況。發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的目的在于提供一種可以解決上述問題的測試裝置、電 路以及電子設備。該目的通過本發(fā)明的第一技術(shù)方案所記載的特征組合來 實現(xiàn)。并且，其他的技術(shù)方案提供了本發(fā)明更有利的具體實施例。'本發(fā)明第 一實施方式提供一種測試裝置，其對存儲每一 頁上附加了錯誤訂正符號的數(shù)據(jù)流的被測試存儲器進行測試，包括測試處理部，其對 于每一個作為錯誤訂正單位的頁，從被測試存儲器讀取存儲于該頁的數(shù)據(jù) 流；邏輯比較器，其將從被測試存儲器中讀取的數(shù)據(jù)流所包含的各比特值 與該比特的期望值進行比較；第一失效存儲器，其根據(jù)邏輯比較器的比較 結(jié)果，對于被測試存儲器的每個存儲單元，存儲表示該存儲單元是否合格 的比特合格/失效信息；數(shù)據(jù)錯誤計數(shù)部，其對每一頁統(tǒng)計與期望值不一致 的比特數(shù)；頁分類部，對于將被測試存儲器根據(jù)質(zhì)量進行分類的多個級別 的每一個，按照每一頁判斷與期望值不一致的比特數(shù)是否滿足該級別的條 件；第二失效存儲器，其根據(jù)頁分類部的判斷結(jié)果，對于多個級別中的每 一個，存儲表示各頁是否合格的頁合格/失效信息；以及輸出部，其對于多 個級別的每一個，輸出關于每個存儲單元的比特合格/失效信息時，以具有 與存儲單元對應的比特的頁滿足該級別條件的頁合格/失效信息存儲在第 二失效存儲器中為條件，將從第一失效存儲器輸出的表示該存儲單元不合 格的比特合格/失效信息變更為表示該存儲單元合格的值進行輸出。并且，還具有地址指示部，用于依次輸出第一地址，所述第一地址 依次讀取存儲'于第一失效存儲器的、每個存儲單元的比特合格/失效信息； 以及地址轉(zhuǎn)換部，其輸出第二地址，該第二地址是用于從地址指示部輸出 的地址中取出一部分的比特，并讀取存儲于第二失效存儲器中的、具有與 該地址對應的存儲單元的頁的頁合格/失效信息，輸出部也可以將頁合格/ 失效信息和比特合格/失效信息的邏輯積作為該存儲單元的比特合格/失效 信息進行輸出，所述頁合格/失效信息是從第二失效存儲器內(nèi)的第二地址讀 取的、當該頁為不合格時為邏輯值H,當該頁為合格時為邏輯值L;所述比 特合格/失效信息是從第 一失效存儲器內(nèi)的第 一地址讀取的、當該存儲單元 為不合格時為邏輯值H，當該存儲單元為合格時為邏輯值L。并且還可以具有修復處理部，其根據(jù)輸出部輸出的每一頁的比特合格/失效信息，進行將不合格的存儲單元置換為預備的存儲單元的修復處理。
另外，頁分類部具有多個寄存器，其對應多個級別的每一個進行設 置，對于應分類到該級別的被測試存儲器，存儲頁內(nèi)所包含的錯誤數(shù)量的 上限值；比較部，將存儲于多個寄存器的多個所述上限值分別與數(shù)據(jù)錯誤 計數(shù)部的計數(shù)值進行比較；以及判斷部，其以對于從被測試存儲器讀取的 數(shù)據(jù)流的計數(shù)值是上限值以下為條件，判斷存儲了該數(shù)據(jù)流的頁滿足對應 該上限值的級別的條件。
本發(fā)明的第二實施方式提供一種測試方法，其是對用于存儲每一 頁附 加了錯誤訂正符號的數(shù)據(jù)流的被測試存儲器進行測試的測試方法，包括測 試處理步驟，按照每一個作為錯誤訂正單位的頁，從被測試存儲器讀取存 儲于該頁的所述數(shù)據(jù)流；邏輯比較步驟，將從被測試存儲器讀取的數(shù)據(jù)流 所包含的各個比特值與該比特的期望值進行比較；第一存儲步驟，根據(jù)邏 輯比較步驟的比較結(jié)果，對于被測試存儲器的每個存儲單元，將表示該存 儲單元是否合格的比特合格/失效信息存儲到第一失效存儲器中；數(shù)據(jù)錯誤 計數(shù)步驟，對每一頁統(tǒng)計與期望值不一致的比特數(shù)；頁分類步驟，對于將 被測試存儲器根據(jù)質(zhì)量進行分類的多個級別的每一個，對每一頁判斷與期 望值不一致的比特數(shù)是否滿足該級別的條件；第二存儲步驟，根據(jù)頁分類 步驟的判斷結(jié)果，對于多個級別的每一個，將表示各頁是否合格的頁合格/ 失效信息存儲到第二失效存儲器中；以及輸出步驟，對于多個級別的每一 個，輸出每個存儲單元的比特合格/失效信息時，以具有與存儲單元對應的 比特的頁滿足該級別條件的頁合格/失效信息存儲在第二失效存儲器中為 條件，將從第一失效存儲器輸出的表示該存儲單元不合格的比特合格/失效 信息變更為表示該存儲單元合格的值進行輸出。
本發(fā)明的第三實施方式提供一種測試裝置，其對每頁具有1比特或者 多比特錯誤訂正功能的被測試存儲器進行測試，其特征在于，包括測試 處理部，將測試用的數(shù)據(jù)流寫入所述被測試存儲器，并按照每一頁讀取已 經(jīng)寫入的所述數(shù)據(jù)流；第一失效存儲器，其接收按照每一頁讀取的所述數(shù) 據(jù)流，將該數(shù)據(jù)流依次與預定的期望值進行比較，生成表示每一存儲單元 是否合格的比特合格/失效信息，并存儲所述比特合格/失效信息；以及級 別分選部，與向所述第一失效存儲器的存儲動作并行動作，根據(jù)在每一頁 統(tǒng)計出的與所述期望值不一致的比特數(shù)的計數(shù)值，生成不可進行錯誤訂正、 可進行1個比特的錯誤訂正，或者可進行多個比特的錯誤訂正的判斷信息。
所述級別分選部包括數(shù)據(jù)錯誤計數(shù)部，其對每一頁統(tǒng)計與所述期望 值不一致的比特數(shù)；頁分類部，對于將所述被測試存儲器根據(jù)質(zhì)量進行分 類的多個級別的每一個，按照每一頁判斷與所述期望值不一致的比特數(shù)是 否滿足該級別的條件；第二失效存儲器，其根據(jù)所述頁分類部的判斷結(jié)果，對于所述多個級別的每一個，存儲表示各頁是否合格的頁合格/失效信息； 以及輸出部，其對于所述多個級別的每一個，輸出每個存儲單元的所述比 特合格/失效信息時，以具有與所述存儲單元對應的比特的頁滿足該級別條 件的所述頁合格/失效信息存儲在第二失效存儲器中為條件，將從所述第一 失效存儲器輸出的、表示該存儲單元不合格的所述比特合格/失效信息變更 為表示該存儲單元合格的值進行輸出。
征組的其他組合也包括在本發(fā)明。 " ' ''、 '


圖1表示本發(fā)明實施方式的測試裝置10的構(gòu)成。
圖2表示本發(fā)明實施方式的被測試存儲器100的存儲區(qū)域。
圖3與比較器160和邏輯比較器170 —起表示本發(fā)明實施方式的分類
模塊180的構(gòu)成。
圖4表示本發(fā)明實施方式的測試裝置10的動作定時。
圖5表示利用本發(fā)明實施方式的測試裝置IO對被測試存儲器100進行
測試，并輸出其結(jié)果的處理流程。
圖6表示通過本發(fā)明實施方式的測試裝置IO輸出的測試結(jié)果的一個例子。
100:被測試存儲器110測試處理部
120:定時信號發(fā)生器130圖案(信號)發(fā)生器
140:波形整形器150驅(qū)動器
160:比較器170邏輯比較器
180:分類模塊190修復處理部
200:可訂正區(qū)域210數(shù)據(jù)
220:錯誤訂正符號230.不可^r正區(qū)i或
240:主區(qū)域250:預備區(qū)域
300:處理部30$:定時檢測部
310:計數(shù)部315:"與，，門
320:"與"門321:計數(shù)值變更部
322:"或"門324."與"門
326:"或，，門328:加法器
330:比較部332寄存器
334:判斷部340:頁分類部
360: AFM365地址指示部
370: BBM375:地址轉(zhuǎn)換部380:輸出部
具體實施例方式
以下，通過發(fā)明實施方式對本發(fā)明進行說明，但是以下的實施方式并 不是對權(quán)利要求范圍的發(fā)明的限定，并且，在實施方式中所說明的所有特 征組合也不 一 定是本發(fā)明的解決方法所必需的。
圖1表示本發(fā)明實施方式的測試裝置10的結(jié)構(gòu)。測試裝置10對被測 試存儲器100的存儲器功能進行測試。這里，被測試存儲器100例如是半 導體存儲器或者附加有存儲器功能的SoC (system . on . chip)等，用于存 儲附加了錯誤訂正符號的數(shù)據(jù)流。本實施方式的測試裝置10即使在從被測 試存儲器100讀取的數(shù)據(jù)流與期望值數(shù)據(jù)流不一致，在通過錯誤訂正符號 可以進行訂正的條件下，不判斷該被測試存儲器100為不合格。另外，測試 裝置IO針對各頁，即使在包含于該頁的數(shù)據(jù)流可以通過錯誤訂正符號進行 訂正的情況下，根據(jù)該頁所產(chǎn)生錯誤的數(shù)量，對該頁按級別進行分類。并 且，測試裝置10將表示各頁所產(chǎn)生的每個比特的錯誤的比特合格/失效信 息按照每個級別進行輸出。此時，當各頁所產(chǎn)生的錯誤的數(shù)量滿足預定級 別的條件時，測試裝置10就不輸出原來的比特合格/失效信息，而是輸出 顯示完全沒有產(chǎn)生比特失效的含義的比特合格/失效信息。由此，當進行對 應級別的修復處理時，可以省去對于輸出的比特合格/失效信息的分析作 業(yè)。這樣，測試裝置10的目的在于，對被測試存儲器100的各頁質(zhì)量進行 適當判斷，并且，提高分析處理其結(jié)果的效率。以下，以被測試存儲器100 是閃速存儲器為例進行說明。
測試裝置10包括測試處理部110，驅(qū)動器150、比較器160、邏輯比較 器170、分類模塊180以及修復處理部190。測試處理部110控制對被測試 存儲器100的測試。更具體地說，在被測試存儲器100的測試中，測試處 理部110對于成為錯誤訂正單位的每一頁，將數(shù)據(jù)流寫入該頁的存儲區(qū)域， 并從該頁的存儲區(qū)域讀取數(shù)據(jù)流。并且，測試處理部110將從被測試存儲 器100讀取的數(shù)據(jù)提供給邏輯比較器170。這樣，測試處理部110通過對于 同一存儲區(qū)域， 一邊使數(shù)據(jù)流改變一邊進行讀寫，由此，可以使邏輯比較 器170以及分類模塊180檢測出該存儲區(qū)域的存儲單元不合格的情況。
測試處理部110具有定時信號發(fā)生器120、圖案發(fā)生器130、波形整形 器140。定時信號發(fā)生器120利用通過從圖案發(fā)生器130輸出的定時組信號 (TS信號)指定的定時數(shù)據(jù)，生成表示測試的一個周期的周期時鐘，以及表 示測試周期開始定時的RATE信號。并且，定時信號發(fā)生器120將周期時鐘 提供給圖案發(fā)生器130,將RATE信號以及TS信號與測試裝置10的標準時 鐘一起提供給波形整形器140。圖案發(fā)生器130根據(jù)周期時鐘，生成提供給被測試存儲器100的測試 圖案數(shù)據(jù)，并提供給波形整形器140。該測試圖案數(shù)據(jù)包含有，用于將數(shù)據(jù) 流寫入被測試存儲器100，而應提供給被測試存儲器100的信號所構(gòu)成的測 試圖案；以及用于從被測試存儲器100讀取已經(jīng)寫入的數(shù)據(jù)流，而應提供 給被測試存儲器100的信號所構(gòu)成的測試圖案。
波形整形器140根據(jù)標準時鐘、RATE信號以及TS信號，對應該將測試 圖案數(shù)據(jù)提供給被測試存儲器100的定時信號的波形進行整形。
驅(qū)動器150將通過波形整形器140進行了整形的測試圖案數(shù)據(jù)作為測 試圖案信號提供給被測試存儲器100。比較器160根據(jù)測試圖案將被測試存 儲器100輸出的輸出信號與預定的標準電壓進行比較，獲得輸出信號的邏 輯值。，
邏輯比較器170根據(jù)測試圖案將從被測試存儲器100中讀取的數(shù)據(jù)流 中所包含的數(shù)據(jù)分別與預先通過圖案發(fā)生器130生成的期望值進行比較。 分類模塊180根據(jù)邏輯比較器170生成的比較結(jié)果，將被測試存儲器100分 類到多個級別中的一個，或者，判斷被測試存儲器100是否為不合格。修 復處理部190根據(jù)分類模塊180的輸出部380所輸出的每一頁的比特合格/ 失效信息，進行將不合格的存儲單元置換為預備的存儲單元的修復處理。
圖2表示本發(fā)明實施方式的被測試存儲器100的存儲區(qū)域。本實施方 式的被測試存儲器100的存儲區(qū)域被分割成多個區(qū)塊，各區(qū)塊例如具有64KB 的數(shù)據(jù)存儲容量，例如由32個等的多個頁構(gòu)成。本實施方式的被測試存儲 器100例如以具有2KB等的數(shù)據(jù)存儲容量的頁為單位進行數(shù)據(jù)流的讀寫。 更具體地說，被測試存儲器100具有例如8比特等的多個數(shù)據(jù)10端子，經(jīng) 由這多個數(shù)據(jù)10端子每一個輸入輸出周期就傳送一個字(例如8比特)的 數(shù)據(jù)。并且，在一次的讀取或?qū)懭胩幚碇?，通過將頁*內(nèi)的各字按照列方向 順序傳送，以頁為單位進行讀寫。
被測試存儲器100的存儲區(qū)域包含有主區(qū)域240以及預備區(qū)域250。主 區(qū)域240是存儲被測試存儲器100應該存儲的數(shù)據(jù)210的區(qū)域。預備區(qū)域 250是存儲用于訂正數(shù)據(jù)210中產(chǎn)生的比特錯誤的錯誤訂正符號220、以及 表示該頁中禁止使用的信息等的區(qū)域。另外，被測試存儲器100的存儲區(qū) 域從錯誤訂正的可能性的觀點出發(fā)，分為可訂正區(qū)域200以及不可訂正區(qū) 域230。可訂正區(qū)域200是本發(fā)明的第一存儲區(qū)域的一個示例，是通過存儲 數(shù)據(jù)210以及錯誤訂正符號220而存儲附加了錯誤訂正符號的數(shù)據(jù)流的區(qū) 域。當實際使用被測試存儲器100時，與被測試存儲器100連接并控制被 測試存儲器100的存儲控制器，即使在可訂正區(qū)域200內(nèi)產(chǎn)生比特錯誤，也 可以通過錯誤訂正符號220在可訂正的范圍內(nèi)進行錯誤訂正。另一方面，不 可訂正區(qū)域230是本發(fā)明第二存儲區(qū)域的一個示例，是存儲沒有附加錯誤訂正符號的數(shù)據(jù)流的區(qū)域。即使在不可訂正區(qū)域230產(chǎn)生比特錯誤，存儲 控制器也不能進行訂正。圖3將本發(fā)明實施方式的分類模塊180的構(gòu)成與 比較器160以及邏輯比較器170 —起進行表示。比較器160對于分別從被 測試存儲器100的不同存儲區(qū)域讀取的多個數(shù)據(jù)流，分別將各數(shù)據(jù)流所包 含的數(shù)據(jù)以8比特為單位順次從被測試存儲器100的數(shù)據(jù)10端子輸入，并 將分別從各比特輸入的電壓與表示邏輯值H的閾值電壓VH0以及表示邏輯 值L的閾值電壓VOL進行比較。并且，比較器160在每個比特上，當該比 特為邏輯值H時，輸出SH4，當該比特為邏輯值L輸出SL=1。
邏輯比較器170在多個不同的項目方面對被測試存儲器100進行測試。 在第一測試中，邏輯比較器170對在被測試存儲器100的各個比特上是否 正確寫入數(shù)據(jù)進行測試。在該測試中，邏輯比較器170對于多個數(shù)據(jù)流的 每一個，依次將各數(shù)據(jù)流所包含的數(shù)據(jù)分別與期望值進行比較。具體地說， 本實施方式的邏輯比較器170將比較結(jié)果作為合格/失效信號輸出，所述輸 出結(jié)果為，在每一個輸入輸出周期，將一個字(=8比特)份的數(shù)據(jù)與一個 字份的期望值相比較， 一致的比特取為0 (表示合格的信號)，不一致的比 特取為1 (表示失效的信號)。
在第二測試中，邏輯比較器170對從被測試存儲器100讀取各個比特 的數(shù)據(jù)的定時進行測試。在該測試中，例如，邏輯比較器170對于包含在 該數(shù)據(jù)流中的各個比特，在對被測試存儲器100的存儲控制器發(fā)出數(shù)據(jù)讀 取請求之后，在經(jīng)過了預先設定的期間的時刻，將從被測試存儲器100輸 出的使該比特值改變的數(shù)據(jù)與預先設定的邏輯值進行多次比較。由此，例 如對于同一個比特進行100次比較，可以調(diào)查出其中有幾次與該邏輯值相 一致，從而可以對數(shù)據(jù)讀取定時進行測試。
分類模塊180具有處理部300-1 - 8、計數(shù)值變更部321、"或"門 326-1 ~ 8、加法器328、頁分類部340、 AFM360、地址指示部365、 BBM370、 地址轉(zhuǎn)換部375和輸出部380。處理部300-1 ~ 8分別從邏輯比較器170輸 入每個比特的合格/失效信號。即，例如處理部300-l輸入一個字份數(shù)據(jù)中 第1比特的合格/失效信號，各處理部300-2 ~ 8分別輸入從第2比特至第8 比特的合格/失效信號。
處理部300-1具有定時檢測部305、計數(shù)部310、"與"門315和"與" 門320。定時檢測部305是用于上述第二測試而設置的，根據(jù)輸入的合格/ 失效信號，計算出該比特值與預定的邏輯值相一致的次數(shù)，相對于將各個 比特與預定的邏輯值進行比較的次數(shù)的比率。并且，定時纟企測部305根據(jù) 該比率檢測出各個比特值變化的定時。例如，如果在100次的比較中有50 次是各個比特值與預定的邏輯值相一致，則定時檢測部305判斷出，在發(fā) 出讀取請求之后經(jīng)過了預定的期間的時刻，該比特的數(shù)據(jù)發(fā)生改變。"與"門315將合格/失效信號的各個比特與表示計測失效信號數(shù)量的 期間的INC信號的邏輯積輸出到計數(shù)部310。由此，"與"門315在應計測 失效信號數(shù)量的期間中將合格/失效信號提供給計數(shù)部310,在不計測失效 信號數(shù)量的期間中將值0輸出到計數(shù)部310。計數(shù)部310與后述的加法器 328 —起發(fā)揮作為本發(fā)明的數(shù)據(jù)錯誤計數(shù)部的功能。計數(shù)部310對于從被測 試存儲器100讀取的各數(shù)據(jù)流，對包含在該數(shù)據(jù)流的數(shù)據(jù)中的、與預先生 成的期望值不一致的數(shù)據(jù)的數(shù)量進行計數(shù)。這里，在計數(shù)部310中也可以 對可計數(shù)的失效信號的數(shù)量進行限制。例如，計數(shù)部310可以利用4比特 存儲與期望值不一致的數(shù)據(jù)比特的數(shù)量，當統(tǒng)計的失效信號的數(shù)量為15時， 可以停止對該計數(shù)器的值的加算。另外，計數(shù)部310如果從圖案發(fā)生器130 輸入CLR信號，則將計數(shù)值初始化，即，使計數(shù)值取O。
另外，各處理部300-2 ~8對于第2比特至第8比特，分別進行與上述 處理部300-1大致同樣的動作。有關具體的結(jié)構(gòu)，由于與處理部300-1大 致相同，所以省略說明。
"與"門320如果從圖案發(fā)生器130輸入LD信號，則將計數(shù)器值與LD 信號的邏輯積(即，計數(shù)器值本身)對"或，，門326-1輸出。"或"門326-1 ~ 8分別求出輸入的計數(shù)器值和"與"門324的輸出的邏輯積，輸出給加法器 328。另外，有關"與"門324的輸出在后面詳細敘述，但是當INC信號為 邏輯值1時，"與"門324的輸出為0,對"或"門326-1 ~ 8的輸出沒有影 響。加法器328對每一頁統(tǒng)計通過"或"門326-1 - 8輸出的計數(shù)器值，并 向頁分類部340輸出。 ， -
頁分類部340對于根據(jù)質(zhì)量將被測試存儲器100分類的多個級別的每 一個，對每一頁判斷與期望值不一致的比特數(shù)是否滿足該級別的條件。具 體地說，頁分類部340具有寄存器332-1 ~ 4、比較部330-1 ~ 4以及判斷部 334。各寄存器332-1 - 4分別對應根據(jù)質(zhì)量將被測試存儲器100分類的多 個級別而設置。并且，相對于應分類到對應的級別的被測試存儲器IOO，各 寄存器332-1 ~ 4存儲包含在頁內(nèi)的錯誤的數(shù)量的上限值。各比較部330-1 ~ 4將存儲在寄存器332-1 - 4的多個上限值分別與由計數(shù)部310計數(shù)并由加 法器328統(tǒng)計的計數(shù)值相比較。判斷部334以從被測試存儲器100讀取的 數(shù)據(jù)流的計數(shù)值小于等于上限值為條件，判斷存儲該數(shù)據(jù)流的頁滿足與該 上限值對應的級別的條件。
另外，INC信號為邏輯值"0"時，與發(fā)生錯誤信號的比特數(shù)無關，當具 有與期望值不一致的數(shù)據(jù)時，測試裝置10以檢測被測試存儲器100不合格 的操作模式進行操作。在該操作模式中，當具有與期望值不一致的數(shù)據(jù)時， 計數(shù)值變更部321將比存儲于寄存器332-1 ~ 4的任何一個上限值大的值作 為計數(shù)值進行輸出。作為實現(xiàn)該操作模式的具體構(gòu)成為，計數(shù)值變更部321具有"或，，門322以及"與"門324。"或"門322從邏輯比較器170輸入 有關從第1比特到第8比特的各個比特的合格/失效信號，并將它們的邏輯 和輸出到"與"門324。即，如果在從第1比特到第8比特的任何一個比特 檢測出失效，則對"與，，門324輸出邏輯值"1"。"與"門324求出"或" 門322的輸出與從圖案發(fā)生器輸入的INC信號的"非，，的邏輯積，并分別 對"或"門326-1 8進行輸出。由于各"或"門326-1 ~8分別接收邏輯 值'T，的輸入，因此以4比特將可表現(xiàn)的最大值(=15 )輸出給加法器328。 并且，加法器328將這些最大值的合計輸出給比較部330-1 ~4。這樣，通 過計數(shù)值變更部321可以將比存儲于寄存器332-1 ~ 4中的任何一個上限值 都大的值作為計數(shù)值，輸出到比較部330-1 - 4。此時，比較部330—1 ~4的 比較結(jié)果與計數(shù)部310輸出比存儲于寄存器332-1 ~ 4中的任何一個上限值 大的值的情況相同。
AFM (地址失效存儲器)360是本發(fā)明的第一失效存儲器的一個示例， 根據(jù)邏輯比較器170的比較結(jié)果，存儲相對于被測試存儲器100的每個存 儲單元的，表示該存儲單元是否合格的比特合格/失效信息。BBM(不合格 模塊存儲器)370是本發(fā)明第二失效存儲器的一個示例，根據(jù)頁分類部340 的判斷結(jié)果，對于多個級別的每一個，將表示各頁是否合格的頁合格/失效 信息變更為表示該存儲單元合格的值進行輸出。地址指示部365依次輸出 存儲于AFM360中的、用于依次讀取每個存儲單元的比特合格/失效信息的 第一地址。由此，從AFM360依次讀取比特合格/失效信息，并提供給輸出 部380。地址轉(zhuǎn)換部375輸出第二地址，該第二地址是從地址指示部365輸 出的地址中取出一部分比特，并存儲于BBM370中的，用于讀取具有與該地 址對應的存儲單元的頁的頁合格/失效信息。即，例如第二地址是第一地址 中預定數(shù)量的高位比特。由此，從BBM370依次讀取頁合格/失效信息，并 提供給輸出部380。輸出部380針對多個級別分別輸出每個存儲單元的比特 合格/失效信息。在這種情況下，輸出部380分別針對多個級別，以具有與 各存儲單元相對應的比特的頁滿足該級別的條件的頁合格/失效信息存儲 在BBM370中為條件，將從AFM360輸出的表示該存儲單元不合格的比特合 格/失效信息變更為表示該存儲單元合格的值進行輸出。即。例如，當某頁 產(chǎn)生的錯誤滿足某級別的條件時，相對于該級別的該頁的比特合格/失效信 息被變更為表示該頁沒有任何錯誤的比特合格/失效信息進行輸出。
對利用輸出部380進行的處理進行更具體地說明。首先，輸出部380 從BBM370內(nèi)的第二地址讀取頁合格/失效信息，該頁合格/失效信息當各頁 為不合格時為邏輯值H,當該頁合格時為邏輯值L。并且輸出部380從AFM360 內(nèi)的第 一地址讀取比特合格/失效信息，該比特合格/失效信息當各存儲單 位不合格時為邏輯值H，當該存儲單位合格時為邏輯值L。并且，輸出部380將對于各存儲單元讀取的比特合格/失效信息與包含該存儲單元的頁的頁 合格/失效信息的邏輯積，作為該存儲單元的比特合格/失效信息進行輸出。
輸出的比特合格/失效信息提供給修復處理部190,可以不需要任何分析處
理地用于》f復處理。
圖4表示本發(fā)明實施方式的測試裝置10的動作定時。測試處理部110 對被測試存儲器100的各頁寫入測試用數(shù)據(jù)。并且，測試處理部110從各 頁讀取已經(jīng)寫入的數(shù)據(jù)，并與期望值進行比較。圖4表示從被測試存儲器 100中讀取已經(jīng)寫入某頁的數(shù)據(jù)，并與期望值相比較的一部分動作定時。
首先，圖案發(fā)生器130在重新讀取數(shù)據(jù)流并與期望值進行比較之前，將 CLR信號取為"1"并對計數(shù)部310的計數(shù)值進行初始化(周期0)。接著， 測試處理部110根據(jù)測試波形數(shù)據(jù)將存儲器讀取指令提供給被測試存儲器 100 (從周期1至7 )。更具體地說，測試處理部110在周期1提供指令，在 周期2至3提供列地址，在周期4至6提供頁地址，使被測試存儲器100 開始讀取處理。
接著，被測試存儲器100根據(jù)存儲器讀取指令，逐字地依次輸出存儲 于指定頁的數(shù)據(jù)流所包含的數(shù)據(jù)(從周期x到x+2112 )。這里，被測試存儲 器100在周期x到x+2047之間輸出可訂正區(qū)域200內(nèi)的數(shù)據(jù)210，在周期 x+2048到x+2050之間輸出可訂正區(qū)域200內(nèi)的錯誤訂正符號220。由于這 些數(shù)據(jù)可以通過錯誤訂正符號進行訂正，所以圖案發(fā)生器130將INC信號 取為T。由此，"或"門322以"與"門324發(fā)出的單一比特錯誤的通知 被禁止。另外，"與"門315以及計數(shù)部310開始失效比特數(shù)的計數(shù)。其結(jié) 果是，分類部380對于從可訂正區(qū)域200讀取的數(shù)據(jù)流，當計數(shù)值超過作 為通過錯誤訂正符號可訂正數(shù)據(jù)流的錯誤的最大數(shù)的上限值時，可以檢測 出被測試存儲器100不合格。
接著，被測試存儲器100在周期x+2051至x+2112之間，輸出不可訂 正區(qū)域230內(nèi)的數(shù)據(jù)。由于這些數(shù)據(jù)不可訂正，所以圖案發(fā)生器130將INC 信號取為0。由此，允許"或"門322以"與"門324發(fā)出單一比特錯誤的 通知。并且，"與"門315以及計數(shù)部310停止失效比特數(shù)的計數(shù)。其結(jié)果 是，分類部380對于從不可訂正區(qū)域230讀取的數(shù)據(jù)流，當包含于該數(shù)據(jù) 流的至少一個數(shù)據(jù)與期望值不一致時，就可以檢測出被測試存儲器100不 合格。
接著，當數(shù)據(jù)流與期望值數(shù)據(jù)流的比較結(jié)束后，則圖案發(fā)生器130將 LD信號取為1。由此，計數(shù)部310的計數(shù)值經(jīng)由"或"門326-1 ~8提供給 加法器328。由此，比較部330-1 - 4將該計數(shù)值分別與存儲于寄存器 332-1 ~4的上限值進行比較。該比較結(jié)果被存儲在BBM370中。另外，根據(jù) 該比較結(jié)果，判斷部334可以判斷被測試存儲器100的各頁是否滿足各級別的條件。
根據(jù)上述處理，測試裝置IO讀取已寫入被測試存儲器100中的數(shù)據(jù)流， 并針對該數(shù)據(jù)流可以檢測被測試存儲器100的不合格，或者，可以將被測 試存儲器100的各頁按級別分類。并且，測試處理部110當結(jié)束對某數(shù)據(jù) 流的不合格的檢測時，通過將CLR信號取為"1"而將計數(shù)器310內(nèi)的計數(shù) 值初始化。并且，圖案發(fā)生器130使邏輯比較器170開始對下一個數(shù)據(jù)流 進行與期望值的比較。
圖5表示通過本發(fā)明實施方式的被測試裝置IO對被測試存儲器100進 行測試，并輸出其結(jié)果的處理的流程。測試裝置IO進行讀取記錄于被測試 存儲器100的各比特的數(shù)據(jù)流，并與期望值數(shù)據(jù)流相比較的功能測試 (S500 )。詳細地說，首先，測試處理部110對每一個作為錯誤訂正單位的 頁，從被測試存儲器IOO讀取在該頁存儲的數(shù)據(jù)流。并且，邏輯比較器170 將從被測試存儲器100讀取的數(shù)據(jù)流所包含的各個比特值與該比特的期望 值相比較。然后，AFM360根據(jù)邏輯比較器170的比較結(jié)果，對于每個被測
臺
接著，計數(shù)部310以及加法器328在每一頁對與期望值不一致的比特 數(shù)進行計數(shù)(S510)。并且，頁分類部340對于將被測試存儲器IOO根據(jù)質(zhì) 量進行分類的多個級別的每一個，對每一頁判斷與期望值不一致的比特數(shù) 是否滿足該級別的條件(S520 )。輸出部380分別將各頁的比特合格/失效 信息按照每一頁進行輸出(S530 )。此時，對于某一級別以及某一頁，當在 該頁產(chǎn)生的失效數(shù)量滿足其級別條件時，則該頁的比特合格/失效信息被變 更為沒有發(fā)生任何失效時的比特合格/失效信息進行輸出。然后，修復處理 部190根據(jù)輸出部38G輸出的每一頁的比特合格/失效信息，進行將不合格 的存儲單元置換為預備的存儲單元的修復處理(S540 )。
圖6表示由本發(fā)明實施方式的測試裝置10輸出的測試結(jié)果的一個示 例。該圖的立體圖表示被測試存儲器100內(nèi)的存儲單元的集合。另外，構(gòu)成 該立體圖的各平面表示被測試存儲器100的各頁。圖中的X標記表示檢測 出不合格的存儲單元。級別0表示即使在不能通過錯誤訂正符號(ECC: Error Check and Correction)進行任何訂正的情況下也能保證正常操作的質(zhì)量。 級別1表示當通過錯誤訂正符號在每一頁可訂正1比特錯誤時，可以保證 正常操作的質(zhì)量。級別2表示當通過錯誤訂正符號在每一頁可訂正2比特 的錯誤時可以保證正常操作的質(zhì)量。
在級別0中，在某一頁只要有一個不合格的存儲單元，則有關該頁的 頁合格/失效信息就表示不合格。因此，輸出部380對于級別0，直接輸出 比特合格/失效信息。即，在本圖中在某一頁即使僅有一個X標記，也判斷該頁為不合格。另一方面，在級別1中，在某一頁即使具有一個以下的不 合格存儲單元，對于該頁的頁合格/失效信息也表示為合格品。因此輸出部
380對于只包含有一個不合格存儲單元的頁，不直接輸出該頁的比特合格/ 失效信息。取而代之，輸出部380輸出在該頁沒有產(chǎn)生任何不合格時的比 特合格/失效信息。在圖中從上數(shù)第3個以及第9個頁與此相當。
在級別2中，在某一頁即使具有2個以下的不合格存儲單元，對于該 頁的頁合格/失效信息也表示合格品。因此，輸出部380對于包含有2個以 下不合格存儲單元的頁，不直接輸出該頁的比特合格/失效信息。取而代之， 輸出部38G輸出在該頁沒有產(chǎn)生任何不合格時的比特合格/失效信息。在圖 中，從上數(shù)第3個、第4個、第9個、第10個頁與此相當。
這樣，輸出部380對于各級別，對于滿足該級別的頁，取代該頁的比 特合格/失效信息，而輸出在該頁沒有產(chǎn)生任何不合格時的比特合格/失效 信息。由此，利用該輸出的修復處理部190可以只對需要修復處理的頁獲 取比特合格/失效信息，可以省略對哪一頁需要修復處理進行分析和判斷的 處理。
以上，利用實施方式對本發(fā)明進行了說明，但是本發(fā)明的技術(shù)范圍并 不限定于上述實施方式所記載的范圍?？梢詫ι鲜鰧嵤┓绞绞┘佣喾N變更 與改良，這對本領域技術(shù)人員是顯而易見的。施加了這樣的變更與改良的 實施方式也包含在本發(fā)明的技術(shù)范圍之內(nèi)是從權(quán)利要求保護的范圍可明確 的。
1權(quán)利要求
1、一種測試裝置，其對用于存儲在每一頁附加有錯誤訂正符號的數(shù)據(jù)流的被測試存儲器進行測試，包括測試處理部，其對于每一個作為錯誤訂正單位的頁，從所述被測試存儲器讀取存儲于該頁的所述數(shù)據(jù)流；邏輯比較器，將從所述被測試存儲器中讀取的所述數(shù)據(jù)流所包含的各比特值與該比特的期望值相比較；第一失效存儲器，根據(jù)所述邏輯比較器的比較結(jié)果，對于所述被測試存儲器的每個存儲單元，存儲表示該存儲單元是否合格的比特合格/失效信息；數(shù)據(jù)錯誤計數(shù)部，對每一頁統(tǒng)計與所述期望值不一致的比特數(shù)；頁分類部，對于將所述被測試存儲器根據(jù)質(zhì)量進行分類的多個級別的每一個，對每一頁判斷與所述期望值不一致的比特數(shù)是否滿足該級別的條件；第二失效存儲器，根據(jù)所述頁分類部的判斷結(jié)果，對于所述多個級別的每一個，存儲表示各頁是否合格的頁合格/失效信息；輸出部，其對于所述多個級別的每一個，輸出每個存儲單元的所述比特合格/失效信息時，以具有與所述存儲單元對應的比特的頁滿足該級別條件的所述頁合格/失效信息存儲在所述第二失效存儲器中為條件，將從所述第一失效存儲器輸出的、表示該存儲單元不合格的所述比特合格/失效信息變更為表示該存儲單元合格的值并進行輸出。
2、 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，還具有地址指示部，其依次輸出第一地址，該第一地址用于依次讀取存儲在 所述第一失效存儲器中的、每個存儲單元的所述比特合格/失效信息；地址轉(zhuǎn)換部，其輸出第二地址，該第二地址是用于從所述地址指示部 輸出的地址中取出一部分的比特，并讀取存儲于所述第二失效存儲器中的、 具有與該地址對應的存儲單元的頁的所述頁合格/失效信息，所述輸出部將所述頁合格/失效信息和所述比特合格/失效信息的邏輯 積作為所述存儲單元的所述比特合格/失效信息進行輸出，所述頁合格/失 效信息是從所述第二失效存儲器內(nèi)的所述第二地址讀取的，當該頁為不合 格時為邏輯值H,當該頁為合格時為邏輯值L，所述比特合格/失效信息是 從所述第 一失效存儲器內(nèi)的所述第 一地址讀取的，當該存儲單元為不合格 時為邏輯值H，當該存儲單元為合格時為邏輯值L。
3、 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，還具有修復處理部，其根據(jù)所述輸 出部輸出的每一頁的比特合格/失效信息，進行將不合格的存儲單元置換為預備的存儲單元的修復處理。
4、 如權(quán)利要求1所述的測試裝置，所述頁分類部具有 多個寄存器，其對應所述多個級別中的每一個進行設置，對于應分類到該級別的所述被測試存儲器，存儲頁內(nèi)所包含的錯誤數(shù)量的上限值；比較部，分別將存儲于所述多個寄存器的多個所述上限值與所述數(shù)據(jù)錯誤計數(shù)部的計數(shù)值相比較；以及判斷部，其以對于從所述被測試存儲器讀取的所述數(shù)據(jù)流的所述計數(shù)值是所述上限值以下為條件，判斷存儲有該數(shù)據(jù)流的頁滿足對應該上限值的級別的條件。
5、 一種測試方法，是對用于存儲在每一頁附加有錯誤訂正符號的數(shù)據(jù) 流的被測試存儲器進行測試的測試方法，其包括測試處理步驟，對于每一個作為錯誤訂正單位的頁，從所述被測試存 儲器讀取存儲于該頁的所述數(shù)據(jù)流；邏輯比較步驟，將從所述被測試存儲器讀取的所述數(shù)據(jù)流所包含的各 個比特值與該比特的期望值進行比較；第一存儲步驟，根據(jù)所述邏輯比較步驟的比較結(jié)果，將對所述被測試 存儲器的每個存儲單元的、表示該存儲單元是否合格的比特合格/失效信息 存儲到第一失效存儲器中；數(shù)據(jù)錯誤計數(shù)步驟，對每一頁統(tǒng)計與所述期望值不一致的比特數(shù)；頁分類步驟，對于將所述被測試存儲器根據(jù)質(zhì)量進行分類的多個級別 的每一個，對每一頁判斷與所述期望值不一致的比特數(shù)是否滿足該級別的條件；第二存儲步驟，根據(jù)所述頁分類步驟的判斷結(jié)果，對于所述多個級別 的每一個，將表示各頁是否合格的頁合格/失效信息存儲到第二失效存儲器 中；以及輸出步驟，對于所述多個級別的每一個，輸出每個存儲單元的所述比 特合格/失效信息時，以具有與所述存儲單元對應的比特的頁滿足該級別條 件的所述頁合格/失效信息存儲在所述第二失效存儲器中為條件，將從所述 第一失效存儲器輸出的、表示該存儲單元不合格的所述比特合格/失效信息 變更為表示該存儲單元合格的值并進行輸出。
6、 一種測試裝置，其對在每一頁具有1比特或者多比特的錯誤訂正功 能的被測試存儲器進行測試，其特征在于，包括測試處理部，將測試用的數(shù)據(jù)流寫入所述被測試存儲器，并對每一頁 讀取已經(jīng)寫入的所述數(shù)據(jù)流；第一失效存儲器，其接收對每一頁讀取的所述數(shù)據(jù)流，將該數(shù)據(jù)流依 次與預定的期望值進行比較，生成表示每一存儲單元是否合格的比特合格/失效信息，并存儲所述比特合格/失效信息；以及級別分選部，與對所述第一失效存儲器的存儲動作并行動作，根據(jù)對每一頁統(tǒng)計出的與所述期望值不一致的比特數(shù)的計數(shù)值，生成用于判斷不可進行錯誤訂正、可進行1比特的錯誤訂正、或者可進行多個比特的錯誤訂正的判斷信息。
7、如權(quán)利要求6所述的測試裝置，所述級別分選部包括 數(shù)據(jù)錯誤計數(shù)部，其對每一 頁統(tǒng)計與所述期望值不 一致的比特數(shù)； 頁分類部，對于將所述^f皮測試存儲器根據(jù)質(zhì)量進行分類的多個級別的每一個，對每一 頁判斷與所述期望值不一致的比特數(shù)是否滿足該級別的條件；第二失效存儲器，其根據(jù)所述頁分類部的判斷結(jié)果，對于所述多個級 別的每一個，存儲表示各頁是否合格的頁合格/失效信息；以及輸出部，其對于所述多個級別的每一個，輸出每個存儲單元的所述比 特合格/失效信息時，以具有與所述存儲單元對應的比特的頁滿足該級別條 件的所述頁合格/失效信息存儲在第二失效存儲器中為條件，將從所述第一 失效存儲器輸出的、表示該存儲單元不合格的所述比特合格/失效信息變更 為表示該存儲單元合格的值并進行輸出。
全文摘要
本發(fā)明提供一種對用于存儲附加了錯誤訂正符號的數(shù)據(jù)流的被測試存儲器(以下稱為DUT)進行有效測試的測試裝置。該測試裝置將從DUT讀取的數(shù)據(jù)流所包含的各比特與期望值相比較。該比較結(jié)果作為表示DUT的每個存儲單元是否合格的比特合格/失效信息被存儲在第一失效存儲器(以下稱為FM)中。存儲裝置在每一頁統(tǒng)計與期望值不一致的比特數(shù)，并在DUT的每一級別及每一頁，判斷與期望值不一致的比特數(shù)是否滿足該級別的條件。該判斷結(jié)果作為在每個級別表示各頁是否合格的頁合格/失效信息被存儲在第二FM中。如果包含有對應某存儲單元的比特的頁滿足某級別條件的比特合格信息存儲在第二FM中，則測試裝置將第一FM的比特合格/失效信息變更為表示該存儲單元合格的值進行輸出。
文檔編號G11C29/44GK101310342SQ20078000011
公開日2008年11月19日 申請日期2007年3月22日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月6日
發(fā)明者佐藤新哉, 小澤大樹 申請人:愛德萬測試株式會社