一種伺服控制器柔性自動(dòng)測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于自動(dòng)測試領(lǐng)域，尤其是涉及一種伺服控制器柔性自動(dòng)測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]自動(dòng)測試系統(tǒng)的發(fā)展經(jīng)歷了從專用型向通用型的演變過程。專用自動(dòng)測試(DTS)具有結(jié)構(gòu)緊湊、測試效率高、使用方便等優(yōu)點(diǎn)，但專用自動(dòng)測試系統(tǒng)由于測試資源配置針對(duì)性強(qiáng)，被測單元之間、計(jì)算機(jī)與測試儀器之間以及測試儀器之間的接口沒有標(biāo)準(zhǔn)化，因此系統(tǒng)的適應(yīng)性不強(qiáng)，測試資源無法在多個(gè)測試任務(wù)間共享，不同的測試系統(tǒng)間很難實(shí)現(xiàn)互操作，對(duì)于復(fù)雜測試設(shè)備研制工作量大、費(fèi)用昂貴。
[0003]通用自動(dòng)測試系統(tǒng)(GATS)采用開放的商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，減少測試系統(tǒng)軟、硬件的開發(fā)和升級(jí)費(fèi)用；同時(shí)出現(xiàn)了基于虛擬儀器技術(shù)的軟件系統(tǒng)(如LabVIEW)，從而能通過軟件技術(shù)擴(kuò)展測試功能。但是理想的通用測試系統(tǒng)是無法實(shí)現(xiàn)的，現(xiàn)實(shí)中的通用測試系統(tǒng)往往還是針對(duì)某一類被測裝備的?，F(xiàn)在大多數(shù)通用測試系統(tǒng)一般采用基于VX1、PX1、GPIB總線的卡箱式結(jié)構(gòu)，通常體積都比較龐大，使用維護(hù)不便，靈活性差；而且由于要滿足一定的通用性和參數(shù)覆蓋面，一方面導(dǎo)致系統(tǒng)儀器設(shè)備種類眾多、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、價(jià)格昂貴，另一方面造成了大量的功能冗余。
[0004]當(dāng)今測試系統(tǒng)存在以下不足:專用型測試系統(tǒng)對(duì)測試資源配置具有很強(qiáng)的針對(duì)性，系統(tǒng)研制工作量大、成本高、適應(yīng)性不強(qiáng)，不同的測試系統(tǒng)間很難實(shí)現(xiàn)互操作。通用型測試系統(tǒng)由于要滿足一定的通用性和參數(shù)覆蓋面，一方面導(dǎo)致測試系統(tǒng)儀器設(shè)備種類眾多、體積龐大、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、靈活性差，另一方面系統(tǒng)各測試資源間存在冗余，增加了測試系統(tǒng)的體積和功耗。
[0005]針對(duì)現(xiàn)有自動(dòng)測試系統(tǒng)的應(yīng)用范圍有限、開發(fā)和維護(hù)成本高、系統(tǒng)間缺乏互操作性、測試診斷新技術(shù)難以融入已有系統(tǒng)等諸多不足，美國國防部自動(dòng)測試系統(tǒng)執(zhí)行局(DoDATSEA0)召集陸、海、空軍、海軍陸戰(zhàn)隊(duì)及工業(yè)部門聯(lián)合開發(fā)命名為“NxTest’，的下一代自動(dòng)測試系統(tǒng)。下一代自動(dòng)測試系統(tǒng)的主要目標(biāo)包括:
[0006](I)顯著降低自動(dòng)測試系統(tǒng)的維護(hù)和使用費(fèi)用；
[0007](2)通過提高測試系統(tǒng)的互操作能力，使最終用戶獲得最大限度的測試靈活性；
[0008](3)提高測試系統(tǒng)配置的靈活性，滿足不同測試用戶需要；
[0009](4)提高自動(dòng)測試系統(tǒng)新技術(shù)的注入能力；
[0010](5)推動(dòng)測試軟件開發(fā)環(huán)境的發(fā)展；
[0011]由此可見，下一代自動(dòng)測試系統(tǒng)對(duì)測試系統(tǒng)的靈活性提出了更高的要求，即測試系統(tǒng)應(yīng)該具有相應(yīng)的適用性與靈活性，以滿足快速變化的不同測試需求的需要。同時(shí)還應(yīng)該具有擴(kuò)展性，以提高測試系統(tǒng)對(duì)新技術(shù)的納入能力?；谌嵝詼y試技術(shù)構(gòu)建的自動(dòng)測試系統(tǒng)能夠很好地解決現(xiàn)有測試系統(tǒng)存在的結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積龐大、靈活性差、擴(kuò)展性差、升級(jí)困難等問題現(xiàn)狀，很好地滿足下一代自動(dòng)測試系統(tǒng)的各項(xiàng)目標(biāo)要求。
[0012]將系統(tǒng)各功能單元進(jìn)行模塊化，用這些模塊化的、可完成某種特定功能的單元構(gòu)建測試系統(tǒng)，使系統(tǒng)能夠按照測試任務(wù)與要求，快速構(gòu)建出滿足測試要求的自動(dòng)測試系統(tǒng)，完成測試任務(wù)；測試任務(wù)改變時(shí)，系統(tǒng)能夠根據(jù)新的測試要求快速地重新組建出可完成新的測試任務(wù)的自動(dòng)測試系統(tǒng)。這樣的自動(dòng)測試系統(tǒng)就是柔性測試系統(tǒng)。柔性測試系統(tǒng)是一種能夠根據(jù)測試任務(wù)需求及測試環(huán)境的變化，快速改變系統(tǒng)的組織模式、硬件與軟件結(jié)構(gòu)，以迅速調(diào)節(jié)測試功能來適應(yīng)新任務(wù)和新環(huán)境的自動(dòng)測試系統(tǒng)。
[0013]傳統(tǒng)的裝備測試系統(tǒng)很難既能考慮到測試的高效率同時(shí)又兼顧測試的低成本，不具備能夠根據(jù)被測裝備測試需求的變化而對(duì)自己本身進(jìn)行調(diào)整的靈活性，且可擴(kuò)展性差。因此將柔性測試技術(shù)應(yīng)用于自動(dòng)測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中，構(gòu)建柔性測試系統(tǒng)，使自動(dòng)測試系統(tǒng)可以根據(jù)測試需求的變化柔性組建，從而達(dá)到提高測試系統(tǒng)通用性與靈活性的作用。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0014]有鑒于此，本實(shí)用新型旨在提出一種伺服控制器柔性自動(dòng)測試系統(tǒng)及測試方法，以實(shí)現(xiàn)對(duì)伺服控制器進(jìn)行溫循實(shí)驗(yàn)和高溫老練試驗(yàn)并自動(dòng)生成相應(yīng)試驗(yàn)報(bào)告。
[0015]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:
[0016]一種伺服控制器柔性自動(dòng)測試系統(tǒng)，包括上位機(jī)、主控箱、負(fù)載箱、溫控箱以及待測伺服控制器；所述上位機(jī)通過RS232與所述溫控箱連接；所述主控箱包括CPU控制卡、ADS板卡；所述CPU控制卡與所述ADS板卡連接；所述主控箱通所述主控箱內(nèi)的CPU控制卡經(jīng)HUB與所述上位機(jī)連接；所述負(fù)載箱包括電源、POW板卡、阻性負(fù)載、觸摸顯示屏、復(fù)位模塊、報(bào)警模塊、系統(tǒng)模塊、本地/聯(lián)網(wǎng)模塊、電機(jī)/電阻模塊、開/關(guān)模塊、急停模塊、網(wǎng)絡(luò)接口、輸入接口、輸出接口；所述POW板卡包括CPU模塊、隔離采樣模塊、繼電器矩陣模塊；所述POW板卡通過POW板卡內(nèi)的CUP模塊經(jīng)HUB與所述上位機(jī)連接；所述POW板卡通過雷莫8芯線纜與所述ADS板卡連接；所述負(fù)載箱通過所述輸入接口與所述待測伺服控制器連接。
[0017]進(jìn)一步的，所述ADS板卡包括CPU模塊、AD轉(zhuǎn)換模塊、DA轉(zhuǎn)換模塊、DDS模塊；所述CPU模塊通過PCB電路板與AD轉(zhuǎn)換模塊、DA轉(zhuǎn)換模塊、DDS模塊連接。
[0018]進(jìn)一步的，所述輸入接口包括航插1、航插2和航插3。
[0019]進(jìn)一步的，所述主控箱中包含4個(gè)ADS板卡。
[0020]進(jìn)一步的，所述電源模塊包括220V交流總電源、直流24V系統(tǒng)電源、直流28V控制電源、解鎖電源、第一功率電源、第二功率電源。。
[0021]相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型所述的一種伺服控制器柔性自動(dòng)測試系統(tǒng)具有以下優(yōu)勢:
[0022]本實(shí)用新型提供了一種對(duì)伺服控制器進(jìn)行溫循實(shí)驗(yàn)以及高溫老練試驗(yàn)并自動(dòng)生成相應(yīng)試驗(yàn)報(bào)告的系統(tǒng)，本實(shí)用新型同時(shí)兼顧多種型號(hào)伺服控制器的批量測試功能，實(shí)現(xiàn)模塊化組態(tài)功能，使產(chǎn)品測試方便靈活，可同時(shí)測量8路伺服控制器，方便擴(kuò)展，大大提高了測試效率。本實(shí)用新型全程為自動(dòng)測試并提供遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)監(jiān)控，在提高測試效率的同時(shí)，提高了測試的可靠性和數(shù)據(jù)記錄的完整性，自動(dòng)化程度高，成本低。
【附圖說明】
[0023]構(gòu)成本實(shí)用新型的一部分的附圖用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0024]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的一種伺服控制器柔性自動(dòng)測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的負(fù)載箱前面板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0026]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的POW板卡的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的電源模塊的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028]圖4-1為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的總電源的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0029]圖4-2為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的系統(tǒng)電源的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖4-3為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的控制電源的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖4-4為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的解鎖電源的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032]圖4-5為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的功率電源的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0033]圖4-6為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的功率電源的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0034]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例所述的ADS板卡的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0035]需要說明的是，在不沖突的情況下，本實(shí)用新型中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
[0036]下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本實(shí)用新型。
[0037]如圖1所示，一種伺服控制器柔性自動(dòng)測試系統(tǒng)，包括上位機(jī)、主控箱、負(fù)載箱、溫控箱以及待測伺服控制器；所述上位機(jī)通過RS232與所述溫控箱連接；所述主控箱包括CPU控制卡、ADS板卡；所述CPU控制卡與所述ADS板卡連接；所述主控箱通所述主控箱內(nèi)的CPU控制卡經(jīng)HUB與所述上位機(jī)連接；所述負(fù)載箱包括電源、POW板卡、阻性負(fù)載、觸摸顯示屏、復(fù)位模塊、報(bào)警模塊、系統(tǒng)模塊、本地/聯(lián)網(wǎng)模塊、電機(jī)/電阻模塊、開/關(guān)模塊、急停模塊、網(wǎng)絡(luò)接口、輸入接口、輸出接口；所述POW板卡包括CPU模塊、隔離采樣模塊、繼電器矩陣模塊；所述POW板卡通過POW板卡內(nèi)的CUP模塊經(jīng)HUB與所述上位機(jī)連接；所述POW板卡通過雷莫8芯線纜與所述ADS板卡連接；所述負(fù)載箱通過所述輸入接口與所述待測伺服控制器連接。所述ADS板卡包括CPU模塊、AD轉(zhuǎn)換模塊、DA轉(zhuǎn)換模塊、DDS模塊；所述CPU模塊通過接口與AD轉(zhuǎn)換模塊、DA轉(zhuǎn)換模塊、DDS模塊連接。所述輸入接口包括航插1、航插2和航插3。所述主控箱中包含4個(gè)ADS板卡。所述電源模塊包括220V交流總電源、直流24V系統(tǒng)電源、直流28V控制電源、解鎖電源、第一功率電源、第二功率電源。
[0038]主控