一種光學(xué)檢測設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及印制板的檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種能對印制板進(jìn)行自動掃描的光學(xué)檢測設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)在，對印刷線路板的精度要求越來越高，印制板一般經(jīng)過:鍍銅、鍍錫-掃描、檢修-剪板-鉆孔-線路、電路-二次檢修等工藝，印制板經(jīng)過鍍銅、鍍錫工藝后后，印制板會存在開路、斷路、掉油、缺口等等缺陷，這些缺陷往往通過肉眼是看不到的，需要通過專門的光學(xué)檢測設(shè)備來進(jìn)行掃描缺陷，光學(xué)檢測設(shè)備掃描印制板，將存在的缺陷記錄儲存，儲存的信息傳送給下一道工序進(jìn)行修正。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，光學(xué)檢測設(shè)備還存在如下的不足:(1)工作臺面過小，無法供對于尺寸稍長的印制板加工，加工范圍?。?2)現(xiàn)有的吸氣裝置的各個組件直接放置在機(jī)架上，運(yùn)輸和維修極其不便；(3)用于支撐檢修真空平臺的支撐架是通過折彎形成，并與機(jī)架焊接連接，使得用于放置檢修真空平臺的腔體小，使得用來吸住印制板的平臺面積小，造成吸附力弱、氣壓流動不均勻，從而吸力不均勻，印制板不能平穩(wěn)地被吸住，無法精確地定位印制板上的缺陷，操作員在操作過程中不穩(wěn)定，易造成印制板的損壞。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型針對現(xiàn)有技術(shù)中的不足，提供一種光學(xué)檢測設(shè)備，結(jié)構(gòu)簡單，能適用多種型號尺寸的印制板的加工，大大提高了加工范圍。
[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型通過下述技術(shù)方案得以解決:
[0006]—種光學(xué)檢測設(shè)備，包括機(jī)架、設(shè)置在機(jī)架上方的基臺和工作臺裝置，所述工作臺裝置包括第一工作臺組件和與第一工作臺組件相連的第二工作臺組件，所述第一工作臺組件設(shè)置在基臺上并相對基臺沿Y方向運(yùn)動，所述第二工作臺組件與第一工作臺組件位于同一水平方向上。
[0007]進(jìn)一步的，所述第二工作臺組件包括與基臺相連的至少一個支撐架和設(shè)置在支撐架上方的支架組件。
[0008]進(jìn)一步的，還包括設(shè)置在第一工作臺組件上的連接架，所述支架組件一端與連接架相連，另一端通過連接塊與支撐架相連。
[0009]進(jìn)一步的，所述第一工作臺組件通過第一滑動裝置相對基臺沿Y方向運(yùn)動，所述第一滑動裝置包括至少兩個設(shè)置在基臺上且呈平行設(shè)置的導(dǎo)軌一和設(shè)置在工作臺裝置上的且與導(dǎo)軌一滑動配合的滑塊一以及驅(qū)動所述工作臺裝置相對基臺運(yùn)動的第一驅(qū)動機(jī)構(gòu)。
[0010]進(jìn)一步的，所述第一工作臺組件為真空平臺，包括與所述基臺相連的支撐平臺和設(shè)置在支撐平臺上的工作平臺。
[0011]進(jìn)一步的，所述支撐平臺上設(shè)有空腔，所述工作平臺與所述支撐平臺的空腔形成用于吸住工件的真空腔，所述工作平臺上設(shè)有與真空腔相通的吸附孔。
[0012]進(jìn)一步的，還包括與工作臺裝置相連的吸氣裝置，所述吸氣裝置包括吸氣組件和容納所述吸氣組件的箱體，所述吸氣組件包括風(fēng)機(jī)、三通閥和消音器，所述三通閥分別與風(fēng)機(jī)、消音器以及外界相連，所述消音器的出口通過管道一與真空腔相連。
[0013]本實(shí)用新型取得如下的有益效果:在原有的工作臺的延長線上還設(shè)有第二工作臺組件，能用于更大尺寸范圍的印制板的加工，大大提高了工作范圍，且結(jié)構(gòu)簡單。
[0014]本實(shí)用新型的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本實(shí)用新型的實(shí)踐了解到。
【附圖說明】
[0015]此處所說明的附圖用來提供對本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0016]圖1為本實(shí)用新型一種光學(xué)檢測設(shè)備實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖2為本實(shí)用新型一種去除殼體的光學(xué)檢測設(shè)備實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖3為本實(shí)用新型一種光學(xué)檢測設(shè)備實(shí)施例的主視圖；
[0019]圖4為本實(shí)用新型第二工作組件的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖5為本實(shí)用新型一種去除掃描機(jī)構(gòu)的光學(xué)檢測設(shè)備實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖6為本實(shí)用新型工作臺裝置與第一滑動裝置連接的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖7為本實(shí)用新型工作臺裝置與吸氣裝置連接的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖8為本實(shí)用新型工作臺裝置的剖視圖；
[0024]圖9為本實(shí)用新型吸氣裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025]為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；谒枋龅谋緦?shí)用新型的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在無需創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0026]在本實(shí)用新型的描述中，需要理解的是，術(shù)語“中心”、“縱向”、“橫向”、“長度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底” “內(nèi)”、“外”、“順時針”、“逆時針”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本實(shí)用新型和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本實(shí)用新型的限制。
[0027]此外，術(shù)語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征。在本實(shí)用新型的描述中，“多個”的含義是兩個或兩個以上，除非另有明確具體的限定。
[0028]在本實(shí)用新型中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術(shù)語應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語在本實(shí)用新型中的具體含義。
[0029]在本實(shí)用新型中，除非另有明確的規(guī)定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接觸，也可以包括第一和第二特征不是直接接觸而是通過它們之間的另外的特征接觸。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或僅僅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或僅僅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0030]除非另作定義，此處使用的技術(shù)術(shù)語或者科學(xué)術(shù)語應(yīng)當(dāng)為本實(shí)用新型所屬領(lǐng)域內(nèi)具有一般技能的人士所理解的通常意義。本實(shí)用新型專利申請說明書以及權(quán)利要求書中使用的“第一”、“第二”以及類似的詞語并不表示任何順序、數(shù)量或者重要性，而只是用來區(qū)分不同的組成部分。同樣，“一個”或者“一”等類似詞語也不表示數(shù)量限制，而是表示存在至少一個。
[0031]如圖1和2所示，作為本實(shí)用新型的實(shí)施例，一種光學(xué)檢測設(shè)備，包括機(jī)架100、設(shè)置在機(jī)架100上方的基臺200、設(shè)置在基臺200上并相對基臺200沿Y方向運(yùn)動的工作臺裝置300和設(shè)置在工作臺裝置300上方的橫梁結(jié)構(gòu)400以及設(shè)置在橫梁結(jié)構(gòu)400上的掃描機(jī)構(gòu)500，在掃描機(jī)構(gòu)500和橫梁結(jié)構(gòu)400上方加蓋殼體600，防止上方的灰塵等雜物進(jìn)入到檢測儀內(nèi)部，影響檢測儀的檢測，同理機(jī)架100周圍也加蓋殼體600，防止下方的灰塵等雜物進(jìn)入到檢測儀內(nèi)部，影響檢測儀的檢測，殼體600優(yōu)選由鈑金結(jié)構(gòu)制成，加工簡單，大大提高工作效率。
[0032]在本實(shí)施例中，工作臺裝置300包括要相對基臺200沿Y方向運(yùn)動，掃描機(jī)構(gòu)500要相對橫梁結(jié)構(gòu)400沿X方向運(yùn)動，因此，承載工作