通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)芯片追溯的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種方法，尤其是一種通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)芯片追溯的方法，具體地說(shuō)是一種適用于測(cè)試管芯數(shù)目多(萬(wàn)顆以上)且需要精確定位到具體管芯的方法，屬于芯片追溯定位的技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]對(duì)于集成電路芯片級(jí)測(cè)試流程，實(shí)現(xiàn)芯片追溯是一個(gè)必需的環(huán)節(jié)，否則無(wú)法進(jìn)行下一步工序。目前，實(shí)現(xiàn)芯片追溯是通過(guò)測(cè)試機(jī)自帶的軟件設(shè)置，結(jié)合GPIB通信接口模塊連接探針臺(tái)，通過(guò)參考X/Y坐標(biāo)以定位具體的測(cè)試芯片。但如果在測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)GPIB通信錯(cuò)誤或者有的測(cè)試機(jī)沒(méi)有相應(yīng)的軟件支持則無(wú)法實(shí)現(xiàn)芯片追溯。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，提供一種通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)芯片追溯的方法，其操作方便，能快速有效精確實(shí)現(xiàn)芯片的追溯，適應(yīng)范圍廣，安全可靠。
[0004]按照本發(fā)明提供的技術(shù)方案，一種通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)芯片追溯的方法，所述芯片追溯方法包括如下步驟:
步驟1、將待測(cè)試芯片與測(cè)試機(jī)進(jìn)行硬件連接，以便能對(duì)所述待測(cè)試芯片進(jìn)行測(cè)試；步驟2、利用測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試，并在測(cè)試機(jī)生成所需的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)包含與每個(gè)通過(guò)測(cè)試芯片呈一一對(duì)應(yīng)的唯一數(shù)值代碼；
步驟3、讀取測(cè)試機(jī)內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)與測(cè)試芯片對(duì)應(yīng)的數(shù)值代碼實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片追溯。
[0005]所述步驟2中，在對(duì)待測(cè)試芯片測(cè)試時(shí)，先確定初始數(shù)據(jù)，并在有待測(cè)試芯片通過(guò)測(cè)試時(shí)，利用數(shù)值累加法對(duì)初始數(shù)據(jù)進(jìn)行累加計(jì)數(shù)，以得到與每個(gè)通過(guò)測(cè)試芯片呈一一對(duì)應(yīng)的唯一數(shù)值代碼。
[0006]本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn):待測(cè)試芯片與測(cè)試機(jī)硬件連接，并在測(cè)試機(jī)內(nèi)生成測(cè)試數(shù)據(jù)，測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)包含與每個(gè)通過(guò)測(cè)試芯片呈一一對(duì)應(yīng)的唯一數(shù)值代碼，利用所述數(shù)值代碼能實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片進(jìn)行追溯，操作方便，能快速有效精確實(shí)現(xiàn)芯片的追溯，適應(yīng)范圍廣，安全可靠。
【附圖說(shuō)明】
[0007]圖1為本發(fā)明熔絲燒寫(xiě)測(cè)試的流程圖。
[0008]圖2為本發(fā)明進(jìn)行驗(yàn)證燒寫(xiě)是否正確的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]下面結(jié)合具體附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
[0010]為了能快速有效精確實(shí)現(xiàn)芯片的追溯，提高適應(yīng)范圍，本發(fā)明芯片追溯方法包括如下步驟:步驟1、將待測(cè)試芯片與測(cè)試機(jī)進(jìn)行硬件連接，以便能對(duì)所述待測(cè)試芯片進(jìn)行測(cè)試；具體實(shí)施時(shí)，待測(cè)試芯片與測(cè)試機(jī)的硬件連接，一般是指將測(cè)試機(jī)的測(cè)試端口與測(cè)試接口板(Device Interface Board, DIB)連接，測(cè)試接口板與探針卡連接，探針卡與待測(cè)試芯片連接，以實(shí)現(xiàn)測(cè)試機(jī)到待測(cè)試芯片之間的數(shù)據(jù)傳輸與測(cè)量。待測(cè)試芯片與測(cè)試機(jī)具體的硬件連接過(guò)程為本技術(shù)領(lǐng)域人員所熟知，此處不再贅述。
[0011]步驟2、利用測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試，并在測(cè)試機(jī)生成所需的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)包含與每個(gè)通過(guò)測(cè)試芯片呈一一對(duì)應(yīng)的唯一數(shù)值代碼；
本發(fā)明實(shí)施例中，根據(jù)測(cè)試要求利用測(cè)試機(jī)對(duì)待測(cè)試芯片進(jìn)行測(cè)試，具體的測(cè)試過(guò)程為本技術(shù)領(lǐng)域人員所熟知。在測(cè)試時(shí)，測(cè)試機(jī)內(nèi)會(huì)生成測(cè)試數(shù)據(jù)。
[0012]具體實(shí)施時(shí)，在對(duì)待測(cè)試芯片測(cè)試時(shí)，先確定初始數(shù)據(jù)，并在有待測(cè)試芯片通過(guò)測(cè)試時(shí)，利用數(shù)值累加法對(duì)初始數(shù)據(jù)進(jìn)行累加計(jì)數(shù)，以得到與每個(gè)通過(guò)測(cè)試芯片呈一一對(duì)應(yīng)的唯一數(shù)值代碼。即在確定初始數(shù)據(jù)后，將初始數(shù)據(jù)作為最先通過(guò)芯片測(cè)試的數(shù)值代碼，隨后緊接通過(guò)的測(cè)試芯片，其對(duì)應(yīng)的數(shù)值代碼為初始數(shù)據(jù)上進(jìn)行數(shù)值累加。
[0013]步驟3、讀取測(cè)試機(jī)內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)與測(cè)試芯片對(duì)應(yīng)的數(shù)值代碼實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片追溯。
[0014]—般地，測(cè)試數(shù)據(jù)固定存儲(chǔ)于測(cè)試機(jī)指定的位置，由于測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)包含測(cè)試芯片的數(shù)值代碼，根據(jù)數(shù)值代碼以及初始數(shù)據(jù)，能實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片的追溯。
[0015]下面以熔絲測(cè)試的過(guò)程來(lái)對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施過(guò)程作進(jìn)一步地說(shuō)明。
[0016]如圖1和圖2所示，熔絲累加測(cè)試以及驗(yàn)證的過(guò)程為:
步驟1)、熔絲累加燒寫(xiě)測(cè)試前需要判定所有熔絲管腳的扎針良好，其中熔絲可理解為地址碼或功能選擇位。如果扎針良好則繼續(xù)下一步，如果扎針不良則不進(jìn)行熔絲累加燒寫(xiě)。
[0017]步驟2)、調(diào)取編碼文件的起始數(shù)據(jù)，起始數(shù)據(jù)規(guī)定為大于等于零的整數(shù)，文件數(shù)據(jù)放在具體的文件夾中，比如 D:\ CZ\ XX_1SITE_V01 \ Trim\ trim.txt。
[0018]步驟3)、直接在要燒寫(xiě)的熔絲與地線之間施加合適的電壓，產(chǎn)生的電流對(duì)熔絲進(jìn)行燒寫(xiě)，施加的電壓大小需要通過(guò)調(diào)試得到一個(gè)較合適的值，本文的測(cè)試軟件的燒寫(xiě)電壓為 3.6Vo
[0019]步驟4)、燒寫(xiě)完成之后會(huì)生成唯一數(shù)值代碼，并對(duì)燒寫(xiě)結(jié)果進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)試。首先需要驗(yàn)證所燒寫(xiě)的熔絲是否正確，需要通過(guò)繼電器將所有熔絲PAD對(duì)VCC接1K上拉電阻，驗(yàn)證是否熔斷時(shí)，閉合對(duì)應(yīng)位繼電器，測(cè)量該熔絲PAD是否為高電平即電壓值。
[0020]步驟5)、通過(guò)唯一的數(shù)值代碼追溯相應(yīng)的測(cè)試芯片。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)芯片追溯的方法，其特征是，所述芯片追溯方法包括如下步驟: 步驟1、將待測(cè)試芯片與測(cè)試機(jī)進(jìn)行硬件連接，以便能對(duì)所述待測(cè)試芯片進(jìn)行測(cè)試；步驟2、利用測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試，并在測(cè)試機(jī)生成所需的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)包含與每個(gè)通過(guò)測(cè)試芯片呈一一對(duì)應(yīng)的唯一數(shù)值代碼； 步驟3、讀取測(cè)試機(jī)內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)與測(cè)試芯片對(duì)應(yīng)的數(shù)值代碼實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片追溯。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)芯片追溯的方法，其特征是:所述步驟2中，在對(duì)待測(cè)試芯片測(cè)試時(shí)，先確定初始數(shù)據(jù)，并在有待測(cè)試芯片通過(guò)測(cè)試時(shí)，利用數(shù)值累加法對(duì)初始數(shù)據(jù)進(jìn)行累加計(jì)數(shù)，以得到與每個(gè)通過(guò)測(cè)試芯片呈一一對(duì)應(yīng)的唯一數(shù)值代碼。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)芯片追溯的方法，其包括如下步驟：步驟1、將待測(cè)試芯片與測(cè)試機(jī)進(jìn)行硬件連接，以便能對(duì)所述待測(cè)試芯片進(jìn)行測(cè)試；步驟2、利用測(cè)試機(jī)進(jìn)行測(cè)試，并在測(cè)試機(jī)生成所需的測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)包含與每個(gè)通過(guò)測(cè)試芯片呈一一對(duì)應(yīng)的唯一數(shù)值代碼；步驟3、讀取測(cè)試機(jī)內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)，并根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)內(nèi)與測(cè)試芯片對(duì)應(yīng)的數(shù)值代碼實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片追溯。本發(fā)明操作方便，能快速有效精確實(shí)現(xiàn)芯片的追溯，適應(yīng)范圍廣，安全可靠。
【IPC分類】G01R31/28
【公開(kāi)號(hào)】CN105067992
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510526376
【發(fā)明人】陳真
【申請(qǐng)人】無(wú)錫中微騰芯電子有限公司
【公開(kāi)日】2015年11月18日
【申請(qǐng)日】2015年8月25日