Usb芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子測(cè)試領(lǐng)域，更具體地涉及一種用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行多通道測(cè)試的USB芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在USB協(xié)議下，通常需要對(duì)USB芯片的各端點(diǎn)進(jìn)行大量數(shù)據(jù)包的傳輸檢測(cè)和定位。現(xiàn)有的測(cè)試方案多是在傳統(tǒng)的USB數(shù)據(jù)協(xié)議下，利用標(biāo)準(zhǔn)的主機(jī)驅(qū)動(dòng)構(gòu)建不同的測(cè)試流程，模仿正常通信在各個(gè)USB芯片的數(shù)據(jù)端點(diǎn)建立數(shù)據(jù)通路，對(duì)各個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)依次進(jìn)行USB數(shù)據(jù)協(xié)議的建立、傳輸、完成和測(cè)試。這種方案測(cè)試簡(jiǎn)單容易構(gòu)建，但是不容易對(duì)USB芯片設(shè)計(jì)的錯(cuò)誤進(jìn)行覆蓋檢測(cè)和快速定位。
[0003]上述現(xiàn)有技術(shù)中主要是按照USB芯片實(shí)際工作的標(biāo)準(zhǔn)流程進(jìn)行，沒(méi)有考慮USB芯片在工作中各種錯(cuò)誤極端情況的出現(xiàn)，但是實(shí)際USB芯片工作中可能在各個(gè)無(wú)法預(yù)想的極端條件下會(huì)出現(xiàn)的各種問(wèn)題。因?yàn)樯鲜霈F(xiàn)有技術(shù)對(duì)USB芯片的檢測(cè)是建立在理想使用的環(huán)境中的，所以上述現(xiàn)有技術(shù)的檢測(cè)方式無(wú)法完全對(duì)USB芯片的潛在錯(cuò)誤進(jìn)行檢測(cè)和定位。
[0004]因此，有必要提供一種改進(jìn)的USB芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)來(lái)克服上述缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的是提供一種USB芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)，用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行多通道測(cè)試。本發(fā)明的USB芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)在USB3.0芯片的測(cè)試過(guò)程中不受USB協(xié)議的限制，USB3.0芯片的各數(shù)據(jù)端點(diǎn)的測(cè)試不受USB實(shí)際驅(qū)動(dòng)程序的限制，可以在測(cè)試中最大可能的進(jìn)行硬件的錯(cuò)誤檢測(cè)，完成對(duì)硬件的覆蓋測(cè)試和錯(cuò)誤跟蹤定位，使USB3.0芯片能夠避免在實(shí)際運(yùn)行中當(dāng)遇到極端惡劣情況時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤的可能。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種USB芯片的測(cè)試方法，用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行多通道測(cè)試，其包括如下步驟:a.USB主機(jī)的數(shù)據(jù)發(fā)生器隨機(jī)產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)包，并對(duì)產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行標(biāo)記；b.將標(biāo)記后的測(cè)試數(shù)據(jù)包隨機(jī)傳送至USB3.0芯片；c.USB3.0芯片的串行接口單元將收到的測(cè)試數(shù)據(jù)包發(fā)送至USB3.0芯片的各個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)；d.各個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行并行處理；e.數(shù)據(jù)檢測(cè)器根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)包的標(biāo)記檢測(cè)各數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)包的處理方式。
[0007]較佳地，在所述USB主機(jī)內(nèi)預(yù)設(shè)有各種測(cè)試函數(shù)及USB3.0協(xié)議的所有數(shù)據(jù)協(xié)議，且所述USB主機(jī)根據(jù)USB3.0協(xié)議對(duì)USB3.0芯片各個(gè)端點(diǎn)同時(shí)建立傳輸通道。
[0008]較佳地，所述步驟a具體為:所述數(shù)據(jù)發(fā)生器按照主機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)協(xié)議將測(cè)試數(shù)據(jù)包在USB3.0芯片內(nèi)部的處理方式信息和位置信息寫到測(cè)試數(shù)據(jù)包的固定位置處。
[0009]較佳地，所述測(cè)試數(shù)據(jù)包的固定位置為測(cè)試數(shù)據(jù)包的非協(xié)議位置。
[0010]較佳地，所述非協(xié)議位置為測(cè)試數(shù)據(jù)包的前四個(gè)字節(jié)。
[0011]較佳地，同時(shí)本發(fā)明還提供一種USB芯片的測(cè)試系統(tǒng).
[0012]較佳地，測(cè)試數(shù)據(jù)包的處理方式信息記錄于測(cè)試數(shù)據(jù)包的第3字節(jié)與第4字節(jié)。
[0013]較佳地，所述處理方式包括數(shù)據(jù)被丟棄、數(shù)據(jù)被送到驅(qū)動(dòng)單元處理、數(shù)據(jù)被送到存儲(chǔ)單元及數(shù)據(jù)被返回USB主機(jī)。
[0014]較佳地，在所述步驟b中，USB主機(jī)將所述標(biāo)記后的測(cè)試數(shù)據(jù)包以最大負(fù)荷隨機(jī)傳送給USB3.0芯片。
[0015]相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種USB芯片的測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行多通道測(cè)試，其包括數(shù)據(jù)發(fā)生器、串行接口單元、數(shù)據(jù)檢測(cè)器及多個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)；所述數(shù)據(jù)發(fā)生器隨機(jī)產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)包，并對(duì)產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行標(biāo)記，USB主機(jī)將標(biāo)記后的測(cè)試數(shù)據(jù)包隨機(jī)傳送至所述串行接口單元，串行接口單元將收到的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換，并將轉(zhuǎn)換后的并行測(cè)試數(shù)據(jù)包發(fā)送至各個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)，各個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行并行處理，所述數(shù)據(jù)檢測(cè)器根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)包的標(biāo)記檢測(cè)各數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)包的處理方式。
[0016]較佳地，所述USB芯片的測(cè)試系統(tǒng)還包括驅(qū)動(dòng)單元及存儲(chǔ)單元，各數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)包的處理方式包括數(shù)據(jù)被丟棄、數(shù)據(jù)被送到驅(qū)動(dòng)單元處理、數(shù)據(jù)被送到存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)被返回USB主機(jī)；且所述數(shù)據(jù)檢測(cè)器包括第一數(shù)據(jù)檢測(cè)器與第二數(shù)據(jù)檢測(cè)器，所述第一數(shù)據(jù)檢測(cè)器檢測(cè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)是否正確將數(shù)據(jù)返回至USB主機(jī)，所述第二數(shù)據(jù)檢測(cè)器檢測(cè)所述數(shù)據(jù)端點(diǎn)是否正確將數(shù)據(jù)送到驅(qū)動(dòng)單元處理及是否正確將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于存儲(chǔ)單元中。
[0017]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的USB芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)，通過(guò)各個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行并行測(cè)試處理，讓USB3.0芯片的測(cè)試不受USB協(xié)議的限制，USB3.0芯片的各數(shù)據(jù)端點(diǎn)的測(cè)試不受USB實(shí)際驅(qū)動(dòng)程序的限制；另外，測(cè)試數(shù)據(jù)包是隨機(jī)傳送至USB3.0芯片的，使得在測(cè)試中最大可能的進(jìn)行硬件的錯(cuò)誤檢測(cè)，完成對(duì)硬件的覆蓋測(cè)試和錯(cuò)誤跟蹤定位，減少了 USB3.0芯片在實(shí)際運(yùn)行中遇到極端惡劣情況時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤的可能。
[0018]通過(guò)以下的描述并結(jié)合附圖，本發(fā)明將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本發(fā)明的實(shí)施例。
【附圖說(shuō)明】
[0019]圖1為本發(fā)明USB芯片的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
[0020]圖2為本發(fā)明USB芯片的測(cè)試方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0021]現(xiàn)在參考附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例，附圖中類似的元件標(biāo)號(hào)代表類似的元件。如上所述，本發(fā)明提供了一種USB芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)，用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行多通道測(cè)試。本發(fā)明的USB芯片的測(cè)試方法及系統(tǒng)在USB3.0芯片的測(cè)試過(guò)程中不受USB協(xié)議的限制，USB3.0芯片的各數(shù)據(jù)端點(diǎn)的測(cè)試不受USB實(shí)際驅(qū)動(dòng)程序的限制，可以在測(cè)試中最大可能的進(jìn)行硬件的錯(cuò)誤檢測(cè)，完成對(duì)硬件的覆蓋測(cè)試和錯(cuò)誤跟蹤定位，使USB3.0芯片能夠避免在實(shí)際運(yùn)行中當(dāng)遇到極端惡劣情況時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤的可能。
[0022]請(qǐng)參考圖1，圖1為本發(fā)明USB芯片的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。如圖所示，本發(fā)明的USB芯片的測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行多通道測(cè)試，其包括數(shù)據(jù)發(fā)生器、串行接口單元、數(shù)據(jù)檢測(cè)器及多個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)。所述數(shù)據(jù)發(fā)生器置于USB主機(jī)內(nèi)部，且隨機(jī)產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)包，并根據(jù)主機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)協(xié)議對(duì)產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行標(biāo)記，從而通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)包的標(biāo)記使得在USB3.0芯片的測(cè)試過(guò)程中可對(duì)USB3.0芯片的錯(cuò)誤進(jìn)行準(zhǔn)確的跟蹤與定位。USB主機(jī)將標(biāo)記后的測(cè)試數(shù)據(jù)包通過(guò)高速串行總線隨機(jī)傳送至USB3.0芯片的串行接口單元，串行接口單元將收到的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換，并將轉(zhuǎn)換后的并行測(cè)試數(shù)據(jù)包發(fā)送至各個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)。各個(gè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)接收到的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行并行處理。所述數(shù)據(jù)檢測(cè)器根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)包的標(biāo)記檢測(cè)各數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)包的處理方式。另外，如圖1所示，在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式中，本發(fā)明的USB芯片的測(cè)試系統(tǒng)還包括驅(qū)動(dòng)單元及存儲(chǔ)單元，各數(shù)據(jù)端點(diǎn)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)包的處理方式包括數(shù)據(jù)被丟棄、數(shù)據(jù)被送到驅(qū)動(dòng)單元處理、數(shù)據(jù)被送到存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)被返回USB主機(jī)；且所述數(shù)據(jù)檢測(cè)器包括第一數(shù)據(jù)檢測(cè)器與第二數(shù)據(jù)檢測(cè)器，所述第一數(shù)據(jù)檢測(cè)器檢測(cè)數(shù)據(jù)端點(diǎn)是否正確將數(shù)據(jù)返回至USB主機(jī)，所述第二數(shù)據(jù)檢測(cè)器檢測(cè)所述數(shù)據(jù)端點(diǎn)是否正確將數(shù)據(jù)送到驅(qū)動(dòng)單元處理及是否正確將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于存儲(chǔ)單元中，從而通過(guò)所述第一數(shù)據(jù)檢測(cè)器與第二數(shù)據(jù)檢測(cè)器對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)包的處理方式的檢測(cè)而實(shí)現(xiàn)對(duì)所述USB3.0芯片的測(cè)試，且在測(cè)試過(guò)程中不受USB協(xié)議的限制，USB3.0芯片的各數(shù)據(jù)端點(diǎn)的測(cè)試不受USB實(shí)際驅(qū)動(dòng)程序的限制，可以在測(cè)試中最大可能的進(jìn)行硬件的錯(cuò)誤檢測(cè)，完成對(duì)硬件的覆蓋測(cè)試和錯(cuò)誤跟蹤定位，使USB3.0芯片能夠避免在實(shí)際運(yùn)行中當(dāng)遇到極端惡劣情況時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤的可能。
[0023]請(qǐng)?jiān)俳Y(jié)合參考圖2，圖2為本發(fā)明USB芯片的測(cè)試方法的流程圖，本發(fā)明的USB芯片的測(cè)試方法用于對(duì)USB3.0芯片進(jìn)行多通道測(cè)試。如圖所示，本發(fā)明USB芯片的測(cè)試方法包括如下步驟:
[0024]步驟S101，USB主機(jī)的數(shù)據(jù)發(fā)生器隨機(jī)產(chǎn)生測(cè)試數(shù)據(jù)包，并對(duì)產(chǎn)生的測(cè)試數(shù)據(jù)包進(jìn)行標(biāo)記；作為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，在本步驟開(kāi)始前，在所述USB主機(jī)內(nèi)預(yù)設(shè)有各種測(cè)試函數(shù)及USB3.0協(xié)議的所有數(shù)據(jù)協(xié)議，從而在后續(xù)各步驟中可直接匹配需要用到的測(cè)試函數(shù)或數(shù)據(jù)協(xié)議，且所述USB主機(jī)根據(jù)USB3.0協(xié)議對(duì)USB3.0芯片各個(gè)端點(diǎn)同時(shí)建立傳輸通道，以使所述