一種光學(xué)波片延遲度檢測裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種光學(xué)波片延遲度檢測裝置，包括一個測試機架，測試機架上從下到上依次設(shè)有入射光源組件、起偏器放置臺、待測波片旋轉(zhuǎn)臺、標(biāo)準(zhǔn)波片放置臺、檢偏器旋轉(zhuǎn)臺和連接波片測試功率計的測試探頭，入射光源組件中設(shè)有發(fā)射光源和轉(zhuǎn)向棱鏡，待測波片旋轉(zhuǎn)臺中設(shè)有一個中空的微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺，微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)有放置待測波片的載臺，微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺連接有微調(diào)旋鈕，檢偏器旋轉(zhuǎn)臺中設(shè)有一個中空的精密旋轉(zhuǎn)臺，精密旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)有放置檢偏器的載臺，述精密旋轉(zhuǎn)臺連接有蝸輪蝸桿調(diào)節(jié)機構(gòu)；本實用新型測試時能夠方便的旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺和精密旋轉(zhuǎn)臺，經(jīng)過波片的線偏振光的偏振連續(xù)偏轉(zhuǎn)，波片測量操作方便，能夠快速調(diào)整測試，測試效率高、測試準(zhǔn)確可靠。
【專利說明】
一種光學(xué)波片延遲度檢測裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及光學(xué)器件技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光學(xué)波片延遲度檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]光波具有不同偏振態(tài)，光學(xué)系統(tǒng)中經(jīng)常需要改變光波的偏振態(tài)或檢測光波的偏振態(tài)，由于光波的偏振態(tài)是由其正交振動的振幅比與相位差所決定，因此改變這兩個參量就可以改變光波的偏振態(tài)，利用光通過晶體改變?nèi)肷涔獾南辔徊畹奶攸c而制作的一類光學(xué)器件就稱為波片。
[0003]在光學(xué)波片零件加工制造過程中，需要反復(fù)的研磨、拋光，波片零件需要根據(jù)其性能參數(shù)進行檢測，確保加工的波片零件符合要求。檢測波片零件時，需要不斷調(diào)整起偏器、待檢測波片零件和檢偏器之間的平面夾角位置，通過檢偏器的光的強度周期性的變化進行檢測，現(xiàn)有技術(shù)在檢測時需要人工不斷去調(diào)整測試儀器，調(diào)整測試比較慢，比較難以快速調(diào)整測試，因此需要進一步改進。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型提供了一種操作方便、測試效率高、測試準(zhǔn)確可靠的光學(xué)波片延遲度檢測裝置。
[0005]本實用新型為達(dá)到上述技術(shù)目的所采用的技術(shù)方案是:一種光學(xué)波片延遲度檢測裝置，包括一個測試機架，所述測試機架上從下到上依次設(shè)有入射光源組件、起偏器放置臺、待測波片旋轉(zhuǎn)臺、標(biāo)準(zhǔn)波片放置臺、檢偏器旋轉(zhuǎn)臺和連接波片測試功率計的測試探頭，所述入射光源組件中設(shè)有一個水平設(shè)置的發(fā)射光源和一個入射光轉(zhuǎn)向棱鏡，所述待測波片旋轉(zhuǎn)臺中設(shè)有一個中空的微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺，所述微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)有放置待測波片的載臺，所述微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺連接有微調(diào)旋鈕，所述檢偏器旋轉(zhuǎn)臺中設(shè)有一個中空的精密旋轉(zhuǎn)臺，所述精密旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)有放置檢偏器的載臺，所述精密旋轉(zhuǎn)臺連接有蝸輪蝸桿調(diào)節(jié)機構(gòu)。
[0006]所述標(biāo)準(zhǔn)波片放置臺中設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)波片。
[0007]所述測試機架上設(shè)有輔助照明光源。
[0008]本實用新型的有益效果是:采用上述結(jié)構(gòu)，通過設(shè)置能夠放置待測波片的微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺和能夠放置檢偏器的精密旋轉(zhuǎn)臺，微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺中設(shè)有微調(diào)旋鈕，精密旋轉(zhuǎn)臺中設(shè)有蝸輪蝸桿調(diào)節(jié)機構(gòu)，測試時能夠方便的旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺和精密旋轉(zhuǎn)臺，波片連續(xù)旋轉(zhuǎn)時經(jīng)過波片的線偏振光的偏振連續(xù)偏轉(zhuǎn)，波片測量操作方便，能夠快速調(diào)整測試，測試效率高、測試準(zhǔn)確可靠。
【附圖說明】
[0009]下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。其中:
[0010]圖1是本實用新型光學(xué)波片延遲度檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0011]為詳細(xì)說明本實用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖詳細(xì)說明。
[0012]請參閱圖1所示，本實用新型光學(xué)波片延遲度檢測裝置包括一個測試機架I，所述測試機架I上從下到上依次設(shè)有入射光源組件2、起偏器放置臺3、待測波片旋轉(zhuǎn)臺4、標(biāo)準(zhǔn)波片放置臺5、檢偏器旋轉(zhuǎn)臺6和連接波片測試功率計的測試探頭7，所述入射光源組件2中設(shè)有一個水平設(shè)置的發(fā)射光源21和一個入射光轉(zhuǎn)向棱鏡22，所述待測波片旋轉(zhuǎn)臺4中設(shè)有一個中空的微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺41，所述微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺41上設(shè)有放置待測波片的載臺42，所述微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺41連接有微調(diào)旋鈕43，所述檢偏器旋轉(zhuǎn)臺6中設(shè)有一個中空的精密旋轉(zhuǎn)臺61，所述精密旋轉(zhuǎn)臺61上設(shè)有放置檢偏器的載臺62，所述精密旋轉(zhuǎn)臺61連接有蝸輪蝸桿調(diào)節(jié)機構(gòu)63。
[0013]所述標(biāo)準(zhǔn)波片放置臺5中設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)波片51。
[0014]所述測試機架I上設(shè)有輔助照明光源8。
[0015]以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種光學(xué)波片延遲度檢測裝置，其特征在于:包括一個測試機架，所述測試機架上從下到上依次設(shè)有入射光源組件、起偏器放置臺、待測波片旋轉(zhuǎn)臺、標(biāo)準(zhǔn)波片放置臺、檢偏器旋轉(zhuǎn)臺和連接波片測試功率計的測試探頭，所述入射光源組件中設(shè)有一個水平設(shè)置的發(fā)射光源和一個入射光轉(zhuǎn)向棱鏡，所述待測波片旋轉(zhuǎn)臺中設(shè)有一個中空的微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺，所述微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)有放置待測波片的載臺，所述微調(diào)旋轉(zhuǎn)臺連接有微調(diào)旋鈕，所述檢偏器旋轉(zhuǎn)臺中設(shè)有一個中空的精密旋轉(zhuǎn)臺，所述精密旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)有放置檢偏器的載臺，所述精密旋轉(zhuǎn)臺連接有蝸輪蝸桿調(diào)節(jié)機構(gòu)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)波片延遲度檢測裝置，其特征在于:所述標(biāo)準(zhǔn)波片放置臺中設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)波片。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)波片延遲度檢測裝置，其特征在于:所述測試機架上設(shè)有輔助照明光源。
【文檔編號】G01M11/02GK205506359SQ201620293625
【公開日】2016年8月24日
【申請日】2016年4月9日
【發(fā)明人】黃武達(dá)
【申請人】福州科思捷光電有限公司