本發(fā)明涉及電路板的測試裝置領(lǐng)域,特別涉及一種全自動電路板四線測試機。
背景技術(shù):
隨著電子產(chǎn)品功能的復(fù)雜化以及電子產(chǎn)品的小型化,積體電路元件的接點距離隨之縮小,移動電子母板的封裝日趨密集,對載體HDI(高密度互連)電路板的要求越來越高,電路板的線間距密度越來越密,對電路板的布線工藝也有了更高的要求。
現(xiàn)有的HDI電路板經(jīng)過多次鉆孔,圖形轉(zhuǎn)移,及壓板烘烤,不可避免的出現(xiàn)與原始設(shè)計圖形的偏差,而傳統(tǒng)的測試設(shè)備都是采用固定位的測試治具,其測試針不能根據(jù)偏差情況進行調(diào)整,從而出現(xiàn)誤報,導(dǎo)致測試良率下降,而且在生產(chǎn)過程中電路板上不可避免的會有一些灰塵,這也將影響電路板的測試良率下降,這都造成了資源的浪費,而實際上,在出現(xiàn)偏差或有灰塵的電路板上,電性能并沒有任何問題,在一定范圍內(nèi)是允許的。
故需要提供一種全自動電路板四線測試機來解決上述技術(shù)問題。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明提供一種全自動電路板四線測試機,以解決現(xiàn)有技術(shù)中電路板測試設(shè)備的測試效率低以及由于偏差或灰塵的影響造成的測試良率低的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的內(nèi)容為:一種全自動電路板四線測試機,其包括進料單元、測試單元以及出料單元。
其中進料單元包括滾輪輸入裝置、第一升降裝置、進板手臂、皮帶輸送裝置以及除塵裝置;
其中所述滾輪輸入裝置將電路板輸送至所述第一升降裝置上,所述第一升降裝置將電路板向上升送至一設(shè)定高度后,所述進板手臂再吸取電路板并送至所述皮帶輸送裝置上,電路板在所述皮帶輸送裝置上輸送的過程中會經(jīng)過所述除塵裝置,以對電路板上的灰塵雜質(zhì)進行清除,最后再由所述進板手臂將除塵后的電路板傳送至所述測試單元的測試位。
所述滾輪輸入裝置包括平行設(shè)置的多個滾輪,每個所述滾輪的兩端均連接著同步輪,所述同步輪通過同步帶連接第一主動輪進行傳動。
另外,所述滾輪輸入裝置還包括多個導(dǎo)向輪,所述導(dǎo)向輪位于兩個所述同步輪連線的垂直平分線上,且多個所述導(dǎo)向輪均位于所述同步輪的同一側(cè),所述同步帶通過卷繞導(dǎo)向輪來增大所述同步帶對所述同步輪的包角,能提高所述同步帶與所述同步輪之間傳動的穩(wěn)定性。
所述進板手臂由二級輸送機構(gòu)進行傳動,所述二級輸送機構(gòu)包括:
固定底板,在所述固定底板上固定設(shè)置有驅(qū)動電機;
驅(qū)動輪,用于通過所述驅(qū)動電機生成驅(qū)動力;
第一傳動模塊,用于將所述驅(qū)動輪的驅(qū)動力傳遞至所述中間板;
所述中間板,用于在所述驅(qū)動輪的驅(qū)動力作用下向設(shè)定方向移動;
第二傳動模塊,設(shè)置在所述中間板上,用于將所述中間板的驅(qū)動力傳遞至輸送板;
所述輸送板;設(shè)置在所述中間板上,用于在所述中間板的驅(qū)動力的作用下,相對所述中間板向所述設(shè)定方向移動;
其中,所述第一傳動模塊包括固定在所述中間板上,且與所述驅(qū)動輪連接的中間板驅(qū)動帶,所述中間板驅(qū)動帶在所述驅(qū)動輪的驅(qū)動下帶動所述中間板移動,以使得所述中間板向所述設(shè)定方向移動;
所述第二傳動模塊包括固定在所述中間板上的兩個從動輪以及設(shè)置在兩個所述從動輪上的輸送板驅(qū)動帶;所述輸送板驅(qū)動帶一側(cè)與所述固定底板固定連接,所述輸送板驅(qū)動帶另一側(cè)與所述輸送板固定連接,所述輸送板驅(qū)動帶在所述中間板的驅(qū)動力的帶動下,使得輸送板相對所述中間板向所述設(shè)定方向移動;
所述中間板可通過第一滑軌在所述固定底板上向所述設(shè)定方向移動,所述輸送板可通過第二滑軌在所述中間板上向所述設(shè)定方向移動。
當所述驅(qū)動輪轉(zhuǎn)動時,所述中間板驅(qū)動帶帶動所述中間板相對于所述固定底板移動,同時,由于所述中間板的移動,便使得所述輸送板驅(qū)動帶帶動所述輸送板相對于所述中間板移動,當電機轉(zhuǎn)速在相同的情況下,可以實現(xiàn)比單級輸送快一倍的輸送速度。
所述進板手臂還包括吸盤裝置,所述吸盤裝置由外筒、伸縮桿、第一彈簧和吸盤組成;
所述伸縮桿為空心伸縮桿,所述伸縮桿設(shè)置在所述外筒內(nèi),所述伸縮桿的一端延伸在所述外筒之外并與所述吸盤連接,所述伸縮桿的另一端與所述外筒內(nèi)部的底壁形成第二腔室,所述伸縮桿的外側(cè)壁與所述外筒的內(nèi)側(cè)壁形成第一腔室,所述第一腔室與外部真空發(fā)生器連接,所述第二腔室通過所述伸縮桿與外界大氣連接,所述第一腔室與所述第二腔室通過細孔相連;
所述第一彈簧位于所述第一腔室內(nèi),所述第一彈簧套在所述伸縮桿上,所述伸縮桿靠近所述第二腔室的一端設(shè)置有用于限制所述第一彈簧的第一限位板,所述外筒的內(nèi)部設(shè)置有用于限制所述第一彈簧的第二限位板。
所述吸盤裝置的伸縮桿能進行垂直方向的伸縮,并吸取電路板,這樣就使得進板手臂不再需要多余的裝置來控制整個吸盤裝置的垂直運動。
在所述滾輪輸入裝置和所述皮帶輸送裝置之間設(shè)置有用于輸送電路板的第一升降裝置,所述第一升降裝置包括第一輸送帶,用于接收載有待測電路板的輸入平板;
在所述皮帶輸送裝置靠近所述第一升降裝置的一側(cè)還設(shè)置有防撞機構(gòu),所述防撞機構(gòu)沿著所述第一升降裝置的升降方向設(shè)置,所述防撞機構(gòu)由防撞塊、第二彈簧、卡簧、感應(yīng)器和擋板組成;
所述防撞塊位于所述擋板的底部,所述感應(yīng)器設(shè)置在所述擋板的一側(cè),所述感應(yīng)器控制所述第一升降裝置的升降,所述防撞塊通過所述卡簧與所述第二彈簧相連,且在所述第二彈簧的彈力作用下,所述防撞塊與所述感應(yīng)器不接觸,當所述防撞塊接觸到所述感應(yīng)器,所述第一升降裝置會停止上升運動;
在所述擋板面向電路板的一側(cè)設(shè)置有斜角,以利于對所述第一升降裝置輸送過來的電路板做導(dǎo)向,防止其在運動過程中跑偏。
所述除塵裝置與所述皮帶輸送裝置組合,使得所述除塵裝置能對所述皮帶輸送裝置上的電路板進行除塵,所述除塵裝置由支架、上下兩個粘塵輪和上下兩個粘塵紙卷組成,所述上粘塵輪、所述下粘塵輪、所述上粘塵紙卷和所述下粘塵紙卷均平行設(shè)置,所述上粘塵紙卷位于所述上粘塵輪之上,所述下粘塵紙卷位于所述下粘塵輪之下;
所述下粘塵輪的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與所述支架固定連接,所述上粘塵輪的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與所述支架活動連接,使得所述上粘塵輪與所述下粘塵輪之間的距離可自由調(diào)節(jié);
所述上粘塵紙卷的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與所述支架活動連接,使得上粘塵紙卷在重力的作用下始終與所述上粘塵輪保持接觸,所述下粘塵紙卷的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與所述支架活動連接,且所述下粘塵紙卷的轉(zhuǎn)動軸的底部通過第三彈簧與所述支架彈性連接,使得下粘塵紙卷與下粘塵輪之間始終保持接觸。
測試單元用于對電路板進行合格與否的測試,其包括機座、中央處理器、CCD傳感器、微調(diào)裝置以及測試治具;
其中,所述中央處理器與所述CCD傳感器、所述微調(diào)裝置電性連接;
所述微調(diào)裝置包括微調(diào)滑臺和微調(diào)板,所述測試治具包括針板和夾具板,所述微調(diào)板的一面與所述微調(diào)滑臺相連,所述微調(diào)板的另一面與所述針板相連,所述夾具板與所述機座連接,所述微調(diào)滑臺通過絲杠和絲杠螺母與電機連接,進行傳動。
在本發(fā)明中,所述CCD傳感器包括上、下兩個CCD傳感器,所述微調(diào)裝置包括上、下微調(diào)裝置,所述測試治具包括上、下測試治具,以對電路板的上下兩面同時進行測試;
所述測試單元還包括用于控制下微調(diào)裝置和下測試治具的升降的下模升降機構(gòu),所述下模升降機構(gòu)由底板、花鍵軸、輔助板、第二主動輪、從動輪、絲杠、絲杠螺母、升降板組成;
所述下模升降機構(gòu)包括多根花鍵軸,所述花鍵軸的一端與所述升降板固定連接,花鍵軸的側(cè)向通過直線軸承與所述底板滑動連接,所述花鍵軸的另一端與所述輔助板固定連接,可根據(jù)實際情況選擇將全部或部分花鍵軸的另一端與所述輔助板固定連接;
絲杠螺母通過旋轉(zhuǎn)軸承與所述底板相連,絲杠與絲杠螺母相配合,絲杠的一端與所述升降板固定連接,絲杠的另一端與所述輔助板固定連連接,所述第二主動輪通過與所述從動輪進行傳動,進而帶動絲杠螺母轉(zhuǎn)動;
所述下微調(diào)裝置設(shè)置在所述升降板上,所述上微調(diào)裝置與所述機座連接。
其中,所述微調(diào)裝置的底部設(shè)置有基板,所述微調(diào)滑臺包括第一滑臺和第二滑臺,所述第一滑臺設(shè)置在所述基板上,所述第二滑臺設(shè)置在所述第一滑臺上,所述第一滑臺和所述第二滑臺的滑動方向互相垂直,所述第一滑臺和所述第二滑臺的滑動平面互相平行,所述微調(diào)裝置至少包括兩個所述微調(diào)滑臺;
每個所述微調(diào)滑臺均通過絲杠螺母和絲杠與電機連接,電機設(shè)置在所述基板上,每個電機連接在對應(yīng)的所述微調(diào)滑臺的其中一個滑動方向的一側(cè),且兩個電機的傳動方向互相垂直;
所述下微調(diào)裝置的微調(diào)板與所述下測試治具的針板相連,所述上微調(diào)裝置的微調(diào)板與所述上測試治具的針板相連。
所述微調(diào)滑臺還包括連接臺,所述連接臺通過一根轉(zhuǎn)動軸連接在所述第二滑臺之上,所述微調(diào)板通過所述連接臺與所述微調(diào)滑臺固定連接。
出料單元根據(jù)測試的通過與否將測試完畢的電路板輸送至相應(yīng)的區(qū)域,所述區(qū)域包括測試合格區(qū)和測試不合格區(qū),所述出料單元包括出板手臂、第二升降裝置以及滾輪輸出裝置。
其中,所述出板手臂和所述進板手臂、所述滾輪輸出裝置和所述滾輪輸入裝置的結(jié)構(gòu)類似,故不再對其進行詳細的陳述。
所述第二升降裝置包括第二輸送帶,在所述第二輸送帶上設(shè)置有輸出平板,所述測試合格區(qū)和測試不合格區(qū)位于不同的所述輸出平板上,當電路板放滿后,所述第二升降裝置自動下降,通過第二輸送帶將載有已測電路板的輸出平板輸送至所述滾輪輸出裝置,最后由滾輪輸出裝置送出。
本發(fā)明相較于現(xiàn)有技術(shù),其有益效果為:本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的進料單元能輸送整疊的電路板,再通過進板手臂逐一的送至待測位進行測試,而測試單元能對未通過測試的電路板自動進行對位微調(diào)并測試,出料單元根據(jù)測試結(jié)果將測試完畢的電路板輸送至相應(yīng)的區(qū)域,高效的輸入和分類輸出以及精確的對位并測試,大大提高了電路板測試的效率和良率,同時降低了成本,減少了資源的浪費。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面對實施例中所需要使用的附圖作簡單的介紹,下面描述中的附圖僅為本發(fā)明的部分實施例相應(yīng)的附圖。
圖1為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的進料單元的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的滾輪輸入裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4為圖3中的滾輪輸入裝置的左視方向的截面圖。
圖5為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的進板手臂的二級輸送機構(gòu)的正視圖。
圖6為圖5中的進板手臂的二級輸送機構(gòu)的俯視圖。
圖7為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的進板手臂的吸盤裝置的剖視圖。
圖8為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的皮帶輸送裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖9為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的防撞機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖10為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的除塵裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖11為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的下模升降機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖12為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的卡箱、測試治具以及微調(diào)裝置的組合結(jié)構(gòu)示意圖。
圖13為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的微調(diào)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖14為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
傳統(tǒng)的電路板測試設(shè)備都是采用固定位的測試治具,其測試針不能根據(jù)偏差情況進行調(diào)整,從而出現(xiàn)誤報,導(dǎo)致測試良率下降,而且在生產(chǎn)過程中電路板上不可避免的會有一些灰塵,這也將影響電路板的測試良率下降,而實際上,在出現(xiàn)偏差或有灰塵的電路板上,電性能并沒有任何問題,在一定范圍內(nèi)是允許的,因此這也造成了資源的浪費。
如下為本發(fā)明提供的一種能解決以上技術(shù)問題的全自動電路板四線測試機的優(yōu)選實施例。
請參照圖1,其中圖1為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的結(jié)構(gòu)示意圖。
在圖中,結(jié)構(gòu)相似的單元是以相同標號表示。
本發(fā)明提供的全自動電路板四線測試機的優(yōu)選實施例為:一種全自動電路板四線測試機,其包括進料單元1、測試單元2以及出料單元3。
請參照圖2,其中圖2為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的進料單元的結(jié)構(gòu)示意圖。
進料單元1包括滾輪輸入裝置11、第一升降裝置12、進板手臂13、皮帶輸送裝置14以及除塵裝置15;
其中滾輪輸入裝置11將電路板輸送至第一升降裝置12上,第一升降裝置12將電路板向上升送至一設(shè)定高度后,進板手臂13再吸取電路板并送至皮帶輸送裝置14上,電路板在皮帶輸送裝置14上輸送的過程中會經(jīng)過除塵裝置15,以對電路板上的灰塵雜質(zhì)進行清除,最后再由進板手臂13將除塵后的電路板傳送至測試單元2的測試位。
請參照圖3和圖4,其中圖3為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的滾輪輸入裝置的結(jié)構(gòu)示意圖,圖4為圖3中的滾輪輸入裝置的左視方向的截面圖。
滾輪輸入裝置11包括平行設(shè)置的多個滾輪111,每個滾輪111的兩端均連接著同步輪114,同步輪114通過同步帶113連接第一主動輪112進行傳動。
另外,滾輪111輸入裝置還包括多個導(dǎo)向輪115,導(dǎo)向輪115位于兩個同步輪114連線的垂直平分線上,且多個導(dǎo)向輪115均位于同步輪114的同一側(cè),同步帶113通過卷繞導(dǎo)向輪115來增大同步帶對同步輪114的包角,能保證同步帶113與每個同步輪114之間的摩擦輪,保證每個滾輪111被帶動,進一步提高同步帶113帶動滾輪111傳動的穩(wěn)定性,使得滾輪輸入裝置11能將電路板更穩(wěn)定的輸送至第一升降裝置12上。
請參照圖5和圖6,其中圖5為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的進板手臂的二級輸送機構(gòu)的正視圖,圖6為圖5中的進板手臂的二級輸送機構(gòu)的俯視圖。
進板手臂13由二級輸送機構(gòu)131進行傳動,二級輸送機構(gòu)131主要由固定底板1311、中間板1312、輸送板1313、驅(qū)動輪1314、從動輪1316、中間板驅(qū)動帶1315a、輸送板驅(qū)動帶1315b等組成;
其中,驅(qū)動輪1314連接在驅(qū)動電機的轉(zhuǎn)動軸上,而驅(qū)動電機與固定底板1311固定連接,中間板驅(qū)動帶1315a的兩端通過固定塊1319c固定在中間板1312的兩端,且中間板驅(qū)動帶1315a繞過滑輪1317連接在驅(qū)動輪1314上,驅(qū)動電機通過驅(qū)動驅(qū)動輪1314,帶動中間板驅(qū)動帶1315a相對電機發(fā)生移動;
兩個從動輪1316設(shè)置在中間板1312的兩端,輸送板驅(qū)動帶1315b為圈式封閉的同步帶,輸送板驅(qū)動帶1315b繞在兩個從動輪1316上,輸送板驅(qū)動帶1315b一側(cè)通過固定塊1319b與固定底板1311相連,輸送板驅(qū)動帶1315b的另一側(cè)通過固定塊1319a與輸送板1313相連;
中間板1312可通過第一滑軌1318a在固定底板1311上滑動,輸送板1313可通過第二滑軌1318b在中間板1312上滑動。
由于驅(qū)動電機與固定底板1311固定連接,當驅(qū)動輪1314轉(zhuǎn)動時,中間板驅(qū)動帶1315a會順著驅(qū)動輪1314的轉(zhuǎn)動方向被帶動,而中間板驅(qū)動帶1315a的兩端與中間板1312是固定連接的,并且中間板1312可通過第一滑軌1318a在固定底板1311上滑動,所以,驅(qū)動輪1314可通過中間板驅(qū)動帶1315a控制中間板1312沿著第一滑軌1318a相對于固定底板1311向設(shè)定方向移動;
另外,當中間板1312沿第一滑軌1318a移動,同時會帶著固定設(shè)置在中間板1312上的從動輪1316以及輸送板驅(qū)動帶1315b一起移動,而由于輸送板驅(qū)動帶1315b一側(cè)通過固定塊1319b與固定底板1311相連,所以在中間板1312向設(shè)定方向移動的驅(qū)動力的作用下,輸送板驅(qū)動帶1315b會繞著從動輪1316轉(zhuǎn)動,而輸送板驅(qū)動帶1315b的另一側(cè)通過固定塊1319a與輸送板1313相連,輸送板驅(qū)動帶1315b繞從動輪1316轉(zhuǎn)動就會帶動輸送板1313沿著第二滑軌1318b相對于中間板1312移動;
在驅(qū)動電機轉(zhuǎn)速相同的情況下,這樣的二級輸送機構(gòu)131能使進板手臂13的運動速度比單級輸送快一倍。
請參照圖7,其中圖7為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的進板手臂的吸盤裝置的剖視圖。
進板手臂13還包括吸盤裝置132,吸盤裝置132主要由外筒1321、伸縮桿1324、第一彈簧1325和吸盤1326組成;
伸縮桿1324為空心伸縮桿,伸縮桿1324設(shè)置在外筒1321內(nèi),伸縮桿1324的一端延伸在外筒1321之外并與吸盤1326連接,伸縮桿1324的另一端與外筒1321內(nèi)部的底壁形成第二腔室1323,伸縮桿1324的外側(cè)壁與外筒1321的內(nèi)側(cè)壁形成第一腔室1322,第一腔室1322與外部真空發(fā)生器連接,第二腔室1323通過伸縮桿1324與外界大氣連接,第一腔室1322與第二腔室1323通過細孔相連;
第一彈簧1325位于第一腔室1322內(nèi),第一彈簧1325套在伸縮桿1324上,伸縮桿1324靠近第二腔室1323的一端設(shè)置有用于限制第一彈簧1325的第一限位板,外筒1321的內(nèi)部設(shè)置有用于限制第一彈簧1325的第二限位板。
當?shù)谝磺皇?322的真空度達到一定強度時,第一腔室1322內(nèi)壓強較小,而第二腔室1323與大氣連通,其氣壓比第一腔室1322大,從而形成壓差,使伸縮桿1324伸出,當吸盤1326接觸到電路板時,第二腔室1323即與大氣隔離,通過第一腔室1322與第二腔室1323之間的細縫,第一腔室1322與第二腔室1323的氣壓相同,在第一彈簧1325的作用下伸縮桿1324縮回。
吸盤裝置132的伸縮桿1324能進行垂直方向的伸縮,并吸取電路板,這樣就使得進板手臂13不再需要多余的裝置來控制整個吸盤裝置132的垂直運動。
請參照圖8和圖9,其中圖8為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的皮帶輸送裝置的結(jié)構(gòu)示意圖,圖9為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的防撞機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
在滾輪輸入裝置11和皮帶輸送裝置14之間設(shè)置有用于輸送電路板的第一升降裝置12,第一升降裝置12包括第一輸送帶,其用于接收載有待測電路板的輸入平板,第一升降裝置12的升降由感應(yīng)器控制,能使最頂部的待測電路板保持在一定的水平位置,以利于進板手臂13的吸取。
皮帶輸送裝置14采用左右旋絲杠141來調(diào)節(jié)寬度,以更好的保證兩側(cè)的輸送皮帶在調(diào)節(jié)時保持寬度的一致。
在皮帶輸送裝置14靠近第一升降裝置12的一側(cè)還設(shè)置有防撞機構(gòu)142,防撞機構(gòu)沿著第一升降裝置12的升降方向設(shè)置,防撞機構(gòu)142由防撞塊1423、第二彈簧1425、卡簧1424、感應(yīng)器1422和擋板1421組成;
防撞塊1423位于擋板1421的底部,防撞塊1423通過卡簧1424與第二彈簧1425相連,且在第二彈簧1425的彈力作用下,防撞塊1423與感應(yīng)器1422不接觸,當?shù)谝簧笛b置12上的電路板撞到防撞塊1423時,會使防撞塊1423接觸到感應(yīng)器1422,進而使得第一升降裝置12會停止上升運動。
在擋板1421面向電路板的一側(cè)設(shè)置有斜角1426,以利于對第一升降裝置12向上升送的電路板做導(dǎo)向,既能對有一定偏位的電路板進行矯正,又能防止其在運動過程中跑偏。
請參照圖10,其中圖10為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的除塵裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
除塵裝置15與皮帶輸送裝置14組合,使得除塵裝置15能對皮帶輸送裝置14上的電路板進行除塵,除塵裝置15由支架151、上下兩個粘塵輪和上下兩個粘塵紙卷組成,上粘塵輪152、下粘塵輪153、上粘塵紙卷154和下粘塵紙卷155均平行設(shè)置,上粘塵紙卷154位于上粘塵輪152之上,下粘塵紙卷155位于下粘塵輪153之下;
下粘塵輪153的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與支架151固定連接,上粘塵輪152的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與支架151活動連接,使得上粘塵輪152與下粘塵輪153之間的距離可自由調(diào)節(jié);
上粘塵紙卷154的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與支架151活動連接,使得上粘塵紙卷154在重力的作用下始終與上粘塵輪152保持接觸,下粘塵紙卷155的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與支架151活動連接,且下粘塵紙卷155的轉(zhuǎn)動軸的底部通過第三彈簧156與支架151彈性連接,使得下粘塵紙卷155與下粘塵輪153之間始終保持接觸。
這樣能使除塵裝置15對皮帶輸送裝置14上輸送的電路板進行更有效除塵處理。
請參照圖12、圖13和圖14,其中圖12為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的卡箱、測試治具以及微調(diào)裝置的組合結(jié)構(gòu)示意圖,圖13為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的微調(diào)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖,圖14為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的測試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。
測試單元2用于對電路板進行合格與否的測試,其包括機座、中央處理器、CCD傳感器、微調(diào)裝置22以及測試治具23;
其中,中央處理器與CCD傳感器、微調(diào)裝置22電性連接;
微調(diào)裝置22包括微調(diào)滑臺,微調(diào)滑臺通過絲杠224和絲杠螺母223與電機225連接,進行傳動;
微調(diào)裝置22的底部設(shè)置有基板221,微調(diào)滑臺包括連接臺222a、第一滑臺222b以及第二滑臺222c,連接臺222a通過一根轉(zhuǎn)動軸連接在第二滑臺222c之上,連接臺222a可通過轉(zhuǎn)動軸在第二滑臺222c上自由轉(zhuǎn)動,第一滑臺222b與絲杠螺母223固定連接。
第一滑臺222b設(shè)置在基板221上,第一滑臺222b和基板221之間通過預(yù)設(shè)的導(dǎo)軌滑動連接,第二滑臺222c設(shè)置在第一滑臺222b之上,第二滑臺222c和第一滑臺之間也通過預(yù)設(shè)的導(dǎo)軌滑動連接。
測試治具23包括針板231和夾具板232,微調(diào)裝置22還包括微調(diào)板226,微調(diào)板226的一面與連接臺222a相連,微調(diào)板226的另一面與針板231相連,夾具板232通過延伸塊2322與機座連接。
通過電機分別控制相應(yīng)的微調(diào)滑臺進行滑動,進而通過微調(diào)板226帶動針板231進行微調(diào),待測電路板則位于夾具板232上,而同時由于夾具板232與機座固定連接而保持不動,這樣就能實現(xiàn)測試針與電路板上測試點的相對位置的微調(diào)。
另外,測試治具還包括用于固定待測電路板的夾頭2321,夾頭2321穿過針板231,同時針板231上供夾頭2321穿過的通孔的孔徑大于夾頭2321的軸徑,以利于針板231的微調(diào)。
其中,微調(diào)裝置22至少包括兩個微調(diào)滑臺,兩個微調(diào)滑臺各自包括兩個互相垂直的滑動方向,即第一滑臺222b和第二滑臺222c的滑動方向互相垂直,且這兩個微調(diào)滑臺的兩個滑動方向相同;
每個微調(diào)滑臺均通過絲杠螺母和絲杠與電機連接,每個電機連接在對應(yīng)的微調(diào)滑臺的其中一個滑臺的滑動方向的一側(cè),且兩個電機的傳動方向互相垂直,即通過這兩個電機來控制微調(diào)裝置22在互相垂直的兩個方向上的微調(diào)。
在本優(yōu)選實施例中,基板221為矩形,在基板221的四角上均設(shè)置有一個微調(diào)滑臺,且四個微調(diào)滑臺中,對角線上的兩個微調(diào)滑臺對應(yīng)連接著的電機的傳動方向相同,不同對角線上的微調(diào)滑臺對應(yīng)連接著的電機的傳動方向則互相垂直。
同時,每個微調(diào)滑臺的第一滑臺222b均通過絲杠螺母和絲杠與對應(yīng)的電機連接,而電機固定設(shè)置在基板221上,四個位置的微調(diào)滑臺能形成非常平穩(wěn)的支撐及微調(diào)結(jié)構(gòu)。
在本發(fā)明中,CCD傳感器包括上、下兩個CCD傳感器,微調(diào)裝置包括上、下微調(diào)裝置,測試治具包括上、下測試治具,以對電路板的上下兩面同時進行測試;
測試治具的電子元件設(shè)置在卡箱內(nèi),卡箱包括上、下卡箱。
下微調(diào)裝置的微調(diào)板與下測試治具的針板相連,上微調(diào)裝置的微調(diào)板與上測試治具的針板相連。
請參照圖11,其中圖11為本發(fā)明的全自動電路板四線測試機的下模升降機構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
測試單元2還包括用于控制下微調(diào)裝置和下測試治具的升降的下模升降機構(gòu),下模升降機構(gòu)由底板211、花鍵軸217、輔助板218、第二主動輪213、從動輪214、絲杠216、絲杠螺母215、升降板212組成;
下模升降機構(gòu)包括多根花鍵軸217,花鍵軸217的一端與升降板212固定連接,花鍵軸217的側(cè)向通過直線軸承與底板211滑動連接,花鍵軸217的另一端與輔助板218固定連接,其中,可以根據(jù)實際情況選擇所有花鍵軸均連接著輔助板或者部分花鍵軸連接著輔助板,連接輔助板能提高花鍵軸對整塊升降板212導(dǎo)向的穩(wěn)定性;
絲杠螺母215通過旋轉(zhuǎn)軸承與底板211相連,絲杠216與絲杠螺母215相配合,絲杠216的一端與升降板212固定連接,絲杠216的另一端與輔助板218固定連連接,第二主動輪213通過與從動輪214進行傳動,進而帶動絲杠螺母215轉(zhuǎn)動;
下微調(diào)裝置設(shè)置在升降板212上,上微調(diào)裝置與機座連接。
上測試治具對應(yīng)的電子元件設(shè)置在上卡箱中,下測試治具對應(yīng)的電子元件設(shè)置在下卡箱24中,其中,下卡箱24通過氣缸推動以跟隨升降板212運動。
出料單元3根據(jù)測試的通過與否將測試完畢的電路板輸送至相應(yīng)的區(qū)域,區(qū)域包括測試合格區(qū)和測試不合格區(qū),出料單元3包括出板手臂、第二升降裝置以及滾輪輸出裝置。
其中,出板手臂和進板手臂13的結(jié)構(gòu)類似、滾輪輸出裝置和滾輪輸入裝置11的結(jié)構(gòu)類似,故不再對其進行詳細的陳述。
第二升降裝置包括第二輸送帶,在第二輸送帶上設(shè)置有輸出平板,測試合格區(qū)和測試不合格區(qū)位于不同的輸出平板上,當電路板放滿后,第二升降裝置自動下降,并通過第二輸送帶將載有已測電路板的輸出平板輸送至滾輪輸出裝置,最后由滾輪輸出裝置送出。
本發(fā)明的全自動電路板四線測試機工作的步驟為:首先將一疊待測電路板整齊的放置到輸入平板上,再將載有待測電路板的輸入平板放置于滾輪輸送裝置上,滾輪輸送裝置通過滾輪111將載有待測電路板的輸入平板輸送到第一升降裝置12上。
第一升降裝置12將整疊電路板向上升,其中,在上升通道周圍設(shè)置有多個防撞機構(gòu),如果電路板偏的太厲害便會碰到防撞機構(gòu)的防撞塊1423,會使防撞塊1423接觸到感應(yīng)器1422,進而使得第一升降裝置12會停止上升運動;
另外防撞機構(gòu)還包括擋板1421,擋板1421面向電路板的一側(cè)設(shè)置有斜角1426,這樣既能對有一定偏位的電路板進行矯正,又能防止電路板在運動過程中跑偏。
當電路板上升到一定高度,會有感應(yīng)器感應(yīng)到并控制第一升降裝置12停止上升,而且能一直控制使得最頂部的待測電路板保持在一定的水平位置,以利于進板手臂13的吸取。
當電路板上升到設(shè)定的高度并停止,進板手臂13的吸盤裝置132通過控制真空發(fā)生器吸取第一腔室1322的氣體,當?shù)谝磺皇?322的真空度達到一定強度時,伸縮桿1324伸出,吸盤1326接觸電路板,由于第一腔室1322與第二腔室1323之間通過細縫連接,吸盤1326會吸住電路板,同時伸縮桿1324縮回。
另外,當輸入平板上的待測電路板都被進板手臂13輸送完后,第一升降裝置12向下降落,并通過第一輸送帶將輸入平板送至滾輪輸入裝置11上并送出,以用于再次放置待測電路板。
電機驅(qū)動驅(qū)動輪1314轉(zhuǎn)動,中間板驅(qū)動帶1315a帶動中間板1312運動,輸送板驅(qū)動帶1315b帶動輸送板1313運動,將吸有電路板的吸盤裝置132送至皮帶輸送裝置14的皮帶上。
電路板在皮帶上運動的過程中會從除塵裝置15的上、下粘塵輪之間穿過,進行除塵處理,其中,上粘塵輪152的轉(zhuǎn)動軸通過軸承與支架151活動連接,電路板穿過時,電路板的上下兩面會與上、下粘塵輪有緊密接觸,使得電路板得到有效的除塵處理,同時上、下粘塵輪上的灰塵雜質(zhì)又分別會被上、下粘塵紙卷帶走。
接著,進板手臂13又將經(jīng)過除塵處理的電路板送至測試單元2,并放到測試治具的夾頭2321上,下模升降機構(gòu)的第二主動輪213通過與從動輪214傳動,進而帶動絲杠螺母215轉(zhuǎn)動,使得絲杠216驅(qū)動升降板212上升。
當上、下測試治具的針板與電路板對應(yīng)的測試點連接即進行電路板的測試;
當測試不通過時,升降板212復(fù)位,上、下CCD傳感器對電路板上下兩面的識別點進行拍照,并將數(shù)據(jù)反饋給中央處理器,中央處理器根據(jù)反饋的數(shù)據(jù)來控制上、下微調(diào)裝置內(nèi)的電機對微調(diào)滑臺進行驅(qū)動,進而對相應(yīng)的微調(diào)板226進行微調(diào),而同時也就帶動相應(yīng)的針板231進行微調(diào)。
其中,當只有一條對角線上的兩個電機對微調(diào)滑臺進行同一方向的微調(diào)時,另一條對角線上的微調(diào)滑臺則通過第二滑臺222c與第一滑臺222b的滑動配合進行相應(yīng)的運動,使微調(diào)板226在兩個電機的傳動方向上得到微調(diào);
當同時控制兩條不同對角線上的電機對微調(diào)滑臺進行微調(diào),且同一對角線上的電機的傳動方向相同時,會使微調(diào)板226得到一定角度的斜向微調(diào);
當同時控制兩條不同對角線上的電機對微調(diào)滑臺進行微調(diào),且同一對角線上的電機的傳動方向不相同時,會使微調(diào)板226得到一定旋轉(zhuǎn)角度的微調(diào)。
微調(diào)完畢后,再驅(qū)動升降板212上升對電路板再次進行測試;
若測試通過,中央控制則會控制出板手臂將通過測試的電路板送至第二升降裝置的測試合格區(qū),若測試不通過,出板手臂則將該電路板送至第二升降裝置的測試不合格區(qū)。
當測試合格區(qū)或測試不合格區(qū)的電路板放滿后,其相應(yīng)的第二升降裝置會自動下降,并驅(qū)動第二升降裝置上的第二輸送帶將載有已測電路板的輸出平板輸送至所述滾輪輸出裝置,最后由滾輪輸出裝置送出。
取完已測電路板后,可將輸出平板再送回到第二升降裝置上以用于再次接收已測電路板。
這樣即完成了本優(yōu)選實施例的全自動電路板四線測試機對電路板的測試過程。
本優(yōu)選實施例的全自動電路板四線測試機的進料單元能輸送整疊的電路板,測試單元能對未通過測試的電路板自動進行對位微調(diào)并測試,出料單元能根據(jù)測試結(jié)果將測試完畢的電路板輸送至相應(yīng)的區(qū)域,高效的輸入和分類輸出以及精確的對位并測試,大大提高了電路板測試的效率和良率,同時降低了成本,減少了資源的浪費。
綜上所述,雖然本發(fā)明已以優(yōu)選實施例揭露如上,但上述優(yōu)選實施例并非用以限制本發(fā)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),均可作各種更動與潤飾,因此本發(fā)明的保護范圍以權(quán)利要求界定的范圍為準。