本發(fā)明涉及一種測(cè)試向量匹配方法，尤其涉及一種集成電路測(cè)試中主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法，屬于集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

數(shù)字信號(hào)處理是一門涉及許多學(xué)科而又廣泛應(yīng)用于許多領(lǐng)域的熱點(diǎn)學(xué)科。DSP(digital signal processor，數(shù)字信號(hào)處理器)是一種由大規(guī)?；虺笠?guī)模集成電路芯片組成的用來(lái)完成某種信號(hào)處理任務(wù)的處理器，通過(guò)使用數(shù)學(xué)技巧執(zhí)行轉(zhuǎn)換或提取信息，來(lái)處理現(xiàn)實(shí)信號(hào)，這些信號(hào)由數(shù)字序列表示，是以數(shù)字信號(hào)來(lái)處理大量信息的器件。其工作原理是接收模擬信號(hào)，轉(zhuǎn)換為0或1的數(shù)字信號(hào)。再對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行修改、刪除、強(qiáng)化，并在其他系統(tǒng)芯片中把數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)解譯回模擬數(shù)據(jù)或?qū)嶋H環(huán)境格式。它不僅具有可編程性，而且其實(shí)時(shí)運(yùn)行速度可達(dá)每秒數(shù)以千萬(wàn)條復(fù)雜指令程序，遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)通用微處理器，是數(shù)字化電子世界中日益重要的電腦芯片。強(qiáng)大數(shù)據(jù)處理能力和高運(yùn)行速度，使數(shù)字信號(hào)處理器已經(jīng)在通信、語(yǔ)音處理、圖像、圖形、等諸多領(lǐng)域得到極為廣泛的應(yīng)用。

如今，DSP在各個(gè)領(lǐng)域的普及以及需求大大增加。但是，DSP測(cè)試業(yè)卻相對(duì)落后。目前國(guó)內(nèi)能對(duì)DSP進(jìn)行測(cè)試的企業(yè)寥寥無(wú)幾。遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足設(shè)計(jì)以及生產(chǎn)的需求，有些甚至需要送到國(guó)外去測(cè)試，才能放心的投入設(shè)計(jì)與生產(chǎn)當(dāng)中。如此的行業(yè)鏈空缺造成產(chǎn)品周期的加長(zhǎng)，增加了產(chǎn)品成本，降低了企業(yè)在市場(chǎng)中的競(jìng)爭(zhēng)力。另一方面，軍工單位因?yàn)橐獙?duì)器件進(jìn)行老化篩選，經(jīng)過(guò)老化和輻照后，器件的性能甚至功能會(huì)發(fā)生故障，因此必須對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試才能應(yīng)用。

然而，DSP本身的集成度、功能的多樣性以及整體的復(fù)雜度使得對(duì)其測(cè)試異常的困難。但大量的需求使得對(duì)其測(cè)試的需求更加迫切，更高的復(fù)雜度，使得對(duì)DSP測(cè)試提出更高的挑戰(zhàn)。

目前，大部分針對(duì)DSP的測(cè)試方法中，是由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)提供外部時(shí)鐘作為待測(cè)器件(DUT)的工作時(shí)鐘。并且依據(jù)工作時(shí)鐘，由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)為待測(cè)器件提供復(fù)雜的初始化指令，以及芯片工作運(yùn)行的各種計(jì)算指令。這種設(shè)計(jì)方式要求自動(dòng)測(cè)試設(shè)備被動(dòng)的按照芯片運(yùn)行的方式，從頭到尾配合芯片的初始化工作，并且完成復(fù)雜的輸入指令和讀出工作。另一方面，因?yàn)椴捎帽粍?dòng)去匹配芯片運(yùn)行指令的方式，當(dāng)需要執(zhí)行的指令復(fù)雜度上升之后，很容易出現(xiàn)由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備給出測(cè)試向量和芯片本身運(yùn)行的指令之間出現(xiàn)時(shí)序上的不對(duì)應(yīng)情況。或是芯片工作指令和測(cè)試向量出現(xiàn)不匹配的情況。不能很好地滿足待測(cè)器件的測(cè)試需求。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法。

為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的，本發(fā)明采用下述的技術(shù)方案：

一種主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法，包括如下步驟：

S1，設(shè)計(jì)DSP的測(cè)試程序，通過(guò)程序配置器將DSP的測(cè)試程序固化到芯片中；

S2，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備通過(guò)異步串行通信方式與DSP連接，向DSP發(fā)送匹配控制字；根據(jù)匹配控制字，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)；

S3，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備運(yùn)行匹配控制字對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量，完成所述匹配控制字對(duì)應(yīng)的主動(dòng)式匹配測(cè)試；

S4，重復(fù)步驟S2～S3，直至所有匹配控制字對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量測(cè)試完成，通過(guò)測(cè)試向量運(yùn)行結(jié)果與匹配控制字對(duì)應(yīng)的芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)進(jìn)行對(duì)比得到DSP的測(cè)試結(jié)果。

其中較優(yōu)地，在步驟S1中，所示測(cè)試程序包括匹配控制字與芯片操作指令碼的對(duì)應(yīng)關(guān)系以及芯片操作指令碼的內(nèi)容。

其中較優(yōu)地，在步驟S2中，所示測(cè)試程序覆蓋芯片的各項(xiàng)功能。

其中較優(yōu)地，在步驟S2中，DSP根據(jù)匹配控制字，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)，包括如下步驟：

S21，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備向DSP發(fā)送匹配控制字；

S22，DSP識(shí)別匹配控制字，根據(jù)匹配控制字在固化到芯片中的測(cè)試程序中尋找對(duì)應(yīng)的指令操作碼；

S23，在芯片內(nèi)部執(zhí)行匹配控制字唯一對(duì)應(yīng)的芯片指令操作碼，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。

其中較優(yōu)地，在步驟S2中，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備通過(guò)芯片串行通信發(fā)送匹配控制字改DSP。

其中較優(yōu)地，在步驟S4中，設(shè)置對(duì)比精度參數(shù)；用于根據(jù)對(duì)比精度參數(shù)將匹配控制字對(duì)應(yīng)的芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)與測(cè)試向量運(yùn)行結(jié)果進(jìn)行對(duì)比得到測(cè)試結(jié)果。

本發(fā)明所提供的主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法，克服了現(xiàn)有技術(shù)中繁瑣的配置數(shù)字信號(hào)處理器以完成初始化的工作，簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程中芯片初始化流程。同時(shí)，根據(jù)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備發(fā)送的匹配控制字唯一的指定數(shù)字信號(hào)處理器內(nèi)部指令以及達(dá)到預(yù)設(shè)工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。再此基礎(chǔ)上施加測(cè)試向量，完成精確匹配。提高了測(cè)試效率，減少了測(cè)試時(shí)間和測(cè)試成本。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明所提供的主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法的流程圖；

圖2為本發(fā)明所提供的一個(gè)實(shí)施例中，對(duì)DSP進(jìn)行主動(dòng)式測(cè)試向量匹配的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容進(jìn)行詳細(xì)具體的說(shuō)明。

為了克服現(xiàn)有的測(cè)試方法中，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)使用被動(dòng)的匹配機(jī)制造成指令復(fù)雜度上升，進(jìn)而導(dǎo)致時(shí)序不穩(wěn)定，測(cè)試向量與芯片狀態(tài)匹配不上的問(wèn)題，本發(fā)明提供一種主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法，以建立一種測(cè)試向量匹配機(jī)制，使得自動(dòng)測(cè)試設(shè)備可以通過(guò)發(fā)送匹配控制字指定芯片的工作指令狀態(tài)，從而精準(zhǔn)的完成測(cè)試向量和芯片指令操作碼以及狀態(tài)的匹配工作，高效的完成測(cè)試。

如圖1所示，本發(fā)明提供的主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法，讓待測(cè)芯片處在內(nèi)部時(shí)鐘作為工作時(shí)鐘的狀態(tài)，具體包括如下步驟：首先，設(shè)計(jì)DSP的測(cè)試程序，通過(guò)程序配置器將DSP的測(cè)試程序固化到芯片中。然后，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備通過(guò)異步串行通信方式與DSP連接，向DSP發(fā)送匹配控制字；DSP識(shí)別匹配控制字，在芯片內(nèi)部執(zhí)行匹配控制字唯一對(duì)應(yīng)的芯片指令操作碼，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。最后，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備運(yùn)行匹配控制字對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量，完成該匹配控制字對(duì)應(yīng)的主動(dòng)式匹配測(cè)試。重復(fù)上述步驟，直至所有測(cè)試向量測(cè)試完成，通過(guò)結(jié)果對(duì)比得到DSP的測(cè)試結(jié)果。下面對(duì)這一過(guò)程做詳細(xì)具體的說(shuō)明。

S1，根據(jù)DSP的技術(shù)特點(diǎn)，設(shè)計(jì)DSP的測(cè)試程序，通過(guò)程序配置器將DSP的測(cè)試程序固化到芯片中。

針對(duì)待測(cè)集成電路器件DSP的技術(shù)特點(diǎn)，通過(guò)其集成開發(fā)環(huán)境IDE，對(duì)DSP開發(fā)配置和預(yù)設(shè)程序，為其完成芯片的預(yù)定義、初始化以及工作服務(wù)函數(shù)，即設(shè)計(jì)芯片的具體功能以及對(duì)應(yīng)的DSP的測(cè)試程序，并通過(guò)程序配置器將測(cè)試程序固化到芯片中。在本發(fā)明所提供的實(shí)施例中，測(cè)試程序包括匹配控制字與芯片操作指令碼的對(duì)應(yīng)關(guān)系以及芯片操作指令碼的內(nèi)容。該測(cè)試程序應(yīng)該盡量完備的覆蓋芯片的各項(xiàng)功能，以保證測(cè)試的完整性。

數(shù)字信號(hào)處理器不需要自動(dòng)測(cè)試設(shè)備提供工作時(shí)鐘，而是采用內(nèi)部時(shí)鐘作為工作時(shí)鐘，以及在內(nèi)部時(shí)鐘的帶動(dòng)下驅(qū)動(dòng)芯片內(nèi)部完成芯片預(yù)定義、初始化以及工作服務(wù)函數(shù)運(yùn)行工作?？朔爽F(xiàn)有技術(shù)中繁瑣的配置數(shù)字信號(hào)處理器以完成初始化的工作，簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程中芯片初始化流程。

S2，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備通過(guò)異步串行通信方式與DSP連接，向DSP發(fā)送匹配控制字；DSP根據(jù)匹配控制字，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備通過(guò)異步串行通信方式與DSP連接，DSP首先自行運(yùn)行工作指令，然后讓自動(dòng)測(cè)試設(shè)備發(fā)送匹配控制字，匹配控制字直接指定芯片的指令狀態(tài)。DSP識(shí)別匹配控制字，在芯片內(nèi)部執(zhí)行匹配控制字唯一對(duì)應(yīng)的芯片指令操作碼，因?yàn)槲ㄒ恍酒噶畈僮鞔a對(duì)應(yīng)芯片的唯一工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。所以，芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。據(jù)此，接在匹配控制字之后的測(cè)試向量就可以精準(zhǔn)無(wú)誤完成對(duì)芯片輸出狀態(tài)的匹配工作。不再通過(guò)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備給入具體工作指令，而只是給入匹配控制字，從而將自動(dòng)將芯片置于期望狀態(tài)，在此基礎(chǔ)上由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備直接施加測(cè)試向量完成測(cè)試。其中，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備向DSP發(fā)送匹配控制字；數(shù)字信號(hào)處理器DSP根據(jù)匹配控制字，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。具體包括如下步驟：

S21，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備向DSP發(fā)送匹配控制字。

S22，DSP識(shí)別匹配控制字，根據(jù)匹配控制字在固化到芯片中的測(cè)試程序中尋找對(duì)應(yīng)的芯片指令操作碼。

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備發(fā)送不同的匹配控制字給數(shù)字信號(hào)處理器。每一個(gè)匹配控制字產(chǎn)生數(shù)字信號(hào)處理器的一種唯一指定的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。數(shù)字信號(hào)處理器接收到匹配控制字之后，根據(jù)匹配控制字在固化到芯片中的測(cè)試程序中尋找對(duì)應(yīng)的芯片指令操作碼，被指定到唯一的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。進(jìn)而，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的測(cè)試向量可以可控的施加于數(shù)字信號(hào)處理器上，自動(dòng)在芯片內(nèi)部運(yùn)行對(duì)應(yīng)預(yù)設(shè)指令以到達(dá)對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)，完成測(cè)試過(guò)程。

S23，在芯片內(nèi)部執(zhí)行匹配控制字唯一對(duì)應(yīng)的芯片指令操作碼，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。

在本發(fā)明所提供的實(shí)施例中，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備發(fā)送匹配控制字比如00H，芯片在其內(nèi)部執(zhí)行01H對(duì)應(yīng)的芯片操作指令碼，比如：加、位移指令等，輸出狀態(tài)1。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備發(fā)送匹配控制字01H，芯片在其內(nèi)部執(zhí)行01H對(duì)應(yīng)的芯片操作指令碼，輸出狀態(tài)2。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備發(fā)送匹配控制字02H，芯片在其內(nèi)部執(zhí)行02H對(duì)應(yīng)的芯片操作指令碼，輸出狀態(tài)3。

對(duì)應(yīng)的芯片操作指令碼不再給入具體復(fù)雜的指令碼和操作數(shù)，而只給匹配控制字00H、01H、02H等字段，作為告訴芯片執(zhí)行哪些指令的信號(hào)。(匹配控制字和芯片操作指令碼的對(duì)應(yīng)關(guān)系以及芯片操作指令碼的內(nèi)容已經(jīng)事先用高級(jí)語(yǔ)言的方式固化到芯片中)，然后等待芯片在其內(nèi)部運(yùn)算出結(jié)果，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備再去運(yùn)行測(cè)試向量。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備發(fā)送的00H、01H、02H是通過(guò)芯片串行通信發(fā)送，用于自動(dòng)測(cè)試設(shè)備告訴芯片執(zhí)行預(yù)定義的哪些代碼。

S3，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備運(yùn)行匹配控制字對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量，完成該匹配控制字對(duì)應(yīng)的主動(dòng)式匹配測(cè)試。

在芯片內(nèi)部執(zhí)行匹配控制字唯一對(duì)應(yīng)的芯片指令操作碼，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備僅僅需要在此基礎(chǔ)上施加對(duì)應(yīng)這個(gè)工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)的測(cè)試向量，完成精確匹配，進(jìn)而完成匹配后的測(cè)試。提高了測(cè)試效率，減少了測(cè)試時(shí)間和測(cè)試成本。

S4，重復(fù)步驟S2～S3，直至所有匹配控制字對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量測(cè)試完成，通過(guò)測(cè)試向量運(yùn)行結(jié)果與匹配控制字對(duì)應(yīng)的芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)進(jìn)行對(duì)比得到DSP的測(cè)試結(jié)果。

重復(fù)步驟S2～S3，直至所有匹配控制字對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量測(cè)試完成，通過(guò)測(cè)試向量運(yùn)行結(jié)果與匹配控制字對(duì)應(yīng)的芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)進(jìn)行對(duì)比得到DSP的測(cè)試結(jié)果。在本發(fā)明所提供的實(shí)施例中，設(shè)置進(jìn)行結(jié)果對(duì)比時(shí)使用的對(duì)比精度參數(shù)；用于根據(jù)對(duì)比精度參數(shù)將匹配控制字對(duì)應(yīng)的芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)與測(cè)試向量運(yùn)行結(jié)果進(jìn)行對(duì)比得到測(cè)試結(jié)果，此對(duì)比精度可以精確到第幾個(gè)數(shù)據(jù)開始出錯(cuò)。通過(guò)各項(xiàng)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行相應(yīng)的故障診斷，從而獲知該集成電路器件是否正常。

下面以數(shù)字信號(hào)處理器為例對(duì)本發(fā)明所提供的主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明?？蓱?yīng)用于包括TMS320F28XX系列的多種可編程器件的測(cè)試。

如圖2所示，為本發(fā)明所提供的一個(gè)實(shí)施例中，對(duì)DSP進(jìn)行主動(dòng)式測(cè)試向量匹配的流程圖。

匹配一之下，通過(guò)異步通信接口，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE向DUT數(shù)字信號(hào)處理器送匹配控制字1，匹配控制字1指定DUT到達(dá)指令1的工作狀態(tài)，從而進(jìn)入DUT狀態(tài)1的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。這時(shí)，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE施加測(cè)試向量1針對(duì)數(shù)字信號(hào)處理器的狀態(tài)1。實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備指定DUT狀態(tài)后，直接發(fā)送測(cè)試向量，完成主動(dòng)匹配測(cè)試的過(guò)程。

匹配二之下，通過(guò)異步通信接口，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE向DUT數(shù)字信號(hào)處理器發(fā)送匹配控制字2，匹配控制字2指定DUT到達(dá)指令2的工作狀態(tài)，從而進(jìn)入DUT狀態(tài)2的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。這時(shí)，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE施加測(cè)試向量2針對(duì)數(shù)字信號(hào)處理器的狀態(tài)2。實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備指定DUT狀態(tài)后，直接發(fā)送測(cè)試向量，完成主動(dòng)匹配測(cè)試的過(guò)程。

依次進(jìn)行，匹配N之下，通過(guò)異步通信接口，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE向DUT數(shù)字信號(hào)處理器發(fā)送匹配控制字N，匹配控制字N指定DUT到達(dá)指令N的工作狀態(tài)，從而進(jìn)入DUT狀態(tài)N的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)。這時(shí)，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備ATE施加測(cè)試向量N針對(duì)數(shù)字信號(hào)處理器的狀態(tài)N。實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備指定DUT狀態(tài)后，直接發(fā)送測(cè)試向量，完成主動(dòng)匹配測(cè)試的過(guò)程。通過(guò)結(jié)果對(duì)比得到DSP的測(cè)試結(jié)果。通過(guò)各項(xiàng)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行相應(yīng)的故障診斷，從而獲知該集成電路器件是否正常。

需要說(shuō)明的是，每一種匹配情況，完成芯片的一種輸出狀態(tài)功能，因此各種匹配情況有所不同，不能相互替換。N為正整數(shù)，由預(yù)設(shè)的設(shè)計(jì)程序而定。

綜上所述，本發(fā)明所提供的主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法，根據(jù)DSP的技術(shù)特點(diǎn)設(shè)計(jì)DSP的測(cè)試程序，通過(guò)程序配置器將DSP的測(cè)試程序固化到芯片中；克服了現(xiàn)有技術(shù)中繁瑣的配置數(shù)字信號(hào)處理器以完成初始化的工作，簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程中芯片初始化流程。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備通過(guò)異步串行通信方式與DSP連接，向DSP發(fā)送匹配控制字；DSP根據(jù)匹配控制字，使芯片到達(dá)唯一對(duì)應(yīng)的工作狀態(tài)和輸出狀態(tài)；自動(dòng)測(cè)試設(shè)備運(yùn)行匹配控制字對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量，完成該匹配控制字對(duì)應(yīng)的主動(dòng)式匹配測(cè)試；完成精確匹配。提高了測(cè)試效率，減少了測(cè)試時(shí)間和測(cè)試成本。

上面對(duì)本發(fā)明所提供的主動(dòng)式測(cè)試向量匹配方法進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明。對(duì)本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員而言，在不背離本發(fā)明實(shí)質(zhì)精神的前提下對(duì)它所做的任何顯而易見的改動(dòng)，都將構(gòu)成對(duì)本發(fā)明專利權(quán)的侵犯，將承擔(dān)相應(yīng)的法律責(zé)任。