技術總結
本發(fā)明提供一種裸視板光學測試治具及其使用方法，測試治具用于覆設于一光學薄膜一側以進行測試，并用以開發(fā)一裸視板。測試治具包括一光學基材與一測試網點群，光學基材具有一入光側，用于接收至少一光源之光線，測試網點群鄰近入光側并呈帶狀布設于光學基材，且測試網點群與光學基材的距離為漸變。當入光側接收光線后，測試網點群形成一主亮帶分布區(qū)段，透過觀察主亮帶分布區(qū)段的光學表現(xiàn)，即可取得一取光能力調整位置，以開發(fā)裸視板，由此可大幅減少開發(fā)過程中，由試誤下衍生的各版次裸視板成本，以及逐次檢驗光學效果的時間成本。

技術研發(fā)人員：陳志恒;葉鈞皓;李文妤
受保護的技術使用者：蘇州茂立光電科技有限公司
文檔號碼：201610694784
技術研發(fā)日：2016.08.19
技術公布日：2017.01.04