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一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

文檔序號(hào):5950354閱讀:468來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于安防監(jiān)控領(lǐng)域,尤其是一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
目前,在視頻監(jiān)控領(lǐng)域,當(dāng)監(jiān)控不同距離的對(duì)象時(shí),需要調(diào)整攝像機(jī)變倍參數(shù)才能看清監(jiān)控對(duì)象。如果此時(shí)監(jiān)控對(duì)象處在運(yùn)動(dòng)之中,需要云臺(tái)跟蹤速度與其攝像機(jī)變倍同時(shí)協(xié)調(diào)工作,才能保證監(jiān)控對(duì)象一直處在最佳觀察視場(chǎng)中,這種速度與變倍的配合,就是變倍與速度的自適應(yīng)。產(chǎn)品的變倍自適應(yīng)速度測(cè)試,也就是測(cè)試不同變倍下的速度值,驗(yàn)證其速度與變倍自適應(yīng)情況并繪制曲線。目前,在進(jìn)行變倍自適應(yīng)速度測(cè)試時(shí),往往需要三個(gè)或更多的測(cè)試者進(jìn)行協(xié)同測(cè)試,在變倍等級(jí)的確定上,要用測(cè)試卡對(duì)比監(jiān)視器,再由人工計(jì)算將變倍等級(jí)轉(zhuǎn)換成測(cè)試卡上的刻度;另外,人工秒表計(jì)時(shí),也會(huì)引入測(cè)量的誤差。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種設(shè)計(jì)合理、精度高、速度快的變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng)。本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題是采取以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng),包括上位機(jī)、中央處理器單元、信號(hào)觸發(fā)與采集單元和安裝支架,上位機(jī)、中央處理器單元和信號(hào)觸發(fā)與采集單元依次相連接,信號(hào)觸發(fā)與采集單元固裝在安裝支架上對(duì)安裝支架上的被測(cè)設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)采集并發(fā)送至中央處理器單元,中央處理器單元進(jìn)行運(yùn)算處理后傳送給上位機(jī)生成不同變倍等級(jí)下速度變化曲線圖。而且,所述的中 央處理器單元通過(guò)串口與上位機(jī)相連接,所述的中央處理器單元通過(guò)中斷接口與信號(hào)觸發(fā)與采集單元相連接。而且,所述的信號(hào)觸發(fā)與采集單元由反相器芯片及三個(gè)水平測(cè)速光耦構(gòu)成,三個(gè)水平測(cè)速光耦連接到反相器芯片上,反相器芯片連接到中央處理器單元的中斷接口上。而且,所述的被測(cè)設(shè)備安裝在安裝支架的中央位置上,在被測(cè)設(shè)備一側(cè)的安裝支架上安裝有測(cè)試擋片,三個(gè)水平測(cè)速光耦安裝在被測(cè)設(shè)備周?chē)陌惭b支架上。而且,所述的第一水平測(cè)速光耦和第二水平測(cè)速光耦與安裝支架中心所成的角度為60度,用于被測(cè)設(shè)備的加速測(cè)試;所述的第二水平測(cè)速光耦和第三水平測(cè)試光耦與安裝支架中心所成的角度為90度,用于被測(cè)設(shè)備的勻速測(cè)試。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是本實(shí)用新型設(shè)計(jì)合理,其采用上位機(jī)、中央處理器單元、安裝支架、信號(hào)觸發(fā)與采集單元四個(gè)部分協(xié)同工作,不僅解決了人工測(cè)量帶來(lái)的誤差問(wèn)題,而且實(shí)現(xiàn)了只用上位機(jī)發(fā)送起始測(cè)試指令,中央處理器單元就能自動(dòng)完成所有的變倍等級(jí)以及速度等級(jí)的自動(dòng)測(cè)試,提高測(cè)試的準(zhǔn)確度和和自動(dòng)化測(cè)試水平。
圖1是本實(shí)用新型的系統(tǒng)原理框圖;圖2是本實(shí)用新型的電路原理圖;圖3是本實(shí)用新型的安裝支架與被測(cè)設(shè)備的位置關(guān)系示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步詳述。一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng),如圖1所示,包括上位機(jī)11、中央處理器單元12、信號(hào)觸發(fā)與采集單元14和安裝支架13,上位機(jī)、中央處理器單元和信號(hào)觸發(fā)與采集單元依次相連接,信號(hào)觸發(fā)與采集單元固裝在安裝支架上并對(duì)被測(cè)設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)采集并將其發(fā)送至中央處理器單元,中央處理器單元進(jìn)行運(yùn)算處理后傳送給上位機(jī)生成不同變倍等級(jí)下速度變化曲線圖。下面對(duì)系統(tǒng)中的各個(gè)部分分別進(jìn)行說(shuō)明上位機(jī)與中央處理器單元相連接,用于向中央處理器單元發(fā)送參數(shù)測(cè)量指令,并將其接收到的上傳數(shù)據(jù)進(jìn)行相應(yīng)處理,生成一組不同變倍等級(jí)下的平滑速度等級(jí)曲線圖。該曲線圖的水平橫軸為O到63個(gè)速度等級(jí),垂直縱軸為實(shí)測(cè)速度值,一個(gè)變倍等級(jí)繪制成一條曲線,這組曲線的特點(diǎn)是越接近縱軸的曲線,變倍等級(jí)越小。如圖2所示,中央處理器單元采用Atmegal28單片機(jī),該中央處理器單元通過(guò)串口與上位機(jī)相連接,通過(guò)中斷接口與信號(hào)觸發(fā)與采集單元相連接。中央處理器單元用于將接收到上位機(jī)的協(xié)議命令進(jìn)行解析,通過(guò)協(xié)議解析,建立被測(cè)設(shè)備中攝像機(jī)的變倍等級(jí)與被測(cè)設(shè)備運(yùn)動(dòng)速度等級(jí)的自動(dòng)測(cè)試,同時(shí)接受信號(hào)觸發(fā)與采集單元的電平跳變信號(hào),將所接收到的參數(shù)值進(jìn)行運(yùn)算處理,再通過(guò)串口返回給上位機(jī)生成不同變倍等級(jí)下速度變化曲線圖。
如圖2所示,信號(hào)觸發(fā)與采集單元由反相器芯片15的SN74HC14D及三個(gè)水平測(cè)速光耦構(gòu)成,光耦一 16、光耦二 17、光耦18連接到SN74HC14D反相器芯片上,該SN74HC14D反相器芯片與中央處理器單元Atmegal28芯片的中斷接口相連接,信號(hào)觸發(fā)與采集單元能夠?qū)⒂|發(fā)信號(hào)傳遞給中央處理器單元進(jìn)行處理。如圖3所示,安裝支架用于安裝被測(cè)設(shè)備和三個(gè)水平測(cè)速光耦。被測(cè)設(shè)備固裝在安裝支架的中央位置上,三個(gè)光耦固裝在被測(cè)設(shè)備周?chē)?,其中光耦一和光耦二與安裝支架中心所成的角度為60度,用于被測(cè)設(shè)備的加速測(cè)試,光耦二和光耦三之間與安裝支架中心所成的角度為90度,用于被測(cè)設(shè)備的勻速測(cè)試。在安裝支架上的被測(cè)設(shè)備旁安裝一個(gè)測(cè)試擋片19,當(dāng)被測(cè)設(shè)備運(yùn)動(dòng)時(shí),測(cè)試擋片通過(guò)光耦時(shí)將會(huì)使光耦的電平產(chǎn)生跳變,中央處理器單元通過(guò)接收到的信號(hào)進(jìn)行外部中斷計(jì)時(shí)。本實(shí)用新型的工作過(guò)程為首先,上位機(jī)將變倍等級(jí)和速度等級(jí)最大值發(fā)送給中央處理器單元,并啟動(dòng)開(kāi)始測(cè)試指令。其次,中央處理器單元收到上位機(jī)下達(dá)的指令后,通過(guò)規(guī)定的協(xié)議,對(duì)指令進(jìn)行解析,設(shè)置變倍速度等級(jí),同時(shí)控制被測(cè)設(shè)備運(yùn)行。當(dāng)被測(cè)設(shè)備上固定的測(cè)試擋片經(jīng)過(guò)信號(hào)觸發(fā)與采集單元中的光耦時(shí),電平信號(hào)通過(guò)信號(hào)觸發(fā)與采集單元的反相器芯片SN74HC14D傳遞給中央處理器單元,光耦一與光耦二用于被測(cè)設(shè)備的加速測(cè)試,光耦二與光耦三用于被測(cè)設(shè)備的勻速測(cè)試。當(dāng)測(cè)試擋片經(jīng)過(guò)光耦一時(shí),中央處理器單元處于等待接收狀態(tài),準(zhǔn)備接收光耦二、光耦三的觸發(fā)信號(hào),當(dāng)測(cè)試擋片經(jīng)過(guò)光耦二時(shí),中央處理器單元開(kāi)始計(jì)時(shí),當(dāng)測(cè)試擋片經(jīng)過(guò)光耦三時(shí),中央處理器單元停止計(jì)時(shí)。根據(jù)光耦二、光耦三的時(shí)間間隔,與運(yùn)行的角度90度,計(jì)算出該變倍等級(jí)和速度等級(jí)下的實(shí)測(cè)速度值,并返回給上位機(jī)。一般從最大變倍等級(jí)值開(kāi)始測(cè)試,在該變倍等級(jí)下,從速度等級(jí)最大值開(kāi)始測(cè)試,一直到最小值,然后變倍等級(jí)值減一,接著進(jìn)行下一變倍等級(jí)的速度等級(jí)測(cè)試,測(cè)試過(guò)程與上一變倍等級(jí)的速度等級(jí)測(cè)試相同。直到變倍等級(jí)值最小時(shí),測(cè)試結(jié)束。所以一個(gè)變倍等級(jí)會(huì)對(duì)應(yīng)一條速度等級(jí)實(shí)測(cè)速度曲線,最后會(huì)生成一組與變倍等級(jí)相關(guān)聯(lián)的速度自適應(yīng)曲線圖。垂直方向上的變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試過(guò)程,同水平方向上的類(lèi)似。需要強(qiáng)調(diào)的是,本實(shí)用新型所述的實(shí)施例是說(shuō)明性的,而不是限定性的,因此本實(shí)用新型包括并不限于具體實(shí)施方式
中所述的實(shí)施例,凡是由本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)方案得出的其他實(shí)施方式,同樣屬于本實(shí)用新型 保護(hù)的范圍。
權(quán)利要求1.一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng),其特征在于包括上位機(jī)、中央處理器單元、信號(hào)觸發(fā)與采集單元和安裝支架,上位機(jī)、中央處理器單元和信號(hào)觸發(fā)與采集單元依次相連接,信號(hào)觸發(fā)與采集單元固裝在安裝支架上對(duì)安裝支架上的被測(cè)設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)采集并發(fā)送至中央處理器單元,中央處理器單元進(jìn)行運(yùn)算處理后傳送給上位機(jī)生成不同變倍等級(jí)下速度變化曲線圖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的中央處理器單元通過(guò)串口與上位機(jī)相連接,所述的中央處理器單元通過(guò)中斷接口與信號(hào)觸發(fā)與采集單元相連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的信號(hào)觸發(fā)與采集單元由反相器芯片及三個(gè)水平測(cè)速光耦構(gòu)成,三個(gè)水平測(cè)速光耦連接到反相器芯片上,反相器芯片連接到中央處理器單元的中斷接口上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的被測(cè)設(shè)備安裝在安裝支架的中央位置上,在被測(cè)設(shè)備一側(cè)的安裝支架上安裝有測(cè)試擋片,三個(gè)水平測(cè)速光耦安裝在被測(cè)設(shè)備周?chē)陌惭b支架上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的第一水平測(cè)速光耦和第二水平測(cè)速光耦與安裝支架中心所成的角度為60度,用于被測(cè)設(shè)備的加速測(cè)試;所述的第二水平測(cè)速光耦和第三水平測(cè)試光耦與安裝支架中心所成的角度為90度,用于被測(cè)設(shè)備的勻速測(cè)試。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型涉及一種變倍自適應(yīng)速度曲線測(cè)試系統(tǒng),包括上位機(jī)、中央處理器單元、信號(hào)觸發(fā)與采集單元和安裝支架,上位機(jī)、中央處理器單元和信號(hào)觸發(fā)與采集單元依次相連接,信號(hào)觸發(fā)與采集單元固裝在安裝支架上對(duì)安裝支架上的被測(cè)設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)采集并發(fā)送至中央處理器單元,中央處理器單元進(jìn)行運(yùn)算處理后傳送給上位機(jī)生成不同變倍等級(jí)下速度變化曲線圖。本實(shí)用新型設(shè)計(jì)合理,不僅解決了人工測(cè)量帶來(lái)的誤差問(wèn)題,而且實(shí)現(xiàn)了只用上位機(jī)發(fā)送起始測(cè)試指令,中央處理器單元就能自動(dòng)完成所有的變倍等級(jí)以及速度等級(jí)的自動(dòng)測(cè)試,提高測(cè)試的準(zhǔn)確度和和自動(dòng)化測(cè)試水平。
文檔編號(hào)G01M11/00GK202907107SQ20122053098
公開(kāi)日2013年4月24日 申請(qǐng)日期2012年10月17日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月17日
發(fā)明者趙俊芳, 陳威 申請(qǐng)人:天津市亞安科技股份有限公司
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