專利名稱：一種用于測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型主要應(yīng)用于非金屬礦物粉料中磁性雜質(zhì)含量的測定，特別應(yīng)用于硅微粉中磁性雜質(zhì)的測定。
背景技術(shù)：
環(huán)氧塑封料中采用的填料主要是硅微粉，硅微粉是ー種非磁性礦粉，具有純度高、介電性能優(yōu)異、熱膨脹系數(shù)低、熱導(dǎo)率高及價(jià)格低等特點(diǎn)，用硅微粉作填料可以降低環(huán)氧模塑料的熱膨脹系數(shù)、吸水率和成型收縮率，同時(shí)提高耐熱性、機(jī)械強(qiáng)度、介電性能和熱導(dǎo)率。硅微粉在環(huán)氧塑封料中含量最高可達(dá)90%，因此硅微粉性能優(yōu)劣對環(huán)氧模塑料品質(zhì)有著十分重要的影響。無論是結(jié)晶硅微粉或者是熔融硅微粉中都會(huì)含有磁性雜質(zhì)，磁性雜質(zhì)含量過高會(huì)影響環(huán)氧塑封料的性能，進(jìn)而影響到封裝后集成電路的使用壽命，因此在使用前必須對硅微粉中磁性雜質(zhì)的含量進(jìn)行檢測。現(xiàn)有的檢測方法有兩種，ー種通過對硅微粉進(jìn)行成分分析，可以精確檢測磁性雜質(zhì)的含量，但測試設(shè)備昂貴，測試耗時(shí)較長。另ー種是通過測量硅微粉的電導(dǎo)率對磁性雜質(zhì)含量進(jìn)行估算，但結(jié)果不夠直觀，誤差較大。實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于定量測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置，該裝置能夠簡單快捷地從硅微粉中分離出磁性雜質(zhì)。一種用于測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置，包括ー個(gè)容器及置入所述容器內(nèi)的攪拌器，其特征在于，所述容器內(nèi)安裝有內(nèi)置磁棒的金屬套筒。所述金屬套筒自容器進(jìn)料ロ垂直插入，金屬套筒的底部封閉，頂部敞ロ，所述磁棒自金屬套筒的頂部敞ロ插入。所述磁棒為釹鐵硼磁鉄。所述金屬套筒為不銹鋼套筒。本實(shí)用新型的有益效果本實(shí)用新型利用強(qiáng)磁棒的磁場將硅微粉中的磁性雜質(zhì)吸附到不銹鋼套筒外壁，取出不銹鋼套筒，收集附著的磁性雜質(zhì)，經(jīng)多次收集至無磁性雜質(zhì)吸附，將收集到的磁性雜質(zhì)烘干后稱重，得出硅微粉中磁性雜質(zhì)的含量。

圖I為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖I所示，本實(shí)用新型所提供的一種用于測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置，包括容器I及置入容器I內(nèi)的攪拌器2，自容器進(jìn)料ロ垂直插入2-4根內(nèi)置磁棒4的金屬套筒3，金屬套筒3在容器I內(nèi)對稱設(shè)置，金屬套筒3的底部封閉，頂部敞ロ，金屬套筒3通過支架5固定懸掛,所述磁棒4自金屬套筒3的頂部敞ロ插入,所述磁棒4為釹鐵硼磁鐵,所述金屬套筒3為不銹鋼套筒。[0015]本實(shí)用新型使用方法稱取一定量的待測硅微粉與蒸餾水混合，配制成懸浮液倒入容器I中，用攪拌器2攪拌使懸浮液保持旋流狀態(tài)，懸浮液的液面低于金屬套筒3的頂部，懸浮液中的硅微粉流過時(shí)，受強(qiáng)磁棒的磁力吸引，磁性雜質(zhì)會(huì)附著在不銹鋼套筒的外壁。每隔5分鐘，取出不 銹鋼套筒，抽出其中的強(qiáng)磁棒，用清水沖洗不銹鋼套筒，將附著在外壁上的磁性雜質(zhì)顆粒收集，多次收集至無磁性雜質(zhì)吸附，然后烘干稱重，即可得出硅微粉中磁性雜質(zhì)的含量。上述實(shí)施例僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施方式，詳細(xì)說明了本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思和實(shí)施要點(diǎn)，并非是對本實(shí)用新型的保護(hù)范圍進(jìn)行限制，凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所作的任何簡單修改及等效結(jié)構(gòu)變換或修飾，均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種用于測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置，包括一個(gè)容器及置入所述容器內(nèi)的攪拌器，其特征在于，所述容器內(nèi)安裝有內(nèi)置磁棒的金屬套筒。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種用于測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置，其特征在于，所述磁棒為釹鐵硼磁鐵。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種用于測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置，其特征在于，所述金屬套筒自容器進(jìn)料口垂直插入，金屬套筒的底部封閉，頂部敞口，所述磁棒自金屬套筒的頂部敞口插入。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的一種用于測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置，其特征在于，所述金屬套筒為不銹鋼套筒。
專利摘要本實(shí)用新型公開一種用于測試硅微粉中磁性雜質(zhì)含量的裝置，包括一個(gè)容器及置入所述容器內(nèi)的攪拌器，其特征在于，所述容器內(nèi)安裝有內(nèi)置磁棒的金屬套筒，所述金屬套筒自容器進(jìn)料口垂直插入，金屬套筒的底部封閉，頂部敞口，所述磁棒自金屬套筒的頂部敞口插入，所述磁棒為釹鐵硼磁鐵，所述金屬套筒為不銹鋼套筒；本實(shí)用新型利用強(qiáng)磁棒的磁場將硅微粉中的磁性雜質(zhì)吸附到不銹鋼套筒外壁，取出不銹鋼套筒，收集附著的磁性雜質(zhì)，經(jīng)多次收集至無磁性雜質(zhì)吸附，將收集到的磁性雜質(zhì)烘干后稱重，得出硅微粉中磁性雜質(zhì)的含量。
文檔編號G01N5/04GK202614629SQ20122020530
公開日2012年12月19日 申請日期2012年5月9日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月9日
發(fā)明者曹宇, 周建民, 吳兵, 王利 申請人:蚌埠中凱電子材料有限公司