專利名稱:固定研磨樣品的工具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體失效分析工具,具體涉及一種固定研磨樣品的工具。
背景技術(shù):
在半導(dǎo)體失效分析的過(guò)程中,Delayer (分層)是經(jīng)常采用的一種手段。在Delayer 過(guò)程中,由于力度不容易控制,時(shí)常遇到樣品研磨不均勻,或者遇到一些小樣品在研磨過(guò)程和清洗過(guò)程容易丟失等情況。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種固定研磨樣品的工具,它可以提高研磨的均勻度,避免樣品的丟失。為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型固定研磨樣品的工具的技術(shù)解決方案為包括底座、樣品盤,樣品盤設(shè)置于底座的底部;樣品盤的中心通過(guò)樣品盤連接桿與底座的中心連接;樣品盤通過(guò)多個(gè)調(diào)節(jié)螺絲連接底座;底座的頂部中心通過(guò)連接螺絲孔連接手指固定器。所述樣品盤連接桿包括連接桿,連接桿的頂端與底座固定連接,連接桿的底端設(shè)有連接球;所述樣品盤的頂部中心設(shè)有與連接球相配合的凹槽,樣品盤連接桿通過(guò)連接球與樣品盤的中心活動(dòng)連接。所述樣品盤凸出于底座。所述多個(gè)調(diào)節(jié)螺絲相對(duì)于樣品盤的中心圓周均布。本實(shí)用新型可以達(dá)到的技術(shù)效果是本實(shí)用新型通過(guò)熱熔膠將樣品固定于樣品盤上,能夠防止樣品的丟失。本實(shí)用新型通過(guò)多個(gè)調(diào)節(jié)螺絲調(diào)節(jié)水平,能夠提高研磨的均勻度。本實(shí)用新型的樣品盤連接桿通過(guò)連接球與樣品盤連接,能夠?qū)崿F(xiàn)樣品盤的全方位調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)動(dòng)。本實(shí)用新型能夠提高研磨的均勻度;并且能夠避免由于小樣品丟失而造成的無(wú)法估計(jì)的損失。
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明
圖1是本實(shí)用新型固定研磨樣品的工具的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是圖1的俯視圖;圖3是本實(shí)用新型的手指固定器的結(jié)構(gòu)示意圖;圖4是本實(shí)用新型的樣品盤連接桿與樣品盤的連接示意圖。圖中附圖標(biāo)記說(shuō)明1為底座,2為樣品盤,[0021]3為樣品盤連接桿,32為連接球,5為連接螺絲孔,52為螺絲。
31為連接桿, 4為調(diào)節(jié)螺絲, 51為固定手指,
具體實(shí)施方式
如圖1、圖2所示,本實(shí)用新型固定研磨樣品的工具,包括底座1、樣品盤2,樣品盤 2設(shè)置于底座1的底部,樣品盤2凸出于底座1 ;如圖4所示,樣品盤2的中心通過(guò)樣品盤連接桿3與底座1的中心連接#品盤2 通過(guò)多個(gè)調(diào)節(jié)螺絲4連接底座1,多個(gè)調(diào)節(jié)螺絲4相對(duì)于樣品盤2的中心圓周均布;樣品盤連接桿3包括連接桿31,連接桿31的頂端與底座1固定連接,連接桿31的底端設(shè)有連接球32,樣品盤2的頂部中心設(shè)有與連接球32相配合的凹槽,樣品盤連接桿3 通過(guò)連接球32與樣品盤2的中心活動(dòng)連接;底座1的頂部中心通過(guò)連接螺絲孔5連接手指固定器;如圖3所示,手指固定器包括固定手指51,固定手指51的底部設(shè)有螺絲52 ;手指固定器的作用是在研磨時(shí)控制底座的穩(wěn)定。本實(shí)用新型的使用方法如下1、將需要處理的樣品用熱熔膠固定于樣品盤2的底面;2、通過(guò)調(diào)節(jié)螺絲4調(diào)節(jié)樣品盤2的各方向水平;3、將手指固定器安裝到底座1上;4、進(jìn)行研磨,如發(fā)現(xiàn)有不均勻的地方,再用調(diào)節(jié)螺絲4進(jìn)行水平調(diào)整。本實(shí)用新型是一種用于Delayer的輔助工具,能夠把樣品固定在樣品盤上進(jìn)行 Delayer,避免樣品的丟失;并且樣品盤的各方向可以調(diào)節(jié)控制,能夠使研磨的均勻度得到提尚。
權(quán)利要求1.一種固定研磨樣品的工具,其特征在于包括底座、樣品盤,樣品盤設(shè)置于底座的底部;樣品盤的中心通過(guò)樣品盤連接桿與底座的中心連接;樣品盤通過(guò)多個(gè)調(diào)節(jié)螺絲連接底座;底座的頂部中心通過(guò)連接螺絲孔連接手指固定器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固定研磨樣品的工具,其特征在于所述樣品盤連接桿包括連接桿,連接桿的頂端與底座固定連接,連接桿的底端設(shè)有連接球;所述樣品盤的頂部中心設(shè)有與連接球相配合的凹槽,樣品盤連接桿通過(guò)連接球與樣品盤的中心活動(dòng)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的固定研磨樣品的工具,其特征在于所述樣品盤凸出于底座。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的固定研磨樣品的工具,其特征在于所述多個(gè)調(diào)節(jié)螺絲相對(duì)于樣品盤的中心圓周均布。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種固定研磨樣品的工具,包括底座、樣品盤,樣品盤設(shè)置于底座的底部;樣品盤的中心通過(guò)樣品盤連接桿與底座的中心連接;樣品盤通過(guò)多個(gè)調(diào)節(jié)螺絲連接底座;底座的頂部中心通過(guò)連接螺絲孔連接手指固定器。所述樣品盤連接桿包括連接桿,連接桿的頂端與底座固定連接,連接桿的底端設(shè)有連接球;所述樣品盤的頂部中心設(shè)有與連接球相配合的凹槽,樣品盤連接桿通過(guò)連接球與樣品盤的中心活動(dòng)連接。本實(shí)用新型能夠提高研磨的均勻度,并且能夠避免樣品的丟失。
文檔編號(hào)G01N1/32GK201945493SQ20112000791
公開(kāi)日2011年8月24日 申請(qǐng)日期2011年1月12日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月12日
發(fā)明者吳長(zhǎng)亮, 芮志賢, 賴華平, 龔玉梅 申請(qǐng)人:上海華虹Nec電子有限公司