測(cè)試分選的制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型提供一種測(cè)試分選機(jī)，包括機(jī)架，依次安裝于機(jī)架上的自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)、測(cè)試機(jī)構(gòu)、分選機(jī)構(gòu)及自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)；所述機(jī)架設(shè)有入料操作臺(tái)及分選操作臺(tái)，所述分選操作臺(tái)由上往下設(shè)置，自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)通過(guò)減振墊固定在入料操作臺(tái)上；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)安裝于所述分選操作臺(tái)上，包括導(dǎo)軌、分離器、測(cè)試傳感器、測(cè)試頭，所述導(dǎo)軌與自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)和自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)相連接，所述分離器設(shè)于測(cè)試頭上方；所述分選機(jī)構(gòu)安裝于所述分選操作臺(tái)上，包括分選分料梭、落料管、分選傳感器、不良品裝置，所述不良品裝置遠(yuǎn)離導(dǎo)軌設(shè)置，通過(guò)落料管與所述分料梭相連接，所述分選傳感器設(shè)于所述不良品裝置的上方；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)包括打標(biāo)裝置，所述打標(biāo)裝置設(shè)于所述測(cè)試頭下方。
【專(zhuān)利說(shuō)明】測(cè)試分選機(jī)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試分選機(jī)。

【背景技術(shù)】
[0002]生產(chǎn)1C及二、三極管等半導(dǎo)體器件的工藝流程包括:粘片——焊線(xiàn)——塑封——老化——打印——沖筋——表面處理——分離——測(cè)試——編帶——包裝——入庫(kù)。
[0003]目前，測(cè)試分選機(jī)是晶體管的重要檢測(cè)設(shè)備，可實(shí)現(xiàn)晶體管多項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)測(cè)試及優(yōu)劣分類(lèi)的工作，但現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試分選機(jī)，由于結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不夠合理，致使結(jié)構(gòu)復(fù)雜體積大，運(yùn)行速度慢，自動(dòng)化程度不高，工作不流暢，生產(chǎn)效率低，并且耗能較高，生產(chǎn)周期較長(zhǎng)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種自動(dòng)化程度高，生產(chǎn)周期短，測(cè)試分檔精度高的測(cè)試分選機(jī)。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種測(cè)試分選機(jī)，包括機(jī)架，依次安裝于機(jī)架上的自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)、測(cè)試機(jī)構(gòu)、分選機(jī)構(gòu)及自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)；所述機(jī)架設(shè)有入料操作臺(tái)及分選操作臺(tái)，所述分選操作臺(tái)由上往下設(shè)置，自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)通過(guò)減振墊固定在入料操作臺(tái)上；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)安裝于所述分選操作臺(tái)上，包括導(dǎo)軌、分離器、測(cè)試傳感器、測(cè)試頭，所述導(dǎo)軌與自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)和自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)相連接，所述分離器設(shè)于測(cè)試頭上方；所述分選機(jī)構(gòu)安裝于所述分選操作臺(tái)上，包括分選分料梭、落料管、分選傳感器、不良品裝置，所述不良品裝置遠(yuǎn)離導(dǎo)軌設(shè)置，通過(guò)落料管與所述分料梭相連接，所述分選傳感器設(shè)于所述不良品裝置的上方。
[0006]優(yōu)選的，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)包括打標(biāo)裝置，所述打標(biāo)裝置設(shè)于所述測(cè)試頭下方。
[0007]優(yōu)選的，還包括安裝于機(jī)架的觸摸屏控制裝置，所述觸摸屏控制裝置包括電路板及與電路板電性連接的觸摸屏，所述電路板與所述入料機(jī)構(gòu)、測(cè)試機(jī)構(gòu)、分選機(jī)構(gòu)及自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)電性連接。
[0008]更優(yōu)選的，還設(shè)置有安裝于入料操作臺(tái)上并電性連接于所述電路板的報(bào)警裝置。
[0009]本發(fā)明的有益效果:本實(shí)用新型的測(cè)試分選機(jī)自動(dòng)更換上下料管，節(jié)約人工成本，減少繁瑣的人工操作，高精度測(cè)試分檔，滿(mǎn)足不同的客戶(hù)，測(cè)試打標(biāo)一體制，根據(jù)生產(chǎn)需求靈活調(diào)整可單獨(dú)測(cè)試或單獨(dú)打標(biāo)，壓縮生產(chǎn)周期，高速分選模式，根據(jù)生產(chǎn)工藝，操作簡(jiǎn)單方便，根據(jù)不同的產(chǎn)品可調(diào)整不同的速度。
[0010]為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明與附圖，然而附圖僅提供參考與說(shuō)明用，并非用來(lái)對(duì)本發(fā)明加以限制。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0011]下面結(jié)合附圖，通過(guò)對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】詳細(xì)描述，將使本發(fā)明的技術(shù)方案及其它有益效果顯而易見(jiàn)。
[0012]附圖中，
[0013]圖1為本實(shí)用新型測(cè)試分選機(jī)的右視圖；
[0014]圖2為本實(shí)用新型測(cè)試分選機(jī)的主視圖。

【具體實(shí)施方式】
[0015]為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0016]請(qǐng)參閱圖1及2，本實(shí)用新型提供一種測(cè)試分選機(jī)，包括機(jī)架10，依次安裝于機(jī)架10上的自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)20、測(cè)試機(jī)構(gòu)30、分選機(jī)構(gòu)40及自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)50 ;所述機(jī)架10設(shè)有入料操作臺(tái)12及分選操作臺(tái)14，所述分選操作臺(tái)14由上往下設(shè)置，自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)20通過(guò)減振墊(未圖示)固定在入料操作臺(tái)12上；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)30安裝于所述分選操作臺(tái)14上，包括導(dǎo)軌32、分離器34、測(cè)試傳感器(未圖示)、測(cè)試頭36，所述導(dǎo)軌32與自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)20和自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)50相連接，所述分離器34設(shè)于測(cè)試頭36上方；所述分選機(jī)構(gòu)40安裝于所述分選操作臺(tái)14上，包括分選分料梭42、落料管(未圖示)、分選傳感器(未圖示)、不良品裝置44，所述不良品裝置44遠(yuǎn)離導(dǎo)軌32設(shè)置，通過(guò)落料管與所述分料梭42相連接，所述分選傳感器(未圖示)設(shè)于所述不良品裝置44的上方，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)30與所述分選機(jī)構(gòu)40電性連接。
[0017]晶體管通過(guò)自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)20的震動(dòng)方式按照一定的方向上料并進(jìn)入導(dǎo)軌32，當(dāng)晶體管經(jīng)過(guò)分離器34分離，通過(guò)導(dǎo)軌32中的測(cè)試傳感器下滑到測(cè)試頭36的位置時(shí)，由測(cè)試傳感器給測(cè)試頭36 —個(gè)信號(hào)，測(cè)試頭36馬上對(duì)在測(cè)試位置的晶體管進(jìn)行電參數(shù)檢測(cè)，得出檢測(cè)結(jié)果后，所述晶體管到達(dá)分選位，所述分選傳感器給分料梭42 —個(gè)信號(hào)開(kāi)始工作，分料梭42按照所述測(cè)試機(jī)構(gòu)30傳輸過(guò)來(lái)的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行分選，所述不合格的晶體管通過(guò)落料管落入不良品裝置44中，測(cè)試合格的晶體管繼續(xù)沿著導(dǎo)軌32傳送到達(dá)自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)50，進(jìn)行自動(dòng)收料。由于自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)20和自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)50的設(shè)置，使得入料和收料可以自動(dòng)進(jìn)行。
[0018]如果有需要，還可以在所述測(cè)試機(jī)構(gòu)30設(shè)置打標(biāo)裝置(未圖示)，其設(shè)于所述測(cè)試頭36下方，打標(biāo)裝置可以根據(jù)測(cè)試結(jié)果對(duì)晶體管分檔，并根據(jù)分檔對(duì)晶體管進(jìn)行打標(biāo)。同時(shí)可以根據(jù)要求選擇單獨(dú)測(cè)試或者單獨(dú)打標(biāo)。
[0019]還可以包括觸摸屏控制裝置60，包括電路板(未圖示)及與電路板電性連接的觸摸屏62，所述電路板與所述入料機(jī)構(gòu)20、測(cè)試機(jī)構(gòu)30、分選機(jī)構(gòu)40及自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)50電性連接，通過(guò)所述觸摸屏62控制各個(gè)機(jī)構(gòu)的運(yùn)行情況。所述觸摸屏62控制裝置可以通過(guò)現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行實(shí)現(xiàn)，此處不再贅述。
[0020]為了安全起見(jiàn)，本實(shí)施例中還設(shè)置有安裝于入料操作臺(tái)上并電性連接于所述電路板的報(bào)警裝置70，其用于對(duì)各個(gè)機(jī)構(gòu)運(yùn)行的特殊狀況進(jìn)行報(bào)警。
[0021]綜上所述，本實(shí)用新型的測(cè)試分選機(jī)自動(dòng)更換上下料管，節(jié)約人工成本，減少繁瑣的人工操作，高精度測(cè)試分檔，滿(mǎn)足不同的客戶(hù)，測(cè)試打標(biāo)一體制，根據(jù)生產(chǎn)需求靈活調(diào)整可單獨(dú)測(cè)試或單獨(dú)打標(biāo)，壓縮生產(chǎn)周期，高速分選模式，根據(jù)生產(chǎn)工藝，操作簡(jiǎn)單方便，根據(jù)不同的產(chǎn)品可調(diào)整不同的速度。
[0022]以上所述，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種測(cè)試分選機(jī)，其特征在于，包括機(jī)架，依次安裝于機(jī)架上的自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)、測(cè)試機(jī)構(gòu)、分選機(jī)構(gòu)及自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)；所述機(jī)架設(shè)有入料操作臺(tái)及分選操作臺(tái)，所述分選操作臺(tái)由上往下設(shè)置，自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)通過(guò)減振墊固定在入料操作臺(tái)上；所述測(cè)試機(jī)構(gòu)安裝于所述分選操作臺(tái)上，包括導(dǎo)軌、分離器、測(cè)試傳感器、測(cè)試頭，所述導(dǎo)軌與自動(dòng)入料機(jī)構(gòu)和自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)相連接，所述分離器設(shè)于測(cè)試頭上方；所述分選機(jī)構(gòu)安裝于所述分選操作臺(tái)上，包括分選分料梭、落料管、分選傳感器、不良品裝置，所述不良品裝置遠(yuǎn)離導(dǎo)軌設(shè)置，通過(guò)落料管與所述分料梭相連接，所述分選傳感器設(shè)于所述不良品裝置的上方。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試分選機(jī)，其特征在于，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)包括打標(biāo)裝置，所述打標(biāo)裝置設(shè)于所述測(cè)試頭下方。
3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試分選機(jī)，其特征在于，還包括安裝于機(jī)架的觸摸屏控制裝置，所述觸摸屏控制裝置包括電路板及與電路板電性連接的觸摸屏，所述電路板與所述入料機(jī)構(gòu)、測(cè)試機(jī)構(gòu)、分選機(jī)構(gòu)及自動(dòng)收料機(jī)構(gòu)電性連接。
4.如權(quán)利要求3所述的測(cè)試分選機(jī)，其特征在于，還設(shè)置有安裝于入料操作臺(tái)上并電性連接于所述電路板的報(bào)警裝置。
【文檔編號(hào)】B07C5/344GK204052204SQ201420358590
【公開(kāi)日】2014年12月31日 申請(qǐng)日期:2014年6月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月30日
【發(fā)明者】劉春榮 申請(qǐng)人:廣東華冠半導(dǎo)體有限公司