數(shù)控加工中心檢測(cè)方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及機(jī)械技術(shù)，尤其涉及一種數(shù)控加工中心檢測(cè)方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來(lái)，高速鐵路保持著較快速度的發(fā)展，為了滿足高速列車(chē)的需求量，目前多采用大型的數(shù)控加工中心，對(duì)高速列車(chē)組的車(chē)體、側(cè)墻、車(chē)頂、底架、端墻等大部件進(jìn)行批量化加工。數(shù)控加工中心的結(jié)構(gòu)性能復(fù)雜、價(jià)格昂貴，其加工的每一個(gè)工件的質(zhì)量很大程度上都依賴于自身性能及精度，因此在加工精度較高的工件之前，有必要對(duì)數(shù)控加工中心的五軸精度進(jìn)行檢測(cè)與校驗(yàn)，以確保工件的加工質(zhì)量，避免出現(xiàn)由于五軸軸偏而導(dǎo)致加工后的大部件過(guò)切而報(bào)廢的情況。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，為避免數(shù)控加工中心的X/Y/Z軸和A/C軸精度出現(xiàn)偏差而影響工件加工精度，多在主軸上安裝標(biāo)準(zhǔn)試棒，并結(jié)合千分表或百分表來(lái)對(duì)加工中心的五軸進(jìn)行檢測(cè)，由人工讀取千分表或百分表的值，并根據(jù)千分表或百分表的值計(jì)算角度偏差，進(jìn)而確定加工中心的五軸是否存在偏差。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)的不足之處在于，檢測(cè)過(guò)程需要有經(jīng)驗(yàn)的操作者手工完成，操作時(shí)間長(zhǎng)，操作繁瑣，占用加工中心的時(shí)間較長(zhǎng)，且效率低下。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供一種數(shù)控加工中心檢測(cè)方法及裝置，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)數(shù)控加工中心五軸的檢測(cè)操作繁瑣、效率低下的技術(shù)問(wèn)題。
[0006]本發(fā)明提供一種數(shù)控加工中心檢測(cè)方法，包括:
[0007]接收用戶輸入的檢測(cè)指令，并根據(jù)所述檢測(cè)指令控制所述主軸移動(dòng)到預(yù)定位置，以使所述主軸自動(dòng)換上設(shè)置在所述預(yù)定位置的雷尼紹探頭；
[0008]驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值；
[0009]根據(jù)預(yù)先存儲(chǔ)的偏差閾值，判斷所述X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值是否滿足要求，并將判斷結(jié)果顯示給用戶。
[0010]進(jìn)一步地，所述偏差閾值包括:X軸偏差閾值、Y軸偏差閾值、Z軸偏差閾值、A軸偏差閾值和C軸偏差閾值；
[0011]相應(yīng)的，所述根據(jù)預(yù)先存儲(chǔ)的偏差閾值，判斷所述X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值是否滿足要求，具體包括:
[0012]將所述X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值分別與所述X軸偏差閾值、Y軸偏差閾值、Z軸偏差閾值、A軸偏差閾值和C軸偏差閾值進(jìn)行比較；
[0013]對(duì)于每一個(gè)軸，若所述軸的偏差值小于所述軸的偏差閾值，則判斷所述軸滿足要求；
[0014]若所述軸的偏差值不小于所述軸的偏差閾值，則判斷所述軸不滿足要求。
[0015]進(jìn)一步地，所述驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心在X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值，包括:
[0016]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第一位置信息；
[0017]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸正方向移動(dòng)第一預(yù)設(shè)閾值；
[0018]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第二位置信息；
[0019]將所述第一位置信息和第二位置信息相減，得到所述X軸的偏差值。
[0020]進(jìn)一步地，所述驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心在X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值，還包括:
[0021]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第三位置信息；
[0022]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸正方向移動(dòng)第二預(yù)設(shè)閾值；
[0023]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第四位置信息；
[0024]將所述第三位置信息和第四位置信息相減，得到所述Y軸的偏差值。
[0025]進(jìn)一步地，所述驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心在X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值，還包括:
[0026]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Z軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第五位置信息；
[0027]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Z軸正方向移動(dòng)第三預(yù)設(shè)閾值；
[0028]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Z軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第六位置信息；
[0029]將所述第五位置信息和第六位置信息相減，得到所述Z軸的偏差值。
[0030]進(jìn)一步地，所述驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心在X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值，還包括:
[0031]將所述A軸的角度設(shè)置為O度、C軸的角度設(shè)置為O度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第七位置信息；
[0032]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸正方向移動(dòng)第四預(yù)設(shè)閾值；
[0033]將所述A軸的角度設(shè)置為O度、C軸的角度設(shè)置為180度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第八位置信息；
[0034]將所述第七位置信息和第八位置信息相減，得到所述A軸的偏差值。
[0035]進(jìn)一步地，所述驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心在X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值，還包括:
[0036]將所述A軸的角度設(shè)置為90度、C軸的角度設(shè)置為O度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第九位置信息；
[0037]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸正方向移動(dòng)第五預(yù)設(shè)閾值；
[0038]將所述A軸的角度設(shè)置為-90度、C軸的角度設(shè)置為O度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第十位置信息；
[0039]將所述第九位置信息和第十位置信息相減，得到所述C軸的偏差值。
[0040]進(jìn)一步地，在所述驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心在X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值之后，還包括:
[0041]將所述A軸的角度設(shè)置為第一預(yù)設(shè)角度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第十一位置信息；
[0042]將所述A軸的角度設(shè)置為O度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸正方向移動(dòng)第六預(yù)設(shè)閾值；
[0043]將所述A軸的角度設(shè)置為所述第一預(yù)設(shè)角度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿Y軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第十二位置信息;
[0044]將所述第十一位置信息和第十二位置信息相減，得到所述A軸旋轉(zhuǎn)后的偏差值；
[0045]將所述A軸旋轉(zhuǎn)后的偏差值與預(yù)先存儲(chǔ)的A軸旋轉(zhuǎn)后的偏差閾值相比較，并判斷所述A軸旋轉(zhuǎn)后的偏差值是否滿足要求；
[0046]將所述A軸的角度設(shè)置為O度、C軸的角度設(shè)置為O度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第十三位置信息；
[0047]驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸正方向移動(dòng)第七預(yù)設(shè)閾值；
[0048]將所述A軸的角度設(shè)置為O度、C軸的角度設(shè)置為180度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第十四位置信息；
[0049]將所述第十三位置信息和第十四位置信息相減，得到所述A軸相對(duì)于搖擺方向的偏差值；
[0050]將所述A軸相對(duì)于搖擺方向的偏差值與預(yù)先存儲(chǔ)的A軸相對(duì)于搖擺方向的偏差閾值相比較，并判斷所述A軸相對(duì)于搖擺方向的偏差值是否滿足要求。
[0051]進(jìn)一步地，在所述驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心在X軸、Y軸、Z軸、A軸和C軸的偏差值之后，還包括:
[0052]將所述C的角度設(shè)置為第二預(yù)設(shè)角度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第十五位置信息；
[0053]將所述C軸的角度設(shè)置為O度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸正方向移動(dòng)第八預(yù)設(shè)閾值；
[0054]將所述C軸的角度設(shè)置為所述第二預(yù)設(shè)角度，并驅(qū)動(dòng)所述探頭沿X軸負(fù)方向移動(dòng)，當(dāng)碰觸到所述標(biāo)準(zhǔn)塊時(shí)，停止驅(qū)動(dòng)所述探頭移動(dòng)，并記錄所述探頭所在的第十六位置信息;
[0055]將所述第十五位置信息和第十六位置信息相減，得到所述C軸旋轉(zhuǎn)后的偏差值；
[0056]將所述C軸旋轉(zhuǎn)后的偏差值與預(yù)先存儲(chǔ)的C軸旋轉(zhuǎn)后的偏差閾值相比較，并判斷所述C軸旋轉(zhuǎn)后的偏差值是否滿足要求。
[0057]本發(fā)明還提供一種數(shù)控加工中心檢測(cè)裝置，包括:
[0058]接收模塊，用于接收用戶輸入的檢測(cè)指令，并根據(jù)所述檢測(cè)指令控制所述主軸移動(dòng)到預(yù)定位置，以使所述主軸自動(dòng)換上設(shè)置在所述預(yù)定位置的雷尼紹探頭；
[0059]獲取模塊，用于驅(qū)動(dòng)所述雷尼紹探頭對(duì)與固定在所述數(shù)控加工中心上的標(biāo)準(zhǔn)塊進(jìn)行反復(fù)多次的碰觸測(cè)量，獲得所述數(shù)控加工中心在X