面板功能測試電路、顯示面板及功能測試、靜電防護方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了面板功能測試電路、顯示面板及功能測試、靜電防護方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中顯示面板的面板測試電路和靜電防護電路占用較多的布線空間的問題。所述面板功能測試電路，包括與顯示面板的同一條數(shù)據(jù)線電連接的第一子電路和第二子電路；所述第一子電路和所述第二子電路，用于為測試狀態(tài)的顯示面板的所述數(shù)據(jù)線提供測試信號；或者，用于對工作狀態(tài)的顯示面板的所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號進行靜電放電。本發(fā)明實施例中，面板功能測試電路兼容靜電防護功能，減少元器件的數(shù)量和相應(yīng)的走線，從而節(jié)省布線空間。
【專利說明】面板功能測試電路、顯示面板及功能測試、靜電防護方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示領(lǐng)域，尤其涉及一種面板功能測試電路、顯示面板及功能測試、靜電防護方法。
【背景技術(shù)】
[0002]薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)具有體積小、功耗低、無輻射等特點，近年來得到了迅速地發(fā)展，在當前的平板顯示器市場中占據(jù)了主導(dǎo)地位。目前，TFT-LCD在各種大中小尺寸的產(chǎn)品上得到了廣泛的應(yīng)用，幾乎涵蓋了當今信息社會的主要電子產(chǎn)品，如液晶電視、高清晰度數(shù)字電視、電腦(臺式和筆記本)、手機、PDA、GPS、車載顯示、投影顯示、攝像機、數(shù)碼相機、電子手表、計算器、電子儀器、儀表、公共顯示和虛幻顯示等。
[0003]目前TFT-LCD的顯示面板生產(chǎn)線主要分為陣列(Array)、彩膜(Color Filter, CF)、成盒(Cell)和模組(Module)四個主要的工作段=Array段負責TFT陣列基板的制成，主要負責TFT陣列基板上金屬層信號線和各個像素電容單元的制成，；CF段主要負責CF基板上黑矩陣(Black Matrix，BM)層、RGB層以及透明導(dǎo)電層等的制成；Cell段的工序負責將制作好的TFT陣列基板和CF基板利用封框膠貼合在一起，形成一個完整的，閉合的Panel (液晶屏)，其中主要包括配向膜的印刷，配向膜取向制成，液晶滴入，封框膠固化等幾步，在Cell段大玻璃基板(母板玻璃)貼合好以后將進行切割，得到小塊的單元液晶屏，之后對單元液晶屏進行點屏檢測(Cell Test)，Cell Test檢測工序的目的是檢測液晶屏在Array和Cell段出現(xiàn)的不良，主要包括各種斑(Mura)、區(qū)塊(Block)、Cell污潰、亮線等不良；Module段主要包括將制作好的單元液晶屏貼上偏光片和PCB驅(qū)動電路后，與背光源組裝，形成一個最終的顯示模組成品。通常，顯示面板需要設(shè)置用于Cell Test的面板測試電路。
[0004]在顯示面板正常工作時，還會存在靜電防電(Electrostatic Discharge, ESD)現(xiàn)象，靜電放電是造成大多數(shù)電子組件或電子系統(tǒng)受到過度電性應(yīng)力(ElectricalOverstress,EOS)破壞的主要因素，這種破壞會導(dǎo)致半導(dǎo)體器件永久性的損壞，從而導(dǎo)致集成電路功能的失效，因此，顯示面板還需要設(shè)置用于在正常顯示時的靜電防護電路，該靜電防護電路與顯示面板中的信號線電連接。
[0005]但是，由于需要設(shè)置上述的面板測試電路和靜電防護電路，因此需要占用較多的布線空間。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的是提供一種面板功能測試電路、顯示面板及功能測試、靜電防護方法，以解決顯示面板的面板測試電路的靜電防護電路占用較多的布線空間的問題。
[0007]本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
[0008]本發(fā)明實施例提供一種面板功能測試電路，包括與顯示面板的同一條數(shù)據(jù)線電連接的第一子電路和第二子電路；[0009]所述第一子電路和所述第二子電路，用于為測試狀態(tài)的顯示面板的所述數(shù)據(jù)線提供測試信號；或者，用于對工作狀態(tài)的顯示面板的所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號進行靜電放電。
[0010]本發(fā)明實施例中，面板功能測試電路可以作為后續(xù)顯示面板工作狀態(tài)時的靜電防護電路，即在不增加元件的情況下將功能測試電路和靜電防護電路這兩個電路的功能由一個電路完成，從而減小元器件和走線空間的占用。
[0011]優(yōu)選的，所述第一子電路具體用于，根據(jù)其第一端接入的第一控制信號和其第二端接入的所述測試信號，由其第三端向所述數(shù)據(jù)線提供所述測試信號；或者，根據(jù)其第一端接入的第二控制信號和其第二端接入的第一電平信號，對其第三端接收的所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)母唠娖届o電信號進行放電；
[0012]所述第二子電路具體用于，根據(jù)其第一端接入的所述第二控制信號和其第二端接入的測試信號，由其第三端向所述數(shù)據(jù)線提供所述測試信號；或者，根據(jù)其第一端接入的所述第一控制信號和其第二端接入的第二電平信號，對其第三端接收的所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)牡碗娖届o電信號進行放電。
[0013]本實施例中，第一子電路和第二子電路均能為顯示面板的功能測試提供測試信號，在顯示面板工作時又可以分別作為正的靜電放電路和負的靜電放電路。
[0014]優(yōu)選的，所述第一子電路包括第一晶體管，所述第二子電路包括第二晶體管；
[0015]所述第一晶體管的柵極為所述第一子電路的第一端，其源極為所述第一子電路的第二端，其漏極為所述第一子電路的第三端；
[0016]所述第二晶體管的柵極為所述第二子電路的第一端，其源極為所述第二子電路的第二端，其漏極為所述第二子電路的第三端。
[0017]本實施例中，第一子電路為第一晶體管，第二子電路為第二晶體管，電路容易實現(xiàn)且構(gòu)造簡單。
[0018]優(yōu)選的，所述第一晶體管為PMOS晶體管，所述第二晶體管為NMOS晶體管。
[0019]優(yōu)選的，所述第一控制信號為低電平信號，所述第二控制信號為高電平信號；所述第一電平信號為高電平信號，所述第二電平信號為低電平信號。
[0020]本發(fā)明實施例有益效果如下:通過整合面板功能測試電路和靜電防護電路，使面板功能測試電路在顯示面板進行功能測試時提供測試信號，在顯示面板工作時，提供靜電防護，從而減小元器件和走線空間的占用。
[0021]本發(fā)明實施例提供一種顯示面板，包括多條數(shù)據(jù)線，如上所述的功能測試電路。
[0022]本發(fā)明實施例有益效果如下:通過整合面板功能測試電路和靜電防護電路，使面板功能測試電路在顯示面板進行功能測試時提供測試信號，在顯示面板工作時，提供靜電防護，從而減少元器件的數(shù)量并節(jié)省走線空間。
[0023]本發(fā)明實施例提供一種顯示面板的功能測試方法，采用如上所述的功能測試電路，包括:
[0024]由第一子電路的第一端輸入第一控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供所述測試信號；和/或，
[0025]由第二子電路的第一端輸入第二控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供所述測試信號。[0026]優(yōu)選的,所述第一子電路為PMOS晶體管，由第一子電路的第一端輸入第一控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供所述測試信號，具體包括:
[0027]由所述PMOS晶體管的柵極輸入所述第一控制信號，其源極輸入所述測試信號，所述漏極為顯示面板的所述數(shù)據(jù)線提供所述測試信號。
[0028]優(yōu)選的，所述第二子電路為NMOS晶體管，由第二子電路的第一端輸入第二控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供所述測試信號，具體包括:
[0029]由所述NMOS晶體管的柵極輸入所述第二控制信號，其源極輸入所述測試信號，所述漏極為顯示面板的所述數(shù)據(jù)線提供所述測試信號。
[0030]優(yōu)選的，所述第一控制信號為低電平信號，所述第二控制信號為高電平信號。
[0031]本發(fā)明實施例有益效果如下:面板功能測試電路兼具功能測試和靜電防護的功能，第一子電路和第二子電路在顯示面板進行功能測試均可以提供測試信號，不需要提供單獨的功能測試電路，從而減少元器件的數(shù)量并節(jié)省走線空間。
[0032]本發(fā)明實施例提供一種顯示面板的靜電防護方法，采用如上所述的功能測試電路，包括:
[0033]由所述功能測試電路的第一子電路的第一端輸入用于控制所述第一子電路關(guān)斷的第二控制信號，其第二端輸入第一電平信號；以及，由所述第二子電路的第一端輸入用于控制所述第二子電路關(guān)斷的第一控制信號，其第二端輸入第二電平信號；
[0034]當所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號到來時，所述第一子電路或所述第二子電路對所述靜電信號進行靜電放電。
[0035]優(yōu)選的，所述第一子電路為PMOS晶體管，所述第二子電路為NMOS晶體管；
[0036]所述第一控制信號為低電平信號，所述第二控制信號為高電平信號；
[0037]所述第一電平信號為高電平信號，所述第二電平信號為低電平信號。
[0038]優(yōu)選的，當所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號到來時，所述第一子電路或所述第二子電路對所述靜電信號進行靜電放電，包括:
[0039]若所述靜電信號為高電平靜電信號，且所述靜電信號的電平大于所述第二控制信號的電平，所述第一子電路對所述靜電信號進行靜電放電；
[0040]若所述靜電信號為低電平靜電信號，且所述靜電信號的電平小于所述第一控制信號的電平，所述第二子電路對所述靜電信號進行靜電放電。
[0041]本發(fā)明實施例有益效果如下:面板功能測試電路兼具功能測試和靜電防護的功能，由第一子電路和第二子電路在顯示面板工作時，分別提供正的靜電放電和負的靜電放電，不需要提供單獨的靜電防護電路，從而減少元器件的數(shù)量并節(jié)省走線空間。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0042]圖1為本發(fā)明實施例提供的一種面板功能測試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0043]圖2為本發(fā)明實施例提供的一種面板功能測試電路的具體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0044]圖3為本發(fā)明實施例提供的面板功能測試電路用于顯示面板功能測試的示意圖；
[0045]圖4為本發(fā)明實施例提供的面板功能測試電路用于靜電防護的示意圖；
[0046]圖5為本發(fā)明實施例提供的靜電防護的方法的流程圖?！揪唧w實施方式】
[0047]下面結(jié)合說明書附圖對本發(fā)明實施例的實現(xiàn)過程進行詳細說明。需要注意的是，自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，僅用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。
[0048]基于提高顯示面板的良品率的考慮，在顯示面板生產(chǎn)中會進行多種測試。通常多個顯示面板為一個生產(chǎn)單元進行，即多個顯示面板在切割前是一個整體，點屏檢測是在顯示面板切割前進行測試，由面板功能測試電路完成。而在切割成單獨的顯示面板后，該單獨的顯示面板還需要一個能夠確保其穩(wěn)定工作狀態(tài)的靜電防護電路。因此，現(xiàn)有技術(shù)中面板功能測試和靜電防護由兩個電路完成，占用較多的元器件空間和走線空間。為了解決上述問題，本發(fā)明實施例提供一種面板功能測試電路、顯示面板及功能測試、靜電防護方法，具體如下:
[0049]參考圖1，本發(fā)明實施例提供一種面板功能測試電路100，包括與顯示面板的同一條數(shù)據(jù)線data電連接的第一子電路101和第二子電路102 ；
[0050]第一子電路101和第二子電路102，為測試狀態(tài)的顯示面板的所述數(shù)據(jù)線提供測試信號；或者，用于對工作狀態(tài)的顯示面板的所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號進行靜電放電。
[0051]本發(fā)明實施例中，面板功能測試電路100可以作為后續(xù)顯示面板工作狀態(tài)時的靜電防護電路，即在不增加元件的情況下將功能測試電路和靜電防護電路這兩個電路的功能由一個電路完成，從而減小元器件和走線空間的占用。
[0052]優(yōu)選的，第一子電路101具體用于,根據(jù)其第一端Al接入的第一控制信號和其第二端A2接入的測試信號，由其第三端A3向數(shù)據(jù)線提供測試信號；或者，根據(jù)其第一端Al的第二控制信號和其第二端A2接入第一電平信號，對其第三端A3接收的數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號進行放電；
[0053]第二子電路102具體用于，根據(jù)其第一端BI接入的第二控制信號和其第二端B2接入的測試信號，由其第三端B3向數(shù)據(jù)線提供測試信號；或者，根據(jù)其第一端BI接入的第一控制信號和其第二端B2接入的第二電平信號，對其第三端B3接收的數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號進行放電。
[0054]本實施例中，第一子電路101和第二子電路102均能為顯示面板的功能測試提供測試信號，在顯示面板工作時又可以分別作為正的靜電放電路和負的靜電放電路。
[0055]參見圖2，提供了較具體的面板功能測試電路100的示意圖。其中，第一子電路101包括第一晶體管Ml，第二子電路102包括第二晶體管M2 ；
[0056]第一晶體管Ml的柵極為第一子電路101的第一端Al，其源極為第一子電路101的第二端A2，其漏極為第一子電路101的第三端A3 ；
[0057]第二晶體管M2的柵極為第二子電路102的第一端BI，其源極為第二子電路102的第二端B2，其漏極為第二子電路102的第三端B3。
[0058]本實施例中，第一子電路101為第一晶體管Ml，第二子電路102為第二晶體管M2，電路容易實現(xiàn)且構(gòu)造簡單。
[0059]參見圖3，示出了該面板功能測試電路100用于顯示面板的功能測試的示意圖。在此，以第一子電路101為第一晶體管Ml,第一晶體管Ml為PMOS晶體管,第二子電路102為第二晶體管M2,第二晶體管M2為NMOS晶體管為例進行說明:[0060]第一晶體管Ml的漏極(第一子電路101的第三端A3)和第二晶體管M2的漏極(第二子電路102的第三端B3)均與顯示面板的同一數(shù)據(jù)線data電連接。
[0061]由第一晶體管Ml的柵極(第一子電路101的第一端Al)接入低電平信號VGL^一晶體管Ml的源極(第一子電路101的第二端A2)接入測試信號，因此，第一晶體管Ml導(dǎo)通，從而將測試信號ds提供給數(shù)據(jù)線data。
[0062]由第二晶體管M2的柵極(第二子電路102的第一端BI)接入高電平信號VGH，第二晶體管M2的源極(第二子電路102的第二端B2)接入測試信號，因此，第二晶體管M2導(dǎo)通，從而將測試信號ds提供給數(shù)據(jù)線data。
[0063]即，第一子電路101和第二子電路102同時為一數(shù)據(jù)線data提供相同的測試信號?；诒緦嵤├龑︼@示面板進行測試的原理，在顯示面板進行功能測試時，可以僅采用第一子電路101，或僅采用第二子電路102，在此不再贅述。
[0064]在上述各實施例中，優(yōu)選的，第一控制信號為低電平信號，第二控制信號為高電平信號；第一電平信號為高電平信號，第二電平信號為低電平信號。
[0065]參見圖4，示出了該面板功能測試電路100用于顯示面板的靜電防護的示意圖，在此，以第一子電路101為第一晶體管Ml,第一晶體管Ml為PMOS晶體管,第二子電路102為第二晶體管M2,第二晶體管M2為NMOS晶體管為例進行說明:
[0066]由第一晶體管Ml的柵極(第一子電路101的第一端Al)和第一晶體管Ml的源極(第一子電路101的第二端A2)均接入高電平信號VGH，例如+5V電平信號。
[0067]由第二晶體管M2的柵極(第二子電路102的第一端BI)和第二晶體管M2的源極(第二子電路102的第二端B2)均接入低電平信號VGL，例如-5V電平信號，當然第二晶體管M2的柵極接入的低電平信號與源極接入的低電平信號可以相同，也可以不同，通常為了簡化實施，可以接相同的低電平信號。
[0068]例如，當數(shù)據(jù)線data有+50V的高電平靜電信號時，此時第一晶體管Ml的漏極電壓+50V高于柵極電壓+5V，即柵極電路低相對于漏極電路為負電壓，因此第一晶體管Ml導(dǎo)通，從而第二晶體管M2對該高電平靜電信號進行放電。
[0069]又例如，當數(shù)據(jù)線data有-50V的低電平靜電信號時，此時第二晶體管M2的漏極電壓-50V低于柵極電壓-5V，即柵極電路低相對于漏極電路為正電壓，因此第二晶體管M2導(dǎo)通，從而第二晶體管M2對該低電平靜電信號進行放電。
[0070]本發(fā)明實施例有益效果如下:通過整合面板測試電路和靜電防護電路，使顯示面板正常顯示時，面板功能測試電路根據(jù)輸入信號的改變，提供靜電防護的功能，減少元器件的數(shù)量和相應(yīng)的走線，從而節(jié)省布線空間。
[0071]本發(fā)明實施例提供一種顯示面板，包括多條數(shù)據(jù)線，如上所述的功能測試電路。
[0072]本發(fā)明實施例有益效果如下:通過整合面板功能測試電路和靜電防護電路，使面板功能測試電路在顯示面板進行功能測試時提供測試信號，在顯示面板工作時，提供靜電防護，從而減少元器件的數(shù)量并節(jié)省走線空間。
[0073]本發(fā)明實施例提供一種顯示面板的功能測試方法，采用如上所述的功能測試電路，包括:
[0074]由第一子電路的第一端輸入第一控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供測試信號；和/或，由第二子電路的第一端輸入第二控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供測試信號。
[0075]優(yōu)選的，第一子電路為PMOS晶體管，由第一子電路的第一端輸入第一控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供測試信號，具體包括:
[0076]由PMOS晶體管的柵極輸入第一控制信號，其源極輸入測試信號，漏極為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供測試信號。
[0077]優(yōu)選的，第二子電路為NMOS晶體管，由第二子電路的第一端輸入第二控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供測試信號，具體包括:
[0078]由NMOS晶體管的柵極輸入第二控制信號，其源極輸入測試信號，漏極為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供測試信號。
[0079]優(yōu)選的，第一控制信號為低電平信號，第二控制信號為高電平信號。
[0080]本發(fā)明實施例有益效果如下:面板功能測試電路兼具功能測試和靜電防護的功能，第一子電路和第二子電路在顯示面板進行功能測試均可以提供測試信號，不需要提供單獨的功能測試電路，從而減少元器件的數(shù)量并節(jié)省走線空間。
[0081]參見圖5，本發(fā)明實施例提供一種顯示面板的靜電防護方法，采用如上所述的功能測試電路，包括:
[0082]501、由功能測試電路的第一子電路的第一端輸入用于控制第一子電路關(guān)斷的第二控制信號，其第二端輸入第一電平信號；以及，由第二子電路的第一端輸入用于控制第二子電路關(guān)斷的第一控制信號，其第二端輸入第二電平信號。
[0083]502、當數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號到來時，第一子電路或第二子電路對靜電信號進行靜電放電。
[0084]優(yōu)選的，第一子電路為PMOS晶體管，第二子電路為NMOS晶體管；
[0085]第一控制信號為低電平信號，第二控制信號為高電平信號；
[0086]第一電平信號為高電平信號，第二電平信號為低電平信號。
[0087]優(yōu)選的，步驟502中，當數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號到來時，第一子電路或第二子電路對靜電信號進行靜電放電，具體包括:
[0088]若靜電信號為高電平靜電信號，且靜電信號的電平大于第二控制信號的電平，第一子電路對靜電信號進行靜電放電；
[0089]若靜電信號為低電平靜電信號，且靜電信號的電平小于第一控制信號的電平，第二子電路對靜電信號進行靜電放電。
[0090]本發(fā)明實施例有益效果如下:面板功能測試電路兼具功能測試和靜電防護的功能，由第一子電路和第二子電路在顯示面板工作時，分別提供負的靜電放電和正的靜電放電，不需要提供單獨的靜電防護電路，從而減少元器件的數(shù)量并節(jié)省走線空間。
[0091]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種面板功能測試電路，其特征在于，包括與顯示面板的同一條數(shù)據(jù)線電連接的第一子電路和第二子電路； 所述第一子電路和所述第二子電路，用于為測試狀態(tài)的顯示面板的所述數(shù)據(jù)線提供測試信號；或者，用于對工作狀態(tài)的顯示面板的所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號進行靜電放電。
2.如權(quán)利要求1所述的面板功能測試電路，其特征在于，所述第一子電路具體用于，根據(jù)其第一端接入的第一控制信號和其第二端接入的所述測試信號，由其第三端向所述數(shù)據(jù)線提供所述測試信號；或者，根據(jù)其第一端接入的第二控制信號和其第二端接入的第一電平信號，對其第三端接收的所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)母唠娖届o電信號進行放電； 所述第二子電路具體用于，根據(jù)其第一端接入的所述第二控制信號和其第二端接入的測試信號，由其第三端向所述數(shù)據(jù)線提供所述測試信號；或者，根據(jù)其第一端接入的所述第一控制信號和其第二端接入的第二電平信號，對其第三端接收的所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)牡碗娖届o電信號進行放電。
3.如權(quán)利要求2所述的面板功能測試電路，其特征在于，所述第一子電路包括第一晶體管，所述第二子電路包括第二晶體管； 所述第一晶體管的柵極為所述第一子電路的第一端，其源極為所述第一子電路的第二端，其漏極為所述第一子電路的第三端； 所述第二晶體管的柵極為所述第二子電路的第一端，其源極為所述第二子電路的第二端，其漏極為所述第二子電路的第三端。
4.如權(quán)利要求3所述的面板功能測試電路，其特征在于，所述第一晶體管為PMOS晶體管，所述第二晶體管為NMOS晶體管。
5.如權(quán)利要求4所述的面板功能測試電路，其特征在于，所述第一控制信號為低電平信號，所述第二控制信號為高電平信號； 所述第一電平信號為高電平信號，所述第二電平信號為低電平信號。
6.一種顯示面板，包括多條數(shù)據(jù)線，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至5任一項所述的功能測試電路。
7.—種顯示面板的功能測試方法，采用如權(quán)利要求1至5任一項所述的功能測試電路，其特征在于，包括: 由第一子電路的第一端輸入第一控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供所述測試信號；和/或， 由第二子電路的第一端輸入第二控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供所述測試信號。
8.如權(quán)利要求7所述的功能測試方法，其特征在于，所述第一子電路為PMOS晶體管，由第一子電路的第一端輸入第一控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供所述測試信號，具體包括: 由所述PMOS晶體管的柵極輸入所述第一控制信號，其源極輸入所述測試信號，所述漏極為顯示面板的所述數(shù)據(jù)線提供所述測試信號。
9.如權(quán)利要求7所述的功能測試方法，其特征在于，所述第二子電路為NMOS晶體管，由第二子電路的第一端輸入第二控制信號，其第二端輸入測試信號，其第三端為顯示面板的數(shù)據(jù)線提供所述測試信號，具體包括:由所述NMOS晶體管的柵極輸入所述第二控制信號，其源極輸入所述測試信號，所述漏極為顯示面板的所述數(shù)據(jù)線提供所述測試信號。
10.如權(quán)利要求7至9任一項所述的功能測試方法，其特征在于，所述第一控制信號為低電平信號，所述第二控制信號為高電平信號。
11.一種顯示面板的靜電防護方法，采用如權(quán)利要求2至5任一項所述的功能測試電路，其特征在于，包括: 由所述功能測試電路的第一子電路的第一端輸入用于控制所述第一子電路關(guān)斷的第二控制信號，其第二端輸入第一電平信號；以及，由所述第二子電路的第一端輸入用于控制所述第二子電路關(guān)斷的第一控制信號，其第二端輸入第二電平信號； 當所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號到來時，所述第一子電路或所述第二子電路對所述靜電信號進行靜電放電。
12.如權(quán)利要求11所述的的靜電防護方法，其特征在于，所述第一子電路為PMOS晶體管，所述第二子電路為NMOS晶體管； 所述第一控制信號為低電平信號，所述第二控制信號為高電平信號； 所述第一電平信號為高電平信號，所述第二電平信號為低電平信號。
13.如權(quán)利要求12所述的的靜電防護方法，其特征在于，當所述數(shù)據(jù)線傳輸?shù)撵o電信號到來時，所述第一子電路或所述第二子電路對所述靜電信號進行靜電放電，包括: 若所述靜電信號為高電平靜電信號，且所述靜電信號的電平大于所述第二控制信號的電平，所述第一子電路對所述靜電信號進行靜電放電； 若所述靜電信號為低電平靜電信號，且所述靜電信號的電平小于所述第一控制信號的電平，所述第二子電路對所述靜電信號進行靜電放電。
【文檔編號】G02F1/13GK104021747SQ201410222852
【公開日】2014年9月3日 申請日期:2014年5月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月23日
【發(fā)明者】李付強, 李成, 安星俊 申請人:京東方科技集團股份有限公司, 鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司