一種液晶模塊的測試方法及測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶模塊的測試方法及測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在液晶顯示屏生產(chǎn)中，通常需要對(duì)液晶模塊進(jìn)行各種測試，例如最為常見的老化測試(英文=Stress Test)等。在測試中通過測試信號(hào)模擬液晶模塊在正常顯示時(shí)的各種工作狀態(tài)，并進(jìn)一步得到液晶模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu)單元的各種特性參數(shù)，從而對(duì)液晶模塊的可靠性、有效工作壽命等進(jìn)彳T評(píng)估。
[0003]為了進(jìn)行測試，液晶模塊上通常設(shè)有測試電路單元。現(xiàn)有技術(shù)中通常采用信號(hào)發(fā)生器提供測試信號(hào)，以完成測試。
[0004]當(dāng)被測液晶模塊未與外部的信號(hào)發(fā)生器連接時(shí)，測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端懸空。在通過信號(hào)發(fā)生器加載測試信號(hào)時(shí)，測試結(jié)果往往因?yàn)閷?shí)際加載的測試信號(hào)不同而不同。為得到可靠的測試結(jié)果，需要測試信號(hào)盡可能地模擬液晶模塊在實(shí)際工作狀態(tài)下各種結(jié)構(gòu)單元所接收到的信號(hào)。然而，信號(hào)發(fā)生器可能并不能很好地模擬實(shí)際工作狀態(tài)下的各種信號(hào)，尤其對(duì)于高頻信號(hào)，信號(hào)發(fā)生器可能并不能夠輸出滿足測試要求的信號(hào)，再者，信號(hào)發(fā)生器輸出的測試信號(hào)容易受實(shí)際測試環(huán)境中各種干擾的影響，使得測試結(jié)果缺乏準(zhǔn)確性，進(jìn)而影響對(duì)產(chǎn)品可靠性的評(píng)估。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的實(shí)施例提供一種液晶模塊的測試方法及測試裝置，能夠提高對(duì)液晶模塊測試的準(zhǔn)確性。
[0006]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:
[0007]一方面，一種液晶模塊的測試方法，包括:
[0008]加載待測的液晶模塊，所述液晶模塊包括測試電路單元，所述測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端與所述液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)線連接；
[0009]驅(qū)動(dòng)所述液晶模塊工作，在工作時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)長后，切斷所述測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端與所述液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)線之間的連接；
[0010]向所述液晶模塊輸入激勵(lì)信號(hào)，所述激勵(lì)信號(hào)用于測試所述測試電路單元的特性參數(shù)；
[0011]從所述液晶模塊接收反饋信號(hào)，所述反饋信號(hào)為所述測試電路單元對(duì)所述激勵(lì)信號(hào)的響應(yīng)信號(hào)。
[0012]可選的，所述切斷所述測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端與所述液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)線之間的連接，包括:
[0013]通過激光刻蝕切斷所述測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端與所述液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)線之間的連接。
[0014]可選的，所述測試電路單元包括GOA基本單元、多路復(fù)用MUX單元、像素單元或者靜電釋放ESD單元中的至少一種。
[0015]可選的，所述驅(qū)動(dòng)信號(hào)線包括時(shí)鐘CLK信號(hào)線、高電平VGH信號(hào)線、低電平VGL信號(hào)線、多路復(fù)用MUX信號(hào)線、柵極Gate信號(hào)線或者源極Source信號(hào)線中的至少一種。
[0016]可選的，所述方法還包括:
[0017]根據(jù)所述激勵(lì)信號(hào)和反饋信號(hào)輸出所述測試電路單元的特性參數(shù)曲線。
[0018]一方面，一種液晶模塊的測試裝置，包括:
[0019]加載模塊，用于加載待測的液晶模塊，所述液晶模塊包括測試電路單元，所述測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端與所述液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)線連接；
[0020]所述加載模塊，還用于驅(qū)動(dòng)所述液晶模塊工作；
[0021]分割模塊，用于在所述液晶模塊的工作時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)長后，切斷所述測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端與所述液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)線之間的連接；
[0022]特性參數(shù)測試模塊，用于向所述液晶模塊輸入激勵(lì)信號(hào)，并從所述液晶模塊接收反饋信號(hào)；所述激勵(lì)信號(hào)用于測試所述測試電路單元的特性參數(shù)，所述反饋信號(hào)為所述測試電路單元對(duì)所述激勵(lì)信號(hào)的響應(yīng)信號(hào)。
[0023]可選的，所述分割模塊，具體用于在所述液晶模塊的工作時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)長后，通過激光刻蝕切斷所述測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端與所述液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)線之間的連接。
[0024]可選的，所述特性參數(shù)測試模塊，具體用于向GOA基本單元、多路復(fù)用MUX單元、像素單元或者靜電釋放ESD單元中的任一種測試電路單元，輸入所述激勵(lì)信號(hào)，并接收所述反饋信號(hào)。
[0025]可選的，所述測試裝置還包括輸出模塊，用于根據(jù)所述激勵(lì)信號(hào)和反饋信號(hào)輸出所述測試電路單元的特性參數(shù)曲線。
[0026]本發(fā)明的實(shí)施例提供的液晶模塊的測試方法，將液晶模塊內(nèi)部的驅(qū)動(dòng)信號(hào)作為測試信號(hào)，輸入測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端，驅(qū)動(dòng)測試電路單元，因此無需外接信號(hào)發(fā)生器向測試電路單元輸入測試信號(hào)。由于測試信號(hào)完全是液晶模塊內(nèi)部的真實(shí)信號(hào)，相比通過由信號(hào)發(fā)生器輸入模擬信號(hào)進(jìn)行測試的方式，無需考慮模擬信號(hào)是否接近真實(shí)信號(hào)，也避免了測試環(huán)境對(duì)模擬信號(hào)所造成的各種干擾，因此提高了對(duì)液晶模塊測試的準(zhǔn)確性。進(jìn)一步地，根據(jù)測試結(jié)果對(duì)液晶模塊可靠性、有效工作壽命等的評(píng)估，也更接近真實(shí)情況。
【附圖說明】
[0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0028]圖1為本發(fā)明的實(shí)施例一所提供的液晶模塊的測試方法流程示意圖；
[0029]圖2為本發(fā)明的實(shí)施例二所提供的液晶模塊的測試方法流程示意圖；
[0030]圖3為本發(fā)明的實(shí)施例二中測試電路單元為GOA電路中MOS晶體管的說明示意圖；
[0031]圖4為本發(fā)明的實(shí)施例二中測試電路單元為MUX單元的說明示意圖；
[0032]圖5為本發(fā)明的實(shí)施例二中測試電路單元為像素單元的說明示意圖；
[0033]圖6為本發(fā)明的實(shí)施例二中測試電路單元為ESD單元的說明示意圖；
[0034]圖7為本發(fā)明的實(shí)施例二中測試電路單元為GOA電路中反相器單元的說明示意圖；
[0035]圖8為本發(fā)明的實(shí)施例三所提供的一種液晶模塊的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0036]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0037]本發(fā)明的實(shí)施例提供一種液晶模塊的測試方法及測試裝置，用于對(duì)液晶模塊進(jìn)行測試。在液晶顯示器的制造中，通常需要對(duì)液晶模塊進(jìn)行各種測試。以最為常見的老化測試(英文=Stress Test)為例，在老化測試中，液晶模塊在測試信號(hào)下工作一段時(shí)間后，再對(duì)液晶模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu)單元的各種特性參數(shù)進(jìn)行測試，通過比較老化測試前后各種特性參數(shù)的變化，對(duì)液晶模塊的可靠性、有效工作壽命等進(jìn)行評(píng)估。
[0038]本發(fā)明的實(shí)施例以老化測試的應(yīng)用場景為例進(jìn)行說明，當(dāng)然，本發(fā)明的實(shí)施例所提供的對(duì)液晶模塊的測試方法，可以用于對(duì)液晶模塊進(jìn)行多種具體的測試，本發(fā)明對(duì)于具體的測試場景不做限定。
[0039]實(shí)施例一
[0040]本發(fā)明的實(shí)施例一提供一種液晶模塊的測試方法，參照?qǐng)D1所示，具體包括以下步驟:
[0041]101、測試裝置加載待測的液晶模塊，液晶模塊包括測試電路單元，測試電路單元的驅(qū)動(dòng)信號(hào)端與液晶模塊內(nèi)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)線連接。
[0042]在液晶顯示器制造中，在經(jīng)過切割(英文:Cutting)工藝后形成一個(gè)個(gè)獨(dú)立的液晶盒(英文:Cell)，液晶盒在經(jīng)過與驅(qū)動(dòng)集成電路(英文全稱integrated circuit，英文簡稱:IC)邦定(英文:Bonding)，印制電路板(英文全稱:Printed Circuit Board，英文簡稱:PCB)連接等處理后，形成液晶模塊(英文=Module)。測試裝置加載待測的液晶模塊，指通過待測的液晶模塊的接口與待測模塊連接，并驅(qū)動(dòng)液晶模塊正常顯示。
[0043]液晶模塊包括測試