測(cè)試電路中的多個(gè)模塊的測(cè)試方法和測(cè)試設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電路(例如芯片)的可測(cè)試性設(shè)計(jì)的領(lǐng)域，更具體地，涉及一種測(cè)試電路中的多個(gè)模塊的測(cè)試方法和測(cè)試設(shè)備，所述多個(gè)模塊具有相同的結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]為了提高電路測(cè)試的效率，在電路設(shè)計(jì)階段，在電路中增加可用于測(cè)試該電路的硬件邏輯，這被稱(chēng)為電路的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT,Design for testability)。目前,主流的DFT方法是掃描測(cè)試法，其目的在于找出電路的制造缺陷(例如不期望的短路、斷路等)，而非驗(yàn)證電路的功能。在這種方法中，在設(shè)計(jì)電路時(shí)，將電路中的寄存器替換為具有掃描輸入端口和掃描輸出端口的掃描寄存器。在測(cè)試電路時(shí)，可以將電路中的所有掃描寄存器連接為掃描鏈。然后，可以將通過(guò)自動(dòng)掃描模式生成(ATPG)工具生成的一個(gè)或多個(gè)測(cè)試模式(test pattern)對(duì)應(yīng)的激勵(lì)信號(hào)分別輸入到掃描鏈中。如本領(lǐng)域公知的，每個(gè)測(cè)試模式可用于測(cè)試?yán)缫环N電路缺陷，并且包括要施加到電路的激勵(lì)信號(hào)和電路響應(yīng)于該激勵(lì)信號(hào)的施加而應(yīng)當(dāng)產(chǎn)生的預(yù)期輸出響應(yīng)。這樣，通過(guò)確定掃描鏈的輸出響應(yīng)是否與各個(gè)測(cè)試模式對(duì)應(yīng)的預(yù)期輸出響應(yīng)一致，可以確定所述電路是否具有對(duì)應(yīng)的缺陷。
[0003]在所設(shè)計(jì)的電路中，常常會(huì)使用多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊(或稱(chēng)為重復(fù)使用的模塊)，例如知識(shí)產(chǎn)權(quán)核(IP core)、認(rèn)知計(jì)算電路中的神經(jīng)元模塊等。隨著電路規(guī)模的增大，在電路中使用的具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的數(shù)量也越來(lái)越多。在現(xiàn)有的DFT方法中，將這些模塊與其他模塊無(wú)區(qū)別地對(duì)待，而沒(méi)有根據(jù)這些模塊的特點(diǎn)(即，“相同”)來(lái)調(diào)整該電路的測(cè)試方法，因而測(cè)試效率不高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的實(shí)施例提出了測(cè)試電路中的多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法，其能夠簡(jiǎn)化對(duì)于所述多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測(cè)試過(guò)程，提高測(cè)試效率。
[0005]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種用于測(cè)試電路中的多個(gè)模塊的測(cè)試設(shè)備，所述多個(gè)模塊具有相同的結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試設(shè)備包括:比較裝置，被配置為收集通過(guò)將激勵(lì)信號(hào)并行施加于所述多個(gè)模塊而由所述多個(gè)模塊產(chǎn)生的輸出響應(yīng)，比較所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)以確定所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)是否相同，并且輸出該比較裝置的比較結(jié)果；以及確定裝置，被配置為接收所述比較結(jié)果，并且根據(jù)該比較裝置的比較結(jié)果來(lái)確定所述多個(gè)模塊是否具有缺陷。
[0006]根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種用于測(cè)試電路中的多個(gè)模塊的測(cè)試方法，所述多個(gè)模塊具有相同的結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試方法包括:收集通過(guò)將激勵(lì)信號(hào)并行施加于所述多個(gè)模塊而由所述多個(gè)模塊產(chǎn)生的輸出響應(yīng)；比較所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)以確定所述多個(gè)模塊的輸出響應(yīng)是否相同；以及根據(jù)所述比較的結(jié)果來(lái)確定所述多個(gè)模塊是否具有缺陷。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，提供了一種用于測(cè)試電路中的多個(gè)模塊的測(cè)試設(shè)備，所述多個(gè)模塊具有相同的結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試設(shè)備可以執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明上述方面的測(cè)試方法。
[0008]利用根據(jù)本發(fā)明上述方面的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法，當(dāng)電路包括多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊時(shí)，可以將激勵(lì)信號(hào)并行地施加到各個(gè)模塊上，并且根據(jù)各個(gè)模塊的輸出響應(yīng)是否相同來(lái)確定這些模塊是否具有缺陷。這樣，可以并行地測(cè)試所述多個(gè)模塊，從而可以提高測(cè)試效率。此外，由于所述多個(gè)模塊可以共用一個(gè)或多個(gè)測(cè)試模式，因此上述測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法可以簡(jiǎn)化所述模塊的測(cè)試過(guò)程。
【附圖說(shuō)明】
[0009]通過(guò)結(jié)合附圖對(duì)本公開(kāi)示例性實(shí)施方式進(jìn)行更詳細(xì)的描述，本公開(kāi)的上述以及其它目的、特征和優(yōu)勢(shì)將變得更加明顯，其中，在本公開(kāi)示例性實(shí)施方式中，相同的參考標(biāo)號(hào)通常代表相同部件。
[0010]圖1示出了適于用來(lái)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施方式的示例性計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12的框圖。
[0011]圖2 TJK出了將6個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊中的每個(gè)模塊的掃描寄存器連接為一條掃描鏈的示意圖。
[0012]圖3示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試電路中的多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測(cè)試設(shè)備的框圖。
[0013]圖4示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試電路中的多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測(cè)試設(shè)備的一種示例實(shí)現(xiàn)方式。
[0014]圖5示出了圖3所示的確定裝置確定具有缺陷的模塊的方法的示例。
[0015]圖6示出了本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試電路中的多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測(cè)試方法的流程圖。
[0016]圖7示出了根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的測(cè)試電路中的多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測(cè)試設(shè)備的框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]下面將參照附圖更詳細(xì)地描述本公開(kāi)的優(yōu)選實(shí)施方式。雖然附圖中顯示了本公開(kāi)的優(yōu)選實(shí)施方式，然而應(yīng)該理解，可以以各種形式實(shí)現(xiàn)本公開(kāi)而不應(yīng)被這里闡述的實(shí)施方式所限制。相反，提供這些實(shí)施方式是為了使本公開(kāi)更加透徹和完整，并且能夠?qū)⒈竟_(kāi)的范圍完整地傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。
[0018]圖1示出了適于用來(lái)實(shí)現(xiàn)本發(fā)明實(shí)施方式的示例性計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12的框圖。圖1顯示的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12僅僅是一個(gè)示例，不應(yīng)對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的功能和使用范圍帶來(lái)任何限制。
[0019]如圖1所示，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12以通用計(jì)算設(shè)備的形式表現(xiàn)。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12的組件可以包括但不限于:一個(gè)或者多個(gè)處理器或者處理單元16，系統(tǒng)存儲(chǔ)器28，連接不同系統(tǒng)組件(包括系統(tǒng)存儲(chǔ)器28和處理單元16)的總線(xiàn)18。
[0020]總線(xiàn)18表示幾類(lèi)總線(xiàn)結(jié)構(gòu)中的一種或多種，包括存儲(chǔ)器總線(xiàn)或者存儲(chǔ)器控制器，外圍總線(xiàn)，圖形加速端口，處理器或者使用多種總線(xiàn)結(jié)構(gòu)中的任意總線(xiàn)結(jié)構(gòu)的局域總線(xiàn)。舉例來(lái)說(shuō)，這些體系結(jié)構(gòu)包括但不限于工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)體系結(jié)構(gòu)(ISA)總線(xiàn)，微通道體系結(jié)構(gòu)(MAC)總線(xiàn)，增強(qiáng)型ISA總線(xiàn)、視頻電子標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)(VESA)局域總線(xiàn)以及外圍組件互連(PCI)總線(xiàn)。
[0021]計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12典型地包括多種計(jì)算機(jī)系統(tǒng)可讀介質(zhì)。這些介質(zhì)可以是任何能夠被計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12訪問(wèn)的可用介質(zhì)，包括易失性和非易失性介質(zhì)，可移動(dòng)的和不可移動(dòng)的介質(zhì)。
[0022]系統(tǒng)存儲(chǔ)器28可以包括易失性存儲(chǔ)器形式的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)可讀介質(zhì)，例如隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM) 30和/或高速緩存存儲(chǔ)器32。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12可以進(jìn)一步包括其它可移動(dòng)/不可移動(dòng)的、易失性/非易失性計(jì)算機(jī)系統(tǒng)存儲(chǔ)介質(zhì)。僅作為舉例，存儲(chǔ)系統(tǒng)34可以用于讀寫(xiě)不可移動(dòng)的、非易失性磁介質(zhì)(圖1未顯示，通常稱(chēng)為“硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器”)。盡管圖1中未示出，可以提供用于對(duì)可移動(dòng)非易失性磁盤(pán)(例如“軟盤(pán)”)讀寫(xiě)的磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器，以及對(duì)可移動(dòng)非易失性光盤(pán)(例如⑶-ROM，DVD-ROM或者其它光介質(zhì))讀寫(xiě)的光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器。在這些情況下，每個(gè)驅(qū)動(dòng)器可以通過(guò)一個(gè)或者多個(gè)數(shù)據(jù)介質(zhì)接口與總線(xiàn)18相連。存儲(chǔ)器28可以包括至少一個(gè)程序產(chǎn)品，該程序產(chǎn)品具有一組(例如至少一個(gè))程序模塊，這些程序模塊被配置以執(zhí)行本發(fā)明各實(shí)施例的功能。
[0023]具有一組(至少一個(gè))程序模塊42的程序/實(shí)用工具40，可以存儲(chǔ)在例如存儲(chǔ)器28中，這樣的程序模塊42包括——但不限于——操作系統(tǒng)、一個(gè)或者多個(gè)應(yīng)用程序、其它程序模塊以及程序數(shù)據(jù)，這些示例中的每一個(gè)或某種組合中可能包括網(wǎng)絡(luò)環(huán)境的實(shí)現(xiàn)。程序模塊42通常執(zhí)行本發(fā)明所描述的實(shí)施例中的功能和/或方法。
[0024]計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12也可以與一個(gè)或多個(gè)外部設(shè)備14 (例如鍵盤(pán)、指向設(shè)備、顯示器24等)通信，還可與一個(gè)或者多個(gè)使得用戶(hù)能與該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12交互的設(shè)備通信，和/或與使得該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12能與一個(gè)或多個(gè)其它計(jì)算設(shè)備進(jìn)行通信的任何設(shè)備(例如網(wǎng)卡，調(diào)制解調(diào)器等等)通信。這種通信可以通過(guò)輸入/輸出(I/O)接口 22進(jìn)行。并且，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12還可以通過(guò)網(wǎng)絡(luò)適配器20與一個(gè)或者多個(gè)網(wǎng)絡(luò)(例如局域網(wǎng)(LAN)，廣域網(wǎng)(WAN)和/或公共網(wǎng)絡(luò)，例如因特網(wǎng))通信。如圖所示，網(wǎng)絡(luò)適配器20通過(guò)總線(xiàn)18與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12的其它模塊通信。應(yīng)當(dāng)明白，盡管圖中未示出，可以結(jié)合計(jì)算機(jī)系統(tǒng)/服務(wù)器12使用其它硬件和/或軟件模塊，包括但不限于:微代碼、設(shè)備驅(qū)動(dòng)器、冗余處理單元、外部磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)陣列、RAID系統(tǒng)、磁帶驅(qū)動(dòng)器以及數(shù)據(jù)備份存儲(chǔ)系統(tǒng)等。
[0025]下面，將參照附圖來(lái)詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測(cè)試電路中的多個(gè)具有相同結(jié)構(gòu)的模塊的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法。這里所述的電路可以是任何形式的電路，例如集成電路(或芯片)或非集成的電路(或分立元件電路)。在