用，該測試系統(tǒng)的測試方法步驟如下:初始化遮擋開關(guān)裝置，使其處于遮擋或避開通光孔狀態(tài);根據(jù)遮擋開關(guān)裝置的狀態(tài)，測試系統(tǒng)對攝像頭模組進行相應的暗環(huán)境或亮環(huán)境測試;測試完成后，向遮擋開關(guān)裝置的線圈供應相反方向的電流，使得遮擋開關(guān)裝置切換至避開或遮擋通光孔狀態(tài);根據(jù)遮擋開關(guān)裝置的狀態(tài)，測試系統(tǒng)對攝像頭模組進行相應的亮環(huán)境或暗環(huán)境測試。
[0019]所述測試系統(tǒng)包括測試模塊、處理模塊和用于攝像頭模組測試的測試用具。其中，如圖1所示，所述用于攝像頭模組測試的測試用具包括基板1、設置在基板1上的通光孔
2和遮擋開關(guān)裝置3，該遮擋開關(guān)裝置3用于遮擋或避開所述通光孔2，以實現(xiàn)攝像頭模組的亮環(huán)境和暗環(huán)境測試環(huán)境的自動切換功能。所述遮擋開關(guān)裝置3包括開關(guān)承載板31、開關(guān)擋板32、圓形磁鐵33、撥桿36和線圈34;所述開關(guān)承載板31固定安裝在所述頂蓋上，用于承載所述遮擋開關(guān)裝置3的零部件;所述開關(guān)擋板32固定在所述撥桿36上，所述撥桿36固定在所述圓形磁鐵33上;所述圓形磁鐵33通過定位柱35設置在所述開關(guān)承載板31，所述線圈34位于所述圓形磁鐵33的上方一側(cè)，所述線圈34通電后產(chǎn)生磁場驅(qū)動該圓形磁鐵33繞該定位柱35旋轉(zhuǎn)，經(jīng)所述撥桿36帶動所述開關(guān)擋板32運動以遮擋或避開所述通光孔2，實現(xiàn)亮環(huán)境和暗環(huán)境狀態(tài)的切換。所述遮擋開關(guān)裝置3還包括位于所述圓形磁鐵33側(cè)邊的鐵塊37、與線圈34電連接的驅(qū)動裝置;所述鐵塊37用于維持圓形磁鐵33的穩(wěn)定狀態(tài);所述驅(qū)動裝置優(yōu)選但不限定為D/A驅(qū)動芯片，用于向線圈34提供不同方向的電流，以驅(qū)動圓形磁鐵33運動。
[0020]所述處理模塊分別與測試模塊及驅(qū)動裝置連接，所述處理模塊用于輸出控制指令至所述測試模塊和驅(qū)動裝置，以及接收所述測試模塊和驅(qū)動裝置反饋的狀態(tài)信號，并顯示在與處理模塊連接的顯示屏上。所述測試模塊用于對攝像頭模組在亮環(huán)境和/或暗環(huán)境下進行測試，其為現(xiàn)有技術(shù)，在此不再贅述。所述驅(qū)動裝置與遮擋開關(guān)裝置的線圈電連接，用于接收所述處理模塊發(fā)送的控制指令，并輸出相應的電流至所述線圈。
[0021]所述測試系統(tǒng)的測試方法，具體包括以下步驟:將待測試攝像頭模組鏡頭對應測試用具上的通光孔;初始化遮擋開關(guān)裝置，使遮擋開關(guān)裝置處于遮擋或避開通光孔狀態(tài)，即經(jīng)驅(qū)動裝置向線圈供應一電流，線圈根據(jù)電流產(chǎn)生磁場，驅(qū)動圓形磁鐵繞定位柱旋轉(zhuǎn)，經(jīng)撥桿帶動開關(guān)擋板旋轉(zhuǎn)以遮擋或避開通光孔，驅(qū)動裝置停止電流輸出，反饋狀態(tài)信號至處理模塊;根據(jù)當前遮擋開關(guān)裝置的狀態(tài)，處理模塊發(fā)出測試的控制指令至測試模塊，測試模塊對待測試攝像頭模組進行暗環(huán)境或亮環(huán)境測試，測試完成后，反饋測試完成狀態(tài)信號至處理模塊;判斷是否需要進行另一種環(huán)境測試，若否，則停機;若是，處理模塊發(fā)送驅(qū)動開關(guān)的控制指令至驅(qū)動裝置，驅(qū)動裝置向遮擋開關(guān)裝置的線圈供應相反方向的電流，使得遮擋開關(guān)裝置切換為避開或遮擋通光孔狀態(tài)，即通過驅(qū)動裝置向遮擋開關(guān)裝置的線圈供應相反方向的電流，產(chǎn)生相反的力，驅(qū)動圓形磁鐵繞定位柱旋轉(zhuǎn)，經(jīng)所述撥桿帶動所述開關(guān)擋板運動以避開所述通光孔，實現(xiàn)亮環(huán)境和暗環(huán)境狀態(tài)的切換，驅(qū)動裝置停止電流輸出，反饋狀態(tài)信號至處理模塊;根據(jù)當前遮擋開關(guān)裝置的狀態(tài)，處理模塊發(fā)出測試的控制指令至測試模塊，測試模塊對待測試攝像頭模組進行暗環(huán)境或亮環(huán)境測試，測試完成后，反饋測試完成狀態(tài)信號至處理模塊。所述處理模塊發(fā)送測試模塊反饋的測試結(jié)果至顯示屏，在顯示屏上顯示測試結(jié)果。
[0022]需要說明的是，在所述測試系統(tǒng)中，除了使用所述測試用具外，還包括其他測試所需的其他零部件，但這些零部件均為現(xiàn)有技術(shù)，在此不再贅述。
[0023]使用了所述測試用具的攝像頭模組的測試系統(tǒng)，可到達完全自動化測試，減少操作流程，且提高工作效率，同時不影響測試效果，降低生產(chǎn)成本，具有良好的經(jīng)濟效益。
[0024]以上所述實施例僅表達了本發(fā)明的實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制，但凡采用等同替換或等效變換的形式所獲得的技術(shù)方案，均應落在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.用于攝像頭模組測試的測試用具，其特征在于，包括基板、設置在基板上的通光孔和遮擋開關(guān)裝置，該遮擋開關(guān)裝置用于遮擋或避開所述通光孔;所述遮擋開關(guān)裝置包括開關(guān)承載板、開關(guān)擋板、圓形磁鐵和線圈；所述圓形磁鐵通過定位柱設置在所述開關(guān)承載板，所述線圈位于所述圓形磁鐵的上方，所述開關(guān)擋板通過撥桿與所述圓形磁鐵連接，所述線圈用于驅(qū)動該圓形磁鐵繞該定位柱旋轉(zhuǎn)，帶動所述開關(guān)擋板運動以遮擋或避開所述通光孔。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于攝像頭模組測試的測試用具，其特征在于，所述遮擋開關(guān)裝置還包括位于所述圓形磁鐵側(cè)邊的鐵塊。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于攝像頭模組測試的測試用具，其特征在于，所述遮擋開關(guān)裝置還包括驅(qū)動裝置，其與所述線圈電連接，用于向線圈提供不同方向的電流，以驅(qū)動圓形磁鐵運動。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于攝像頭模組測試的測試用具，其特征在于，還包括與基板相對設置的底板，其具有容納攝像頭模組的定位凹槽。5.—種如權(quán)利要求1所述的用于攝像頭模組測試的測試用具在攝像頭模組測試系統(tǒng)的應用。6.—種使用如權(quán)利要求1所述的用于攝像頭模組測試的測試用具的測試方法，其包括如下步驟:初始化遮擋開關(guān)裝置，使其處于遮擋或避開通光孔狀態(tài);根據(jù)遮擋開關(guān)裝置的狀態(tài)，測試系統(tǒng)對攝像頭模組進行相應的暗環(huán)境或亮環(huán)境測試;測試完成后，向遮擋開關(guān)裝置的線圈供應相反方向的電流，使得遮擋開關(guān)裝置切換至避開或遮擋通光孔狀態(tài);根據(jù)遮擋開關(guān)裝置的狀態(tài)，測試系統(tǒng)對攝像頭模組進行相應的亮環(huán)境或暗環(huán)境測試。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于攝像頭模組測試的測試用具，包括基板、設置在基板上的通光孔和遮擋開關(guān)裝置，該遮擋開關(guān)裝置用于遮擋或避開所述通光孔；所述遮擋開關(guān)裝置包括開關(guān)承載板、開關(guān)擋板、圓形磁鐵和線圈；所述圓形磁鐵通過定位柱設置在所述開關(guān)承載板，所述線圈位于所述圓形磁鐵的上方，所述開關(guān)擋板通過撥桿與所述圓形磁鐵連接，所述線圈用于驅(qū)動該圓形磁鐵繞該定位柱旋轉(zhuǎn)，帶動所述開關(guān)擋板運動以遮擋或避開所述通光孔。該用于攝像頭模組測試的測試用具集成有遮擋開關(guān)裝置，智能地遮擋鏡頭通光孔和避開鏡頭通光孔，實現(xiàn)影像亮環(huán)境測試和暗環(huán)境測試自動切換測試功能，提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本，且其結(jié)構(gòu)簡單、體積小，與目前調(diào)焦或測試等設備共用，增加其應用范圍及使用效率，具有良好的經(jīng)濟效益。
【IPC分類】H04N17/00
【公開號】CN105472379
【申請?zhí)枴緾N201510942816
【發(fā)明人】高艷朋, 李建華
【申請人】信利光電股份有限公司
【公開日】2016年4月6日
【申請日】2015年12月16日