用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具及其應(yīng)用、測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及攝像頭領(lǐng)域，特別是涉及了一種用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具及其應(yīng)用、使用該用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具的測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，電子設(shè)備(如手機(jī)、平板等)均帶有攝像頭，在實(shí)際生產(chǎn)過程中，需要對(duì)攝像頭進(jìn)行各種功能測(cè)試，其中，亮環(huán)境和暗環(huán)境測(cè)試是攝像頭模組測(cè)試中一個(gè)重要參數(shù)，如亮點(diǎn)測(cè)試，壞線測(cè)試，暗電流測(cè)試等測(cè)試需要在畫面全黑的暗環(huán)境下測(cè)試?，F(xiàn)有的亮環(huán)境和暗環(huán)境切換測(cè)試攝像頭模組中，通常的做法是手動(dòng)蓋黑板遮擋鏡頭通光孔或者是使用封閉的盒子罩住攝像頭模組以便在攝像模組成像上為全黑的畫面，從而實(shí)現(xiàn)相關(guān)功能測(cè)試。其中，手動(dòng)蓋板方式不利于自動(dòng)化生產(chǎn)；目前較多的是在其他輔助設(shè)備上使用封閉盒子罩、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)等方式來實(shí)現(xiàn)暗環(huán)境，但在輔助設(shè)備上實(shí)現(xiàn)較復(fù)雜，體積較大，成本較高，且不能與目前調(diào)焦或測(cè)試設(shè)備共用，限制其應(yīng)用性和使用效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具，其集成了遮擋開關(guān)裝置，智能地遮擋鏡頭通光孔和避開鏡頭通光孔，實(shí)現(xiàn)影像亮環(huán)境測(cè)試和暗環(huán)境測(cè)試自動(dòng)切換測(cè)試功能，提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本，且其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小，與目前調(diào)焦或測(cè)試等設(shè)備共用，增加其應(yīng)用范圍及使用效率，具有良好的經(jīng)濟(jì)效益。本發(fā)明還提供了一種用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具在攝像頭測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用及測(cè)試方法。
[0004]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題通過以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn):
用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具，包括基板、設(shè)置在基板上的通光孔和遮擋開關(guān)裝置，該遮擋開關(guān)裝置用于遮擋或避開所述通光孔;所述遮擋開關(guān)裝置包括開關(guān)承載板、開關(guān)擋板、圓形磁鐵和線圈;所述圓形磁鐵通過定位柱設(shè)置在所述開關(guān)承載板，所述線圈位于所述圓形磁鐵的上方，所述開關(guān)擋板通過撥桿與所述圓形磁鐵連接，所述線圈用于驅(qū)動(dòng)該圓形磁鐵繞該定位柱旋轉(zhuǎn)，帶動(dòng)所述開關(guān)擋板運(yùn)動(dòng)以遮擋或避開所述通光孔。
[0005]進(jìn)一步地，還包括與基板相對(duì)設(shè)置的底板，其具有容納攝像頭模組的定位凹槽。
[0006]進(jìn)一步地，所述遮擋開關(guān)裝置還包括位于所述圓形磁鐵側(cè)邊的鐵塊。
[0007]進(jìn)一步地，所述遮擋開關(guān)裝置還包括驅(qū)動(dòng)裝置，其與所述線圈電連接，用于向線圈提供不同方向的電流，以驅(qū)動(dòng)圓形磁鐵運(yùn)動(dòng)。
[0008]—種用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具在攝像頭模組測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用。
[0009]—種使用所述的用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具的測(cè)試方法，其包括如下步驟:初始化遮擋開關(guān)裝置，使其處于遮擋或避開通光孔狀態(tài);根據(jù)遮擋開關(guān)裝置的狀態(tài)，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)攝像頭模組進(jìn)行相應(yīng)的暗環(huán)境或亮環(huán)境測(cè)試;測(cè)試完成后，向遮擋開關(guān)裝置的線圈供應(yīng)相反方向的電流，使得遮擋開關(guān)裝置切換至避開或遮擋通光孔狀態(tài);根據(jù)遮擋開關(guān)裝置的狀態(tài)，測(cè)試系統(tǒng)對(duì)攝像頭模組進(jìn)行相應(yīng)的亮環(huán)境或暗環(huán)境測(cè)試。
[0010]本發(fā)明具有如下有益效果:該用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具，其集成了遮擋開關(guān)裝置，智能地遮擋鏡頭通光孔和避開鏡頭通光孔，實(shí)現(xiàn)影像亮環(huán)境測(cè)試和暗環(huán)境測(cè)試自動(dòng)切換測(cè)試功能，提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本;其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小，方便操作，可與目前調(diào)焦或測(cè)試等設(shè)備共用，增加其應(yīng)用范圍及使用效率，具有良好的經(jīng)濟(jì)效益。
【附圖說明】
[0011]圖1為本發(fā)明一較佳實(shí)施例的測(cè)試用具的分解示意圖；
圖2為本發(fā)明圓形磁鐵與撥桿及鐵塊的一種位置關(guān)系圖；
圖3為本發(fā)明圓形磁鐵與撥桿及鐵塊的另一種位置關(guān)系圖；
其中，為了更好的體現(xiàn)圓形磁鐵與撥桿及鐵塊的位置關(guān)系，將圖2和圖3中位于與圓形磁鐵重合的撥桿部分省略掉，保留與開關(guān)擋板連接的部分。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的說明。
[0013]請(qǐng)參考圖1，其顯示了本發(fā)明較佳實(shí)施例的用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具，其包括基板1、設(shè)置在基板1上的通光孔2和遮擋開關(guān)裝置3，該遮擋開關(guān)裝置3用于遮擋或避開所述通光孔2，以實(shí)現(xiàn)攝像頭模組的亮環(huán)境和暗環(huán)境測(cè)試環(huán)境的自動(dòng)切換功能。所述遮擋開關(guān)裝置3包括開關(guān)承載板31、開關(guān)擋板32、圓形磁鐵33、撥桿36和線圈34;所述開關(guān)承載板31固定安裝在所述頂蓋上，用于承載所述遮擋開關(guān)裝置3的零部件;所述開關(guān)擋板32固定在所述撥桿36上，所述撥桿36固定在所述圓形磁鐵33上;所述圓形磁鐵33通過定位柱35設(shè)置在所述開關(guān)承載板31，所述線圈34位于所述圓形磁鐵33的上方一側(cè)，所述線圈34通電后產(chǎn)生磁場(chǎng)驅(qū)動(dòng)該圓形磁鐵33繞該定位柱35旋轉(zhuǎn)，經(jīng)所述撥桿36帶動(dòng)所述開關(guān)擋板32運(yùn)動(dòng)以遮擋或避開所述通光孔2，實(shí)現(xiàn)亮環(huán)境和暗環(huán)境狀態(tài)的切換。
[0014]所述遮擋開關(guān)裝置3還包括位于所述圓形磁鐵33側(cè)邊的鐵塊37、與線圈34電連接的驅(qū)動(dòng)裝置;所述鐵塊37用于維持圓形磁鐵33的穩(wěn)定狀態(tài)，形狀無限制，且無極性要求;所述驅(qū)動(dòng)裝置優(yōu)選但不限定為D/A驅(qū)動(dòng)芯片，用于向線圈34提供不同方向的電流，以驅(qū)動(dòng)圓形磁鐵33運(yùn)動(dòng)。
[0015]所述用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具還包括與基板相對(duì)設(shè)置的底板，其具有容納攝像頭模組的定位凹槽，其輪廓與待測(cè)試攝像頭模組的輪廓相匹配;所述基板和底板優(yōu)選但不限定通過鉸鏈連接。
[0016]在具體測(cè)試時(shí)，遮擋開關(guān)裝置的工作方式如下:通過D/A驅(qū)動(dòng)芯片向線圈通入不同方向的電流，產(chǎn)生不同的方向的力，驅(qū)動(dòng)圓形磁鐵運(yùn)動(dòng)，繞定位柱旋轉(zhuǎn)，從而帶動(dòng)上擋板運(yùn)動(dòng)來控制遮擋或避開通光孔，實(shí)現(xiàn)影像暗環(huán)境與亮環(huán)境的相關(guān)測(cè)試環(huán)境。磁鐵兩端極性最強(qiáng)，當(dāng)圓形磁鐵與鐵塊處于如圖2、3所示的位置時(shí)，較穩(wěn)定，不會(huì)晃動(dòng)，保證全黑環(huán)境或全亮環(huán)境不受影響。
[0017]該用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具，其集成了遮擋開關(guān)裝置，智能地遮擋鏡頭通光孔和避開鏡頭通光孔，實(shí)現(xiàn)影像亮環(huán)境測(cè)試和暗環(huán)境測(cè)試自動(dòng)切換測(cè)試功能，提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本;其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小，方便操作，可與目前調(diào)焦或測(cè)試等設(shè)備共用，增加其應(yīng)用范圍及使用效率，具有良好的經(jīng)濟(jì)效益;解決了現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試用具無法智能的進(jìn)行亮環(huán)境和暗環(huán)境的自動(dòng)切換的問題、現(xiàn)有技術(shù)將遮擋通光孔裝置設(shè)置在輔助設(shè)備上而無法與調(diào)焦等其他測(cè)試設(shè)備共用且其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)復(fù)雜、體積較大的問題。該用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具使用過程中，遮擋開關(guān)裝置工作與攝像頭模組測(cè)試工作不同時(shí)，相互錯(cuò)開，即遮擋開關(guān)裝置完成遮擋或避開所述通光孔后，磁場(chǎng)也不存在了，攝像頭模組才進(jìn)行測(cè)試，則遮擋開關(guān)裝置所產(chǎn)生的磁場(chǎng)對(duì)攝像頭模組測(cè)試結(jié)果是不影響的。
[0018]本發(fā)明還提供了一種用于攝像頭模組測(cè)試的測(cè)試用具在攝像頭模組的測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)