一種定位方法和裝置及指紋數(shù)據(jù)獲取方法和裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)與通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種定位方法和裝置及指紋數(shù)據(jù)獲 取方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)有技術(shù)可以利用無(wú)線信號(hào)來(lái)實(shí)現(xiàn)被定位方的定位，例如通過(guò)Wi-Fi、藍(lán)牙、 ZIGBEE、UWB等無(wú)線信號(hào)進(jìn)行定位。指紋定位技術(shù)是現(xiàn)有的基于無(wú)線信號(hào)定位的一種常用 方式。指紋定位技術(shù)的主要原理是：首先在需要定位的區(qū)域（例如一個(gè)商場(chǎng)內(nèi)或辦公場(chǎng)地 內(nèi)）按照一定的距離密度（例如每三米）設(shè)立采樣點(diǎn)，采集區(qū)域內(nèi)每個(gè)采樣點(diǎn)接收到的無(wú) 線信號(hào)的特征，并將所述采樣點(diǎn)的信號(hào)特征和該采樣點(diǎn)的位置作為一條采樣信息存儲(chǔ)到指 紋庫(kù)中；在定位時(shí)，被定位方將其接收到的無(wú)線信號(hào)的特征和與指紋庫(kù)中的各條信息中的 采樣點(diǎn)信號(hào)特征進(jìn)行匹配，其中信號(hào)特征最匹配的一條采樣點(diǎn)信息對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn)的位置就 是被定位方的位置。上述的無(wú)線信號(hào)的特征即指紋數(shù)據(jù)，通常包括接收到的各個(gè)信號(hào)源的 標(biāo)識(shí)和該信號(hào)源對(duì)應(yīng)的無(wú)線信號(hào)的強(qiáng)度。
[0003] 例如實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景中，如果在預(yù)先采集的指紋庫(kù)中，存在：采樣點(diǎn)A的指紋數(shù)據(jù)為 (信號(hào)源l，_40dBm;信號(hào)源2，-51dBm;信號(hào)源3，-54dBm)，采樣點(diǎn)B的指紋數(shù)據(jù)為（信號(hào)源 l，-60dBm;信號(hào)源2，-71dBm;信號(hào)源3，-30dBm)，那么當(dāng)被定位方在某一地點(diǎn)收到的信號(hào)特 征為（信號(hào)源1，-42dBm;信號(hào)源2, -50dBm;信號(hào)源3, -53dBm)時(shí)，通過(guò)匹配指紋庫(kù)中各采 樣點(diǎn)的指紋數(shù)據(jù)，即可知道被定位方目前很可能處于采樣點(diǎn)A的位置。
[0004] 現(xiàn)有的指紋定位技術(shù)中采集采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)和采集被定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)的設(shè)備可 能具有一定差異，指紋信號(hào)中的信號(hào)強(qiáng)度的范圍可能相差很大，指紋數(shù)據(jù)匹配過(guò)程中需要 處理大量數(shù)據(jù)。
[0005] 現(xiàn)有技術(shù)不足在于：
[0006] 冗雜的指紋數(shù)據(jù)降低了指紋匹配算法的適用性，同時(shí)指紋數(shù)據(jù)匹配處理負(fù)擔(dān)重。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007] 本發(fā)明實(shí)施例提出了能夠弱化指紋定位方案的采樣過(guò)程與定位過(guò)程中指紋數(shù)據(jù) 獲取能力的差異，提高指紋匹配算法適用性，同時(shí)減輕指紋數(shù)據(jù)匹配處理負(fù)擔(dān)的技術(shù)方案。
[0008] 一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種定位方法，所述方法包括：
[0009] 獲取各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)和所述各個(gè)采樣點(diǎn)的位置信息，所述各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù) 據(jù)包括，在各個(gè)采樣點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在各個(gè)采樣點(diǎn)處可見(jiàn)信 號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；
[0010] 獲取待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)，所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)包括，在待定位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源 的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在待定位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于所述預(yù)設(shè)可見(jiàn) 門(mén)限；
[0011] 分別計(jì)算所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)與各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)的匹配程度，將所述匹配 程度最高的采樣點(diǎn)的位置信息確定為所述待定位點(diǎn)的位置信息。
[0012] 另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種定位裝置，所述裝置包括：
[0013] 采樣點(diǎn)模塊，用于獲取各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)和所述各個(gè)采樣點(diǎn)的位置信息，所述 各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)包括，在各個(gè)采樣點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在各 個(gè)采樣點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；
[0014] 待定位點(diǎn)模塊，用于獲取待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)，所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)包括，在待定 位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在待定位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不 小于所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；
[0015] 位置確定模塊，用于分別計(jì)算所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)與各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)的匹 配程度，將所述匹配程度最高的采樣點(diǎn)的位置信息確定為所述待定位點(diǎn)的位置信息。
[0016] 另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種指紋數(shù)據(jù)獲取方法，所述方法包括：
[0017] 接收預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；
[0018] 獲取待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)，所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)包括，在待定位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源 的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在待定位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于所述預(yù)設(shè)可見(jiàn) 門(mén)限；
[0019] 發(fā)送所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)。
[0020] 另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種指紋數(shù)據(jù)獲取裝置，所述裝置包括：
[0021] 接收模塊，用于接收預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；
[0022] 獲取模塊，用于獲取待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)，所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)包括，在待定位點(diǎn) 處可見(jiàn)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在待定位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于 所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；
[0023] 發(fā)送模塊，用于發(fā)送所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)。
[0024] 有益效果如下：
[0025] 本發(fā)明通過(guò)獲取各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)和所述各個(gè)采樣點(diǎn)的位置信息，所述各個(gè)采 樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)包括，在各個(gè)采樣點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在各個(gè)采樣 點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；獲取待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)，所述待定位點(diǎn) 指紋數(shù)據(jù)包括，在待定位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在待定位點(diǎn)處可見(jiàn) 信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；分別計(jì)算所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)與各個(gè)采樣 點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)的匹配程度，將所述匹配程度最高的采樣點(diǎn)的位置信息確定為所述待定位點(diǎn)的 位置信息，通過(guò)引入預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限，弱化了基于指紋定位方案的采樣過(guò)程與定位過(guò)程中指 紋數(shù)據(jù)獲取能力的差異，提高了指紋匹配算法的適用性，同時(shí)減輕了指紋數(shù)據(jù)匹配處理的 負(fù)擔(dān)。
【附圖說(shuō)明】
[0026] 下面將參照附圖描述本發(fā)明的具體實(shí)施例，其中：
[0027] 圖1示出了本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種定位方法流程示意圖；
[0028] 圖2示出了本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種調(diào)整預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限的流程示意圖；
[0029] 圖3示出了本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種定位方法中待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)獲取流程 示意圖；
[0030] 圖4示出了本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種定位方法流程示意圖；
[0031] 圖5示出了本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種定位方法流程示意圖；
[0032]圖6示出了本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種指紋數(shù)據(jù)獲取方法流程示意圖；
[0033] 圖7示出了本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種定位裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0034] 圖8示出了本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種指紋數(shù)據(jù)獲取裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0035]為了使本發(fā)明的技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的示例性 實(shí)施例進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明，顯然，所描述的實(shí)施例僅是本發(fā)明的一部分實(shí)施例，而不是 所有實(shí)施例的窮舉。并且在不沖突的情況下，本說(shuō)明中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以互 相結(jié)合。
[0036]發(fā)明人在發(fā)明過(guò)程中注意到：現(xiàn)有的指紋定位技術(shù)中未考慮指紋定位方案的采樣 過(guò)程與定位過(guò)程中指紋數(shù)據(jù)獲取能力的差異，冗雜的指紋數(shù)據(jù)降低了指紋匹配算法的適用 性，同時(shí)指紋數(shù)據(jù)匹配處理負(fù)擔(dān)重。為了避免上述問(wèn)題，本發(fā)明提出了一種定位方法，該方 法可以應(yīng)用于定位服務(wù)器側(cè)，也可以應(yīng)用于定位終端側(cè)，下面進(jìn)行說(shuō)明。
[0037] 圖1示出了本發(fā)明的第一實(shí)施例，如圖所示，包括：
[0038] 步驟101 :獲取各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)和所述各個(gè)采樣點(diǎn)的位置信息，所述各個(gè)采 樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)包括，在各個(gè)采樣點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在各個(gè)采樣 點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；
[0039] 采用本發(fā)明的定位方法進(jìn)行定位前，首先會(huì)在需要定位的一個(gè)特定區(qū)域內(nèi)，以一 定距離密度均勻設(shè)立采樣點(diǎn)，采集該特定區(qū)域內(nèi)每個(gè)采樣點(diǎn)處接收到的無(wú)線信號(hào)的特征， 即能夠接收到的每個(gè)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，并且在采集采樣點(diǎn)的無(wú)線信號(hào)的特征的過(guò) 程中設(shè)立有預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限，只有當(dāng)某一信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度大于或等于所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限 時(shí)，才認(rèn)為該信號(hào)源在該采樣點(diǎn)處是可見(jiàn)的，將該信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度記錄入采樣點(diǎn) 的指紋數(shù)據(jù)。記錄該特定區(qū)域內(nèi)每個(gè)采樣點(diǎn)的指紋數(shù)據(jù)和每個(gè)采樣點(diǎn)的位置信息，形成指 紋庫(kù)。在進(jìn)行定位時(shí)，獲取該指紋庫(kù)，即獲取各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)和所述各個(gè)采樣點(diǎn)的位置 信息。
[0040]可以理解，指紋庫(kù)中所有信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度均會(huì)大于或等于所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限， 并且所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限越高，指紋庫(kù)中指紋數(shù)據(jù)量將越少。
[0041] 步驟102 :獲取待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)，所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)包括，在待定位點(diǎn)處可 見(jiàn)信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度，其中，所述在待定位點(diǎn)處可見(jiàn)信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度不小于所述 預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限；
[0042] 進(jìn)行定位時(shí)，當(dāng)在待定位點(diǎn)處接收到的某一信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度大于或等于所述預(yù) 設(shè)可見(jiàn)門(mén)限時(shí)，認(rèn)為該信號(hào)源在待定位點(diǎn)處是可見(jiàn)的，將該信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng)度記錄 入待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)。獲取所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)的具體方式可以是，在采集待定位點(diǎn)處 信號(hào)特征時(shí)就引入預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限，對(duì)信號(hào)強(qiáng)度小于預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限的信號(hào)源的標(biāo)識(shí)和信號(hào)強(qiáng) 度直接不予獲取，也可以是在采集待定位點(diǎn)處信號(hào)特征時(shí)先獲取待定位點(diǎn)處能夠接收到的 全部信號(hào)特征信息，再根據(jù)所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限對(duì)待定位點(diǎn)處能夠接收到的全部信號(hào)特征信 息進(jìn)行篩選，僅保留信號(hào)強(qiáng)度大于所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限的信號(hào)源的特征信息記錄入待定位點(diǎn) 指紋數(shù)據(jù)。
[0043] 可以理解，待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)中所有信號(hào)源的信號(hào)強(qiáng)度均會(huì)大于或等于所述預(yù)設(shè) 可見(jiàn)門(mén)限，并且所述預(yù)設(shè)可見(jiàn)門(mén)限越高，待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)量將越少。
[0044] 步驟103 :分別計(jì)算所述待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)與各個(gè)采樣點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)的匹配程度， 將所述匹配程度最高的采樣點(diǎn)的位置信息確定為所述待定位點(diǎn)的位置信息。
[0045] 在本步驟中，分別計(jì)算之前步驟中獲取的待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)與指紋庫(kù)中各個(gè)采樣 點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)的匹配程度，將計(jì)算結(jié)果中與待定位點(diǎn)指紋數(shù)據(jù)匹配程度最高的采樣點(diǎn)指紋數(shù) 據(jù)對(duì)應(yīng)的采樣點(diǎn)的位置信息確定為所