本發(fā)明涉及半導(dǎo)體光電器件領(lǐng)域,特別涉及一種LED芯片及其制作方法。
技術(shù)背景
發(fā)光二極管(Light Emitting Diode,簡稱LED)是一種半導(dǎo)體光電器件,利用半導(dǎo)體P-N結(jié)電致發(fā)光原理制成。LED由于能耗低,體積小、壽命長,穩(wěn)定性好,響應(yīng)快,發(fā)光波長穩(wěn)定等好的光電性能,目前已經(jīng)在照明、家電、顯示屏、指示燈等領(lǐng)域有很好的應(yīng)用。近年來,高亮度藍綠光LED發(fā)展迅速,已成為全彩色高亮度大型戶外顯示屏、交通信號燈等必需的發(fā)光器件。
傳統(tǒng)LED芯片由于結(jié)構(gòu)的限制,電流主要聚集在電極正下方,電流擴散均勻度不能達到理想效果,導(dǎo)致電極正下方電流密度過高,產(chǎn)生熱量過多,現(xiàn)有技術(shù)為改善電流聚集問題,通常在P電極形成之前在P型半導(dǎo)體表面上相對應(yīng)P電極區(qū)域形成絕緣的電流阻擋層,增加電流的橫向擴散,這在一定程度上使電流分布更加均勻,提高發(fā)光效率,但是由于電流阻擋層的設(shè)置,使得P電極與P型半導(dǎo)體層相互隔離無電流通過,這樣P電極底部的有源層由于沒有電流的注入而不發(fā)光,即使得電流阻擋層下方的有源區(qū)不能被充分利用。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的是提供一種發(fā)光效率高的LED芯片,使得電流阻擋層下方的有源區(qū)可被利用,進而提高發(fā)光效率。
本發(fā)明的另一目的是提供上述LED芯片的制作方法。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種發(fā)光效率高的LED芯片,包括:襯底,所述襯底上自下而上依次形成的外延層、電流阻擋層、透明導(dǎo)電膜以及P電極,所述外延層包括緩沖層、N型半導(dǎo)體層、發(fā)光層、P型半導(dǎo)體層,所述P型半導(dǎo)體層邊緣刻蝕至露出所述N型半導(dǎo)體層,N電極形成在露出的N型半導(dǎo)體層上,所述電流阻擋層中有通孔,所述通孔中填充電導(dǎo)率低于透明導(dǎo)電膜的導(dǎo)電介質(zhì)夾層,所述電流阻擋層與P型半導(dǎo)體層之間形成電導(dǎo)率大于P型半導(dǎo)體層的電流擴散薄層,所述電流擴散薄層被所述電流阻擋層以及所述導(dǎo)電介質(zhì)夾層覆蓋。
優(yōu)選地,所述通孔形成在電流阻擋層的中央。
優(yōu)選地,所述電流擴散薄層材料具有高的反射率。
優(yōu)選地,所述電流擴散薄層材料為鋁或銀。
優(yōu)選地,所述電流擴散薄層與所述P電極投影重合。
優(yōu)選地,所述N型半導(dǎo)體層為N型GaN,所述發(fā)光層為In摻雜的GaN,所述P型半導(dǎo)體層為P型GaN。
一種LED芯片的制作方法,包括以下步驟:
(1)在襯底上自下而上依次外延生長緩沖層、N型半導(dǎo)體層、發(fā)光層和P型半導(dǎo)體層以獲得外延片;
(2)蝕刻所述P型半導(dǎo)體層邊緣至露出所述N型半導(dǎo)體層;
(3)在所述P型半導(dǎo)體層表面形成電流擴散薄層以及電流阻擋層,所述電流阻擋層中有通孔,所述通孔中填充電導(dǎo)率低于透明導(dǎo)電膜的導(dǎo)電介質(zhì)夾層;
(4)在所述電流阻擋層以及未被電流阻擋層覆蓋的P型半導(dǎo)體層表面形成透明導(dǎo)電膜;
(5)在最透明導(dǎo)電膜上形成P電極,在露出的N型半導(dǎo)體層上形成N電極。
優(yōu)選地,步驟(3)具體過程為首先沉積一層電流擴散薄層,然后沉積一層電流阻擋層,刻蝕所述電流阻擋層形成通孔,在所述通孔中沉積導(dǎo)電介質(zhì)夾層。
優(yōu)選地,步驟(3)具體過程為首先沉積一層電流擴散薄層,然后沉積一層導(dǎo)電介質(zhì)夾層,刻蝕所述導(dǎo)電介質(zhì)夾層,沉積電流阻擋層覆蓋電流擴散薄層,并且包圍導(dǎo)電介質(zhì)夾層。
優(yōu)選地,所述電流擴展薄層與所述導(dǎo)電介質(zhì)夾層材料相同,步驟(3)電流擴散薄層與導(dǎo)電介質(zhì)夾層同一步沉積,然后刻蝕并沉積電流阻擋層。
相對于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明具有以下有益效果:
本發(fā)明LED芯片所述電流阻擋層中有通孔,所述通孔中填充電導(dǎo)率低于透明導(dǎo)電膜的導(dǎo)電介質(zhì)夾層,通過導(dǎo)電介質(zhì)夾層的設(shè)置使得電流在電流阻擋層作用下橫向流動的同時,可以流入P電極底部的有源層發(fā)光,增加發(fā)光效率,導(dǎo)電介質(zhì)夾層電導(dǎo)率低于透明導(dǎo)電膜,使得相對于導(dǎo)電介質(zhì)夾層,電流更容易從透明導(dǎo)電膜流過橫向擴散,進而不會影響電流阻擋層橫向擴散電流的作用;所述電流阻擋層與P型半導(dǎo)體層之間形成電導(dǎo)率大于P型半導(dǎo)體層的電流擴散薄層,所述電流擴散薄層被所述電流阻擋層以及所述導(dǎo)電介質(zhì)夾層覆蓋,使得經(jīng)過導(dǎo)電介質(zhì)夾層的電流可以在電流阻擋層下的P型半導(dǎo)體層上均勻分布,進一步增加發(fā)光效率。
因此,本發(fā)明使得電流阻擋層下方的有源區(qū)可被利用,進而提高了發(fā)光效率。
附圖說明
圖1為本發(fā)明實施例LED芯片剖面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明實施例LED芯片電流阻擋層周圍局部剖面結(jié)構(gòu)示意放大圖;
圖3-圖7為本發(fā)明實施例LED制作過程剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖以及實施例對本發(fā)明進行介紹,實施例僅用于對本發(fā)明進行解釋,并不對本發(fā)明有任何限定作用。
如圖1所示,本發(fā)明實施例的LED芯片,包括:襯底10,所述襯底10上自下而上依次形成的外延層20、電流阻擋層30、透明導(dǎo)電膜40以及P電極50,所述外延層20包括緩沖層21、N型半導(dǎo)體層22、發(fā)光層23、P型半導(dǎo)體層24,所述P型半導(dǎo)體層24邊緣刻蝕至露出所述N型半導(dǎo)體層22,N電極60形成在露出的N型半導(dǎo)體層22上,所述電流阻擋層30中有通孔70,所述通孔70中填充電導(dǎo)率低于透明導(dǎo)電膜40的導(dǎo)電介質(zhì)夾層80,所述電流阻擋層30與P型半導(dǎo)體層24之間形成電導(dǎo)率大于P型半導(dǎo)體層24的電流擴散薄層90,所述電流擴散薄層90被所述電流阻擋層30以及所述導(dǎo)電介質(zhì)夾層80覆蓋。
具體的,本發(fā)明實施例LED為GaN基發(fā)光二極管,所述襯底10可為藍寶石襯底或其他半導(dǎo)體襯底材料,如碳化硅、硅、GaAs、AlN、ZnO或GaN等;所述緩沖層21為GaN材料,所述N型半導(dǎo)體層22為N型GaN層,所述發(fā)光層23為多重量子阱,其材料可為In摻雜的GaN,所述P型半導(dǎo)體層24為P型GaN層;所述電流阻擋層30優(yōu)選透光的絕緣材料,在保證絕緣,使電流橫向擴散的同時,不因遮光而影響發(fā)光效率,本發(fā)明實施例電流阻擋層30材料可為二氧化硅膜層、氮化硅膜層等;所述透明導(dǎo)電膜70優(yōu)選透光性良好的氧化銦錫(ITO),還可以為,氧化鋅(ZnO)或氧化鎘錫(CTO)或氧化銦(InO)或銦(In)摻雜氧化鋅(ZnO)或鋁(Al)摻雜氧化鋅(ZnO)或鎵(Ga)摻雜氧化鋅(ZnO)等中的一種或多種;所述P電極80和N電極90的材料包括Cr、Pt、Au、Ti、Al、或Sn中的至少一種,可以選擇Cr/Pt/Au、Au/Sn、Cr/Ti/Au或Ti/Al/Ti/Au等電極結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明實施例LED芯片,導(dǎo)電介質(zhì)夾層80連接P電極50下的透明導(dǎo)電膜40和電流阻擋層30下的P型半導(dǎo)體層24,通過導(dǎo)電介質(zhì)夾層80的設(shè)置,使得電流在電流阻擋層30作用下橫向流動的同時,可以流入P電極50底部的有源層發(fā)光,增加發(fā)光效率,導(dǎo)電介質(zhì)夾層80電導(dǎo)率低于透明導(dǎo)電膜40,使得相對于導(dǎo)電介質(zhì)夾層80,電流更容易從透明導(dǎo)電膜40流過橫向擴散,進而不會影響電流阻擋層30橫向擴散電流的作用;
所述電流阻擋層30與P型半導(dǎo)體層24之間形成電導(dǎo)率大于P型半導(dǎo)體層24的電流擴散薄層90,所述電流擴散薄層90被所述電流阻擋層30以及所述導(dǎo)電介質(zhì)夾層80覆蓋,使得經(jīng)過導(dǎo)電介質(zhì)夾層80的電流可以在電流阻擋層30下的P型半導(dǎo)體層24上均勻分布,進一步增加發(fā)光效率。
本發(fā)明實施例優(yōu)選地,所述通孔70形成在電流阻擋層30的中央,所以導(dǎo)電介質(zhì)夾層80填充在電流阻擋層30的中央,可以使電流阻擋層30下的P型半導(dǎo)體24上的電流更加勻稱。
本發(fā)明實施例優(yōu)選地,所述電流擴散薄層90材料具有高的反射率,如鋁或銀,使得有源區(qū)發(fā)射出來的光在射向P電極50底部前被有效反射出光,抑制P電極50對光的吸收,進而提高出光效率。當然本發(fā)明實施例電流擴展薄層90也可為其他導(dǎo)電材料,其可以與導(dǎo)電介質(zhì)夾層80相同也可以不同,導(dǎo)電介質(zhì)夾層80電導(dǎo)率低于透明導(dǎo)電膜40,其材料也可以為氧化銦錫(ITO),氧化鋅(ZnO)或氧化鎘錫(CTO)或氧化銦(InO)或銦(In)摻雜氧化鋅(ZnO)或鋁(Al)摻雜氧化鋅(ZnO)或鎵(Ga)摻雜氧化鋅(ZnO)等。
本發(fā)明實施例優(yōu)選地,所述電流擴散薄層90與所述P電極50投影重合,所以LED芯片制作過程中P電極50與電流擴散薄層90形成可用同一塊掩膜版,節(jié)約成本。
本發(fā)明實施例LED芯片的制作方法,包括以下步驟:
(1)在襯底10上自下而上依次外延生長緩沖層21、N型半導(dǎo)體層22、發(fā)光層23和P型半導(dǎo)體層24以獲得外延片20;
(2)蝕刻所述P型半導(dǎo)體層24邊緣至露出所述N型半導(dǎo)體層24;
(3)在所述P型半導(dǎo)體層24表面形成電流擴散薄層90以及電流阻擋層30,所述電流阻擋層中有通孔70,所述通孔70中填充電導(dǎo)率低于透明導(dǎo)電膜40的導(dǎo)電介質(zhì)夾層80;
(4)在所述電流阻擋層30以及未被電流阻擋層30覆蓋的P型半導(dǎo)體層24表面形成透明導(dǎo)電膜40;
(5)在透明導(dǎo)電膜40上形成P電極50,在露出的N型半導(dǎo)體層22上形成N電極60。
本發(fā)明實施例,步驟(3)具體過程可為首先通過掩膜沉積工藝一層電流擴散薄層90,然后通過掩膜沉積工藝沉積一層電流阻擋層30,刻蝕所述電流阻擋層30形成通孔70,在所述通孔70中通過掩膜沉積工藝沉積導(dǎo)電介質(zhì)夾層80。
本發(fā)明實施例,步驟(3)具體過程還可以為首先通過掩膜沉積工藝沉積一層電流擴散薄層90,然后通過掩膜沉積工藝沉積一層導(dǎo)電介質(zhì)夾層80,刻蝕所述導(dǎo)電介質(zhì)夾層80,沉積電流阻擋層30覆蓋電流擴散薄層90,并且包圍導(dǎo)電介質(zhì)夾層80。
本發(fā)明實施例,所述電流擴展薄層90與所述導(dǎo)電介質(zhì)夾層80材料相同時,步驟(3)電流擴散薄層90與導(dǎo)電介質(zhì)夾層80同一步沉積,然后刻蝕并沉積電流阻擋層30,可簡化工藝流程。